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sonda de escaneo de fuerza atómica

sonda de escaneo de fuerza atómica, Total: 9 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en sonda de escaneo de fuerza atómica son: Medidas lineales y angulares., Química analítica, Metales no ferrosos, Equipo óptico.

RU-GOST R, sonda de escaneo de fuerza atómica

• GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
• GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
• GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

International Organization for Standardization (ISO), sonda de escaneo de fuerza atómica

• ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.

British Standards Institution (BSI), sonda de escaneo de fuerza atómica

• BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
• 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), sonda de escaneo de fuerza atómica

• KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
• KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
• KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral

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