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Tecnología de analizador de espectro

Tecnología de analizador de espectro, Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Tecnología de analizador de espectro son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Química analítica, Vocabularios, Minerales metalíferos, Optoelectrónica. Equipo láser, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Calidad, Componentes de tuberías y tuberías., Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Metales no ferrosos, Tratamiento superficial y revestimiento., Componentes electrónicos en general., Medicina de laboratorio, Centrales eléctricas en general, Cereales, legumbres y productos derivados, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Sistemas de telecomunicaciones, Medidas lineales y angulares., pruebas de metales, Productos de hierro y acero., Metales ferrosos, Protección contra el crimen, Combustibles, Física. Química, AMBIENTE. PROTECCION DE LA SALUD. SEGURIDAD, Agricultura y silvicultura, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Pruebas no destructivas, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., ingeniería de energía nuclear, Productos de la industria química., carbones, Refractarios, Organización y gestión de la empresa., Productos petrolíferos en general, Calidad del aire, Termodinámica y mediciones de temperatura., Fotografía, Compatibilidad electromagnética (CEM), Equipo medico, Equipo de minería, Sistemas de automatización industrial, Elementos de edificios., Cerámica, Medición del tiempo, velocidad, aceleración, velocidad angular., Geología. Meteorología. Hidrología, Tecnología de vacío, Pequeña embarcación, Protección contra el fuego, Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Equipo óptico.

German Institute for Standardization, Tecnología de analizador de espectro

DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN 10315:2006 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana; Versión alemana EN 10315:2006
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 10315:2006-10 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana; Versión alemana EN 10315:2006
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
DIN EN 61290-3-2:2009-06 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008); Versión alemana EN 61290-3-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-3-2 (2003-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2011-10-01....
DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
DIN EN 61290-10-4:2008-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61291...
DIN EN IEC 61290-1-1:2019 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 86C/1563/CD:2018); Texto en alemán e inglés.
DIN EN 61290-10-2:2008-07 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-10-2 (2004-02) sigue siendo válida junto con esta norma...
DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020); Versión alemana EN IEC 61290-1-1:2020 / Nota: DIN EN 61290-1-1 (2016-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023-10...
DIN 51008-2:2001-12 Espectrometría de emisión óptica (OES) - Parte 2: Términos para sistemas de llama y plasma
DIN EN 61290-1-2:2006-07 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005 / Nota: DIN EN 61290-1-2 (1999-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2008-10-0...
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN 51008-1:2004 Espectrometría de emisión óptica (OES) - Parte 1: Términos para sistemas con chispas y descargas de baja presión
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN 61290-5-2:2004-12 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN 51008-2:2001 Espectrometría de emisión óptica (OES) - Parte 2: Términos para sistemas de llama y plasma
DIN EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
DIN 58960-2:1997 Fotómetro para pruebas analíticas - Parte 2: Diseño técnico; clasificación, componentes, conceptos
DIN 51008-1 Bb.1:2004 Espectrometría de emisión óptica (OES) - Parte 1: Términos para sistemas con chispas y descargas de baja presión; Explicaciones
DIN EN 61290-1-1:2016 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2015); Versión alemana EN 61290-1-1:2015
DIN ISO 18115-1:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia (ISO 18115-1:2013)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Tecnología de analizador de espectro

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico

U.S. Air Force, Tecnología de analizador de espectro

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

European Committee for Standardization (CEN), Tecnología de analizador de espectro

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN 10315:2006
EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
prEN ISO 23674:2021 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica - Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO/DIS 23674:2021)
EN 725-4:2006 Cerámica técnica avanzada - Métodos de ensayo para polvos cerámicos - Parte 4: Determinación del contenido de oxígeno en nitruro de aluminio mediante análisis XRF

Association Francaise de Normalisation, Tecnología de analizador de espectro

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF A07-830:1973 Zinc con fines de galvanización. Especificación técnica para el análisis espectral de emisiones.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF A06-377*NF EN 10315:2006 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana.
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
NF X21-069-1:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 1: términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros de canales múltiples. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
NF T75-612*NF ISO 12787:2012 Cosmética - Métodos analíticos - Criterios de validación de resultados analíticos mediante técnicas cromatográficas
NF ISO 12787:2012 Cosmética - Métodos analíticos - Criterios de validación de resultados analíticos mediante técnicas cromatográficas
NF C42-691:1988 E técnicas y aparatos. Medición y análisis del pulso, consideraciones generales.
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).

British Standards Institution (BSI), Tecnología de analizador de espectro

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
PD IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos. Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS DD ISO/TS 11251:2010 Nanotecnologías. Caracterización de componentes volátiles en muestras de nanotubos de carbono de pared simple mediante análisis de gases evolucionados/cromatografía de gases-espectrometría de masas
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 10315:2006 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
BS EN 10315:2006(2010) Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 18115-1:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos generales y términos utilizados en espectroscopia
BS ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
19/30398879 DC BS EN 61290-1-1. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS IEC 61832:1999 Sistemas analizadores. Guía para consultas técnicas y evaluación de ofertas.
18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 12787:2012 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Criterios de validación de resultados analíticos mediante técnicas cromatográficas.
BS ISO 12787:2011 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Criterios de validación de resultados analíticos mediante técnicas cromatográficas.
BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-1-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
21/30387777 DC BS EN ISO 23674. Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos por descomposición térmica. Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61290-3-2:2003
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
PD IEC TR 63176:2019 Sistemas de tecnología de análisis de procesos como parte de sistemas instrumentados de seguridad.
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
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IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
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IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
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IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
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IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
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JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
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JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
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GB/T 18294.1-2013 Métodos técnicos de identificación del fuego.Parte 1:Espectrometría ultravioleta
GB/T 19267.3-2008 Examen físico y químico de trazas de evidencia en ciencias forenses. Parte 3: Fluoroespectrometría molecular
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KS M 0124-2017 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
KS M 0124-2017(2022) Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS M 0127-2017 Términos técnicos de química analítica (parte de cromatografía)
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KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
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KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
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KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS M ISO 12787:2014 Cosméticos. Métodos analíticos. Criterios de validación de resultados analíticos mediante técnicas cromatográficas.
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KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS C IEC 60469-2-2013(2018) Técnicas y aparatos de pulso－Parte 2: Medición y análisis del pulso, consideraciones generales
KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B 50061-1-2006(2021) Instrumentos de llenado gravimétrico automático－Parte 1: Requisitos técnicos y metrológicos－Pruebas
KS B ISO 10934-2:2011 Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica

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T/CSTM 00964-2022 Reglas generales para la evaluación del desempeño del espectrómetro atómico.
T/CIS 17006-2022 Especificaciones técnicas generales del espectrómetro de infrarrojo cercano por transformada de Fourier
T/CASME 133-2022 Requisitos técnicos generales para carcasas de chapa para analizadores móviles.
T/CEC 426.2-2021 Especificaciones generales para instrumentos de prueba de aceite de energía eléctrica Parte 2: Cromatógrafo de gases

ZA-SANS, Tecnología de analizador de espectro

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
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LST EN 10315-2006 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
LST EN 61290-1-1-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006).
LST EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).
LST EN 61290-10-1-2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009).
LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
LST EN 61290-10-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007).
LST EN 61290-10-4-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007).
LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)
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ASTM E2105-00(2016) Práctica estándar para técnicas generales de análisis termogravimétrico (TGA) junto con análisis infrarrojo (TGA/IR)
ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1086-94(2005) Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de vacío de emisión óptica de acero inoxidable mediante la técnica de excitación punto a plano
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D7941/D7941M-23 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D7941/D7941M-14 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM E27-64(1981)e1 Método de análisis espectrográfico de zinc y aleaciones de zinc mediante la técnica de solución-residuo
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM E1009-95(2000) Práctica estándar para evaluar un espectrómetro de vacío de emisión óptica para analizar acero al carbono y de baja aleación
ASTM E1252-98 Práctica estándar para técnicas generales de obtención de espectros infrarrojos para análisis cualitativo
ASTM E1252-98(2002) Práctica estándar para técnicas generales de obtención de espectros infrarrojos para análisis cualitativo
ASTM E402-95 Método de prueba estándar para el análisis espectrográfico de óxido de uranio (U3O8) mediante la técnica del portador de óxido de galio
ASTM E1252-98(2021) Práctica estándar para técnicas generales de obtención de espectros infrarrojos para análisis cualitativo
ASTM E1252-98(2013)e1 Práctica estándar para técnicas generales de obtención de espectros infrarrojos para análisis cualitativo
ASTM E485-94(1999)e1 Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de vacío por emisión óptica de hierro de alto horno mediante la técnica de punto a plano
ASTM E2056-04(2010) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM E2056-04(2016) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM E485-94(2005) Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de vacío por emisión óptica de hierro de alto horno mediante la técnica de punto a plano
ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM E1086-08 Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de vacío de emisión óptica de acero inoxidable mediante la técnica de excitación punto a plano
ASTM E1086-94(2000) Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de vacío de emisión óptica de acero inoxidable mediante la técnica de excitación punto a plano
ASTM E327-94 Método de prueba para el análisis espectrométrico de emisión óptica de aceros inoxidables tipo 18-8 mediante la técnica punto a plano (retirado en 1999)
ASTM UOP709-70 Análisis de gases mediante cromatografía de gases mediante una técnica de dos inyecciones
ASTM E227-90(1996) Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio mediante la técnica de punto a plano (retirado en 2002)
ASTM D7417-17 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
ASTM F1375-92(2012)
ASTM D7417-10 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
ASTM E2106-00 Práctica estándar para técnicas generales de análisis de cromatografía líquida-infrarroja (LC/IR) y cromatografía de exclusión por tamaño-infrarrojos (SEC/IR)
ASTM E2106-00(2006) Práctica estándar para técnicas generales de análisis de cromatografía líquida-infrarroja (LC/IR) y cromatografía de exclusión por tamaño-infrarrojos (SEC/IR)
ASTM E1642-00(2005) Práctica estándar para técnicas generales de análisis de cromatografía de gases por infrarrojos (GC/IR)
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