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difractómetro de rayos

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difractómetro de rayos son: Óptica y medidas ópticas., Protección de radiación, pruebas de metales, Química analítica, Pruebas no destructivas, Productos de la industria química., producción de metales, Minerales no metalíferos, Educación, químicos inorgánicos.


Professional Standard - Machinery, difractómetro de rayos

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro de rayos

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difractómetro de rayos

  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
  • GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
  • GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
  • GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X

工业和信息化部, difractómetro de rayos

  • YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

American National Standards Institute (ANSI), difractómetro de rayos

  • ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos

  • GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, difractómetro de rayos

  • YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
  • YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
  • YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

British Standards Institution (BSI), difractómetro de rayos

  • BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro de rayos

  • JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

American Society for Testing and Materials (ASTM), difractómetro de rayos

  • ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales

Professional Standard - Customs, difractómetro de rayos

  • HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Education, difractómetro de rayos

  • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
  • JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos




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