ZH
RU
EN
difractómetro de rayos x
difractómetro de rayos x, Total: 29 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difractómetro de rayos x son: Óptica y medidas ópticas., pruebas de metales, Protección de radiación, Química analítica, Pruebas no destructivas, Productos de la industria química., producción de metales, Minerales no metalíferos, Educación, químicos inorgánicos.
Professional Standard - Machinery, difractómetro de rayos x
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro de rayos x
工业和信息化部, difractómetro de rayos x
- YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difractómetro de rayos x
- GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
- GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
- GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
- GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
American National Standards Institute (ANSI), difractómetro de rayos x
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos x
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, difractómetro de rayos x
- YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
- YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
- YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
British Standards Institution (BSI), difractómetro de rayos x
- BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro de rayos x
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
American Society for Testing and Materials (ASTM), difractómetro de rayos x
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
Professional Standard - Customs, difractómetro de rayos x
- HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X
Professional Standard - Education, difractómetro de rayos x
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos