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microscopía de sonda de resolución

microscopía de sonda de resolución, Total: 48 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopía de sonda de resolución son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Educación, Equipo óptico, Metales no ferrosos, Vocabularios.


International Organization for Standardization (ISO), microscopía de sonda de resolución

  • ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
  • ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
  • ISO/DIS 23124:2023 Análisis químico de superficies: medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
  • ISO 13083:2015
  • ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
  • ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • ISO 11775:2015
  • ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
  • ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
  • ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
  • ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

British Standards Institution (BSI), microscopía de sonda de resolución

  • BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
  • BS ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Medición de la tasa de deriva
  • BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
  • BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
  • BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines
  • BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
  • 23/30420097 DC BS ISO 23124 Análisis químico de superficies. Medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman.
  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
  • BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
  • 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopía de sonda de resolución

  • GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
  • GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición

RU-GOST R, microscopía de sonda de resolución

  • GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.

Professional Standard - Education, microscopía de sonda de resolución

  • JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopía de sonda de resolución

  • KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopía de sonda de resolución

  • GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Association Francaise de Normalisation, microscopía de sonda de resolución

  • NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopía de sonda de resolución

  • JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido

未注明发布机构, microscopía de sonda de resolución

  • JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo




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