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分辨率 探针 显微镜
本专题涉及分辨率 探针 显微镜的标准有49条。
国际标准分类中，分辨率 探针 显微镜涉及到分析化学、光学和光学测量、教育、光学设备、有色金属、词汇。
在中国标准分类中，分辨率 探针 显微镜涉及到放大镜与显微镜、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、教学专用仪器、稀有金属及其合金分析方法、化学。
国际标准化组织，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
- ISO/DIS 23124:2023 表面化学分析 拉曼显微镜横向和轴向分辨率的测量
- ISO/FDIS 23124:2023 表面化学分析 拉曼显微镜横向和轴向分辨率的测量
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
- ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
- ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
- ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
- ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
- ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
- ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
- ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
英国标准学会，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- BS ISO 11039:2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
- BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
- BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
- BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析 词汇 扫描探针显微镜中使用的术语
- BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
- BS ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- 23/30420097 DC BS ISO 23124 表面化学分析 拉曼显微镜横向和轴向分辨率的测量
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
- BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
- 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析 词汇 第 2 部分：扫描探针显微镜中使用的术语
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- BS ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
国家质检总局，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
RU-GOST R，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
行业标准-教育，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
韩国科技标准局，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- KS D 2713-2006 水平分辨率近场光学显微镜的评估方法
- KS D 2713-2016 NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
- KS D 2713-2016(2021) NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
法国标准化协会，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- NF X21-069-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
日本工业标准调查会，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- JIS K 0147-2:2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
未注明发布机构，关于分辨率 探针 显微镜的标准
- JIS K 0182:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂法向弹簧常数的测定
