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Mini analizador de espectro

Mini analizador de espectro, Total: 305 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Mini analizador de espectro son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Química analítica, Minerales metalíferos, Optoelectrónica. Equipo láser, Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Componentes electrónicos en general., Centrales eléctricas en general, Medidas lineales y angulares., Calidad, Combustibles, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Metales no ferrosos, Productos de la industria química., pruebas de metales, Refractarios, Compatibilidad electromagnética (CEM), Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual..

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Mini analizador de espectro

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico

U.S. Air Force, Mini analizador de espectro

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

European Committee for Standardization (CEN), Mini analizador de espectro

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
prEN ISO 23674:2021 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica - Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO/DIS 23674:2021)

Association Francaise de Normalisation, Mini analizador de espectro

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros de canales múltiples. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.

British Standards Institution (BSI), Mini analizador de espectro

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
19/30398879 DC BS EN 61290-1-1. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-1-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
21/30387777 DC BS EN ISO 23674. Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos por descomposición térmica. Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61290-3-2:2003
PD IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos. Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)

International Electrotechnical Commission (IEC), Mini analizador de espectro

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos - Parte 2: Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico

Danish Standards Foundation, Mini analizador de espectro

DS/EN 62129/Corr. 1:2007
DS/EN 62129:2006
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DS/EN 61290-5-2:2004
DS/EN 61290-10-1:2009
DS/EN 61290-10-2:2008
DS/EN 61290-10-4:2007
DS/EN 61290-3-2:2008
DS/EN 61290-1-2:2006

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Mini analizador de espectro

JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica. Métodos de prueba. Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba del analizador de espectro óptico.
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
JIS C 6122-1-2:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
JIS C 6122-10-4:2012 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Mini analizador de espectro

JJG 1035-2022 Analizador de espectro de comunicación
JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mini analizador de espectro

KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mini analizador de espectro

GB/T 25481-2010 Analizador de espectro ultravioleta/visible en línea
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.

ZA-SANS, Mini analizador de espectro

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

Lithuanian Standards Office , Mini analizador de espectro

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
LST EN 61290-1-1-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006).
LST EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).
LST EN 61290-10-1-2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009).
LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
LST EN 61290-10-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007).
LST EN 61290-10-4-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007).
LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)
LST EN 61290-3-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008).

German Institute for Standardization, Mini analizador de espectro

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
DIN EN 61290-3-2:2009-06 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008); Versión alemana EN 61290-3-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-3-2 (2003-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2011-10-01....
DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
DIN EN 61290-10-2:2008-07 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-10-2 (2004-02) sigue siendo válida junto con esta norma...
DIN EN IEC 61290-1-1:2019 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 86C/1563/CD:2018); Texto en alemán e inglés.
DIN EN 61290-10-4:2008-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61291...
DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020); Versión alemana EN IEC 61290-1-1:2020 / Nota: DIN EN 61290-1-1 (2016-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023-10...
DIN EN 61290-1-2:2006-07 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005 / Nota: DIN EN 61290-1-2 (1999-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2008-10-0...
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN 61290-5-2:2004-12 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
DIN EN 61290-1-1:2016 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2015); Versión alemana EN 61290-1-1:2015

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EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico
EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 5-2: Parámetros de reflectancia Método del analizador de espectro eléctrico

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UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)
UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)
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UNE-EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-1: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante interruptor óptico y analizador de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)
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UNE-EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-2: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante un analizador de espectro óptico controlado (Ratificado por AENOR en mayo de 2008.)
UNE-EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en marzo de 2006.)
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ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
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KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
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ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D7941/D7941M-23 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D7941/D7941M-14 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM E1009-95(2000) Práctica estándar para evaluar un espectrómetro de vacío de emisión óptica para analizar acero al carbono y de baja aleación
ASTM E2056-04(2010) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM E2056-04(2016) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D7417-17 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
ASTM F1375-92(2012)
ASTM D7417-10 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)

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DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Métodos de prueba para amplificadores de fibra óptica – Parte 1 1: Parámetros de ganancia y rendimiento óptico – Método del analizador de espectro óptico

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EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 10-1: Parámetros multicanal Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
EN 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido Método del analizador de espectro eléctrico
EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico

American National Standards Institute （ANSI), Mini analizador de espectro

ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA/EIA 455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
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