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Análisis de superficies poco profundas.

Análisis de superficies poco profundas., Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de superficies poco profundas. son: Ceras, materias bituminosas y otros productos petrolíferos, Ingeniería vial, Vocabularios, Química analítica, Acústica y mediciones acústicas., Aplicaciones de la tecnología de la información., Equipos para la industria química., Calidad del agua, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Medidas lineales y angulares., Productos de la industria química., ingeniería de energía solar, Productos de caucho y plástico., Medicina de laboratorio, Materiales de construcción, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Tratamiento superficial y revestimiento., Elementos de edificios., Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Tecnología de vacío, Componentes de tuberías y tuberías., Recubrimientos y procesos relacionados utilizados en la industria aeroespacial., Productos de hierro y acero., Paneles a base de madera, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Protección contra explosiones, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., construcción de aeropuertos, Herramientas de corte, pruebas de metales, Materiales magnéticos, Metales no ferrosos, Microbiología.


RO-ASRO, Análisis de superficies poco profundas.

  • STAS 3300/2-1985 Terreno de cimentación ANÁLISIS DE CIMENTACIÓN PARA CIMENTACIONES POCO PROFUNDAS
  • STAS 11195-1987 AGENTES DE SUPERFICIE Método de análisis
  • SR 110-9-1995
  • STAS SR 13407-1998 Agentes tensioactivos - Detergentes - Determinación del contenido de materias insolubles en agua - Método gravimétrico

Association Francaise de Normalisation, Análisis de superficies poco profundas.

  • NF P98-254-3:1993 Ensayos relativos a pavimentos. Propiedades de drenaje superficial en pavimentos permeables. Parte 3: prueba de permeabilidad del sitio.
  • NF P98-254-4:1995 Ensayos relativos a pavimentos. Propiedades de drenaje superficial en pavimentos permeables. Parte 4: medición del flujo superficial en suelos drenantes con un permeador de carga constante.
  • NF P98-254-2:1993 Ensayos relativos a pavimentos. Propiedades de drenaje superficial en pavimentos permeables. Determinación del contenido de huecos conectados de materiales acotados.
  • NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies - Manipulación de muestras antes del análisis.
  • NF X21-065*NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
  • NF ISO 14606:2008 Análisis químico de superficies - Perfilado de espesores por bombardeo - Optimización utilizando sistemas mono o multicapa como materiales de referencia
  • NF X21-062*NF ISO 14606:2008 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad de sputtering - Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia
  • NF EN 15042-2:2006 Medición del espesor del recubrimiento y caracterización de la superficie mediante ondas superficiales. Parte 2: guía para la medición fotométrica del espesor del recubrimiento.
  • NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies - Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis
  • NF X21-052/A2:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Enmienda 2.
  • NF X21-052/A1:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - ENMIENDA 1.
  • NF X21-056*NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
  • NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
  • NF EN 12608-1+A1:2020 Perfiles de poli(cloruro de vinilo) (PVC-U) no plastificados para la fabricación de ventanas y puertas. Clasificación, requisitos y métodos de ensayo. Parte 1: perfiles de PVC-U sin recubrimiento con caras de color claro.
  • NF EN 12608-1/IN1:2020 Perfiles de poli(cloruro de vinilo) (PVC-U) no plastificados para la fabricación de ventanas y puertas. Clasificación, requisitos y métodos de ensayo. Parte 1: perfiles de PVC-U sin recubrimiento con caras de color claro.
  • NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
  • NF ISO 893:1990 Tensioactivos - Alcanosulfonatos técnicos - Método de análisis.
  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
  • NF A91-139-2*NF EN 15042-2:2006 Medición de espesor de recubrimientos y caracterización de superficies con ondas superficiales - Parte 2: guía para la medición de espesor de recubrimientos por método fototérmico.
  • NF T73-292*NF EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis.
  • NF EN 14670:2005 Tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis
  • NF P98-150:1992 Asfalto bituminoso. Colocación de capas base, ligantes y superficies. Componentes. Mezclar el contenido. Rendimiento y controles.
  • NF EN 15042-1:2006 Medición del espesor del recubrimiento y caracterización de superficies mediante ondas superficiales - Parte 1: Guía para determinar las constantes elásticas, la densidad y el espesor de la película mediante ondas de...
  • NF T73-275:1982 Agentes de superficie activos. Aminas grasas etoxiladas técnicas. Métodos de análisis.
  • NF T73-233*NF ISO 893:1990 Agentes tensioactivos. Alcanosulfonatos técnicos. Métodos de análisis.
  • NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies: espectrometría de masas de iones secundarios: método para la calibración de profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
  • NF A91-010:1984 Revêtements métalliques et traceements de Surface des métaux - Terminología - Clasificación - Simbolización
  • NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • NF T73-232:1978 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos. Métodos de análisis.
  • NF T73-231:1978 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos. Métodos de análisis.
  • NF A91-139-1*NF EN 15042-1:2006 Medición de espesor de recubrimientos y caracterización de superficies con ondas superficiales - Parte 1: guía para la determinación de constantes elásticas, densidad y espesor de películas mediante ondas acústicas superficiales inducidas por láser.
  • NF A91-474:1995 RECUBRIMIENTOS DE CONVERSIÓN SOBRE MATERIALES METÁLICOS. DETERMINACIÓN DE LA MASA DEL RECUBRIMIENTO POR UNIDAD DE ÁREA. MÉTODOS GRAVIMÉTRICOS. (NORMA EUROPEA EN ISO 3892).
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • NF P98-831-3*NF EN 13036-3:2003 Características de la superficie de carreteras y aeródromos. Métodos de ensayo. Parte 3: medición de la drenabilidad horizontal de la superficie del pavimento.
  • NF ISO 14707:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente - Introducción a su uso
  • NF A91-474*NF EN ISO 3892:2001 Recubrimientos de conversión sobre materiales metálicos - Determinación de la masa del recubrimiento por unidad de área - Métodos gravimétricos
  • NF E05-021:1997 ESPECIFICACIONES GEOMÉTRICAS DEL PRODUCTO (GPS). TEXTURA DE LA SUPERFICIE: MÉTODO DEL PERFIL; SUPERFICIES QUE TIENEN PROPIEDADES FUNCIONALES ESTRATIFICADAS. PARTE 1: CONDICIONES GENERALES DE FILTRACIÓN Y MEDICIÓN.
  • NF P98-831-7*NF EN 13036-7:2004 Características de la superficie de carreteras y aeródromos. Métodos de ensayo. Parte 7: medición de irregularidades en capas de pavimento: ensayo con regla.
  • NF P14-204-6*NF EN 13892-6:2003 Métodos de prueba para materiales de solera. Parte 6: determinación de la dureza de la superficie.
  • NF X21-069-1:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 1: términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
  • NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia electrónica de barrena (AES)
  • NF V08-037:2003 Microbiología de productos alimentarios - Superficies del entorno alimentario - Toma de muestras destinadas a análisis microbiológicos.
  • NF X20-521:1981 Análisis de gases. Determinación del punto de rocío del agua del gas natural. Higrometros de condensación de superficie refrigerada.
  • NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de superficies poco profundas.

  • GB/T 13592-1992 Términos relacionados con el análisis de superficies.
  • GB/T 22461-2008 Análisis químico de superficies. Vocabulario
  • GB/T 28894-2012 Análisis químico de superficies. Entrega de muestras antes del análisis.
  • GB/T 29559-2013 Análisis químico de superficies. Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • GB/T 21007-2007 Análisis químico de superficies. Formatos de información
  • GB/T 20175-2006 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de sputter. Optimización utilizando sistemas estratificados como materiales de referencia.
  • GB/T 29557-2013 Análisis químico de superficie. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada.
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 19499-2004 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos.
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 30815-2014 Análisis químico de superficies. Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
  • GB/T 43087-2023 Método para determinar la posición de la interfaz en imágenes transversales de materiales en capas mediante análisis de microhaces y microscopía electrónica.
  • GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies
  • GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
  • GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
  • GB/T 17456.1-2009 Tuberías de fundición dúctil. Recubrimiento externo a base de zinc. Parte 1: Zinc metálico con capa de acabado.
  • GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • GB/T 17456.2-2010 Tuberías de hierro dúctil. Recubrimiento externo de zinc. Parte 2: Pintura rica en zinc con capa de acabado.
  • GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB 9290-1988 Agentes tensioactivos-Aminas grasas etoxiladas técnicas-Métodos de análisis
  • GB/T 9290-1988 Agentes tensioactivos--Aminas grasas etoxiladas técnicas--Métodos de análisis
  • GB/T 19502-2004 Análisis químico de superficies-Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OSE)-Introducción al uso
  • GB/T 9290-2008 Agentes tensioactivos. Aminas grasas etoxiladas técnicas. Método de análisis.
  • GB/T 42658.4-2023 Directrices para el manejo, la preparación y el montaje de muestras para el análisis químico de superficies Parte 4: Presentación de información relacionada con el origen, la preparación, el manejo y el montaje de nanoobjetos antes del análisis de superficies
  • GB/T 22461.2-2023 Glosario de análisis químico de superficies, parte 2: Terminología de microscopía de sonda de barrido
  • GB/T 22461.1-2023 Vocabulario para el análisis químico de superficies parte 1: términos generales y espectroscópicos
  • GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB/T 22638.10-2008 Métodos de prueba para láminas de aluminio y aleaciones de aluminio. Parte 10: Determinación de la masa por unidad de área (densidad superficial) de los recubrimientos.
  • GB/T 8923.1-2011 Preparación de sustratos de acero antes de la aplicación de pinturas y productos relacionados. Evaluación visual de la limpieza de la superficie. Parte 1: Grados de oxidación y grados de preparación de sustratos de acero sin recubrimiento y de sustratos de acero después de la eliminación total del revestimiento anterior.
  • GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de superficies poco profundas.

  • ISO/CD 20289:2017 Surface chemical analysis
  • ISO 18115:2001
  • ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
  • ISO/CD 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
  • ISO 16962:2017 Análisis químico de superficies - Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa
  • ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
  • ISO 14606:2000 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad de sputtering - Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia
  • ISO 14606:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad de sputtering - Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia
  • ISO 16962:2005 Análisis químico de superficies - Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa
  • ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
  • ISO/TR 15969:2021 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad de pulverización catódica.
  • ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas
  • ISO 24417:2022 Análisis químico de superficies: análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa
  • ISO/TR 14187:2020 Análisis químico de superficies. Caracterización de materiales nanoestructurados.
  • ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 3: Términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas.
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • ISO/DIS 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie en banda de un tercio de octava.
  • ISO 18115:2001/Amd 1:2006 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 1
  • ISO 18115:2001/Amd 2:2007 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 2
  • ISO 14976:1998 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
  • ISO 18116:2005 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 14606:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de pulverización. Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia.
  • ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
  • ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
  • ISO 24465:2023 Análisis químico de superficie. Determinación de la detectabilidad mínima del dispositivo de resonancia de plasmón de superficie.
  • ISO/TR 14187:2011 Análisis químico de superficies - Caracterización de materiales nanoestructurados
  • ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
  • ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO/TR 15969:2001 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Medición de la profundidad de pulverización catódica
  • ISO 893:1989 Agentes tensioactivos; alcanosulfonatos técnicos; metodos de analisis
  • ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas por descarga luminiscente. Procedimientos operativos.
  • ISO 893:1978 Agentes tensioactivos. Alcanosulfonatos técnicos de sodio. Métodos de análisis.
  • ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
  • ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • ISO/TS 25138:2019 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxido metálico mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • ISO 894:1977 Agentes tensioactivos; Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos; Métodos de análisis
  • ISO 895:1977 Agentes tensioactivos; Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos; Métodos de análisis
  • ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
  • ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
  • ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
  • ISO 6384:1981 Agentes tensioactivos; Aminas grasas etoxiladas técnicas; Métodos de análisis
  • ISO 456:1973 Agentes tensioactivos; Análisis de jabones; Determinación de álcali cáustico libre.
  • ISO/TS 25138:2010 Análisis químico de superficies: análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • ISO 3892:1980 Recubrimientos de conversión sobre materiales metálicos; Determinación de la masa de recubrimiento por unidad de área; Métodos gravimétricos
  • ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
  • ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 20579-4:2018 Análisis químico de superficies. Directrices para la manipulación, preparación y montaje de muestras. Parte 4: Presentación de información relacionada con el historial, la preparación, la manipulación y el montaje de nanoobjetos antes del análisis de superficies.
  • ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
  • ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
  • ISO 18115-1:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia
  • ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
  • ISO/DIS 23124:2023 Análisis químico de superficies: medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman
  • ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
  • ISO/TR 19693:2018 Análisis químico de superficies: caracterización de sustratos de vidrio funcionales para aplicaciones de biosensores
  • ISO/CD 20579-1:2023 Análisis químico de superficies. Manipulación, preparación y montaje de muestras. Parte 1: Documentar e informar sobre la manipulación de muestras antes del análisis.
  • ISO/DIS 20579-1:2023 Análisis químico de superficies. Manipulación, preparación y montaje de muestras. Parte 1: Documentar e informar sobre la manipulación de muestras antes del análisis.
  • ISO 2079:1981 Tratamiento de superficies y revestimientos metálicos; Clasificación general de términos Edición trilingüe
  • ISO 20579-3:2021 Análisis químico de superficies. Manipulación, preparación y montaje de muestras. Parte 3: Biomateriales.
  • ISO 13473-2:2002 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie - Parte 2: Terminología y requisitos básicos relacionados con el análisis del perfil de textura del pavimento
  • ISO/TS 15338:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de descarga luminosa (GD-MS) - Introducción al uso
  • ISO/TR 18392:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Procedimientos para la determinación de fondos
  • ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
  • ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.

AT-ON, Análisis de superficies poco profundas.

British Standards Institution (BSI), Análisis de superficies poco profundas.

  • BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
  • BS ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
  • BS ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas
  • BS ISO 16962:2017 Análisis químico de superficies. Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • BS ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
  • BS ISO 14975:2001 Análisis químico de superficies. Formatos de información
  • BS ISO 24417:2022 Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • BS PD ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas.
  • PD ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas.
  • 21/30440164 DC BS ISO 14606. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de pulverización. Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia.
  • PD ISO/TR 14187:2020 Análisis químico de superficies. Caracterización de materiales nanoestructurados.
  • BS ISO 14606:2022 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de pulverización. Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia.
  • BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.
  • PD ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de descarga luminosa. Procedimientos de operación
  • BS ISO 14976:1998 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
  • BS EN 61725:1997 Expresión analítica para perfiles solares diarios.
  • DD ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles superficiales. Análisis espectral de perfiles de textura.
  • 21/30405786 DC BS ISO 24417. Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
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  • DS/EN 15042-1:2006 Medición de espesor de recubrimientos y caracterización de superficies con ondas superficiales - Parte 1: Guía para la determinación de constantes elásticas, densidad y espesor de películas mediante ondas acústicas superficiales inducidas por láser
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  • UNE 55732:1984 AGENTES TENSOACTIVOS. AMINAS GRASAS ETOXILADAS TÉCNICAS. MÉTODO DE ANÁLISIS
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  • UNE 55901:1985 AGENTES TENSOACTIVOS. ANÁLISIS DE JABONES. DETERMINACIÓN DE ÁLCALI LIBRE DE CÁUSTICOS
  • UNE-EN ISO 13565-2:1998 ESPECIFICACIONES GEOMÉTRICAS DEL PRODUCTO (GPS) - TEXTURA DE LA SUPERFICIE: MÉTODO DEL PERFIL; SUPERFICIES CON PROPIEDADES FUNCIONALES ESTRATIFICADAS - PARTE 2: CARACTERIZACIÓN EN ALTURA UTILIZANDO LA CURVA LINEAL DE RELACIÓN DE MATERIALES (ISO 13565-2:1996).
  • UNE-EN ISO 13565-3:2001 ESPECIFICACIONES GEOMÉTRICAS DEL PRODUCTO (GPS). TEXTURA SUPERFICIAL: MÉTODO DEL PERFIL; SUPERFICIES QUE TIENEN PROPIEDADES FUNCIONALES ESTRATIFICADAS. PARTE 3: CARACTERIZACIÓN DE ALTURA UTILIZANDO LA CURVA DE PROBABILIDAD DE MATERIALES. (ISO 13565-3:1998)
  • UNE 55903:1985 AGENTES TENSOACTIVOS. ANÁLISIS DE JABONES. DETERMINACIÓN DEL CONTENIDO DE GLICEROL. MÉTODO TITRIMÉTRICO
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  • ASTM E1078-09 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
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