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Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

Análisis de superficie de instrumentos de superficie., Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de superficie de instrumentos de superficie. son: Equipos para la industria química., Química analítica, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., Acústica y mediciones acústicas., Ingeniería vial, Accesorios electricos, Instalaciones en edificios, Recubrimientos y procesos relacionados utilizados en la industria aeroespacial., Construcción naval y estructuras marinas en general, Aplicaciones de la tecnología de la información., Aspectos, PRUEBAS, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Productos de la industria química., ingeniería de energía solar, Dispositivos de visualización electrónica., Mediciones de radiación, Educación, Dispositivos semiconductores, Aparatos de calefacción domésticos, comerciales e industriales., Metrología y medición en general., Protección de radiación, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., ingeniería de energía nuclear, Vaso, Terminal de TI y otros equipos periféricos, Termodinámica y mediciones de temperatura., Alambres y cables eléctricos., Sistemas de automatización industrial, Pruebas ambientales, Pruebas eléctricas y electrónicas., Tecnología de vacío, Equipos para la industria metalúrgica., Tratamiento superficial y revestimiento., Equipamiento e instalaciones deportivas., Tabaco, productos del tabaco y equipos relacionados., Sistemas de máquinas herramienta, Pruebas no destructivas, Materiales de construcción, Calidad, Metalurgia de polvos.

Defense Logistics Agency, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767-1983 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

T/ZSA 110-2022 Analizador de superficie específica y tamaño de poro
T/HBJLXH 009-2023 Método de calibración del compactador de vibración de superficie
T/GDAQI 102-2023 Dispositivos infrarrojos de temperatura de la piel humana para detección instantánea.

Professional Standard - Chemical Industry, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

HG/T 6138-2023 Analizador de superficie específica y tamaño de poro

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 18115:2006 Análisis químico de superficies－Vocabulario
KS D ISO 18115-2006(2021) Análisis químico de superficies－Vocabulario
KS D ISO 18115-2006(2016) Análisis químico de superficies－Vocabulario
KS D ISO 14975:2011 Análisis químico de superficies-Formatos de información
KS D ISO 14975-2011(2016) Análisis químico de superficies－Formatos de información
KS D ISO 14975-2011(2021) Análisis químico de superficies－Formatos de información
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO TR 15969-2011(2021) Análisis químico de superficie－Perfilado de profundidad－Medición de profundidad pulverizada
KS D ISO TR 15969-2011(2016) Análisis químico de superficie－Perfilado de profundidad－Medición de profundidad pulverizada
KS D ISO 14976:2011 Análisis químico de superficie－Formato de transferencia de datos
KS C IEC 61725-2005(2020) Expresión analítica para perfiles solares diarios.
KS D ISO 14976-2011(2016) Análisis químico de superficie－Formato de transferencia de datos
KS D ISO 14976-2011(2021) Análisis químico de superficie－Formato de transferencia de datos
KS D ISO TR 15969:2011 Análisis químico de superficie－Perfilado de profundidad－Medición de profundidad pulverizada
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS B 0501-2001 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial mediante el método del lápiz-método del perfil.
KS A 4441-2001 Medidor portátil de contaminación de superficies radiactivas
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS A 4441-2001(2011) Medidor portátil de contaminación de superficies radiactivas
KS A ISO 7503-2-2003(2018) Evaluación de la contaminación de la superficie－Parte 2: Contaminación de la superficie por tritio
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61554-2013(2018) Equipos montados en panel－Instrumentos de medición eléctricos－Dimensiones para montaje en panel
KS B 0506-1975 Instrumentos para la Medición de Rugosidad Superficial por el Método Interferométrico
KS B 0506-2016 Instrumentos para la Medición de Rugosidad Superficial por el Método Interferométrico
KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS A ISO 7503-2:2003 Evaluación de la contaminación de la superficie－Parte 2: Contaminación de la superficie por tritio
KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS B ISO 25178-1:2017 Especificaciones geométricas del producto (GPS). Textura de la superficie: Areal. Parte 1: Indicación de la textura de la superficie.
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS C IEC 61207-6-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
KS M ISO 894-2007(2018) Agentes tensioactivos－Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos－Métodos de análisis
KS M ISO 893-2007(2018) Agentes tensioactivos－Alcanosulfonatos técnicos－Métodos de análisis
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS B 0162-1999 Rugosidad superficial-Terminología-Parte 1:Superficie y sus parámetros
KS B 0162-1999(2009) Rugosidad de la superficie－Terminología－Parte 1：Superficie y sus parámetros
KS B 0501-2021 Instrumentos para la medición de la rugosidad superficial por el método del stylus.
KS B 0506-2016(2021) Instrumentos para la Medición de Rugosidad Superficial por el Método Interferométrico
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS M ISO 456:2007 Agentes tensioactivos－Análisis de jabones－Determinación de álcali cáustico libre
KS M ISO 893:2007 Agentes tensioactivos－Alcanosulfonatos técnicos－Métodos de análisis
KS M ISO 456-2007(2017) Agentes tensioactivos－Análisis de jabones－Determinación de álcali cáustico libre
KS M ISO 895-2007(2018) Agentes tensioactivos－Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos－Métodos de análisis
KS M ISO 456-2007(2022) Agentes tensioactivos－Análisis de jabones－Determinación de álcali cáustico libre
KS B ISO 25178-1-2017(2022) Especificaciones geométricas del producto (GPS). Textura de la superficie: Areal. Parte 1: Indicación de la textura de la superficie.
KS A 4614-2006(2011) Contenedor de superficie de un instrumento de medición que utiliza radiación ionizante.
KS B 0501-2016 Instrumentos para medir la rugosidad superficial mediante el método del lápiz－Método del perfil
KS A 4614-1985 Contenedor de superficie de un instrumento de medición que utiliza radiación ionizante.
KS M ISO 894:2007 Agentes N de superficie-Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos-Métodos de análisis
KS M ISO 895:2007 Agentes N de superficie-Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos-Métodos de análisis
KS M ISO 6384:2007 Agentes tensioactivos－Aminas grasas etoxiladas técnicas－Métodos de análisis
KS M ISO 6384-2007(2022) Agentes tensioactivos－Aminas grasas etoxiladas técnicas－Métodos de análisis
KS M ISO 6384-2007(2017) Agentes tensioactivos－Aminas grasas etoxiladas técnicas－Métodos de análisis

International Federation of Trucks and Engines, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

NAVISTAR CEMS DT-14-2009 Definición de ondulación superficial mediante el analizador ALSA
NAVISTAR CEMS DT-14-2016 VOID - Definición de la ondulación de la superficie mediante el analizador ALSA

KR-KS, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS B ISO 25178-1-2017 Especificaciones geométricas del producto (GPS). Textura de la superficie: Areal. Parte 1: Indicación de la textura de la superficie.
KS M ISO 893-2007(2023) Agentes tensioactivos－Alcanosulfonatos técnicos－Métodos de análisis
KS M ISO 894-2007(2023) Agentes tensioactivos－Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos－Métodos de análisis
KS M ISO 895-2007(2023) Agentes tensioactivos－Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos－Métodos de análisis

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

GB/T 13592-1992 Términos relacionados con el análisis de superficies.
GB/T 22461-2008 Análisis químico de superficies. Vocabulario
GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 21007-2007 Análisis químico de superficies. Formatos de información
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 28894-2012 Análisis químico de superficies. Entrega de muestras antes del análisis.
GB/T 19499-2004 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos.
GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 29557-2013 Análisis químico de superficie. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada.
GB/T 15222-1994 Evaluación de la contaminación de la superficie. Parte 2: Contaminación de la superficie por tritio.
GB/T 14056.2-2011 Evaluación de la contaminación superficial.Parte 2: Contaminación superficial por tritio
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 8997-1988 Calibración de medidores y monitores de contaminación de superficies alfa y beta
GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 5202-1985
GB/T 8997-2008 Calibración de medidores y monitores de contaminación de superficies alfa, beta y alfa/beta
GB 5202-1985 Medidores y monitores de contaminación de superficies alfa, beta y alfa-beta
GB/T 19146-2010 Dispositivos infrarrojos para la detección instantánea de la temperatura de la piel humana.
GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 30815-2014 Análisis químico de superficies. Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
GB 9290-1988 Agentes tensioactivos－Aminas grasas etoxiladas técnicas－Métodos de análisis
GB/T 9290-1988 Agentes tensioactivos--Aminas grasas etoxiladas técnicas--Métodos de análisis
GB/T 19502-2004 Análisis químico de superficies-Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OSE)-Introducción al uso
GB/T 9290-2008 Agentes tensioactivos. Aminas grasas etoxiladas técnicas. Método de análisis.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

ISO/CD 20289:2017 Surface chemical analysis
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO/CD 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
ISO 18115:2001
ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie.
ISO/DIS 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie en banda de un tercio de octava.
ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
ISO/TR 14187:2020 Análisis químico de superficies. Caracterización de materiales nanoestructurados.
ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
ISO 18115:2001/Amd 1:2006 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 1
ISO 18115:2001/Amd 2:2007 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 2
ISO 14976:1998 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
ISO 24465:2023 Análisis químico de superficie. Determinación de la detectabilidad mínima del dispositivo de resonancia de plasmón de superficie.
ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 3: Términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas.
ISO/TR 15969:2021 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad de pulverización catódica.
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 7503-2:1988 Evaluación de contaminación superficial; parte 2: contaminación de la superficie por tritio
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO/PAS 13473-6:2021 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 6: Verificación del rendimiento de los perfilómetros láser utilizados para medir la textura del pavimento.
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 18116:2005 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 25178-1:2016 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 1: Indicación de la textura superficial
ISO/TR 14187:2011 Análisis químico de superficies - Caracterización de materiales nanoestructurados
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies - Perfilado en profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 25178-6:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 6: Clasificación de métodos para medir la textura superficial
ISO/TR 15969:2001 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Medición de la profundidad de pulverización catódica
ISO 893:1989 Agentes tensioactivos; alcanosulfonatos técnicos; metodos de analisis
ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas por descarga luminiscente. Procedimientos operativos.
ISO 893:1978 Agentes tensioactivos. Alcanosulfonatos técnicos de sodio. Métodos de análisis.
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 13473-3:2002 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie - Parte 3: Especificaciones y clasificación de perfilómetros
ISO 25178-2:2012 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 2: Términos, definiciones y parámetros de textura superficial
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 894:1977 Agentes tensioactivos; Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos; Métodos de análisis
ISO 895:1977 Agentes tensioactivos; Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos; Métodos de análisis
ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO/TR 29901:2007/cor 1:2009 Ilustraciones seleccionadas de experimentos factoriales completos con cuatro factores; Corrigendum técnico 1
ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO 6384:1981 Agentes tensioactivos; Aminas grasas etoxiladas técnicas; Métodos de análisis
ISO 456:1973 Agentes tensioactivos; Análisis de jabones; Determinación de álcali cáustico libre.
ISO 4287-1:1984 Rugosidad de la superficie; Terminología; Parte 1: Superficie y sus parámetros Edición trilingüe

AT-ON, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

ONORM M 1113-1982 Superficies técnicas; métodos de análisis de surjaces Técnicas de surjaces; métodos de ensayo de superficies
ONORM M 1114-1982 Medición de rugosidad superficial con instrumentos de contacto (Stylus)

RO-ASRO, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

STAS 11195-1987 AGENTES DE SUPERFICIE Método de análisis
SR 110-9-1995
STAS 5730/4-1987 Estado de las superficies REGLAS PARA LA MEDICIÓN DE LA RUGOSIDAD SUPERFICIAL UTILIZANDO INSTRUMENTOS STYLUS
STAS SR CEI 776-1983 Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
STAS ISO 1879:1993
STAS SR ISO 7503-2:1996 Evaluación de la contaminación de superficies Parte 2: Contaminación de superficies por tritio
STAS SR ISO 3274:1995

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JIS B 0651:1996 Textura superficial -- Instrumentos para la evaluación de la textura superficial -- Método del perfil
JIS K 0147:2004 Análisis químico de superficies - Vocabulario
JIS K 0142:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
JIS K 0141:2000 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos.
JIS B 0681-6:2014 Especificaciones geométricas de producto (GPS) -- Textura superficial: Areal -- Parte 6: Clasificación de métodos para medir la textura superficial
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
JIS K 0154:2017 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
JIS B 0660:1998 Rugosidad de la superficie - Terminología - Parte 1: Superficie y sus parámetros
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS B 0681-1:2023 Especificaciones geométricas del producto (GPS) -- Textura superficial: Areal -- Parte 1: Indicación de la textura superficial
JIS K 0148:2005 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos

Association Francaise de Normalisation, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies - Manipulación de muestras antes del análisis.
NF X21-065*NF ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
NF EN ISO 25178-700:2023 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: Superficie - Parte 700: Calibración, ajuste y verificación de instrumentos de medida de topografía de superficies
NF X21-052/A2:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Enmienda 2.
NF X21-052/A1:2008 Análisis químico de superficies - Vocabulario - ENMIENDA 1.
NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies - Directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis
NF EN 61725:1998 Expresión analítica de perfiles solares diarios.
NF M60-702:1988 Evaluación de la contaminación superficial. Parte 2: contaminación de la superficie por tritio.
NF EN ISO 25178-601:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 601: características nominales de los instrumentos de contacto (sonda)
NF X21-056*NF ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
NF ISO 893:1990 Tensioactivos - Alcanosulfonatos técnicos - Método de análisis.
NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF E05-031-6*NF EN ISO 25178-6:2010 Especificaciones geométricas de productos (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 6: clasificación de métodos para medir la textura superficial
NF C46-251-3*NF EN IEC 61207-3:2019 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: analizadores de oxígeno paramagnéticos
NF EN IEC 61207-3:2019 Analizadores de gases - Expresión de rendimiento - Parte 3: analizadores de oxígeno paramagnéticos
NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento del analizador de gases - Parte 6: analizadores fotométricos
NF T73-292*NF EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis.
NF EN 14670:2005 Tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método de análisis
NF EN ISO 105-Z01:1996 Textiles - Ensayos de solidez del color - Parte Z01: solidez del color a metales en baños de tinte: sales de cromo.
NF EN ISO 25178-2:2022 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 2: términos, definiciones y parámetros de acabado superficial
NF EN ISO 25178-701:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 701: estándares de calibración y medición para instrumentos de contacto (sonda)
NF T73-428*NF EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
NF E05-031-1*NF EN ISO 25178-1:2016 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Textura de la superficie: areal - Parte 1: indicación de la textura de la superficie
NF P90-149-2*NF EN 15330-2:2017 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: especificación para superficies punzonadas para tenis y superficies polideportivas.
NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF C46-256:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF EN ISO 25178-606:2015 Especificación geométrica de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 606: características nominales de instrumentos sin contacto (variación focal)
FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 Análisis químico de superficie - Perfilado de profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
NF S31-252-1:2004 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 1: determinación de la profundidad media del perfil.
NF EN ISO 25178-1:2016 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Estado de la superficie: superficie - Parte 1: indicación de las condiciones de la superficie
NF EN 15647:2009 Tensioactivos: determinación de las fuerzas de dispersión de tensioactivos en polvo.
NF T73-275:1982 Agentes de superficie activos. Aminas grasas etoxiladas técnicas. Métodos de análisis.
NF T73-233*NF ISO 893:1990 Agentes tensioactivos. Alcanosulfonatos técnicos. Métodos de análisis.
XP CEN/TS 15901-13:2011 Características de la superficie de carreteras y aeropuertos - Parte 13: procedimiento para determinar la adherencia de la superficie de una carretera midiendo un coeficiente de fricción transversal (CFTO): el odoliógrafo
NF EN ISO 25178-607:2019 Especificación geométrica de producto (GPS) - Acabado superficial: Superficie - Parte 607: características nominales de los instrumentos sin contacto (microscopía confocal)
NF EN ISO 25178-73:2019 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 73: términos y definiciones para defectos superficiales en mediciones materializadas
NF EN IEC 60580:2020 Dispositivos electromédicos - Medidores de radiación de productos de superficie de exposición
NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
XP P98-832-5*XP CEN/TS 15901-5:2011 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 5: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRDK): ROAR (Road Analyser and Recorder of Norsemeter)
NF EN 15042-1:2006 Medición del espesor del recubrimiento y caracterización de superficies mediante ondas superficiales - Parte 1: Guía para determinar las constantes elásticas, la densidad y el espesor de la película mediante ondas de...
NF C46-253*NF EN 61207-3:2002 Analizadores de gases - Expresión de rendimiento - Parte 3: analizadores de oxígeno paramagnéticos.
NF T73-232:1978 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos. Métodos de análisis.
NF T73-231:1978 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos primarios de sodio técnicos. Métodos de análisis.
NF P98-857-1*NF EN 12274-1:2018 Lechada para revestimiento de superficies - Métodos de prueba - Parte 1: muestreo de la mezcla de lechada para revestimiento de superficies

YU-JUS, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JUS H.E0.005-1979 Agentes tensioactivos. Glosario. Lista V. Análisis
JUS M.A1.024-1981 Rugosidad superficial de productos industriales. Clasificación de fktws de superficie.
JUS M.A1.027-1981 Rugosidad superficial de productos industriales. Clasificación de superficies raspadas.
JUS M.A1.032-1980 Clasificación de instrumentos y dispositivos para la medición y evaluación de los parámetros geométricos del acabado superficial.
JUS M.A1.031-1982 Instrumentos para la medición de la rugosidad de la superficie mediante el método del perfil: medidores de perfil de contacto, sistema M
JUS H.E8.053-1992 Agentes tensioactivos. Aminas grasas etoxiladas técnicas. Métodos de análisis

German Institute for Standardization, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie (ISO/TS 13473-4:2008)
DIN ISO/TS 13473-4:2009 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie (ISO/TS 13473-4:2008)
DIN VDE 0603-2-1:2017 Paneles de medidores - Parte 2-1: Paneles de medidores para medición directa hasta 63 A
DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 Paneles de medidores - Parte 3-3: Conectores de terminales para medidores; Corrección 1
DIN ISO 13473-3:2004-07 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 3: Especificaciones y clasificación de perfilómetros (ISO 13473-3:2002)
DIN ISO 13473-3:2004 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 3: Especificaciones y clasificación de perfilómetros (ISO 13473-3:2002)
DIN 43700:1982 Medición y control; instrumentos de medición y control para montaje en panel; Dimensiones frontales y de corte nominales.
DIN VDE 0603-3-2:2017 Paneles de contadores - Parte 3-2: Dispositivo para montaje y conexión (BKE) de contadores electrónicos (eHZ) para uso doméstico en paneles de contadores
DIN EN 61098:2008 Instrumentación de protección radiológica: conjuntos de monitoreo de la contaminación superficial del personal instalados (IEC 61098:2003, modificada); Versión alemana EN 61098:2007
DIN ISO 13473-2:2004 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 2: Terminología y requisitos básicos relacionados con el análisis del perfil de textura del pavimento (ISO 13473-2:2002)
DIN ISO 13473-2:2004-07 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 2: Terminología y requisitos básicos relacionados con el análisis del perfil de textura del pavimento (ISO 13473-2:2002)
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico; Versión alemana EN 14670:2005
DIN 28400-6:1980-10 Tecnología de vacío; términos y definiciones, técnicas de análisis de superficies.
DIN EN 61725:1998-03 Expresión analítica para perfiles solares diarios (IEC 61725:1997); Versión alemana EN 61725:1997
DIN EN 61207-6:1995 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994); Versión alemana EN 61207-6:1994
DIN 43870 Bb.1:1986 Tableros de montaje de medidores; información sobre el área funcional
DIN EN 61207-6:2016-03 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:2014); Versión alemana EN 61207-6:2015 / Nota: DIN EN 61207-6 (1995-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de diciembre de 2017.
DIN EN IEC 61207-3:2020-12 Analizadores de gases - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos (IEC 61207-3:2019); Versión alemana EN IEC 61207-3:2019 / Nota: DIN EN 61207-3 (2002-11) y DIN EN 61207-3 Berichtigung 1 (2003-05) siguen siendo válidas junto con esta norma u...
DIN EN 14670:2005-09 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico; Versión alemana EN 14670:2005
DIN 28400-6:1980 Tecnología de vacío; términos y definiciones, técnicas de análisis de superficies.
DIN 68861-8:2001-04 Superficies de muebles - Parte 8: Comportamiento ante la exposición al calor húmedo
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN ISO 25178-1:2016-12 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 1: Indicación de la textura superficial (ISO 25178-1:2016); Versión alemana EN ISO 25178-1:2016
DIN EN 15330-2:2017 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: Especificaciones para superficies punzonadas para tenis y superficies polideportivas.
DIN 6094-13:1997-05 Medios de embalaje - Acabados - Parte 13: Acabados 2 roscas y 3 roscas-tornillos
DIN EN ISO 25178-6:2010-06 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 6: Clasificación de métodos para medir la textura superficial (ISO 25178-6:2010); Versión alemana EN ISO 25178-6:2010
DIN EN ISO 13473-1:2004 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 1: Determinación de la profundidad media del perfil (ISO 13473-1:1997); Versión alemana EN ISO 13473-1:2004
DIN EN 15647:2009-04 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo; Versión alemana EN 15647:2009
DIN EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo; Versión en inglés de DIN EN 15647:2009-04
DIN CEN/TS 15901-2:2010-03*DIN SPEC 1142:2010-03 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 2: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRNL): ROAR (Road Analyser and Recorder of Norsemeter); Versión alemana CEN/TS 15...
DIN CEN/TS 15901-5:2010-03*DIN SPEC 1145:2010-03 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 5: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRDK): ROAR (Road Analyser and Recorder of Norsemeter); Versión alemana CEN/TS 15...

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

AS ISO 18115:2006 Análisis químico de superficies - Vocabulario
AS ISO 14975:2006 Análisis químico de superficies - Formatos de información
AS ISO 14976:2006 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
AS ISO 18116:2006 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
AS 1627.7:1988 Acabado de metales. Preparación y pretratamiento de superficies. Parte 7: Limpieza manual de superficies metálicas.
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

British Standards Institution (BSI), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
BS ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
BS ISO 14975:2001 Análisis químico de superficies. Formatos de información
DD ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles superficiales. Análisis espectral de perfiles de textura.
PD ISO/TR 14187:2020 Análisis químico de superficies. Caracterización de materiales nanoestructurados.
BS ISO 18117:2009 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
BS ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas
BS EN IEC 61207-3:2019 Cambios rastreados. Analizadores de gases. Expresión de actuación. Analizadores de oxígeno paramagnéticos
BS DD ISO/TS 13473-4:2008 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie - Análisis espectral de perfiles de textura
BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
BS ISO 14976:1998 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos
BS EN 61725:1997 Expresión analítica para perfiles solares diarios.
BS ISO 24465:2023 Análisis químico de superficies. Determinación de la detectabilidad mínima del dispositivo de resonancia de plasmones de superficie.
DD ISO/TR 15969:2001 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada
BS DD ISO/TR 15969:2001 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Medición de la profundidad de pulverización catódica
BS PD ISO/TR 15969:2021 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada
BS 6351-2:1983 Calefacción de superficie eléctrica - Guía para el diseño de sistemas de calefacción de superficie eléctrica
BS ISO 18115-1:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos generales y términos utilizados en espectroscopia
BS ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
BS ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Medición de la tasa de deriva
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
PD ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de descarga luminosa. Procedimientos de operación
BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.
21/30404376 DC BS ISO 24465. Análisis químico de superficies. Determinación de la detectabilidad mínima del dispositivo de resonancia de plasmones superficiales.
BS 1134-1:1988 Evaluación de la textura superficial. Métodos e instrumentación.
BS ISO 13473-3:2002 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie - Especificación y clasificación de perfilómetros
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 18116:2005 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
PD ISO/PAS 13473-6:2021 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles superficiales. Verificación del desempeño de perfilómetros láser utilizados para mediciones de textura de pavimentos
21/30385921 DC BS ISO 18115-3. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 3. Términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS 6351-1:1983 Calefacción de superficie eléctrica: especificación para dispositivos de calefacción de superficie eléctrica
BS 6329:1982 Método de expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS EN 61207-6:2015 Cambios rastreados. Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores fotométricos
BS EN 1370:1997 Fundación - Inspección de rugosidad superficial mediante comparadores visuales táctiles
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS 6829-0:1991 Análisis de agentes tensioactivos (materias primas) - Introducción general
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS DD ISO/TS 25138:2011 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
PD ISO/TR 19693:2018 Análisis químico de superficies. Caracterización de sustratos de vidrio funcionales para aplicaciones de biosensores.
BS EN ISO 8503-4:2012 Preparación de sustratos de acero antes de la aplicación de pinturas y productos relacionados. Características de rugosidad superficial de sustratos de acero limpiados con chorro de arena. Método para la calibración de comparadores de perfil de superficie ISO y para la determinación del perfil de superficie.
BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS EN ISO 25178-6:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial - Areal - Clasificación de métodos para medir la textura superficial
PD ISO/TR 15969:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad pulverizada
BS EN 15330-2:2008 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: Especificaciones para superficies punzonadas.
PD ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la tasa de sputtering. Método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
BS EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
BS 4359-4:1995 Determinación de la superficie específica de polvos. Recomendaciones para métodos de determinación de la superficie metálica mediante técnicas de adsorción de gas.
BS 6653:1985 Método de expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
BS ISO 14707:2015 Análisis químico de superficies. Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OES). Introducción al uso
BS ISO 14707:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso
BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales

Society of Automotive Engineers (SAE), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SAE ARP4252-1989 Métodos instrumentales para determinar la limpieza de superficies R (1995)
SAE ARP4252A-2006 Métodos instrumentales para determinar la limpieza de superficies.
SAE ARP4252A-2017 Métodos instrumentales para determinar la limpieza de superficies.
SAE ARP4252-1995 MÉTODOS INSTRUMENTALES PARA DETERMINAR LA LIMPIEZA DE LA SUPERFICIE

Professional Standard-Ships, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

CB 1085.4-1989 Tratamiento de superficie de cuota de horas-hombre para la fabricación de instrumentación

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JJG 478-2016 Monitores de contaminación de superficies α、β
JJG(建材) 107-1999 Reglamento de verificación para la determinación de la superficie específica del aparato de permeabilidad al aire.
JJG 478-1996 Reglamento de verificación de instrumentos de contaminación de superficies alfa beta y gamma

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

GB/T 33498-2017 Análisis químico de superficies: caracterización de materiales nanoestructurados.
GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 32999-2016 Análisis químico de superficie—Perfilado de profundidad—Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
GB/T 32996-2016 Análisis químico de superficies: análisis de películas de óxido metálico mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.

未注明发布机构, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

BS ISO 14975:2000(2012) Análisis químico de superficies. Formatos de información.
BS ISO 18117:2009(2015) Análisis químico de superficies. Manipulación de muestras antes del análisis.
ISO 14976:1998/Cor 1:1999 Corrigendum técnico 1 del formato de transferencia de datos del análisis químico de superficies
BS 6829-0:1991(2008) Análisis de agentes tensioactivos (materias primas). Parte 0: Introducción general.
BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS 7044-4:1991(1999) Superficies deportivas artificiales. Parte 4: Especificaciones para superficies para uso polideportivo.
BS 6351-2:1983(1999) Calefacción de superficie eléctrica. Parte 2: Guía para el diseño de sistemas de calefacción de superficie eléctrica.

Professional Standard - Machinery, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JB/T 6791-2010 Joya final para instrumentación.
JB/T 6791-1993 Rodamientos de joya facial para instrumentación.
JB/T 11271-2012 Probador de contorno de superficie de contacto (lápiz)
JB/T 7976-1999 Instrumento para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil.Términos
JB/T 7976-2010 Instrumento para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil-Términos

AWS - American Welding Society, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

C4.1 SET-1977 Medidor de rugosidad de la superficie de corte con oxígeno y tabla para criterios que describen las superficies cortadas con oxígeno

Indonesia Standards, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SNI 05-4533-1998 Instrumentos para la medición de la rugosidad superficial por el método del perfil - Instrumentos de contacto (stylus) de transformación progresiva del perfil - Instrumento de registro de perfiles

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

ASTM E673-98E1 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E673-01 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E673-03 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E673-02 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E673-02b Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E673-02a Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM D1001-51 Especificación para el análisis de tamiz de superficies minerales granulares para techos y tejas de asfalto
ASTM E1829-14(2020) Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
ASTM E770-80(1985)e1 Método para clasificar las texturas de las superficies de los pavimentos
ASTM E1829-02 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
ASTM E1829-97 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
ASTM E1829-09 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
ASTM E1078-14(2020) Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
ASTM E1829-14
ASTM E1078-14 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
ASTM D7013/D7013M-15 Guía estándar para la configuración de instalaciones de calibración para medidores de superficie nucleares
ASTM D452-91(1997)e1 Método de prueba estándar para el análisis de tamiz de superficies para productos de techos de asfalto
ASTM D452-91(2008) Método de prueba estándar para el análisis de tamiz de superficies para productos de techos de asfalto
ASTM D452/D452M-19 Método de prueba estándar para el análisis de tamiz de superficies para productos de techos de asfalto

ET-QSAE, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

ES 515-2000 Agentes tensioactivos — Detergentes — Análisis cualitativo

AENOR, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

UNE-EN 61725:1998 EXPRESIÓN ANALÍTICA PARA PERFILES SOLARES DIARIOS.
UNE 82303:1991 INSTRUMENTOS PARA LA MEDICIÓN DE RUGOSIDAD SUPERFICIAL POR EL MÉTODO DEL PERFIL. VOCABULARIO
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UNE 55510:1991 AGENTES TENSOACTIVOS. ALCANOSULFONATOS TÉCNICOS. MÉTODOS DE ANÁLISIS.
UNE-EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico
UNE 55526:1982 AGENTES TENSOACTIVOS. AGENTES TENSOACTIVOS Y DETERGENTES. MÉTODOS DE DIVISIÓN DE LA MUESTRA
UNE-EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
UNE 55909:1985 AGENTES TENSOACTIVOS. ANÁLISIS DE JABONES. DETERMINACIÓN DEL ÁLCALI LIBRE TOTAL
UNE-EN 15330-2:2009 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: Especificaciones para superficies punzonadas.
UNE 55511-1:1981 AGENTES TENSOACTIVOS. ANÁLISIS DE PRIM-ALQUILSULFATOS TÉCNICOS DE SODIO. ALCANCE

International Electrotechnical Commission (IEC), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

IEC 61134:1992 Instrumentación aérea para la medición de la radiación gamma terrestre.
IEC 61098:2003 Instrumentación de protección radiológica: conjuntos de vigilancia de la contaminación superficial del personal instalados.
IEC 61207-3:2002/COR2:2003 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos; Corrigendum técnico 2
IEC 60714:1981 Expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
IEC 61207-3:2019 RLV Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos
IEC 61207-3:2019 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos
IEC 60776:1983 Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
IEC 61098:2023 Instrumentación de protección radiológica: monitores de contaminación de superficies del personal instalados
IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables; Corrección 1

Professional Standard - Education, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JY/T 0430-2011 Vidrio de reloj para instrumentos de vidrio para la enseñanza.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
GB/T 6060.1-2018 Muestra de comparación de rugosidad de la superficie. Parte 1: Superficie de fundición.
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GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
GB/T 36504-2018 Guía para el análisis de la contaminación de la superficie de la placa de circuito impreso: espectroscopia electrónica Auger

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JEDEC JESD22-B108A-2003 Prueba de coplanaridad para dispositivos semiconductores de montaje superficial

SE-SIS, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SIS SS-ISO 4287/1:1988 Rugosidad de la superficie - Terminología - Parte 1: Superficie y sus parámetros
SIS SS IEC 473:1981 Instrumentos de medida eléctricos. Instrumentos montados en panel. Dimensiones.
SIS SS-ISO 7503-2:1990 Evaluación de la contaminación de la superficie. Parte 2: Contaminación de la superficie por tritio.
SIS SS-ISO 4287/2:1988 Rugosidad de la superficie - Terminología - Parte 2: Medición de los parámetros de rugosidad de la superficie
SIS SS-ISO 8503-4:1992

RU-GOST R, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

GOST 19300-1986 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Contacte con perfilógrafos y perfilómetros. Tipos y parámetros principales.
GOST 9847-1979 Instrumentos ópticos para la medición de parámetros de rugosidad superficial. Parámetros y tipos básicos.
GOST R 50001-1992 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos secundarios de sodio técnicos. Métodos de análisis
GOST R 50002-1992 Agentes tensioactivos. Alquilsulfatos de sodio técnicos primarios. Métodos de análisis

HU-MSZT, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

MSZ KGST 780-1977 VILLAMOS K?SZ?L?KEK ?S BERENDEZ?SEK N?VLEGES ?RAMAI

TR-TSE, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

TS 929-1976 INSTRUMENTOS PARA LA MEDICIÓN DE RUGOSIDAD SUPERFICIAL MEDIANTE EL MÉTODO PROF?LE-VOCABULARIO
TS 930-1976 INSTRUMENTOS PARA LA MEDICIÓN DE SUPERFICIE POR EL MÉTODO POFILE DE CONTACTO (STYLUS) INSTRUMENTOS DE TRANSFORMACIÓN PROGRESIVA DE PERFIL INSTRUMENTOS DE GRABACIÓN DE PERFIL

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

JJF 1285-2011 Especificación de calibración para el probador de resistencia superficial
JJF 1762-2019 Programa de evaluación de patrones de monitores de contaminación de superficies α、β
JJF(建材) 162-2019 Especificación de calibración para detector de tensión de superficie de vidrio
JJF 1105-2003 Especificación de calibración para instrumentos de contacto (stylus) de medición de rugosidad superficial mediante el método del perfil
JJF 1105-2018 Especificación de calibración para instrumentos de contacto (stylus) de medición de rugosidad superficial mediante el método del perfil

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

CNS 10794-1984 Instrumentos para la medición de la rugosidad superficial mediante el método del lápiz óptico.

VN-TCVN, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

TCVN 7078-2-2007 Evaluación de la contaminación superficial.Parte 2: Contaminación superficial por tritio

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

ASHRAE 3864-1995 Análisis de respuesta de frecuencia de superficies envolventes de edificios acopladas al suelo

GB-REG, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

REG NASA-LLIS-0788--2000 Lecciones aprendidas: análisis de carga superficial/descarga electrostática

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

EJ/T 979-1995 Método de acumulación para determinar la tasa de exhalación de radón en la superficie.

IT-UNI, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

UNI 7215-1973 Superficie coibentate Superficie calcolate per derivazioni a T

SAE - SAE International, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SAE ARP4252B-2017 Métodos instrumentales para determinar la limpieza de superficies.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

IEEE/ASA C39.1-1955 Panel de instrumentos, tablero de distribución e instrumentos portátiles de indicación eléctrica estándar americano ASA
IEEE/ASA C39.1-1959 Requisitos de la norma estadounidense ASA para paneles de instrumentos de indicación eléctrica, tableros de distribución e instrumentos portátiles

MSS - Manufacturers Standardization Society of the Valve and Fittings Industry., Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SP 112 COMPARATOR-2016 Estándar de calidad para la evaluación de acabados de superficies fundidas – Método visual y táctil – Comparador tridimensional de superficies fundidas

Danish Standards Foundation, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

DS/ISO 4287/1:1986 Terminología de rugosidad superficial Parte 1: Superficie y sus parámetros
DS/EN 61207-3/Corr.2:2003
DS/EN 61207-3/Corr.1:2003
DS/EN 61207-3:2002
DS/EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico
DS/IEC 776:1987 Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
DS/EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
DS/EN ISO 25178-6:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 6: Clasificación de métodos para medir la textura superficial
DS/EN 15330-2:2008 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: Especificaciones para superficies punzonadas.
DS/CEN/TS 15901-2:2011 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 2: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRNL): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)
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DS/ISO 4287/2:1986 Rugosidad de la superficie. Terminología Parte 2: Parámetros y características de la rugosidad de la superficie.
DS/EN ISO 13473-5:2010 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie - Parte 5: Determinación de la megatextura

European Committee for Standardization (CEN), Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

EN ISO 25178-6:2010 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 6: Clasificación de métodos para medir la textura superficial (ISO 25178-6:2010)
EN 14670:2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico
EN ISO 25178-1:2016 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 1: Indicación de la textura superficial
EN 15647:2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
CEN/TS 15901-5:2009 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 5: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRDK): ROAR (Road Analyser and Recorder of Norsemeter)
CEN/TS 15901-2:2009 Características de la superficie de carreteras y aeródromos - Parte 2: Procedimiento para determinar la resistencia al deslizamiento de una superficie de pavimento utilizando un dispositivo con deslizamiento longitudinal controlado (LFCRNL): ROAR (Road Analyzer and Recorder of Norsemeter)

AGMA - American Gear Manufacturers Association, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

99FTM5-1999 Análisis de micropitting en prototipos de engranajes de prueba de fatiga superficial

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

EN 61207-6:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 6: Analizadores fotométricos

ES-UNE, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

UNE-EN 61207-6:2015 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 6: Analizadores fotométricos (Ratificada por AENOR en febrero de 2015.)
UNE-EN IEC 61207-3:2019 Analizadores de Gas - Expresión de prestaciones - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2019.)
UNE 55901:1986 ERRATUM AGENTES DE SUPERFICIE ACTIVA. ANÁLISIS DE JABONES. DETERMINACIÓN DE ÁLCALI LIBRE DE CÁUSTICOS
UNE-EN ISO 25178-1:2016 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Textura superficial: Areal - Parte 1: Indicación de la textura superficial (ISO 25178-1:2016)

United States Navy, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

NAVY MIL-G-81704-1969 VIDRIO, INSTRUMENTOS DE AERONAVE, CUÑA DE ILUMINACIÓN Y CUBIERTA

Association of German Mechanical Engineers, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

VDI/VDE 2187-2002 Interfaz de usuario uniforme para instrumentos de campo digitales

IN-BIS, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

IS 10707-1983 INSTRUMENTOS PARA MEDICIÓN DE RUGOSIDAD SUPERFICIAL MEDIANTE EL MÉTODO DEL PERFIL
IS 11148-1984 EXPRESIÓN DE LAS PROPIEDADES DE LOS ANALIZADORES DE ESPECTRO
IS 12350-1987 EXPRESIÓN DE LAS PROPIEDADES DE LOS ANALIZADORES LÓGICOS

GOSTR, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

GOST R 58868-2020 Rodamientos para instrumentos. Desviación de la redondez de las superficies de las piezas. Procedimiento de medición

Professional Standard - Electron, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

SJ/Z 9076-1987 Presentación del rendimiento del analizador lógico.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

EN IEC 61207-3:2019 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos
EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
HD 469-1987 Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.

BE-NBN, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

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American Gear Manufacturers Association, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

AGMA 99FTM5-1999 Análisis de micropitting en prototipos de engranajes de prueba de fatiga superficial

Lithuanian Standards Office , Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

LST EN 14670-2005 Agentes tensioactivos - Dodecilsulfato de sodio - Método analítico
LST EN 15647-2009 Agentes tensioactivos: determinación del efecto dispersante de los tensioactivos sobre el polvo.
LST EN 15330-2-2008 Superficies para zonas deportivas. Césped sintético y superficies punzonadas diseñadas principalmente para uso en exteriores. Parte 2: Especificaciones para superficies punzonadas.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

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IPC TM-650 2.3.39C-2004 Prueba de identificación de contaminantes orgánicos superficiales (método analítico por infrarrojos)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

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AT-OVE/ON, Análisis de superficie de instrumentos de superficie.

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