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SEM de cuatro sondas

SEM de cuatro sondas, Total: 47 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en SEM de cuatro sondas son: Metales no ferrosos, Educación, Óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Química analítica, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Pruebas mecánicas, Compatibilidad electromagnética (CEM), Sistemas de vehículos de carretera.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM de cuatro sondas

JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM de cuatro sondas

KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral

Professional Standard - Education, SEM de cuatro sondas

JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM de cuatro sondas

GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
GB/T 17359-1998
GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición

International Organization for Standardization (ISO), SEM de cuatro sondas

ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
ISO 11775:2015
ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ISO 13083:2015

British Standards Institution (BSI), SEM de cuatro sondas

BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM de cuatro sondas

GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM de cuatro sondas

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Association of German Mechanical Engineers, SEM de cuatro sondas

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición

Association Francaise de Normalisation, SEM de cuatro sondas

NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM de cuatro sondas

JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido

未注明发布机构, SEM de cuatro sondas

JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo

RU-GOST R, SEM de cuatro sondas

GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

Society of Automotive Engineers (SAE), SEM de cuatro sondas

SAE J1752-2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
SAE J1752/2-1995 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 Mhz a 3 Ghz
SAE J1752/2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
SAE J1752/2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
SAE J1752/2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz

SAE - SAE International, SEM de cuatro sondas

SAE J1752-2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz