ZH
RU
EN

Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X., Total: 281 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X. son: Óptica y medidas ópticas., Protección de radiación, Pruebas no destructivas, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, pruebas de metales, Mediciones de radiación, Química analítica, muelles, Vocabularios, Equipo medico, ingeniería de energía nuclear, Alambres y cables eléctricos., Productos de la industria química., producción de metales, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Minerales no metalíferos, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Centrales eléctricas en general, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Minerales metalíferos, Componentes electrónicos en general., Metrología y medición en general., Educación, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., químicos inorgánicos, Medidas lineales y angulares., Protección contra el crimen, Ingredientes de pintura, Componentes de tuberías y tuberías., Tratamiento superficial y revestimiento..

Professional Standard - Machinery, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 9394-1999 Especificaciones para los estresómetros de rayos X.
JB/T 11145-2011 espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
JB/T 9394-2011 Instrumentos de ensayo no destructivos. Especificaciones de los estresómetros de rayos X.
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.
JB/T 11234-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Aparatos industriales de rayos X blandos.
JB/T 12456-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Requisitos técnicos del detector de rayos X para detección de placas de circuito.
JB/T 8387-2010 Instrumentos de prueba no destructivos. Parámetro principal para el tubo de rayos X de detección industrial.
JB/T 11608-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Aparatos de rayos X industriales para pruebas radiográficas.
JB/T 6215-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. La serie de mesa típica para tubos de rayos X industriales.
JB/T 12457-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba del detector de rayos X para la detección de placas de circuito.
JB/T 11607-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Sistema industrial de inspección de neumáticos por rayos X.
JB/T 7808-2010 Instrumentos de pruebas no destructivas Principales series de parámetros para equipos industriales de rayos X.
JB/T 5453-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Sistema de imágenes de intensificador de imágenes de rayos X industriales.
JB/T 11278-2012 Instrumentos de prueba no destructivos. La especificación general para equipos de rayos X industriales.

American National Standards Institute （ANSI), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI N42.26-1995 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de monitoreo - Dispositivos personales de advertencia para radiaciones X y Gamma

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 7704-1987 Medición de tensión residual por rayos X.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/Z 41286-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: rastreadores de tuberías de rayos X
GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
GB/T 23413-2009 Determinación del tamaño de los cristalitos y microdeformación de nanomateriales. Método de ampliación de la línea de difracción de rayos X.
GB/T 7704-2008 Ensayos no destructivos.Práctica para la medición de tensiones residuales mediante rayos X
GB/T 26595-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación para tubo de rayos X panorámico.
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
GB/T 26838-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos radiográficos de rayos X industriales portátiles.
GB/Z 41399-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: sistema industrial de imágenes de rayos X digitales
GB/Z 41476.3-2022 Instrumentos de prueba no destructivos. Reglas de protección radiológica para la aplicación técnica de equipos de rayos X hasta 1 MV. Parte 3: Fórmulas y diagramas para el cálculo de la protección radiológica para
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 26836-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación para tubos de rayos X de metal y cerámica.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 26594-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Métodos de prueba de propiedades del tubo de rayos X industrial.
GB/T 26830-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos de rayos X de potencial constante de alta frecuencia.
GB/T 26833-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificaciones generales para tubos de rayos X para detección industrial.
GB/T 26837-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos radiográficos de rayos X industriales de tipo estacionario y móvil.
GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
GB/T 26592-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Métodos de prueba de propiedades de aparatos de rayos X industriales.
GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro
GB/T 26593-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba de propiedades para el rendimiento de equipos industriales de tomografía computarizada (CT) de rayos X.
GB/T 26835-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación general para equipos industriales de tomografía computarizada (CT) de rayos X.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 480-2007 Medidor de espesor de rayos X
JJG 480-1987 Reglamento de verificación del medidor de espesor por rayos X
JJG 1050-2009 Regulación de verificación de la densitometría de rayos X 、 gamma para la densidad mineral ósea
JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

Society of Automotive Engineers (SAE), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SAE HS-784-2003 Medición de tensión residual SAE mediante difracción de rayos X, edición de 2003
SAE J784-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

SAE - SAE International, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SAE J784A-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

American Society for Testing and Materials (ASTM), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM F1467-18 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X (fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
ASTM E2860-12 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM E2860-20 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM E1172-87(2003) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM E1426-98 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM E1426-98(2009)e1 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM E1172-87(2001) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM E1172-87(1996) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM D5381-93(2014) Guía estándar para fluorescencia de rayos X 40;XRF41; Espectroscopía de pigmentos y extensores.
ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
ASTM F1467-99 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
ASTM F1467-99(2005) Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
ASTM E1172-87(2011) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda

RU-GOST R, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GOST 22091.4-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición del voltaje del tubo de rayos X.
GOST 22091.5-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la corriente del tubo de rayos X.
GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
GOST 20337-1974 Dispositivos de rayos X. Términos y definiciones
GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
GOST 22091.7-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la uniformidad de la distribución de la densidad de energía de los rayos X sobre la cobertura de rayos X.
GOST 22091.10-1984 Dispositivos de rayos X. El método para medir el equivalente AL(CU) de la envoltura del dispositivo de rayos X.
GOST 22091.14-1986 Dispositivos de rayos X. El método para medir la densidad del flujo de energía (densidad de flujo de fotones) de la radiación X.
GOST 22091.6-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir la potencia de la dosis de exposición a la radiación X y la dosis de exposición a la radiación X por pulso
GOST 22091.11-1980 Dispositivos de rayos X. El método de medición del tiempo de disponibilidad del dispositivo para el funcionamiento.
GOST 29025-1991 Pruebas no destructivas. Detectores de defectos de televisión por rayos X con transductores ópticos electrónicos de rayos X. Detectores de defectos radiográficos eléctricos. Requisitos técnicos generales
GOST 22091.1-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje del calentador.
GOST 22091.0-1984 Dispositivos de rayos X. Requisitos generales para la medición de parámetros.
GOST 22091.13-1984
GOST 22091.15-1986
GOST 22091.9-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir el tamaño efectivo del punto de enfoque.
GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
GOST 22091.12-1984

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

工业和信息化部, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JIS Z 4328:1984 Medidores de radiación para rayos X y gamma
JIS Z 4606:2007 Aparatos de rayos X industriales para pruebas radiográficas.
JIS C 3407:1987 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.
JIS C 3407:2003 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.
JIS Z 4324:1997 Monitores de área para rayos X y gamma
JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS Z 4615:2007 Medición del tamaño efectivo del punto focal para aparatos de rayos X industriales.
JIS Z 4615:1993 Medición del tamaño efectivo del punto focal para aparatos de rayos X industriales.

Association Francaise de Normalisation, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

NF C74-111:1985 Equipo electromédico. Equipos de radiología. X equipo de radiación. Conjuntos de tubos de rayos X para radiodiagnóstico. Construcción y pruebas. Requisitos.
NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X.
NF A09-285:1999 Ensayos no destructivos - Métodos de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF C15-160:2011 Instalaciones para la generación y aplicación de rayos X - Requisitos de protección radiológica.
NF C15-160:2018 Instalaciones para la generación y aplicación de rayos X - Requisitos de protección radiológica
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF T31-207:1995 Pigmentos y diluyentes. Dióxido de titanio. Relación de anatasa a rutilo por difracción de rayos X.

水利部, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SL 536-2011 Método de calibración del dispositivo de medición de tensión por difracción de rayos X.
SL 547-2011 Método de prueba para la tensión residual de estructuras metálicas hidráulicas. Método de difracción de rayos X.

British Standards Institution (BSI), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
22/30451246 DC BS IEC 62463. Instrumentación de protección radiológica. Sistemas de rayos X para el control de seguridad de personas
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS IEC 62963:2020 Instrumentación de protección radiológica. Sistemas de inspección por tomografía computarizada (CT) de rayos X de líquidos embotellados/enlatados
BS IEC 62945:2018 Instrumentación de protección radiológica. Medición del rendimiento de las imágenes de los sistemas de control de seguridad por tomografía computarizada (CT) por rayos X
BS IEC 62709:2014 Instrumentación de protección radiológica. Control de seguridad de personas. Medición del rendimiento de imágenes de los sistemas de rayos X
BS IEC 62463:2010 Instrumentación de protección radiológica: sistemas de rayos X para el control de personas por motivos de seguridad y el transporte de artículos ilícitos.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
18/30335408 DC BS IEC 62963. Instrumentación de protección radiológica. Sistemas de inspección por tomografía computarizada (CT) por rayos X líquidos en botella/lata

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.
GB/T 37929-2019 Instrumentos de prueba no destructivos: métodos de prueba para la vida útil de los tubos de rayos X.
GB/T 37930-2019 Instrumentos de prueba no destructivos: especificaciones técnicas del sistema de imágenes de rayos X en tiempo real para ruedas de automóviles.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

EJ/T 1100-1999 Aparato de perforación para análisis de fluorescencia de rayos X.
EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil
EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil

VN-TCVN, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

TCVN 6596-2000 Radiografía de diagnóstico por rayos X y fluoroscopia. Generador, tubo de rayos X, colimador. Procedimiento de prueba

Indonesia Standards, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SNI 18-6938-2002 Especificación del topógrafo portátil de radiación de rayos X o rayos Y

German Institute for Standardization, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura (IEC 62495:2011)
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN IEC 62709:2015 Instrumentación de protección radiológica. Control de seguridad de personas. Medición del rendimiento de imágenes de los sistemas de rayos X (IEC 62709:2014).

European Committee for Standardization (CEN), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Danish Standards Foundation, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Lithuanian Standards Office , Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
LST EN 15305-2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
LST EN 15305-2008/AC-2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
LST EN 1330-11-2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

AENOR, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 15305:2010 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

Group Standards of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

T/CAME 42-2022 Norma técnica para instrumentos de rayos X para la edad esquelética.
T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil

机械电子工业部, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JB/T 5982-1991 Condiciones técnicas del instrumento direccional de rayos X.

未注明发布机构, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

BS EN 15305:2008(2009) Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.

Professional Standard - Customs, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

KS A 4902-1979 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS A 4902-1987 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS A 4610-2006 Medidores portátiles de dosis equivalente ambiental de fotones para protección radiológica
KS A IEC 61137-2003(2013) Instrumentación de protección radiológica－Conjunto de monitoreo de contaminación de superficies del personal instalado－Emisores X y gamma de baja energía
KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS D 0287-2005(2020) Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
KS D 0287-2005 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS C IEC 60601-2-8:2012 Equipos eléctricos médicos－Parte 2-8: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos terapéuticos de rayos X que funcionan en el rango de 10 kV a 1 MV
KS C IEC 60601-2-8:2017 Equipos eléctricos médicos. Parte 2-8: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos terapéuticos de rayos X que funcionan en el rango de 10 kV a 1 MV.
KS A ISO 14146:2007 Protección radiológica-Criterios y límites de rendimiento para la evaluación periódica de procesadores de dosímetros personales para radiación X y gamma
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 3497-2002(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Métodos espectrométricos de rayos X
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía

Professional Standard - Building Materials, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JC/T 1085-2008 Analizador de fluorescencia de rayos X para cemento.

Professional Standard - Geology, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

DZ 0029-1992 Instrumento de fluorescencia de rayos X de microordenador HYX-3

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JJF 1613-2017 Especificación de calibración para instrumentos de medición de espesor de película delgada mediante reflectividad de rayos X de incidencia rasante
JJF 1952-2021 Especificación de calibración para analizadores de espectrometría de fluorescencia de rayos X de azufre
JJF 1275-2011 Especificación de calibración para equipos de inspección de seguridad por rayos X
JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
JJF 1306-2011 Especificación de calibración para instrumentos de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X
JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
JJF 1473-2014 Especificación de calibración para medidores de corriente no invasivos de rayos X de diagnóstico médico
JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Professional Standard - Aviation, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

HB 20116-2012 Método de prueba para el análisis de tensiones residuales en palas de motores de aviones mediante difracción de rayos X.

SE-SIS, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SIS SS IEC 580:1986 Equipos de rayos X - Medidor de producto de exposición de área
SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
SIS SS IEC 395:1983 Instrumentación nuclear: medidores y monitores portátiles de exposición a radiación X o gamma para uso en protección radiológica
SIS SS IEC 463:1983 Instrumentación nuclear: medidores y monitores portátiles de índice de exposición a radiación X o gamma de baja energía para uso en protección radiológica
SIS SS-EN 60 613-1991
SIS SS IEC 656:1981

国家能源局, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SY/T 7324-2016 Método de calibración del instrumento de registro de fluorescencia de rayos X
SY/T 5163-2018 Método de análisis de difracción de rayos X de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

Professional Standard - Electricity, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

International Electrotechnical Commission (IEC), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura.
IEC 61344:1996 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de vigilancia - Dispositivos personales de aviso de radiaciones X y gamma
IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
IEC 61137:1992 Instrumentación de protección radiológica; instalados conjuntos de monitoreo de contaminación de superficies por parte del personal; Emisores X y gamma de baja energía.
IEC 62709:2014 Instrumentación de protección radiológica - Control de seguridad de personas - Medición del rendimiento de imágenes de los sistemas de rayos X
IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1
IEC 62463:2010 Instrumentación de protección radiológica: sistemas de rayos X para el control de personas para la seguridad y el transporte de artículos ilícitos.
IEC 61452:1995 Instrumentación nuclear - Medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos - Calibración y uso de espectrómetros de germanio
IEC 62963:2020 Instrumentación de protección radiológica: sistemas de inspección por tomografía computarizada (CT) de rayos X de líquidos embotellados/enlatados
IEC 62945:2018 Instrumentación de protección radiológica: medición del rendimiento de las imágenes de los sistemas de control de seguridad por tomografía computarizada (CT) de rayos X

Professional Standard - Public Safety Standards, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GA/T 1064-2013 Especificaciones de calibración para probadores de envejecimiento de generadores de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

GB/T 36017-2018 Instrumentos de prueba no destructivos: tubo de análisis de fluorescencia de rayos X
GB/T 36071-2018 Instrumentos de prueba no destructivos: requisitos técnicos del sistema de imágenes de rayos X en tiempo real

Professional Standard - Medicine, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

YY/T 0724-2009 Especificaciones particulares del densitómetro óseo de rayos X de doble energía.

国家药监局, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

YY/T 0724-2021 Condiciones técnicas especiales para el densitómetro óseo de rayos X de energía dual

AT-ON, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

ONORM S 5213-1983 Ropa de protección contra rayos X, ropa de protección contra rayos X con efecto de blindaje reducido y dispositivos de protección para uso médico de rayos X hasta 300 kV

Professional Standard - Education, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

CZ-CSN, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Standard Association of Australia （SAA）, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

AS 2563:1996 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda: determinación de la precisión
AS 2563:2019 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión.

International Organization for Standardization (ISO), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía

工业和信息化部/国家能源局, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento
JB/T 12962.1-2016 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 1: Técnicas generales

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Professional Standard - Agriculture, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

IN-BIS, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

IS 12803-1989 MÉTODO DE ANÁLISIS DEL CEMENTO HIDRÁULICO MEDIANTE ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X
IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

Professional Standard - Aerospace, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

QJ 2916-1997 Método de prueba de rayos X de tensión residual en la superficie de una aleación de aluminio

Professional Standard - Petroleum, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

DB35/T 1914-2020 Determinación del contenido de cristales β en tuberías y accesorios de polipropileno con cristales β (método de difracción de rayos X)

Professional Standard - Electron, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

KR-KS, Difractómetro de rayos X y medidor de estrés de rayos X.

KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total