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Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X, Total: 151 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X son: Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Protección de radiación, Química analítica, Educación, Productos de la industria química., producción de metales, pruebas de metales, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Plástica, químicos inorgánicos, Minerales no metalíferos, Vocabularios, Componentes de tuberías y tuberías., Materiales semiconductores, Cerámica, Equipo medico, Combustibles, Calidad del agua, Centrales eléctricas en general, Física. Química, Ingredientes de pintura, ingeniería de energía nuclear, Medidas lineales y angulares., Calidad del aire, Metales no ferrosos.

Professional Standard - Machinery, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino

British Standards Institution (BSI), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
BS ISO 20203:2005 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio. Coca calcinada. Determinación del tamaño de cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X.
BS ISO 20203:2006 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio - Coque calcinado - Determinación del tamaño de los cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 23413-2009 Determinación del tamaño de los cristalitos y microdeformación de nanomateriales. Método de ampliación de la línea de difracción de rayos X.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 39123-2020 Especificación para material monocristalino de telururo de cadmio-zinc para detectores de rayos X y rayos γ

Professional Standard - Education, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

German Institute for Standardization, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X

European Committee for Standardization (CEN), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.

Association Francaise de Normalisation, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF C74-111:1985 Equipo electromédico. Equipos de radiología. X equipo de radiación. Conjuntos de tubos de rayos X para radiodiagnóstico. Construcción y pruebas. Requisitos.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
NF T31-207:1995 Pigmentos y diluyentes. Dióxido de titanio. Relación de anatasa a rutilo por difracción de rayos X.
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: método de análisis indirecto.
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 1: método directo sobre filtro.

Danish Standards Foundation, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Lithuanian Standards Office , Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
LST EN 1330-11-2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

AENOR, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
UNE-EN 1330-11:2008 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

工业和信息化部, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.

American National Standards Institute （ANSI), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI N42.26-1995 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de monitoreo - Dispositivos personales de advertencia para radiaciones X y Gamma

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Professional Standard - Nuclear Industry, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

Professional Standard - Energy, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5
NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

American Society for Testing and Materials (ASTM), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM D5187-91(2007) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-98 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D8352-20 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita beta mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2008)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D934-08 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D934-80(1999) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5758-01(2021) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-10 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
ASTM D5758-01(2011)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM D934-22 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D934-13 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5758-01(2015) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-10(2015)e1 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D5187-21 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D3720-90(2005) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
ASTM E1172-87(2003) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda

Professional Standard - Customs, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

RU-GOST R, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
GOST 20337-1974 Dispositivos de rayos X. Términos y definiciones
GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
GOST 22091.6-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir la potencia de la dosis de exposición a la radiación X y la dosis de exposición a la radiación X por pulso
GOST R ISO 20203-2017 Materiales carbonosos para la producción de aluminio. Coca calcinada. Determinación del tamaño de cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X.
GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GOST 22091.1-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje del calentador.
GOST R ISO 16258-1-2017 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 1. Método directo sobre el filtro

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

DB35/T 1914-2020 Determinación del contenido de cristales β en tuberías y accesorios de polipropileno con cristales β (método de difracción de rayos X)

Professional Standard - Electron, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

SJ 20714-1998 Método de prueba para determinar el daño subsuperficial de una oblea pulida con arseniuro de galio mediante difracción de doble cristal de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
ISO 20203:2005 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio - Coque calcinado - Determinación del tamaño de los cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ISO 16258-1:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 1: Método directo sobre filtro.
ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.

VN-TCVN, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

TCVN 6596-2000 Radiografía de diagnóstico por rayos X y fluoroscopia. Generador, tubo de rayos X, colimador. Procedimiento de prueba

IT-UNI, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

Professional Standard - Commodity Inspection, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

SN/T 3514-2013 Método de identificación de análisis de textura para aceros eléctricos de grano orientado y no orientado. Difracción de rayos X (XRD)

未注明发布机构, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

BS ISO 20203:2005(2006) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio. Calcinados del tamaño de cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X.

Professional Standard - Electricity, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

Professional Standard - Chemical Industry, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

HG/T 6149-2023 Determinación del contenido de la fase de cristal de sílice en el catalizador de hidrogenación y su método de difracción de rayos X de soporte

Professional Standard - Petroleum, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.
SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

国家能源局, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

SY/T 5163-2018 Método de análisis de difracción de rayos X de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

KS A IEC 61137-2003(2013) Instrumentación de protección radiológica－Conjunto de monitoreo de contaminación de superficies del personal instalado－Emisores X y gamma de baja energía
KS M ISO 20203-2016(2021) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque calcinado－Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
KS M ISO 20203:2011 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio-Coque calcinado-Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
KS M ISO 20203:2016 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque calcinado－Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X

International Electrotechnical Commission (IEC), Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

IEC 61344:1996 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de vigilancia - Dispositivos personales de aviso de radiaciones X y gamma

KR-KS, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

KS M ISO 20203-2016 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque calcinado－Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total

SE-SIS, Difractómetro de rayos X monocristalino y difractómetro de rayos X

SIS SS IEC 395:1983 Instrumentación nuclear: medidores y monitores portátiles de exposición a radiación X o gamma para uso en protección radiológica