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Espectrómetro de energía semiconductor

Espectrómetro de energía semiconductor, Total: 10 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectrómetro de energía semiconductor son: Mediciones de radiación, ingeniería de energía nuclear, Química analítica.

SE-SIS, Espectrómetro de energía semiconductor

• SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

CZ-CSN, Espectrómetro de energía semiconductor

• CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectrómetro de energía semiconductor

• KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
• KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

International Electrotechnical Commission (IEC), Espectrómetro de energía semiconductor

• IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
• IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Espectrómetro de energía semiconductor

• ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectrómetro de energía semiconductor

• GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
• GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.

IN-BIS, Espectrómetro de energía semiconductor

• IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

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