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El espectrómetro de energía detecta semiconductores
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en El espectrómetro de energía detecta semiconductores son: Química analítica, ingeniería de energía nuclear, Mediciones de radiación, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Dispositivos semiconductores.
SE-SIS, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
- SIS SS IEC 333:1986 Instrumentación nuclear: procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.
- SIS SS IEC 596:1981 Instrumentación nuclear: definiciones de los términos de los métodos de prueba para detectores de radiación semiconductores y recuento de centelleo
- SIS SS IEC 340:1981 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba de amplificadores y preamplificadores de detectores de semiconductores para radiaciones ionizantes.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
- GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
CZ-CSN, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
- KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
- KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
IN-BIS, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR
International Electrotechnical Commission (IEC), El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- JEDEC JEP78-1969 Curvas de respuesta espectral relativa para detectores infrarrojos semiconductores
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- JJG(电子) 310002-2006 Especificación para la verificación de probadores de parámetros de CC para dispositivos semiconductores discretos
- JJG(电子) 310003-2006 Especificación para la verificación de probadores de parámetros de condensadores para dispositivos semiconductores discretos.
- JJG(电子) 04008-1987 Reglamento de verificación de prueba para el probador de tubos semiconductores de doble base QE1A
- JJG(电子) 04023-1989 Especificación para la verificación del probador tf de triodo semiconductor de alta potencia modelo BJ2970
Association Francaise de Normalisation, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
International Organization for Standardization (ISO), El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
- ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
- ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
RU-GOST R, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- GOST 19834.3-1976 Emisores semiconductores. Métodos para medir la distribución relativa de energía espectral y el ancho de banda espectral.
- GOST 29115-1991 Conjuntos de detectores de radiación gamma para espectrometría. Métodos de medición de parámetros básicos.
German Institute for Standardization, El espectrómetro de energía detecta semiconductores
- DIN ISO 15632:2015 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica (ISO 15632:2012)