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Cómo medir la densidad de portadores

Cómo medir la densidad de portadores, Total: 59 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo medir la densidad de portadores son: Materiales de construcción, pruebas de metales, Materiales semiconductores, químicos inorgánicos, Equipos de manipulación continua, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Compatibilidad electromagnética (CEM), Mediciones de radiación, ingeniería de energía nuclear, Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materiales conductores.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo medir la densidad de portadores

KS F 2234-2004(2014) Método de medición de la masa por unidad de volumen (densidad) y la masa por unidad de superficie de tableros de cemento de lana de madera compuestos de poliestireno
KS M ISO 283-1:2011 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia
KS M ISO 283-1:2007 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia
KS C IEC 60512-5-2:2003 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente
KS C IEC 60512-5-2:2014 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) Conectores para equipos electrónicos－Pruebas y mediciones－Parte 5－2：Pruebas de capacidad de carga de corriente－Prueba 5b：Reducción de temperatura de corriente－
KS C IEC 61788-17:2020 Superconductividad. Parte 17: Mediciones características electrónicas. Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo medir la densidad de portadores

GB/T 8757-1988 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 8757-2006 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 37543-2019(英文版) Método de medición de la intensidad del campo eléctrico total y la densidad de corriente iónica de la línea de transmisión de CC y la estación convertidora
GB/T 11068-1989 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación de la concentración de portador. Método de voltaje-capacitancia.
GB/T 11068-2006 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación del método de capacitancia-voltaje de concentración de portadores
GB 11068-1989 Método de medición de voltaje-capacitancia de concentración de portador de capa epitaxial de GaAs

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo medir la densidad de portadores

ASTM F1392-00 Método de prueba estándar para determinar perfiles de densidad de portadora neta en obleas de silicio mediante mediciones de capacitancia-voltaje con una sonda de mercurio
ASTM F1393-92(1997) Método de prueba estándar para determinar la densidad neta del portador en obleas de silicio mediante mediciones del perfilador de retroalimentación Miller con una sonda de mercurio
ASTM E265-98 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
ASTM E265-98(2002) Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
ASTM E265-07e1 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
ASTM E265-07 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
ASTM F398-92(1997) Método de prueba estándar para la concentración de portadores mayoritarios en semiconductores mediante la medición del número de onda o la longitud de onda de la resonancia mínima del plasma
ASTM F391-96 Métodos de prueba estándar para la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos mediante la medición de fotovoltaje superficial en estado estacionario

KR-KS, Cómo medir la densidad de portadores

KS M ISO 283-1-2007 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia
KS C IEC 61788-17-2020 Superconductividad. Parte 17: Mediciones características electrónicas. Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie.

RO-ASRO, Cómo medir la densidad de portadores

STAS 11071/21-1990 Jerarquía de instrumentos de medida. Diagrama de bloques de la jerarquía del instrumento de medición de la densidad de flujo de neutrones térmicos.

British Standards Institution (BSI), Cómo medir la densidad de portadores

BS EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Pruebas de capacidad de carga de corriente - Prueba 5b - Reducción de temperatura de corriente
PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Dispositivos nanoelectrónicos orgánicos/de película fina. Medidas de concentración de portadores de carga.
BS ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
BS ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
19/30399949 DC BS ISO 16531. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
BS EN IEC 61788-17:2021 Cambios rastreados. Superconductividad. Medidas características electrónicas. Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie.
19/30391554 DC BS EN 61788-17. Superconductividad. Parte 17. Medidas características electrónicas. Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo medir la densidad de portadores

GB/T 37543-2019 Método de medición de la intensidad del campo eléctrico total y la densidad de corriente iónica de la línea de transmisión de CC y la estación convertidora
GB/T 39843-2021 Mediciones características electrónicas: densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de área grande

AENOR, Cómo medir la densidad de portadores

UNE-EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente.

RU-GOST R, Cómo medir la densidad de portadores

GOST 8.105-1980 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Norma especial estatal y calendario de verificación de toda la Unión para los medios que miden la densidad y la fluencia del flujo de neutrones en las instalaciones nucleares.
GOST 8.033-1984 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Estándar primario estatal y calendario de verificación de toda la Unión para los medios que miden la actividad de nucleidos.

International Electrotechnical Commission (IEC), Cómo medir la densidad de portadores

IEC 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual
IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 5-3: Dispositivos nanoelectrónicos/orgánicos de película delgada - Mediciones de la concentración de portadores de carga
IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie
IEC 61788-17:2021 RLV Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

Association Francaise de Normalisation, Cómo medir la densidad de portadores

NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: pruebas de capacidad de carga de corriente - Prueba 5b: reducción de temperatura de corriente.
NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: mediciones características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de área grande
NF EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: mediciones de características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cómo medir la densidad de portadores

JIS C 5402-5-2:2005 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente

Professional Standard - Electron, Cómo medir la densidad de portadores

SJ 3244.1-1989 Métodos de medición de la movilidad del pasillo y la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio.

Lithuanian Standards Office , Cómo medir la densidad de portadores

LST EN 60512-5-2-2003 Conectores para equipos electrónicos. Pruebas y mediciones. Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente. Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002)

German Institute for Standardization, Cómo medir la densidad de portadores

DIN EN 60512-5-2:2003-01 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002); Versión alemana EN 60512-5-2:2002 / Nota: DIN IEC 60512-3 (1994-05) sigue siendo válida junto...
DIN EN 60512-5-2:2003 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002); Versión alemana EN 60512-5-2:2002

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo medir la densidad de portadores

GB/T 34326-2017 Análisis químico de superficie—Perfiles de profundidad—Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de corriente o densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

Danish Standards Foundation, Cómo medir la densidad de portadores

DS/EN 60512-5-2:2002
DS/EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad – Parte 17: Medidas características electrónicas – Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie
DS/EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

International Organization for Standardization (ISO), Cómo medir la densidad de portadores

ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS
ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Cómo medir la densidad de portadores

EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente
EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie
EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

ES-UNE, Cómo medir la densidad de portadores

UNE-EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)
UNE-EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie (Ratificada por AENOR en mayo de 2013.)