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如何测量载流子密度
本专题涉及如何测量载流子密度的标准有58条。
国际标准分类中，如何测量载流子密度涉及到建筑材料、金属材料试验、半导体材料、连续搬运设备、电子电信设备用机电元件、电磁兼容性(EMC)、辐射测量、核能工程、分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、导体材料。
在中国标准分类中，如何测量载流子密度涉及到半金属及半导体材料分析方法、技术管理、元素半导体材料、金属理化性能试验方法、船用汽轮机与燃气轮机、连接器、电磁兼容、核仪器与核探测器综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、辐射防护仪器、化合物半导体材料、基础标准与通用方法、电工材料和通用零件综合、电磁计量。
韩国科技标准局，关于如何测量载流子密度的标准
- KS F 2234-2004(2014) 聚苯乙烯如何强化木毛的密度和表面质量测量 水泥板
- KS M ISO 283-1:2011 织物输送带 在全厚度的拉伸试验 第1部分：如何延伸率 断裂和抗张强度伸长率定义的负载测量
- KS M ISO 283-1:2007 织物输送带 - 在全厚度的拉伸试验 - 第1部分:如何延伸率 断裂和抗张强度伸长率定义的负载测量
- KS C IEC 60512-5-2:2003 电子设备连接器.试验和测量.第5-2部分:载流容量试验.试验5b:电流.温度下降
- KS C IEC 60512-5-2:2014 电子设备连接器 试验和测量 第5-2部分：载流容量试验 试验5b 电流 温度下降
- KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) 电子设备连接器试验和测量第5－2部分:载流能力试验试验5b:电流温度降额
- KS C IEC 61788-17:2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
国家质检总局，关于如何测量载流子密度的标准
- GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
- GB/T 37543-2019(英文版) 直流输电线路及换流站总电场强度和离子流密度测量方法
- GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- GB 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
美国材料与试验协会，关于如何测量载流子密度的标准
- ASTM F1392-00 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
- ASTM F1393-92(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法
- ASTM E265-98 用硫-32的放射性测量快速中子流量密度和反应速率的测试方法
- ASTM E265-98(2002) 用硫-32的放射性测量快速中子流量密度和反应速率的测试方法
- ASTM E265-07e1 用硫-32的放射性测量快速中子流量密度和反应速率的测试方法
- ASTM E265-07 用放射性硫-32测量快速中子流量密度和反应速率的标准试验方法
- ASTM F398-92(1997) 通过测量等离子体共振最小波数或波长测定半导体中多数载流子浓度的标准试验方法
- ASTM F391-96 用稳态表面光电压测量法测定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法
RO-ASRO，关于如何测量载流子密度的标准
- STAS 11071/21-1990 测量仪器等级．热中子流体密度测量仪器的层次方块图
KR-KS，关于如何测量载流子密度的标准
- KS M ISO 283-1-2007 织物输送带 - 在全厚度的拉伸试验 - 第1部分:如何延伸率 断裂和抗张强度伸长率定义的负载测量
- KS C IEC 61788-17-2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
英国标准学会，关于如何测量载流子密度的标准
- BS EN 60512-5-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.载流容量试验.试验5b.电流-温度下降
- PD IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造 关键控制特性 薄膜有机/纳米电子器件 载流子浓度的测量
- BS EN IEC 61788-17:2021 超导 电子特性测量 大面积超导薄膜局部临界电流密度及其分布
- BS ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
- BS ISO 16531:2020 表面化学分析 深度剖析 离子束对准方法以及 AES 和 XPS 中深度分析的电流或电流密度的相关测量方法
- 19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析 深度剖析 离子束对准方法以及 AES 和 XPS 中深度分析的电流或电流密度的相关测量方法
- 19/30391554 DC BS EN 61788-17。超导。第 17 部分：电子特性测量。大面积超导薄膜局部临界电流密度及其分布
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于如何测量载流子密度的标准
- GB/T 37543-2019 直流输电线路和换流站的合成场强与离子流密度的测量方法
- GB/T 39843-2021 电子学特性测量 大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布
AENOR，关于如何测量载流子密度的标准
- UNE-EN 60512-5-2:2002 电子设备连接器 测试和测量 第 5-2 部分：载流能力测试 测试 5b：电流-温度降额
RU-GOST R，关于如何测量载流子密度的标准
- GOST 8.105-1980 ГСИ.测量核子物理装置中子流密度和流量的器具的国家特种基准器和全苏检定系统
- GOST 8.033-1984 ГСИ 国家计量体系放射性核子、粒子流的活性及放射性核子源的α、β粒子流与光子流的密度测量器具的国家检定系统图
- GOST 8.033-1996 ГСИ.国家计量体系放射性核子、粒子流的活性及放射性核子源的α、β粒子流与光子流的密度测量器具的国家检定系统图
国际电工委员会，关于如何测量载流子密度的标准
- IEC 60512-5-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第5-2部分:载流容量试验.试验5b:电流-温度下降
- IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造关键控制特性第5-3部分:薄膜有机/纳米电子器件电荷载流子浓度的测量
- IEC 61788-17:2021 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- IEC 61788-17:2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
法国标准化协会，关于如何测量载流子密度的标准
- NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第5-2部分:载流量试验.试验 5b:电流-温度下降值
- NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 - 第 17 部分：电子特性的测量 - 大表面超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
日本工业标准调查会，关于如何测量载流子密度的标准
- JIS C 5402-5-2:2005 电子设备连接器.试验和测量.第5-2部分:载流容量试验.试验5b:电流-温度下降
行业标准-电子，关于如何测量载流子密度的标准
- SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法
立陶宛标准局，关于如何测量载流子密度的标准
- LST EN 60512-5-2-2003 电子设备连接器 测试和测量 第 5-2 部分：载流能力测试 测试 5b：电流-温度降额（IEC 60512-5-2:2002）
德国标准化学会，关于如何测量载流子密度的标准
- DIN EN 60512-5-2:2003-01 电子设备连接器-测试和测量-第5-2部分：载流能力测试；测试 5b：电流-温度降额 (IEC 60512-5-2:2002)
- DIN EN 60512-5-2:2003 电子设备连接器.试验和测量.第5-2部分:载流容量试验.试验5b:电流-温度下降 (IEC 60512-5-2:2002); 德文版本 EN 60512-5-2:2002
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于如何测量载流子密度的标准
- GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
丹麦标准化协会，关于如何测量载流子密度的标准
- DS/EN 60512-5-2:2002 电子设备连接器 试验和测量 第 5-2 部分：载流能力试验 试验 5b：电流-温度降额
- DS/EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- DS/EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
国际标准化组织，关于如何测量载流子密度的标准
- ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法
- ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深度分析 - 离子束对准方法和相关的电流或电流密度测量 用于AES和XPS中的深度分析
欧洲电工标准化委员会，关于如何测量载流子密度的标准
- EN 60512-5-2:2002 电子设备用连接器.试验和测量.第5-2部分:载流容量试验.试验5b:电流-温度下降 IEC 60512-5-2:2002
- EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
ES-UNE，关于如何测量载流子密度的标准
- UNE-EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- UNE-EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
