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Parte óptica del microscopio electrónico.

Parte óptica del microscopio electrónico., Total: 347 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parte óptica del microscopio electrónico. son: Equipo óptico, Vocabularios, Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Equipo medico, Optoelectrónica. Equipo láser, Química analítica, Fotografía, Conjuntos de componentes electrónicos., Componentes electrónicos en general., Microbiología, Educación, Termodinámica y mediciones de temperatura., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Dibujos tecnicos, Dispositivos de visualización electrónica., Metales no ferrosos, Materiales para el refuerzo de composites., pruebas de metales, Aplicaciones de la tecnología de la información., Protección contra el crimen, Dispositivos semiconductores, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Productos de hierro y acero., Pinturas y barnices.

International Organization for Standardization (ISO), Parte óptica del microscopio electrónico.

ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
ISO 10934-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 1: Microscopía óptica
ISO 10934:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO 19012-2:2009 Óptica y fotónica - Designación de objetivos de microscopio - Parte 2: Corrección cromática
ISO 10934-2:2007 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 2: Técnicas avanzadas en microscopía óptica
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO/TR 14880-5:2010 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 5: Orientación sobre las pruebas
ISO 19012-1:2007 Óptica y fotónica - Designación de objetivos de microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
ISO 9344:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Retículas para oculares
ISO 8036-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Parte 1: Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
ISO 11884-1:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO 10936-1:2017 Óptica y fotónica - Microscopios operativos - Parte 1: Requisitos y métodos de prueba
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario; Corrigendum técnico 2
ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario y propiedades generales
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 8038-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Roscas de tornillos para objetivos de microscopio y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 x 0,75 mm.
ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
ISO 10936-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas
ISO 19012-3:2015 Microscopios - Designación de objetivos de microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario.
ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.
ISO 8037-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Diapositivas; Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado.
ISO 10936-1:2000 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 3: Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 8255-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Cubre vasos; Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 8255-1:2011 Microscopios - Cubreobjetos - Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas
ISO 8255-1:2017 Microscopios - Cubreobjetos - Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas
ISO 9345-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 1: Longitud del tubo 160 mm
ISO 9345-2:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito.
ISO/DIS 14880-2 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
ISO/DIS 14880-4 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas.
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
ISO/TS 22218-2:2023 Informática sanitaria. Datos de dispositivos de examen oftálmico. Parte 2: Microscopio especular.
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ISO 8600-5:2005 Óptica y fotónica - Endoscopios médicos y dispositivos de endoterapia - Parte 5: Determinación de la resolución óptica de endoscopios rígidos con óptica
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO/DIS 14880-3 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.
ISO 8600-6:2005 Óptica y fotónica - Endoscopios médicos y dispositivos de endoterapia - Parte 6: Vocabulario
ISO 9336-3:2020 Óptica y fotónica. Función de transferencia óptica. Aplicación. Parte 3: Telescopios.
ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
ISO 19056-1:2015 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 1: Brillo y uniformidad de la imagen en microscopía de campo brillante.
ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 2: Calidad del material, estándares de acabado y modo de embalaje; Corrigendum técnico 1
ISO 14132-4:2015
ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 9345-2:2014 Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito
ISO 14135-1:2014 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 1: Instrumentos de uso general.
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 14135-2:2014 Óptica y fotónica - Especificaciones para miras telescópicas - Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.

British Standards Institution (BSI), Parte óptica del microscopio electrónico.

BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
BS 7012-8:1997 Microscopios ópticos - Gratis para oculares
BS EN ISO 14880-1:2005 Óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Vocabulario
BS 7012-1:1998 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios
BS 7012-0:1989 Microscopios ópticos: introducción general
BS ISO 10936-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
BS EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario y propiedades generales.
BS EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades geométricas
BS EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 10936-1:2017 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS 7012-9:1997
BS 7011 Sec.2.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Diapositivas. Especificación de dimensiones y propiedades ópticas.
BS EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS 7011-0:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Introducción general
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Parte 3. Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
BS 7011-2.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos - Portaobjetos - Especificación de dimensiones y propiedades ópticas
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS 7011-3.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos - Cubreobjetos - Especificación de dimensiones y propiedades ópticas
BS 7011 Sec.3.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Cubre vasos. Especificación de dimensiones y propiedades ópticas.
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
23/30464250 DC BS EN ISO 14880-2. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 2. Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
23/30464258 DC BS EN ISO 14880-4. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 4. Métodos de prueba para propiedades geométricas.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
20/30349145 DC BS ISO 8600-5. Óptica y fotónica. Endoscopios médicos y dispositivos de endoterapia. Parte 5. Determinación de la resolución óptica de endoscopios rígidos con óptica
23/30464254 DC BS EN ISO 14880-3. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 3. Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
BS 7011 Sec.1.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Aceites de inmersión. Especificación para aceites de inmersión de uso general.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
19/30372027 DC BS ISO 9336-3. Óptica y fotónica. Función de transferencia óptica. Solicitud. Parte 3. Telescopios
BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parte óptica del microscopio electrónico.

KS B ISO 10934-1:2004 Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario de microscopía－Parte 1：Microscopía óptica
KS B ISO 10934-1:2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 8036-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS B ISO 8036-1:2008 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS P ISO 10936-2:2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2:2011 Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 14880-2:2013 Óptica y fotónica ― Conjuntos de microlentes ― Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 14880-2:2008 Óptica y fotónica-Arrays de microlentes-Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 8040-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8040-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario y propiedades generales.
KS B ISO 8038-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Roscas para objetivos y revólveres relacionados－Parte 1: Rosca tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.)
KS B ISO 10936-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios de operación－Parte 1: Requisitos y métodos de prueba
KS B ISO 10936-1-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS B ISO 10936-1-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS B ISO 8038-2-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 8038-2-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 8038-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Roscas para objetivos de microscopio y revólveres relacionados－Parte 2: Rosca tipo M25×0,75 mm
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS B ISO 8038-1-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS B ISO 8038-1-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS B ISO 9345-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 9345-1:2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 9345-1-2023 Distancia de imagen de microscopios ópticos y de instrumentos ópticos en relación con los planos de referencia mecánicos Parte 1: longitud del tubo de 160 mm
KS B ISO 9345-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios:Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos-Parte 2:Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-2:2016 Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS B ISO 14880-2:2018 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 14132-4:2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 4: Términos para telescopio astronómico.
KS B ISO 14132-2:2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 2: Términos aplicables a binoculares, monoculares y telescopios.

KR-KS, Parte óptica del microscopio electrónico.

KS B ISO 10934-1-2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
KS B ISO 8036-1-2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS P ISO 10936-2-2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS B ISO 19012-1-2016 Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 10936-1-2023 Óptica y fotónica. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 14880-1-2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario y propiedades generales.
KS B ISO 8038-2-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Tipo de rosca de tornillo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 8038-1-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS B ISO 14880-2-2018 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
KS B ISO 9345-2-2016 Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-1-2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 14132-4-2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 4: Términos para telescopio astronómico.
KS B ISO 9345-2-2023 Microscopios. Distancias de visualización relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito.
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
KS C ISO 21363-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
KS B ISO 14132-2-2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 2: Términos aplicables a binoculares, monoculares y telescopios.

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JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS B 7158-3:2017 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS T 10936-2:2014 Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
JIS B 7132-2:2009 Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito
JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
JIS B 7132-2:2022 Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito

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DIN 58959-4:1997 Gestión de calidad en microbiología médica - Parte 4: Requisitos para investigaciones con microscopios ópticos
DIN ISO 8037-1:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado (ISO 8037-1:1986)
DIN ISO 8038-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados - Parte 2: Rosca de tornillo tipo M 25 x 0,75 mm (ISO 8038-2:2001); versión en inglés de DIN ISO 8038-2:2006
DIN EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO 14880-3:2006) Versión en inglés de DIN EN ISO 14880-3:2006-08.
DIN 58959-4:1997-06 Gestión de calidad en microbiología médica - Parte 4: Requisitos para investigaciones con microscopios ópticos / Nota: Será reemplazado por DIN 58959-6 Beiblatt 2 (2021-08, t).
DIN EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019)
DIN EN ISO 14880-1:2019-10 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019); Versión alemana EN ISO 14880-1:2019
DIN ISO 8037-1:2003-05 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado (ISO 8037-1:1986)
DIN ISO 8038-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados - Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 in x 1/36 in) (ISO 8038-1:1997); versión en inglés de DIN ISO 8038-1 :2006
DIN EN ISO 14880-4:2006-08 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO 14880-4:2006); Versión alemana EN ISO 14880-4:2006
DIN EN ISO 14880-2:2007-03 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006); Versión alemana EN ISO 14880-2:2006
DIN ISO 9345-2:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito (ISO 9345-2:2003)
DIN EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario y propiedades generales (ISO 14880-1:2016); Versión alemana EN ISO 14880-1:2016
DIN EN ISO 14880-3:2006-08 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO 14880-3:2006); Versión alemana EN ISO 14880-3:2006
DIN EN ISO 14880-2:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880-2:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-2:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07* Diseñado como reemplazo de DIN EN ISO 14880-2 (2007-03).
DIN EN ISO 14880-4:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO/DIS 14880-4:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-4:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07*Previsto como reemplazo de DIN EN ISO 14880-4 (2006-08).
DIN ISO 14132-4:2016-07 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 4: Términos para telescopios astronómicos (ISO 14132-4:2015); Texto en alemán e inglés.
DIN 58943-32:1995 Microbiología médica - Diagnóstico de la tuberculosis - Parte 32: Detección de micobacterias mediante métodos microscópicos
DIN EN 60749-35:2007-03 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006); Versión alemana EN 60749-35:2006
DIN EN ISO 14880-3:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880-3:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-3:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07*Diseñado como reemplazo de...
DIN EN 61988-2-1:2012-10 Paneles de visualización de plasma. Parte 2-1: Métodos de medición. Ópticos y optoeléctricos (IEC 61988-2-1:2012); Versión alemana EN 61988-2-1:2012 / Nota: DIN EN 61988-2-1 (2003-08) y DIN EN 61988-2-2 (2003-11) siguen siendo válidas junto con esta norma hasta 2015-02...
DIN ISO 14132-2:2017-02 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 2: Términos para binoculares, monoculares y telescopios (ISO 14132-2:2015); Texto en alemán e inglés.

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EN ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas
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EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario y propiedades generales
prEN ISO 14880-4 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO/DIS 14880‑4:2023).
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EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
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ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM D8075-16 Guía estándar para la categorización de características microestructurales y microtexturales observadas en micrografías ópticas de grafito
ASTM D8075-16(2021) Guía estándar para la categorización de características microestructurales y microtexturales observadas en micrografías ópticas de grafito
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense

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SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
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