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Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

Intensidad relativa de los picos del espectro de masas., Total: 30 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Intensidad relativa de los picos del espectro de masas. son: Química analítica, Químicos orgánicos, Plástica.


Association Francaise de Normalisation, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
  • NF X21-064*NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas estática de iones secundarios.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

British Standards Institution (BSI), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • BS PD ISO/TR 17801:2014 Plástica. Tabla estándar para la irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar. Masa de aire relativa horizontal
  • PD CEN ISO/TR 17801:2017 Plástica. Tabla estándar para la irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar. Masa de aire relativa horizontal 1
  • 20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
  • BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

International Organization for Standardization (ISO), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • ISO/TR 17801:2014 Plásticos - Tabla estándar para la irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar - Masa de aire relativa horizontal 1
  • ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • ISO 18114:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

Professional Standard - Petrochemical Industry, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • SH/T 1489-1998 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Método cromatográfico de gases.
  • SH/T 1489-2018 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Método cromatográfico de gases.
  • SH/T 1486.2-2008 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Cromatografía de gases y calibración externa.

RU-GOST R, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • GOST R 56344-2015 Butadieno. Determinación de la pureza y el contenido de impurezas de hidrocarburos mediante el método de cromatografía de gases.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie-Espectrometría de masas de iones secundarios-Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • KS D ISO 18114:2005 Análisis químico de superficie-Espectrometría de masas de iones secundarios-Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

European Committee for Standardization (CEN), Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • EN ISO/TR 17801:2017 Plásticos - Tabla estándar para la irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar - Horizontal@ masa de aire relativa 1

CEN - European Committee for Standardization, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • CEN ISO/TR 17801:2017 Plásticos - Tabla estándar para la irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar - Horizontal@ masa de aire relativa 1

German Institute for Standardization, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

ES-UNE, Intensidad relativa de los picos del espectro de masas.

  • UNE-CEN ISO/TR 17801:2017 Plásticos - Tabla estándar de irradiancia espectral solar global de referencia al nivel del mar - Masa de aire relativa horizontal 1 (ISO/TR 17801:2014) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2017.)




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