ZH
EN
ES

Относительная интенсивность пиков масс-спектра

Относительная интенсивность пиков масс-спектра, Всего: 30 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Относительная интенсивность пиков масс-спектра, являются: Аналитическая химия, Органические химикаты, Пластмассы.

Association Francaise de Normalisation, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

NF ISO 23830:2009 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительных интенсивностей в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
NF X21-064*NF ISO 23830:2009 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической вторично-ионной масс-спектрометрии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

ASTM E2911-23 Стандартное руководство по коррекции относительной интенсивности рамановских спектрометров
ASTM E2911-13 Стандартное руководство по коррекции относительной интенсивности рамановских спектрометров

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

JIS K 0153:2015 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
JIS K 0163:2010 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным эталонным материалам.

British Standards Institution (BSI), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

BS ISO 23830:2008 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
BS PD ISO/TR 17801:2014 Пластики. Стандартная таблица справочной глобальной спектральной солнечной радиации на уровне моря. Горизонтальная, относительная воздушная масса
PD CEN ISO/TR 17801:2017 Пластики. Стандартная таблица справочной глобальной спектральной солнечной радиации на уровне моря. Горизонтальная, относительная воздушная масса 1
20/30409889 DC BS ISO 18114. Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным эталонным материалам
BS ISO 18114:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным эталонным материалам
23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов

International Organization for Standardization (ISO), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

ISO 23830:2008 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
ISO/TR 17801:2014 Пластмассы. Стандартная справочная таблица глобального солнечного спектрального излучения на уровне моря. Горизонтальная относительная масса воздуха 1.
ISO 18114:2003 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных эталонных материалов.
ISO 18114:2021 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных эталонных материалов.
ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.

Professional Standard - Petrochemical Industry, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

SH/T 1489-1998 Нефтяной п-ксилол.Определение чистоты и примесей углеводородов.Газохроматографический метод.
SH/T 1489-2018 Нефтяной п-ксилол.Определение чистоты и примесей углеводородов.Газохроматографический метод.
SH/T 1486.2-2008 Нефтяной п-ксилол.Определение чистоты и примесей углеводородов.Газовая хроматография и внешняя калибровка.

RU-GOST R, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

GOST R 56344-2015 Бутадиен. Определение чистоты и содержания углеводородных примесей методом газовой хроматографии.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

GB/T 25186-2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным стандартным образцам.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

KS D ISO 18114-2005(2020) Химический анализ поверхности－Масс-спектрометрия вторичных ионов－Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных эталонных материалов
KS D ISO 18114:2005 Химический анализ поверхности－Масс-спектрометрия вторичных ионов－Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных эталонных материалов

European Committee for Standardization (CEN), Относительная интенсивность пиков масс-спектра

EN ISO/TR 17801:2017 Пластмассы – Стандартная справочная таблица глобального солнечного спектрального излучения на уровне моря – Горизонтальная @ относительная масса воздуха 1

CEN - European Committee for Standardization, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

CEN ISO/TR 17801:2017 Пластмассы – Стандартная справочная таблица глобального солнечного спектрального излучения на уровне моря – Горизонтальная @ относительная масса воздуха 1

German Institute for Standardization, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

DIN CEN ISO/TR 17801:2017-11*DIN SPEC 16458:2017-11 Пластмассы. Стандартная справочная таблица глобального солнечного спектрального излучения на уровне моря. Горизонтальная, относительная воздушная масса 1 (ISO/TR 17801:2014); Немецкая версия CEN ISO/TR 17801:2017.

ES-UNE, Относительная интенсивность пиков масс-спектра

UNE-CEN ISO/TR 17801:2017 Пластмассы. Стандартная таблица справочной глобальной спектральной солнечной радиации на уровне моря. Горизонтальная, относительная воздушная масса 1 (ISO/TR 17801:2014)