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resonancia estructural

resonancia estructural, Total: 9 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en resonancia estructural son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones..

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, resonancia estructural

• GB/T 38447-2020 Tecnología de sistemas microelectromecánicos: método de prueba de fatiga de la estructura MEMS mediante vibración resonante

Danish Standards Foundation, resonancia estructural

• DS/EN 62047-12:2012

German Institute for Standardization, resonancia estructural

• DIN EN 62047-12:2012-06 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011); Versión alemana EN 62047-12:2011
• DIN EN 62047-12:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011); Versión alemana EN 62047-12:2011

ES-UNE, resonancia estructural

• UNE-EN 62047-12:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de ensayo de fatiga por flexión de materiales de película delgada mediante vibración resonante de estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en febrero de 2012.)

International Electrotechnical Commission (IEC), resonancia estructural

• IEC 62047-12:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), resonancia estructural

• JIS C 5630-12:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS.

Association Francaise de Normalisation, resonancia estructural

• NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS.

Lithuanian Standards Office , resonancia estructural

• LST EN 62047-12-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 12: Método de ensayo de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011).

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