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estructura de resonancia

estructura de resonancia, Total: 12 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en estructura de resonancia son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Materias primas para caucho y plástico., Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Plástica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, estructura de resonancia

• GB/T 38447-2020 Tecnología de sistemas microelectromecánicos: método de prueba de fatiga de la estructura MEMS mediante vibración resonante

工业和信息化部, estructura de resonancia

• SH/T 1832-2020 Determinación de la microestructura del caucho de isopreno mediante espectroscopia de resonancia magnética nuclear de protones.

Danish Standards Foundation, estructura de resonancia

• DS/EN 62047-12:2012

German Institute for Standardization, estructura de resonancia

• DIN EN 62047-12:2012-06 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011); Versión alemana EN 62047-12:2011
• DIN EN 62047-12:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011); Versión alemana EN 62047-12:2011

ES-UNE, estructura de resonancia

• UNE-EN 62047-12:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de ensayo de fatiga por flexión de materiales de película delgada mediante vibración resonante de estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en febrero de 2012.)

International Electrotechnical Commission (IEC), estructura de resonancia

• IEC 62047-12:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), estructura de resonancia

• JIS C 5630-12:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 12: Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS.

Association Francaise de Normalisation, estructura de resonancia

• NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 12: método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS.

British Standards Institution (BSI), estructura de resonancia

• BS EN 62047-12:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS

Lithuanian Standards Office , estructura de resonancia

• LST EN 62047-12-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 12: Método de ensayo de fatiga por flexión de materiales de película delgada utilizando vibración resonante de estructuras MEMS (IEC 62047-12:2011).

国家能源局, estructura de resonancia

• SH/T 1800-2016 Análisis del contenido de monómero y la estructura de secuencia del polipropileno copolímero plástico de etileno-propileno mediante espectroscopia de resonancia magnética nuclear de carbono-13.

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