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Diagrama del espectrómetro

Diagrama del espectrómetro, Total: 491 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Diagrama del espectrómetro son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Sistemas y operaciones espaciales., Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Geología. Meteorología. Hidrología, Vocabularios, Metales no ferrosos, Minerales metalíferos, Equipo medico, Metrología y medición en general., Mediciones de radiación, Tecnología gráfica, Gráficos de computadora, Pruebas no destructivas, Productos de caucho y plástico., pruebas de metales, Dibujos tecnicos, Productos de la industria química., Optoelectrónica. Equipo láser, Medidas lineales y angulares., Medicina de laboratorio, Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Calidad, Equipo óptico, Termodinámica y mediciones de temperatura., Componentes electrónicos en general., Metales ferrosos, ingeniería de energía nuclear, Ingredientes de pintura, Químicos orgánicos, Astronomía. Geodesia. Geografía, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Centrales eléctricas en general, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Fotografía, Protección de radiación, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Física. Química, Aplicaciones de imágenes de documentos, Lámparas y equipos relacionados., Calidad del aire, Tratamiento superficial y revestimiento., Productos petrolíferos en general, Combustibles, Cerámica, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Tecnología del cuero, Juegos de caracteres y codificación de información..

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Diagrama del espectrómetro

GB/T 21191-2007 Espectrómetro de fluorescencia atómica
GB/T 42027-2022 Espectrómetro de absorción molecular en fase gaseosa
GB/T 32266-2015
GB/T 25481-2010 Analizador de espectro ultravioleta/visible en línea
GB/T 21186-2007 Espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 36244-2018 Espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
GB/T 33252-2016 Nanotecnología: pruebas de rendimiento para espectrómetros Raman de microscopio confocal láser
GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro
GB/T 42650-2023 Compresión sin pérdidas y casi sin pérdidas de imágenes multiespectrales e hiperespectrales en sistemas de transmisión de información y datos espaciales
GB/T 19437-2004 Tecnología gráfica-Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Diagrama del espectrómetro

DB22/T 2414-2015 Espectrómetro de micro fibra óptica

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Diagrama del espectrómetro

JJG 768-2005 Espectrómetro de emisión
JJG 1035-2022 Analizador de espectro de comunicación
JJG(教委) 02-1992 Reglamento de verificación del espectrómetro láser Raman
JJG 867-1994 Reglamento de verificación del espectrocolorímetro.
JJG 768-1994 Reglamento de verificación del espectrómetro de emisión
JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
JJG 1151-2018 Espectrómetros de fluorescencia atómica y cromatografía líquida
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones
JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
JJG(地质) 1011-1990 Normas de verificación para espectrógrafo de rejilla plana de un metro.
JJG(地质) 1012-1990 Reglas de verificación para espectrógrafo de rejilla plana de dos metros.
JJG(教委) 01-1992 Reglamento de verificación para el espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier
JJG(地质) 1015-1990 Normas de verificación para espectrómetro de lectura directa de plasma acoplado inductivamente

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Diagrama del espectrómetro

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico

Professional Standard - Machinery, Diagrama del espectrómetro

JB/T 9322-1999 Proyector de espectro
JB/T 5590-1991 Filtro óptico del instrumento de espectro óptico.
JB/T 11145-2011 espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB/T 9320-1999 Espectrógrafos de rejillas planas
JB/T 9331-1999 Rendijas para instrumentos de espectro óptico.
JB/T 5478-1991 Espectrómetro fotoeléctrico de lectura directa de barrido manual
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 6176-1992 Parámetro básico del casete de placas fotográficas y del marco del casete para espectrógrafo.

U.S. Air Force, Diagrama del espectrómetro

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

Group Standards of the People's Republic of China, Diagrama del espectrómetro

T/ZZB 0673-2018 espectrómetro de emisión
T/QGCML 1522-2023 Espectrómetro de microfibra FLA
T/CAIA YQ004-2018 Método de prueba de rendimiento para cromatógrafo líquido acoplado a espectrómetro de fluorescencia atómica
T/SHDSGY 031-2023 Especificación técnica para espectrómetro de alta resolución.
T/CSTM 00445-2021 Especificación de calibración para espectrometría de masas de descarga luminiscente
T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
T/CSTM 00159-2020 Métodos de calibración de espectroscopía Raman portátil.
T/CAIA YQ003-2016 Métodos de prueba para las características ópticas/eléctricas del dispositivo de imágenes de carga lineal acoplada para espectrómetro
T/CSTM 00964-2022 Reglas generales para la evaluación del desempeño del espectrómetro atómico.
T/CAQI 108-2020 Especificación para la verificación y evaluación del espectrómetro Raman portátil.
T/CIS 17006-2022 Especificaciones técnicas generales del espectrómetro de infrarrojo cercano por transformada de Fourier
T/CSTM 00962-2022 Método de evaluación del rendimiento del espectrómetro de emisión atómica de descarga de chispas.

Consultative Committee for Space Data Systems (CCSDS), Diagrama del espectrómetro

CCSDS 123.0-B-1-2012 Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdida.
CCSDS 123.0-B-2 Technical Corrigendum 3-2021 Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales de baja complejidad, sin pérdidas y casi sin pérdidas; Corrigendum técnico 3

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Diagrama del espectrómetro

KS C 1802-1986 Estimuladores fóticos para electroencefalógrafos.
KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS X ISO 13655-2006(2016) Tecnología gráfica－Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
KS X ISO 13655:2021 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
KS X ISO 13655-2006(2021) Tecnología gráfica－Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS B ISO 8599:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
KS B ISO 8599:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
KS B ISO 8599-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
KS A ISO 9959-2:2013 Máquinas de dibujo controladas numéricamente. Prueba de dibujo para la evaluación del rendimiento. Parte 2: Trazadores rasterizados monocromáticos.
KS A ISO 9959-2-2003(2008) Máquinas de dibujo controladas numéricamente －Prueba de dibujo para evaluación del rendimiento－Parte 2: Trazadores rasterizados monocromáticos
KS M ISO 6286:2010 Espectrometría de absorción molecular-Vocabulario-General-Aparato
KS M ISO 6286-2010(2020) Espectrometría de absorción molecular－Vocabulario－General－Aparato
KS D 1683-2004 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
KS X ISO 13655:2006 Tecnología gráfica-Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas
KS D ISO 10701:2002 Acero y hierro－Determinación del contenido de azufre－Método espectrofotométrico de azul de metileno
KS B ISO 10110-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 1:General
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS B ISO 10110-6:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 6:Tolerancias de centrado
KS B ISO 10110-11:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 11: Datos no tolerados.
KS B ISO 10110-12:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 12:Superficies asféricas
KS B ISO 10110-12:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
KS B ISO 10110-11:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 11:Datos no tolerados
KS B ISO 13653-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Métodos generales de prueba óptica. Medición de la irradiancia relativa en el campo de la imagen.
KS B ISO 10110-8:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
KS B ISO 10110-6:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 6:Tolerancias de centrado
KS B ISO 13653-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Métodos generales de prueba óptica. Medición de la irradiancia relativa en el campo de la imagen.
KS B ISO 10110-6-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 6:Tolerancias de centrado
KS B ISO 10110-8-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
KS B ISO 10110-17:2006 Óptica y fotónica－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 17: Umbral de daño por irradiación láser
KS B ISO 10110-5:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
KS B ISO 10110-7:2007 Óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
KS B ISO 10110-5:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 5: Tolerancias de forma de superficies
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS B ISO 10110-9:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
KS B ISO 10110-14:2010 Óptica y fotónica-Preparación de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 14: Tolerancia a la deformación del frente de onda
KS B ISO 10110-7:2017 Óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
KS B ISO 10110-7-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
KS A ISO 5-3-2011(2016) Fotografía y tecnología gráfica－Medidas de densidad－Parte 3: Condiciones espectrales
KS A ISO 5-3-2011(2021) Fotografía y tecnología gráfica－Medidas de densidad－Parte 3: Condiciones espectrales
KS B ISO 10110-9-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
KS B ISO 10110-9:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
KS C IEC 61452-2017(2022) Instrumentación nuclear. Medición de las tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y utilización de espectrómetros de germanio.
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS E ISO 15247:2012 Concentrados de sulfuro de zinc-Determinación del contenido de plata-Método espectrométrico de disolución ácida y absorción atómica de llama
KS D ISO 3497-2002(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Métodos espectrométricos de rayos X
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS B ISO 10110-10:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 10: Tabla que representa datos de un elemento de lente
KS B ISO 10110-10:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa los datos de un elemento de lente.
KS B ISO 10110-2-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 2: Imperfecciones del material－Birrefringencia de tensión
KS B ISO 10110-2:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 2: Imperfecciones del material－Birrefringencia de tensión
KS C IEC 61290-3-2:2005 Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS P ISO 9913-1-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Parte 1: Determinación de la permeabilidad y transmisibilidad al oxígeno con el método polarográfico.
KS B ISO 10110-2:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 2: Imperfecciones del material－Birrefringencia de tensión
KS B ISO 10110-3:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 3：Imperfecciones del material－Burbujas e inclusiones
KS B ISO 10110-3-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 3：Imperfecciones del material－Burbujas e inclusiones
KS B ISO 10110-3:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 3：Imperfecciones del material－Burbujas e inclusiones
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS B ISO 10110-8:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
KS B ISO 10110-4-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 4：Imperfecciones del material－Inhomogeneidad y estrías
KS B ISO 10110-4:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 4：Imperfecciones del material－Inhomogeneidad y estrías
KS B ISO 10110-4:2007 Óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 4：Imperfecciones del material－Inhomogeneidad y estrías

European Committee for Standardization (CEN), Diagrama del espectrómetro

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN ISO 8599:1996 Óptica e Instrumentos Ópticos - Lentes de Contacto - Determinación de la Transmitancia Espectral y Luminosa ISO 8599 : 1994
prEN ISO 7921 Óptica e instrumentos oftálmicos - Cartas de lectura cercana (ISO/DIS 7921:2023)

Association Francaise de Normalisation, Diagrama del espectrómetro

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
NF S10-008-10:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 10: tabla que representa datos de un elemento de lente.
NF S10-008-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: generales.
NF S10-008-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: tolerancias de centrado.
NF S10-008-11:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 11: datos no tolerados.
NF S10-008-7:2008 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
NF S10-008-5:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: tolerancias de forma de la superficie.
NF S10-008-7:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: tolerancias de imperfecciones superficiales.
NF M60-827:2014 Calidad del agua - Isótopos de uranio - Método de prueba mediante espectrometría alfa
NF S10-008-9:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: tratamiento superficial y revestimiento.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF C43-890-1*NF EN 62471-5:2015 Seguridad fotobiológica de lámparas y sistemas de lámparas. Parte 5: proyectores de imágenes.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF C74-224*NF EN 61262-4:1994 Equipos eléctricos médicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 4: determinación de la distorsión de la imagen.
NF S10-008-3:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 3: imperfecciones materiales. Burbujas e inclusiones.
NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 62471-5:2015 Seguridad fotobiológica de lámparas y dispositivos que utilizan lámparas - Parte 5: proyectores de imágenes
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF S10-008-2:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 2: imperfecciones materiales. Birrefringencia de estrés.
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.

British Standards Institution (BSI), Diagrama del espectrómetro

BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS ISO 13655:2017 Tecnología gráfica. Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
BS ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
20/30391483 DC BS ISO 24121. Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Transformación de preprocesamiento espectral para compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales
BS ISO 10110-17:2004 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Umbral de daño por irradiación láser
BS ISO 10110-8:1998 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Textura superficial
BS ISO 10110-8:2010 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Textura de superficie; rugosidad y ondulación
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN 62471-5:2015 Seguridad fotobiológica de lámparas y sistemas de lámparas - Proyectores de imágenes
BS ISO 10110-11:1996 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Datos no tolerados
BS PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
BS ISO 10110-13:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Umbral de daño por irradiación láser
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS ISO 10110-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Tolerancias de centrado
BS ISO 15795:2002 Óptica y fotónica - Evaluación de la calidad de los sistemas ópticos - Evaluación de la degradación de la calidad de la imagen debido a aberraciones cromáticas
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 13166:2014 Calidad del agua. Isótopos de uranio. Método de prueba mediante espectrometría alfa.
BS ISO 10110-9:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tratamiento y revestimiento de superficies
BS ISO 11698-2:2000 Micrografía. Métodos de medición de la calidad de la imagen producida por escáneres de tarjetas de apertura. Criterios y control de calidad.
BS ISO 13655:2010 Tecnología gráfica. Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
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18/30382086 DC BS EN 61452. Instrumentación nuclear. Medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y uso de espectrómetros de germanio.
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BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
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BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
20/30412413 DC BS EN IEC 61452. Instrumentación nuclear. Medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y uso de espectrómetros de germanio.
BS ISO 10110-2:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Imperfecciones de los materiales - Birrefringencia de tensiones
BS ISO 10110-3:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Imperfecciones de materiales - Burbujas e inclusiones
BS ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS ISO/IEC 19794-3:2006 Tecnología de la información - Formatos de intercambio de datos biométricos - Datos espectrales de patrones dactilares
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 10110-4:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Imperfecciones de materiales - Inhomogeneidad y estrías
BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
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BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

CZ-CSN, Diagrama del espectrómetro

CSN 99 7101-1990 Sistema EAN. Código de barras UCC/EAN 128. Identificadores de aplicación
CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros
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IEC 61976:2000 Instrumentación nuclear - Espectrometría - Caracterización del fondo espectral en espectrometría de rayos gamma nuclear HPGe
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 61239:1993 Instrumentación nuclear; espectrómetros y medidores de radiación gamma portátiles utilizados para prospecciones; definiciones, requisitos y calibración
IEC 61455:1995
IEC TR3 61276:1994
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.

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DS/EN 15483:2009 Calidad del aire ambiente: mediciones atmosféricas cerca del suelo con espectroscopía FTIR
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DS/EN 61290-10-1:2009

IN-BIS, Diagrama del espectrómetro

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IS 12803-1989 MÉTODO DE ANÁLISIS DEL CEMENTO HIDRÁULICO MEDIANTE ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X
IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

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JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS T 1213:1984 Estimuladores fóticos para electroencefalógrafos.
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS H 1632-3:2014 Titanio. Espectrometría de emisión atómica ICP. Parte 3: Determinación de boro.
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

中国气象局, Diagrama del espectrómetro

QX/T 532-2019 Especificaciones de calibración del espectrómetro Brewer
QX/T 565-2020 Medidor de fenómeno de precipitación de espectro de caída láser

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GOST 12550.2-1982 Aleaciones de paladio-iridio. Métodos de análisis espectrográfico.
GOST 12559.2-1982 Aleaciones de platino-iridio. Métodos de análisis espectrográfico.
GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
GOST 14828-1969 Instrumentos para la medida de cantidades físico-químicas. Radioespectrómetros. Términos
GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
GOST 8.197-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Esquema de verificación estatal para instrumentos que miden la radiancia espectral, la potencia radiante espectral, la irradiancia espectral, la intensidad radiante espectral, la potencia y la intensidad radiante en el rango espectral.
GOST 17173-1981 Rendijas espectrales y accesorios a ellas. Tipos, parámetros básicos y dimensiones. Requerimientos técnicos
GOST 26874-1986 Espectrómetros de potencia de radiación ionizante. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST R EN ISO 14596-2008 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de azufre mediante el método de espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva.

RO-ASRO, Diagrama del espectrómetro

STAS 12814-1990 ALUMINIO Y ALEACIONES DE ALUMINIO Análisis por espectrometría de emisión óptica
STAS 11564-1982 ACEROS RÁPIDOS PARA HERRAMIENTAS Análisis espectrográfico en emisión
STAS 11607-1981 ACEROS AL CARBONO DE BAJA Y MEDIA ALEACIÓN Análisis espectrográfico

Professional Standard - Ocean, Diagrama del espectrómetro

HY/T 175-2014 Analizador óptico del tamaño de partículas de sedimentos en suspensión
HY/T 125-2009

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Diagrama del espectrómetro

JJF 1544-2015
JJF 1329-2011 Especificación de calibración para instrumentos espectrales instantáneos
JJF 1601-2016 Especificación de calibración para espectrofotómetros para medición de reflectancia difusa
JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
JJF 1603-2016 Especificación de calibración para espectrómetros de terahercios (0,1 ~ 2,5) THz
JJF 1818-2020 Especificación de calibración para dispositivos de calibración de espectrómetros Raman
JJF 1319-2011 Especificación de calibración para espectrómetros infrarrojos por transformada de Fourier
JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
JJF 1929-2021 Especificación de calibración para espectrómetros de emisión atómica con electrodos de disco giratorio
JJF 1953-2021 Especificación de calibración para cromatógrafos de gases con detector de quimioluminiscencia de azufre

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Diagrama del espectrómetro

GJB 8472-2015 Reglamento de verificación para espectrómetro de campo.
GJB 9726-2020 Especificaciones para generadores de imágenes hiperespectrales espaciales
GJB 4531-2002 Monitorear el espectro infrarrojo estándar químico
GJB 8662-2015 Procedimientos de calibración para espectrómetros infrarrojos por transformada de Fourier.
GJB 4293-2001 Especificación para la interpretación automática universal de información de imágenes fotométricas balísticas.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Diagrama del espectrómetro

GB/T 40219-2021 Especificaciones generales para espectrómetros Raman.
GB/T 41211-2021 Especificaciones generales para instrumentos de detección espectral in situ lunares y planetarios.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Diagrama del espectrómetro

ASTM E388-04(2023) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1507-98 Guía estándar para describir y especificar el espectrómetro de un instrumento de lectura directa por emisión óptica
ASTM E388-04(2015) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
ASTM E3029-15(2023) Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E356-78(1996) Prácticas para describir y especificar el espectrógrafo
ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E3029-15 Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1866-97(2007) Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1866-97(2002) Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1866-97 Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1683-02(2014)e1 Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E958-13 Práctica estándar para la estimación del ancho de banda espectral de espectrofotómetros ultravioleta-visible
ASTM E2529-06(2022) Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E2529-06e1 Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E1770-95 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E1770-95(2006) Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E2911-23 Guía estándar para la corrección de la intensidad relativa de espectrómetros Raman
ASTM E2911-13
ASTM D5381-93(2014) Guía estándar para fluorescencia de rayos X 40;XRF41; Espectroscopía de pigmentos y extensores.
ASTM E2529-06 Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E2529-06(2014) Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E1840-96(2022) Guía estándar para estándares de desplazamiento Raman para calibración de espectrómetros
ASTM E902-05 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1683-02(2022) Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1016-07(2020) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E932-89(2002) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E932-89(1997) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E1840-96(2002) Guía estándar para estándares de desplazamiento Raman para calibración de espectrómetros
ASTM E932-89(2021) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E932-89(2013) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E1770-14 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E1260-95 Método de prueba estándar para determinar las características del tamaño de gota de líquido en un aerosol utilizando instrumentos ópticos de dispersión de luz sin imágenes
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1812-96 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica de llama
ASTM E1329-00 Práctica estándar para la verificación y uso de gráficos de control en análisis espectroquímicos
ASTM E1329-00(2005) Práctica estándar para la verificación y uso de gráficos de control en análisis espectroquímicos
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM G138-96 Método de prueba estándar para la calibración de un espectrorradiómetro utilizando una fuente estándar de irradiancia
ASTM E1260-03 Método de prueba estándar para determinar las características del tamaño de gota de líquido en un aerosol utilizando instrumentos ópticos de dispersión de luz sin imágenes
ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1009-95(2000) Práctica estándar para evaluar un espectrómetro de vacío de emisión óptica para analizar acero al carbono y de baja aleación
ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM E827-07 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E932-89(2007) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
ASTM E1770-19 Práctica estándar para la optimización de instrumentación para espectrometría de absorción atómica en horno de grafito
ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda

International Organization for Standardization (ISO), Diagrama del espectrómetro

ISO/FDIS 7921:2011 Óptica e instrumentos oftálmicos: gráficos de lectura cercana
ISO 8599:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
ISO 6286:1982 Espectrometría de absorción molecular; Vocabulario; General; Aparato
ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
ISO 10110-1:2006 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: General
ISO 10110-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: Generalidades
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 10110-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado.
ISO 10110-17:2004 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 17: Umbral de daño por irradiación láser.
ISO 10110-11:1996 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 11: Datos no tolerados
ISO 13655:1996 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas
ISO 10110-7:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
ISO 10110-5:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 10110-14:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 14: Tolerancia a la deformación del frente de onda.
ISO 10110-9:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: Tratamiento y revestimiento de superficies.
ISO 10110-7:2017 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
ISO 13166:2014 Calidad del agua - Isótopos de uranio - Método de prueba mediante espectrometría alfa
ISO 10110-10:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa los datos de un elemento de lente.
ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz.
ISO/TS 10867:2010 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
ISO 13655:2009 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas
ISO 13655:2017 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 10110-10:2004 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 10: Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados
ISO 10110-6:1996/Cor 1:1999 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado; Corrigendum técnico 1
ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 10110-11:1996/cor 1:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 11: Datos no tolerados; Corrigendum técnico 1
ISO 10110-2:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 2: Imperfecciones de los materiales. Birrefringencia de tensiones.
ISO 10110-3:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 3: Imperfecciones de los materiales - Burbujas e inclusiones
ISO 10110-8:2010 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 8: Textura superficial; rugosidad y ondulación
ISO 10110-5:1996/Cor 1:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies; Corrigendum técnico 1

ZA-SANS, Diagrama del espectrómetro

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

GM Daewoo, Diagrama del espectrómetro

GMKOREA EDS-T-7826-2006 ¿FTIR? ??? ????,???? ???? ????

Professional Standard - Meteorology, Diagrama del espectrómetro

QX/T 159-2012 Especificación para la medición del espectro atmosférico mediante espectroscopía terrestre de transformada de Fourier de alta resolución espectral
QX/T 172-2012 Método de observación del ozono total en columna con espectrofotómetro Brewer
QX/T 206-2013 Método de cálculo del índice de rendimiento del instrumento infrarrojo satelital de baja resolución espectral

Lithuanian Standards Office , Diagrama del espectrómetro

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 15483-2009 Calidad del aire ambiente: mediciones atmosféricas cerca del suelo con espectroscopía FTIR
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).

Professional Standard - Military and Civilian Products, Diagrama del espectrómetro

WJ 2300-1995 Reglamento de verificación para espectrógrafo de rejilla plana
WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

German Institute for Standardization, Diagrama del espectrómetro

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
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