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La mejor resolución para microscopía

La mejor resolución para microscopía, Total: 47 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en La mejor resolución para microscopía son: Equipo óptico, Metales no ferrosos, Química analítica, Optoelectrónica. Equipo láser, carbones, Óptica y medidas ópticas., Fibras textiles, Materiales de construcción, Combustibles.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), La mejor resolución para microscopía

• KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
• KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
• KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
• KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
• KS K ISO 2647:2009 Lana-Determinación del porcentaje de fibras meduladas mediante el microscopio de proyección.

International Organization for Standardization (ISO), La mejor resolución para microscopía

• ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
• ISO/DIS 23124:2023 Análisis químico de superficies: medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman
• ISO 19012-3:2015 Microscopios - Designación de objetivos de microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
• ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
• ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
• ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
• ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
• ISO 11884-1:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
• ISO 2647:1973 Lana; Determinación del porcentaje de fibras meduladas mediante el microscopio de proyección.
• ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
• ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
• ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
• ISO 13083:2015

British Standards Institution (BSI), La mejor resolución para microscopía

• BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
• BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
• 23/30420097 DC BS ISO 23124 Análisis químico de superficies. Medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman.
• BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
• 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
• BS ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Medición de la tasa de deriva
• BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
• PD IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofabricación. Características clave de control. Mediciones de campos magnéticos parásitos a escala nanométrica trazables y resueltas espacialmente. Microscopía de fuerza magnética
• BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
• BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), La mejor resolución para microscopía

• JIS B 7139-1:2008 Microscopios estereoscópicos - Parte 1: Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos
• JIS B 7158-3:2017 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral

RU-GOST R, La mejor resolución para microscopía

• GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
• GOST 15114-1978 Sistema de telescopio para dispositivos ópticos. Método visual de determinación de límites de resolución.
• GOST R 55659-2013 Métodos para el análisis petrográfico de carbones. Parte 5. Método de determinación microscópica de la reflectancia de la vitrinita.

Standard Association of Australia （SAA）, La mejor resolución para microscopía

• AS 2856.3:2000 Petrografía de carbón - Método para la determinación microscópica de la reflectancia de macerales de carbón

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, La mejor resolución para microscopía

• GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.

American Society for Testing and Materials (ASTM), La mejor resolución para microscopía

• ASTM D7708-23a Método de prueba estándar para la determinación microscópica de la reflectancia de vitrinita dispersa en rocas sedimentarias
• ASTM D7708-23 Método de prueba estándar para la determinación microscópica de la reflectancia de vitrinita dispersa en rocas sedimentarias

Association Francaise de Normalisation, La mejor resolución para microscopía

• NF G07-075:1971 Determinación del porcentaje de medulación de la fibra de lana mediante microscopio de proyección.

AENOR, La mejor resolución para microscopía

• UNE 32301:1995 COMBUSTIBLES MINERALES SÓLIDOS. MÉTODOS DE ANÁLISIS PETROGRÁFICO. MÉTODO PARA DETERMINAR MICROSCÓPICAMENTE LA REFLECTANCIA DE LA VITRINITA.

ZA-SANS, La mejor resolución para microscopía

• SANS 7404-5:1994 Métodos para el análisis petrográfico de hulla bituminosa y antracita Parte 5: Método de determinación microscópica de la reflectancia de la vitrinita

Danish Standards Foundation, La mejor resolución para microscopía

• DS/ISO 7404-5:2009

International Electrotechnical Commission (IEC), La mejor resolución para microscopía

• IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 9-1: Mediciones de campos magnéticos parásitos a nanoescala resueltas espacialmente trazables - Microscopía de fuerza magnética

German Institute for Standardization, La mejor resolución para microscopía

• DIN 22020-5:2005-02 Investigaciones de la materia prima en la minería de hulla - Exámenes microscópicos de hulla, coque y briquetas - Parte 5: Mediciones de reflectancia en vitrinitas / Nota: DIN 22020-5 (1986-09) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2005-07 -31.
• DIN 19051-2:2013-03 Cartas de prueba para micrografía - Parte 2: Montaje fundamental de caracteres tipográficos para pruebas de legibilidad y carta de prueba para destino del poder de resolución
• DIN 19051-2 Beiblatt 2:2013-03 Cartas de prueba para micrografía - Parte 2: Montaje fundamental de caracteres tipográficos para pruebas de legibilidad y carta de prueba para destino del poder de resolución; Suplemento 2: Tarjeta de prueba para uso práctico en cámaras rotativas
• DIN 19051-2 Beiblatt 1:2013-03 Cartas de prueba para micrografía - Parte 2: Montaje fundamental de caracteres tipográficos para pruebas de legibilidad y carta de prueba para destino del poder de resolución; Suplemento 1: Tarjeta de prueba para uso práctico

KR-KS, La mejor resolución para microscopía

• KS E ISO 7404-5-2013(2023) Métodos para el análisis petrográfico de carbón bituminoso y antracita －Parte 5: Método para determinar microscópicamente la reflectancia de la vitrinita

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