ZH
EN
ES

Оптимальное разрешение микроскопа

Оптимальное разрешение микроскопа, Всего: 47 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Оптимальное разрешение микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Цветные металлы, Аналитическая химия, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Угли, Оптика и оптические измерения, Текстильные волокна, Строительные материалы, Топливо.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Оптимальное разрешение микроскопа

KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS K ISO 2647:2009 Шерсть. Определение процентного содержания сердцевинных волокон с помощью проекционного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), Оптимальное разрешение микроскопа

ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 3. Спектральное пропускание
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 11884-1:1998 Оптика и оптические инструменты. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 2647:1973 Шерсть; Определение процента медуллированных волокон с помощью проекционного микроскопа
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.

British Standards Institution (BSI), Оптимальное разрешение микроскопа

BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
PD IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия
BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
BS ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Оптимальное разрешение микроскопа

JIS B 7139-1:2008 Стереомикроскопы. Часть 1. Минимальные требования к стереомикроскопам.
JIS B 7158-3:2017 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопов. Часть 3. Спектральное пропускание.

RU-GOST R, Оптимальное разрешение микроскопа

GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST 15114-1978 Телескопическая система для оптических приборов. Визуальный метод определения пределов разрешения
GOST R 55659-2013 Методы петрографического анализа углей. Часть 5. Метод микроскопического определения отражательной способности витринита

Standard Association of Australia （SAA）, Оптимальное разрешение микроскопа

AS 2856.3:2000 Петрография угля - Метод микроскопического определения отражательной способности мацералов угля.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Оптимальное разрешение микроскопа

GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Оптимальное разрешение микроскопа

ASTM D7708-23a Стандартный метод испытаний микроскопического определения отражательной способности витринита, рассеянного в осадочных породах
ASTM D7708-23 Стандартный метод испытаний микроскопического определения отражательной способности витринита, рассеянного в осадочных породах

Association Francaise de Normalisation, Оптимальное разрешение микроскопа

NF G07-075:1971 Определение процента медулляции шерстяных волокон с помощью проекционного микроскопа.

AENOR, Оптимальное разрешение микроскопа

UNE 32301:1995 ТВЕРДОЕ МИНЕРАЛЬНОЕ ТОПЛИВО. МЕТОДЫ ПЕТРОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА. МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКОЙ ОТРАЖАТЕЛЬНОСТИ ВИТРИНИТА.

ZA-SANS, Оптимальное разрешение микроскопа

SANS 7404-5:1994 Методы петрографического анализа каменного угля и антрацита Часть 5. Метод микроскопического определения отражательной способности витринита

Danish Standards Foundation, Оптимальное разрешение микроскопа

DS/ISO 7404-5:2009 Методы петрографического анализа углей. Часть 5. Метод микроскопического определения отражательной способности витринита.

International Electrotechnical Commission (IEC), Оптимальное разрешение микроскопа

IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Часть 9-1. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия

German Institute for Standardization, Оптимальное разрешение микроскопа

DIN 22020-5:2005-02 Исследования сырья при добыче каменного угля. Микроскопические исследования каменного угля, кокса и брикетов. Часть 5. Измерения отражательной способности витринитов / Примечание: DIN 22020-5 (1986-09) остается действительным наряду с настоящим стандартом до 2005-07 гг. -31.
DIN 19051-2:2013-03 Тестовые таблицы для микрографии. Часть 2. Фундаментальная сборка типографских символов для проверки разборчивости и испытательная таблица для определения разрешающей способности.
DIN 19051-2 Beiblatt 1:2013-03 Таблицы испытаний для микрографии. Часть 2: Фундаментальная сборка типографских символов для проверки разборчивости и таблица испытаний назначения разрешающей способности; Приложение 1: Тестовая карта для практического использования
DIN 19051-2 Beiblatt 2:2013-03 Таблицы испытаний для микрографии. Часть 2: Фундаментальная сборка типографских символов для проверки разборчивости и таблица испытаний назначения разрешающей способности; Приложение 2: Тестовая карта для практического использования в поворотных камерах.

KR-KS, Оптимальное разрешение микроскопа

KS E ISO 7404-5-2013(2023) Методы петрографического анализа каменного угля и антрацита. Часть 5. Метод микроскопического определения отражательной способности витринита.