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Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica son: Tecnología de vacío, Química analítica, Materiales semiconductores, Mediciones de radiación, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Residuos, Metales no ferrosos, Materiales de construcción, ingeniería de energía nuclear, Componentes electrónicos en general..


Professional Standard - Electron, Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • SJ 1781-1981 Bomba de iones de pulverización catódica: métodos de prueba

Professional Standard - Machinery, Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • JB/T 2965-1992 Método de prueba de rendimiento de la bomba de iones de pulverización catódica.

British Standards Institution (BSI), Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
  • BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
  • PD ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la tasa de sputtering. Método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
  • BS IEC 60692:1999 Instrumentación nuclear. Medidores de densidad que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba.
  • BS IEC 60692:2000 Instrumentación nuclear. Medidores de densidad que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba.
  • BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
  • BS IEC 61336:1996 Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiaciones ionizantes. Definiciones y métodos de prueba.

International Organization for Standardization (ISO), Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • ISO 22415:2019 Análisis químico de superficie. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
  • ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies - Perfilado en profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
  • ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • ASTM E1438-91(2001) Guía estándar para medir anchos de interfaces en perfiles de profundidad de pulverización catódica utilizando SIMS
  • ASTM E1438-91(1996) Guía estándar para medir anchos de interfaces en perfiles de profundidad de pulverización catódica utilizando SIMS
  • ASTM C110-08 Métodos de prueba estándar para pruebas físicas de cal viva, cal hidratada y piedra caliza
  • ASTM C110-09 Métodos de prueba estándar para pruebas físicas de cal viva, cal hidratada y piedra caliza
  • ASTM C1109-98 Método de prueba estándar para el análisis de lixiviados acuosos de materiales de desecho nuclear mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • ASTM E1552-08 Método de prueba estándar para determinar el hafnio en circonio y aleaciones de circonio mediante plasma de corriente directax2014;Espectrometría de emisión atómica
  • ASTM C1109-10(2015)
  • ASTM D5542-94(1999)e1 Métodos de prueba estándar para trazas de aniones en agua de alta pureza mediante cromatografía iónica
  • ASTM F1467-99(2005)e1 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
  • ASTM UOP407-09 Traza de metales en compuestos orgánicos mediante incineración seca - ICP-OES
  • ASTM E1097-12 Guía estándar para la determinación de diversos elementos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma de corriente directa
  • ASTM F1467-11 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X (x2248; fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos

International Electrotechnical Commission (IEC), Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • IEC 60181:1964 Índice de aparatos de medición eléctricos utilizados en relación con radiaciones ionizantes.
  • IEC 60181/AMD1:1967 Índice de aparatos de medición eléctricos utilizados en relación con radiaciones ionizantes.
  • IEC 61151:1992 Instrumentación nuclear; amplificadores y preamplificadores utilizados con detectores de radiaciones ionizantes; procedimientos de prueba
  • IEC 60692:1999 Instrumentación nuclear. Medidores de densidad que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba.

German Institute for Standardization, Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • DIN IEC 61336:1999 Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba (IEC 61336:1996).
  • DIN IEC 61336:1999-05 Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba (IEC 61336:1996).

Association Francaise de Normalisation, Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 Análisis químico de superficie - Perfilado de profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
  • FD ISO/TR 22335:2008 Análisis químico de superficies - Perfilado en profundidad - Medición de la velocidad de pulverización: método de impresión de cuadrícula utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • KS F 2587-2010(2020) Método de prueba estándar para iones cloruro en hormigón fresco utilizando un método de electrodo selectivo para iones cloruro

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo utilizar el instrumento de pulverización iónica

  • GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

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  • BS IEC 61336:1996(1999) Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba.




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