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espectrometría de masas moleculares

espectrometría de masas moleculares, Total: 114 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectrometría de masas moleculares son: Química analítica, Educación, Materias primas para caucho y plástico., Materiales de construcción, Agricultura y silvicultura, Calidad del agua, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., ingeniería de energía nuclear, Dispositivos semiconductores, Geología. Meteorología. Hidrología, Vocabularios.

British Standards Institution (BSI), espectrometría de masas moleculares

BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS PD CEN/TS 17200:2018 Productos de construcción. Evaluación de liberación de sustancias peligrosas. Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos. Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente. Espectrometría de masas (ICP-MS)
BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
BS ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
BS ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
BS ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.

International Organization for Standardization (ISO), espectrometría de masas moleculares

ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 18114:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
ISO 22125-2:2019 Calidad del agua. Tecnecio-99. Parte 2: Método de prueba mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS).
ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta

KR-KS, espectrometría de masas moleculares

KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio
KS I ISO 17294-2014 Calidad del agua: aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), espectrometría de masas moleculares

JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
JIS K 0156:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
JIS K 0169:2012 Análisis químico de superficie - Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta

Association Francaise de Normalisation, espectrometría de masas moleculares

NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF X21-064*NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas estática de iones secundarios.
NF EN ISO 22125-2:2019 Calidad del agua - Tecnecio-99 - Parte 2: método de prueba por espectrometría de masas acoplada con plasma inducido)
NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies: espectrometría de masas de iones secundarios: método para la calibración de profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta

American Society for Testing and Materials (ASTM), espectrometría de masas moleculares

ASTM E1504-11 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM C1476-00 Método de prueba estándar para el análisis de orina para tecnecio-99 mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
ASTM E1162-11 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM C1476-06 Método de prueba estándar para el análisis de tecnecio-99 en orina mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
ASTM D5739-00 Práctica estándar para la identificación de la fuente de derrames de petróleo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas de baja resolución de impacto electrónico de iones positivos
ASTM D5739-06(2020) Práctica estándar para la identificación de la fuente de derrames de petróleo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas de baja resolución de impacto electrónico de iones positivos
ASTM D5739-06 Práctica estándar para la identificación de la fuente de derrames de petróleo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas de baja resolución de impacto electrónico de iones positivos

Professional Standard - Education, espectrometría de masas moleculares

JY/T 0568-2020 Reglas generales para la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, espectrometría de masas moleculares

GB/T 40129-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 39486-2020 Reactivo químico: reglas generales para la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

AT-ON, espectrometría de masas moleculares

ONORM M 6603-1-1997 Análisis de agua - Determinación de potasio y sodio mediante espectrometría de absorción atómica
ONORM M 6604-1995

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, espectrometría de masas moleculares

GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies

German Institute for Standardization, espectrometría de masas moleculares

DIN CEN/TS 17200:2019-03*DIN SPEC 18484:2019-03 Productos de construcción - Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente - Espectrometría de Masas (ICP-MS); Versión alemana CEN/TS 17200:2018+AC:2018 / Nota: A b...
DIN EN 17200:2022-06 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis por espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS); Versión alemana e inglesa prEN 17200:2022 / Nota: Fecha...
DIN 51002-1:2004 Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 1: Principios y definiciones
DIN EN 17200:2022 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis por espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS); Versión alemana e inglesa prEN 17200:2022

European Committee for Standardization (CEN), espectrometría de masas moleculares

PD CEN/TS 17200:2018 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente - Espectrometría de Masas (ICP-MS)
CEN/TS 17200:2018+AC:2018 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente - Espectrometría de Masas (ICP-MS)
EN ISO 22125-2:2019 Calidad del agua - Tecnecio-99 - Parte 2: Método de prueba mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) (ISO 22125-2:2019)
FprEN 17200 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas - Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos - Análisis mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), espectrometría de masas moleculares

KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D ISO 22048-2005(2020) Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS D ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS D ISO 18114:2005 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D ISO 20341-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS D ISO 14237:2003 Análisis químico de superficies－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
KS M ISO 16564:2007 Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
KS D ISO 20341:2005 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS M ISO 16564-2007(2022) Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
KS M ISO 16564-2007(2017) Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)

未注明发布机构, espectrometría de masas moleculares

BS ISO 22048:2004(2005) Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas de iones secundarios estáticos.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, espectrometría de masas moleculares

DB15/T 2149-2021 Método de detección de cromatografía de gases-espectrometría de masas de moléculas de señal de detección de quórum en bacterias gramnegativas

Professional Standard - Hygiene , espectrometría de masas moleculares

WS/T 107.2-2015 Determinación de yodo en orina parte 2: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Standard Association of Australia （SAA）, espectrometría de masas moleculares

AS ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
AS ISO 22048:2006 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
AS 4873.1:2005 Práctica recomendada para espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS): principios y técnicas
AS ISO 18114:2006
AS ISO 14237:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

Group Standards of the People's Republic of China, espectrometría de masas moleculares

T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, espectrometría de masas moleculares

DB34/T 2127.4-2014 Métodos de muestras analíticas para estudios geoquímicos regionales Parte 4: Determinación del contenido de multielementos mediante espectrometría de masas de plasma

National Health Commission of the People's Republic of China, espectrometría de masas moleculares

GBZ/T 317.2-2018 Determinación de cadmio en sangre, parte 2: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GBZ/T 307.2-2018 Determinación de cadmio en orina, parte 2: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GBZ/T 316.2-2018 Determinación de plomo en la sangre, parte 2: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

卫生健康委员会, espectrometría de masas moleculares

WS/T 107.2-2016 Determinación de yodo en orina Parte 2: Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente