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Análisis de espectrometría de masas moleculares.

Análisis de espectrometría de masas moleculares., Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de espectrometría de masas moleculares. son: Química analítica, Goma, Materias primas para caucho y plástico., Plástica, Medicina de laboratorio, químicos inorgánicos, Estandarización. Reglas generales, Educación, Gas natural, Calidad del agua, pruebas de metales, Metales no ferrosos, Equipo medico, Productos de la industria química., Refractarios, Productos petrolíferos en general, ingeniería de energía nuclear, Metales ferrosos, Pruebas no destructivas, Vocabularios, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Equipos para trabajar la madera, Minerales metalíferos, Biología. Botánica. Zoología, Calidad, Óptica y medidas ópticas., Microbiología, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Frutas. Verduras, Alimentos preenvasados y preparados., Equipo óptico, Ingredientes de pintura, Medidas lineales y angulares., Combustibles, Circuitos impresos y placas., Metalurgia de polvos, carbones, Materiales de construcción, Tabaco, productos del tabaco y equipos relacionados., Productos de la industria textil., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Circuitos integrados. Microelectrónica, Productos de metales no ferrosos., Calidad del aire, Ferroaleaciones, Productos de hierro y acero., Químicos orgánicos, Calidad del suelo. Pedología.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de espectrometría de masas moleculares.

  • GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
  • GB/T 6041-2020 Reglas generales para el análisis espectrométrico de masas.
  • GB/T 6041-2002 Reglas generales para el análisis espectrométrico de masas.
  • GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
  • GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
  • GB/Z 35959-2018 Regla general para cromatografía líquida-espectrometría de masas.
  • GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
  • GB/T 15337-1994 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.
  • GB/T 15337-2008 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.
  • GB/T 19627-2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
  • GB/T 15249.5-1994 Oro crudo-Determinación del contenido de mercurio-Método espectrométrico de absorción atómica en frío
  • GB/T 20725-2006 Directrices de microanálisis con sonda electrónica para análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 26533-2011 Reglas generales para el análisis espectroscópico de electrones Auger.
  • GB/T 29858-2013 Directrices estándar para el análisis cuantitativo de calibración multivariante de espectroscopía molecular
  • GB/T 20255.6-2008 Métodos de análisis químico de metales duros. Espectrometría de absorción atómica de llama. Requisitos generales
  • GB/T 28634-2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 28726-2012 Análisis de gases. Cromatógrafo de gases con detector de ionización de helio.
  • GB/T 8151.26-2023 Métodos de análisis químico de concentrados de zinc Parte 26: Determinación del contenido de plata mediante espectrometría de absorción atómica de llama y disolución ácida
  • GB/T 15249.5-2009 Métodos para el análisis químico del oro crudo. Parte 5: Determinación del contenido de mercurio. Espectrometría de absorción atómica en frío.
  • GB/T 20255.5-2006 Métodos de análisis químico de metales duros. Determinación del contenido de cromo. Método espectrométrico de absorción atómica de llama.
  • GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies
  • GB/T 42699.2-2023 Análisis cualitativo y cuantitativo del proteoma de ciertas fibras de pelo animal en textiles, parte 2: Análisis de péptidos de proteínas reducidas Método de espectrometría de masas de tiempo de vuelo, ionización y desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 13701-1992 Análisis isotópico de uranio mediante el método del espectrómetro de masas de gas de patrón único
  • GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
  • GB/T 18340.1-2010 Métodos de análisis geoquímico orgánico para muestras geológicas. Parte 1: Análisis de crudos ligeros. Cromatografía de gases
  • GB/T 14203-2016 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica por descarga de chispas.
  • GB/T 30705-2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 42699.1-2023 Textiles. Análisis proteómico cualitativo y cuantitativo de algunas fibras de pelo de animales. Parte 1: Detección de péptidos mediante LC-ESI-MS con reducción de proteínas.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de espectrometría de masas moleculares.

  • ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
  • ISO 10638:2010 Caucho - Identificación de antidegradantes mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
  • ISO 10638:2017 Caucho - Identificación de antidegradantes mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
  • ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
  • ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
  • ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
  • ISO/CD 2620 Análisis de gas natural. Biometano. Determinación de COV mediante cromatografía de gases por desorción térmica con detectores de ionización de llama y/o espectrometría de masas.
  • ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
  • ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
  • ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
  • ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
  • ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
  • ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
  • ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
  • ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO 19340:2017 Calidad del agua - Determinación del perclorato disuelto - Método mediante cromatografía iónica (IC)
  • ISO 15061:2001 Calidad del agua - Determinación del bromato disuelto - Método por cromatografía líquida de iones
  • ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • ISO 13321:1996 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopia de correlación de fotones
  • ISO/DIS 2620:2023 Análisis de gas natural. Biometano. Determinación de COV mediante cromatografía de gases por desorción térmica con detectores de ionización de llama y/o espectrometría de masas.
  • ISO/FDIS 2620:2023 Análisis de gas natural. Biometano. Determinación de COV mediante cromatografía de gases por desorción térmica con detectores de ionización de llama y/o espectrometría de masas.
  • ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • ISO 23674:2022 Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio).
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • ISO 18118:2015
  • ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 15680:2003 Calidad del agua: determinación por cromatografía de gases de varios hidrocarburos aromáticos monocíclicos, naftaleno y varios compuestos clorados mediante purga y trampa y desorción térmica.
  • ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • ISO 7627-1:1983 Métodos para el análisis químico de metales duros Espectrometría de absorción atómica de llama Requisitos generales
  • ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • ISO/TR 19319:2003
  • ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • ISO 18114:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • ISO 16200-2:2000 Calidad del aire en el lugar de trabajo. Muestreo y análisis de compuestos orgánicos volátiles mediante desorción de disolventes/cromatografía de gases. Parte 2: Método de muestreo por difusión.
  • ISO 17560:2002
  • ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
  • ISO 5666-3:1984 Calidad del agua; Determinación del mercurio total mediante espectrometría de absorción atómica sin llama; Parte 3: Método después de la digestión con bromo.

British Standards Institution (BSI), Análisis de espectrometría de masas moleculares.

  • BS ISO 10638:2010 Caucho - Identificación de antidegradantes mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
  • BS ISO 10638:2017 Goma. Identificación de antidegradantes mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas.
  • BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
  • BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
  • BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
  • BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
  • BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
  • BS ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
  • BS ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
  • BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
  • BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
  • BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
  • BS EN ISO 15061:2001 Calidad del agua. Determinación de bromato disuelto. Método por cromatografía líquida de iones.
  • BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
  • BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
  • BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
  • BS ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
  • BS DD ENV 13800:2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), sin separación de la matriz de plomo
  • BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • BS EN ISO 10927:2011 Plástica. Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
  • BS EN ISO 10927:2018 Plástica. Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
  • BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
  • BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
  • PD ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de descarga luminosa. Procedimientos de operación
  • BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • BS 7455-1:1991 Análisis de aleaciones de níquel mediante espectrometría de absorción atómica de llama - Requisitos generales y disolución de muestras
  • 21/30387777 DC BS EN ISO 23674. Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos por descomposición térmica. Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
  • BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
  • BS PD CEN/TS 17200:2018 Productos de construcción. Evaluación de liberación de sustancias peligrosas. Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos. Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente. Espectrometría de masas (ICP-MS)
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
  • BS EN 12938:2000(2001) Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
  • BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS EN ISO 19340:2017 Calidad del agua. Determinación de perclorato disuelto. Método mediante cromatografía iónica (IC)
  • BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • BS PD CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos. Determinación de residuos de plaguicidas mediante LC-MS/MS. Parámetros de espectrometría de masas en tándem.
  • BS EN ISO 17852:2006 Calidad del agua - Determinación del mercurio - Método que utiliza una etapa combinada de conservación y digestión seguida de espectrometría de fluorescencia atómica
  • 22/30419108 DC BS EN 17200. Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas. Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos. Análisis mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
  • BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS EN 17813:2023 Matrices sólidas ambientales. Determinación de halógenos y azufre mediante combustión pirohidrolítica oxidativa seguida de cromatografía iónica.
  • BS PD CEN/TS 17197:2018 Productos de construcción: Evaluación de liberación de sustancias peligrosas. Análisis de sustancias inorgánicas en digestos y eluatos. Análisis por Plasma Acoplado Inductivamente. Espectrometría de Emisión Óptica (ICP-OES). Análisis por Plasma Acoplado Inductivo. Óptica E
  • BS 3727-20:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Método espectrográfico
  • 20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
  • BS EN 60746-3:2002 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Conductividad electrolítica
  • BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de espectrometría de masas moleculares.

  • JIS K 6241:2012 Caucho - Identificación de antidegradantes mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
  • JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
  • JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
  • JIS K 0127:1992 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
  • JIS K 0127:2001 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
  • JIS K 0127:2013 Reglas generales para la cromatografía iónica.
  • JIS K 0118:1979 Reglas generales para el análisis espectrométrico de masas.
  • JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
  • JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
  • JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • JIS K 0133:2022 Reglas generales para la espectrometría de masas ICP
  • JIS K 0123:1995 Reglas generales para métodos analíticos en cromatografía de gases y espectrometría de masas.
  • JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
  • JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS H 1683:2002 Tantalio - Método de análisis espectrométrico de absorción atómica
  • JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS Z 8826:2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
  • JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
  • JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • JIS K 0136:2004 Reglas generales para cromatografía líquida de alta resolución / espectrometría de masas
  • JIS K 0136:2015 Reglas generales para cromatografía líquida de alta resolución / espectrometría de masas
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  • JIS G 1258-5:2007 Hierro y acero - Método espectrométrico de emisión atómica ICP - Parte 5: Determinación del contenido de boro - Disolución en ácidos fosfórico y sulfúrico
  • JIS G 1258-2:2014 Hierro y acero - Método espectrométrico de emisión atómica ICP - Parte 2: Determinación de diversos elementos - Descomposición con ácidos fosfórico y sulfúrico
  • JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • JIS G 1258-4:2007 Hierro y acero - Método espectrométrico de emisión atómica ICP - Parte 4: Determinación del contenido de niobio - Disolución en ácidos fosfórico y sulfúrico o Disolución en ácidos y fusión con disulfato de potasio
  • JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • JIS K 0400-52-30:2001 Calidad del agua: determinación de 33 elementos mediante espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
  • JIS G 1258-6:2007 Hierro y acero - Método espectrométrico de emisión atómica ICP - Parte 6: Determinación del contenido de boro - Disolución en ácidos y fusión con carbonato de sodio
  • JIS G 1258-1:2014 Hierro y acero.Método espectrométrico de emisión atómica ICP.Parte 1: Determinación de diversos elementos.Descomposición con ácidos y fusión con disulfato de potasio.
  • JIS H 1306:1992 Métodos para el análisis espectrométrico de absorción atómica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • JIS G 1257 AMD 2:2000 Hierro y acero - Métodos de análisis espectrométrico de absorción atómica (Enmienda 2)
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  • NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
  • NF T90-052*NF EN ISO 15061:2001 Calidad del agua - Determinación de bromato disuelto - Método por cromatografía líquida de iones.
  • NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
  • NF T51-241:2018 Plásticos: determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
  • NF EN 1785:2003 Productos alimenticios - Detección de alimentos ionizados que contienen lípidos - Análisis por cromatografía de gases/espectrometría de masas de 2-alquilcitobutanonas
  • NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
  • NF V03-155:2010 Análisis de alimentos - Determinación de patulina mediante cromatografía líquida de alta resolución - Espectrometría de masas/Método de espectrometría de masas (HPLC-MS/MS).
  • NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
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  • NF EN 1784:2003 Productos alimenticios - Detección de alimentos ionizados que contienen lípidos - Análisis por cromatografía de gases de hidrocarburos
  • XP T90-223:2013 Calidad del agua - Determinación de algunos residuos de fármacos en la fracción disuelta en agua - Método mediante extracción en fase sólida (SPE) y análisis por cromatografía líquida con investigación espectrométrica de masas en tándem (LC-MS/MS)
  • NF T90-046:2014 Calidad del agua - Determinación de alcanos policlorados de cadena corta (PCCC) en agua - Método mediante cromatografía de gases-espectrometría de masas (GC-MS) e ionización química de iones negativos (NCI)
  • XP T90-224:2013 Calidad del agua - Determinación de trihalometanos en el agua de piscinas - Método mediante espacio de cabeza estático o purga y trampa con desorción térmica, en línea con análisis por cromatografía de gases con detección por espectrometría de masas
  • NF X21-051*NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
  • XP A06-422*XP ENV 14029:2001 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), previa separación de la matriz de plomo
  • NF X31-439*NF EN ISO 22892:2011 Calidad del suelo: directrices para la identificación de compuestos objetivo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas.

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  • ASTM D1977-98 Método de prueba estándar para níquel y vanadio en catalizadores de equilibrio FCC mediante descomposición de ácido fluorhídrico/sulfúrico y análisis espectroscópico atómico
  • ASTM D1977-22 Método de prueba estándar para níquel y vanadio en catalizadores de equilibrio FCC mediante descomposición de ácido fluorhídrico/sulfúrico y análisis espectroscópico atómico
  • ASTM C1476-06 Método de prueba estándar para el análisis de tecnecio-99 en orina mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
  • ASTM C696-11 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear
  • ASTM D1977-03 Método de prueba estándar para níquel y vanadio en catalizadores de equilibrio FCC mediante descomposición de ácido fluorhídrico/sulfúrico y análisis espectroscópico atómico
  • ASTM D1977-03(2008) Método de prueba estándar para níquel y vanadio en catalizadores de equilibrio FCC mediante descomposición de ácido fluorhídrico/sulfúrico y análisis espectroscópico atómico
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  • KS D 1899-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
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  • KS D ISO 7627-1-2012(2017) Metales duros-Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama-Parte 1:Requisitos generales
  • KS D ISO 7627-1-2012(2022) Metales duros-Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama-Parte 1:Requisitos generales
  • KS I ISO 15680:2010 Calidad del agua: determinación por cromatografía de gases de varios hidrocarburos aromáticos monocíclicos, naftaleno y varios compuestos clorados mediante purga y trampa y desorción térmica.
  • KS H ISO 22634:2012 Cigarrillos-Determinación de benzo[a]pireno en el humo de los cigarrillos-Método que utiliza cromatografía de gases/espectrometría de masas
  • KS D ISO 7627-1:2012 Metales duros-Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama-Parte 1:Requisitos generales
  • KS D ISO 7627-6-2012(2022) Metales duros -Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama -Parte 6: Determinación de cromo en contenidos de 0,01 a 2 % (fracción de masa)
  • KS D ISO 7627-6-2012(2017) Metales duros -Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama -Parte 6: Determinación de cromo en contenidos de 0,01 a 2 % (fracción de masa)
  • KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
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