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pruebas electrónicas

pruebas electrónicas, Total: 94 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en pruebas electrónicas son: Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., herramientas de mano, Dispositivos semiconductores, Alambres y cables eléctricos., Equipos e instrumentos a bordo., Aeronaves y vehículos espaciales en general., tubos electronicos, Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Productos de la industria textil..


U.S. Military Regulations and Norms, pruebas electrónicas

American Society of Mechanical Engineers (ASME), pruebas electrónicas

U.S. Air Force, pruebas electrónicas

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, pruebas electrónicas

United States Navy, pruebas electrónicas

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, pruebas electrónicas

  • GJB 9133-2017 Terminología de instrumentos de prueba electrónicos militares
  • GJB 3947-2000 Especificaciones generales para equipos de prueba electrónicos militares.
  • GJB 3947A-2009 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares.
  • GJB 9134-2017 Método de denominación de modelos para instrumentos de prueba electrónicos militares.
  • GJB 6927-2009 Procedimiento y requisitos para la verificación y aceptación de instrumentos de medición electrónicos militares.
  • GJB 6926-2009 Requisito para redactar la especificación del producto del instrumento de medición electrónico militar.
  • GJB 8360-2015 Margen de diseño y prueba de mal uso simulado de instrumentos de prueba electrónicos militares.
  • GJB 3311A-2011 Método de prueba del tubo de microondas
  • GJB 3311-1998 Método de prueba del tubo de microondas

PL-PKN, pruebas electrónicas

Standard Association of Australia （SAA）, pruebas electrónicas

  • AS 3547.2:2023 Dispositivos electrónicos de prueba de alcohol en el aliento para uso personal.

Society of Automotive Engineers (SAE), pruebas electrónicas

Professional Standard - Electron, pruebas electrónicas

  • SJ 20369-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares.General
  • SJ 20373-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos de seguridad.
  • SJ 20371-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos y métodos de prueba de suministro de energía.
  • SJ 20377-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Disposición de garantía de calidad.
  • SJ/Z 9010.0-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos. Parte 0: Precauciones relacionadas con los métodos de medición de tubos y válvulas electrónicos.
  • SJ 20376-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos y marcado y paquete de identificación.
  • SJ 20372-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos ambientales y métodos de prueba.
  • SJ 20374-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos y métodos de prueba de compatibilidad electromagnética.
  • SJ 20375-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos y métodos para pruebas de confiabilidad.
  • SJ 20370-1993 Especificación general para equipos de prueba electrónicos militares. Requisitos básicos para el diseño y construcción.
  • SJ/Z 9010.21-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos. Parte 21: Métodos de medición de la modulación cruzada en tubos y válvulas electrónicos.
  • SJ/Z 9036-1987 Equipos de medida y prueba eléctricos y electrónicos.

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, pruebas electrónicas

  • STANAG 3957-1997 C/ATLAS HOL PARA APLICACIÓN EN SISTEMAS DE PRUEBAS DE AVIÓNICA

Aeronautical Radio Inc., pruebas electrónicas

  • ARINC 608A BOOK-1993 Guía de diseño para equipos de prueba de aviónica, parte 1, descripción del sistema

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, pruebas electrónicas

  • JJG(电子) 12022-1989 Regulaciones de verificación del generador de tarjetas de prueba electrónicas de TV en blanco y negro tipo VS13

ISA - International Society of Automation, pruebas electrónicas

  • ISA S82.02-1988 Norma de seguridad para pruebas eléctricas y electrónicas, medición, control y equipos relacionados, pruebas eléctricas y electrónicas y equipos de medición (revisión parcial y redesignación de ANSI C39.5-1974)
  • ISA 82.02.01-1999 Norma de seguridad para pruebas eléctricas y electrónicas, medición, control y equipos relacionados: requisitos generales
  • ISA S82.01-1994 Estándar de seguridad para pruebas eléctricas y electrónicas@ Medición@ Control y equipos relacionados - Requisitos generales Estándar armonizado según la publicación IEC 1010-1

Defense Logistics Agency, pruebas electrónicas

American Society for Testing and Materials (ASTM), pruebas electrónicas

  • ASTM D5015-02(2008) Método de prueba estándar para el pH de muestras de deposición húmeda atmosférica mediante determinación electrométrica

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), pruebas electrónicas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, pruebas electrónicas

  • GB 12117-1989 Métodos de medición para voltímetros analógicos electrónicos.
  • GB/T 12117-1989 Métodos de medición para voltímetros analógicos electrónicos.
  • GB/T 3306-2001 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos electrónicos de baja potencia.
  • GB/T 11446.3-1997 Reglas genéricas para métodos de prueba de agua de grado electrónico.
  • GB/T 11446.3-2013 Reglas genéricas para métodos de prueba de agua de grado electrónico.
  • GB/T 7274-2015 Métodos para la medición de capacitancias directas entre electrodos de tubos y válvulas electrónicas.
  • GB/T 7274-1987 Métodos para la medición de capacitancias directas entre electrodos de tubos y válvulas electrónicas.

CZ-CSN, pruebas electrónicas

SE-SIS, pruebas electrónicas

HU-MSZT, pruebas electrónicas

  • MSZ 20837/1-1974 VILLAMOS IRODAG?PEK ELEKTRONIKUS ?RAMK?REI Biztonsági k?vetelmények és vizsgálatok

US-RTCA, pruebas electrónicas

  • RTCA DO-171-1980 RECOMENDACIONES SOBRE POLÍTICAS Y PROCEDIMIENTOS PARA LA ADQUISICIÓN Y SOPORTE DE EQUIPOS DE PRUEBA ELECTRÓNICOS DISPONIBLES

Association Francaise de Normalisation, pruebas electrónicas

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), pruebas electrónicas

  • IEEE 1505.1-2015 La configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad utilizando IEEE Std 1505
  • IEEE Std 1505.1-2008 Estándar de uso de prueba del IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad que utilizan el estándar IEEE 1505
  • IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 Borrador del estándar de uso de prueba del IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad utilizando el estándar IEEE 1505
  • IEEE P1505.1/D4, July 2018 Borrador del estándar IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad que utilizan el estándar IEEE 1505
  • IEEE 1505.1-2019 Estándar IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad que utilizan el estándar IEEE 1505
  • IEEE Std 1505.1-2019 Estándar IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad que utilizan el estándar IEEE 1505
  • IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) Estándar IEEE para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel y alta densidad que utilizan el estándar IEEE 1505

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., pruebas electrónicas

  • IEEE P1505.1/D4-2018 La configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de componentes electrónicos de un solo nivel de alta densidad@ utilizando IEEE Std 1505
  • IEEE P1505.1/D6-2019 Estándar para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de electrónica de un solo nivel de alta densidad@ utilizando IEEE Std 1505

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, pruebas electrónicas

  • GB/T 35445-2017 Seda: método de prueba electrónico para detectar defectos y uniformidad de la seda cruda.

IEC - International Electrotechnical Commission, pruebas electrónicas

  • IEC 63003:2015 Estándar para la configuración del mapa de pines de la interfaz de prueba común para requisitos de prueba de electrónica de un solo nivel de alta densidad @ utilizando IEEE Std 1505 (Edición 1.0)

  Prueba de agente de recubrimiento electrónico, Email de prueba, Correo electrónico del centro de pruebas, Instrumentos de prueba electrónicos, Prueba de electrones Auger, Instrumentos de prueba electrónicos, Equipos de prueba de componentes electrónicos., Equipo de prueba electrónico, Métodos de prueba electrónicos., Medición de prueba electrónica, pruebas electrónicas, Instrumentos de prueba de equipos electrónicos., Laboratorio de pruebas electrónicas, pruebas electrónicas, Métodos de prueba de componentes electrónicos., Equipos electrónicos del entorno de prueba., Equipo de prueba de control electrónico., Cargas de prueba electrónicas, probador electrónico, probador electrónico.

 



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