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电子 测试

本专题涉及电子 测试的标准有99条。

国际标准分类中,电子 测试涉及到航空航天用电气设备和系统、手持工具、半导体分立器件、电线和电缆、机上设备和仪器、纺织产品、航空器和航天器综合、质量、电子管、分析化学、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中,电子 测试涉及到航天器用能源设备、电子元器件、铸造设备、半导体分立器件综合、电工绝缘材料及其制品、电子测量与仪器综合、检验专用设备、基础标准与通用方法、船舶用材料及其检验方法、卫生、安全、劳动保护、航空、航天材料基础标准、、计量综合、标准化、质量管理、电真空器件综合、大气环境有毒害物质分析方法、标志、包装、运输、贮存、电磁兼容、可靠性和可维护性、电子束管、连接器、丝、绸综合、收、发信管、电子技术专用材料、微波管。


(美国)军事条例和规范,关于电子 测试的标准

美国机械工程师协会,关于电子 测试的标准

(美国)空军,关于电子 测试的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于电子 测试的标准

(美国)海军,关于电子 测试的标准

国家军用标准-总装备部,关于电子 测试的标准

PL-PKN,关于电子 测试的标准

澳大利亚标准协会,关于电子 测试的标准

美国机动车工程师协会,关于电子 测试的标准

行业标准-电子,关于电子 测试的标准

  • SJ 20369-1993 军用电子测试设备通用规范.总则
  • SJ 20373-1993 军用电子测试设备通用规范.安全要求
  • SJ 20371-1993 军用电子测试设备通用规范.电源要求和试验方法
  • SJ 20377-1993 军用电子测试设备通用规范.质量保证规定
  • SJ/Z 9010.0-1987 电子管电性能的测试 第0部分:电子管测试方法有关的注意事项
  • SJ 20376-1993 军用电子测试设备通用规范.识别标志包装要求
  • SJ 20372-1993 军用电子测试设备通用规范.环境要求和试验方法
  • SJ 20374-1993 军用电子测试设备通用规范.电磁兼容性要求和试验方法
  • SJ 20375-1993 军用电子测试设备通用规范.可靠性试验要求和方法
  • SJ 20370-1993 军用电子测试设备通用规范.设计和结构的基本要求
  • SJ/Z 9010.21-1987 电子管电性能的测试 第21部分:电子管交叉调制的测试方法
  • SJ/Z 9036-1987 电气、电子测量与试验设备

北约标准局,关于电子 测试的标准

GSO,关于电子 测试的标准

美国航空无线电设备公司,关于电子 测试的标准

中国团体标准,关于电子 测试的标准

国家计量检定规程,关于电子 测试的标准

ISA - International Society of Automation,关于电子 测试的标准

  • ISA S82.02-1988 电气和电子测试 测量 控制和相关设备电气和电子测试和测量设备的安全标准(ANSI C39.5-1974 的部分修订和重新指定)
  • ISA 82.02.01-1999 电气和电子测试 测量 控制 和相关设备的安全标准 一般要求
  • ISA S82.01-1994 电气和电子测试安全标准 测量 控制和相关设备 一般要求 IEC 出版物 1010-1 协调标准

美国国防后勤局,关于电子 测试的标准

美国材料与试验协会,关于电子 测试的标准

韩国科技标准局,关于电子 测试的标准

国家质检总局,关于电子 测试的标准

CZ-CSN,关于电子 测试的标准

SE-SIS,关于电子 测试的标准

HU-MSZT,关于电子 测试的标准

美国通用公司(大宇),关于电子 测试的标准

US-RTCA,关于电子 测试的标准

  • RTCA DO-171-1980 关于现成电子测试设备采购和支持的政策和程序的建议

法国标准化协会,关于电子 测试的标准

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.,关于电子 测试的标准

  • IEEE P1505.1/D4-2018 使用 IEEE 标准 1505 的高密度 单层电子测试要求的通用测试接口引脚图配置
  • IEEE P1505.1/D6-2019 使用 IEEE 标准 1505 的高密度 单层电子测试要求的通用测试接口引脚图配置标准

美国电气电子工程师学会,关于电子 测试的标准

  • IEEE 1505.1-2015 利用IEEE Std 1505高密度、单天线阵电子测试要求的通用测试接口引脚配置图
  • IEEE Std 1505.1-2008 IEEE 试用标准,适用于使用 IEEE Std 1505 的高密度、单层电子测试要求的通用测试接口引脚图配置
  • IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 IEEE 草案试用标准,用于利用 IEEE 标准 1505 实现高密度、单层电子测试要求的通用测试接口引脚映射配置
  • IEEE P1505.1/D4, July 2018 使用 IEEE 标准 1505 的高密度、单层电子测试要求的通用测试接口引脚图配置的 IEEE 草案标准
  • IEEE 1505.1-2019 通用测试接口引脚映射配置的 IEEE 标准,用于使用 IEEE 标准 1505 的高密度、单层电子测试要求
  • IEEE Std 1505.1-2019 通用测试接口引脚映射配置的 IEEE 标准,用于使用 IEEE 标准 1505 的高密度、单层电子测试要求
  • IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) IEEE 标准,用于利用 IEEE Std 1505 实现高密度、单层电子测试要求的通用测试接口引脚映射配置

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于电子 测试的标准

IEC - International Electrotechnical Commission,关于电子 测试的标准

  • IEC 63003:2015 使用 IEEE Std 1505(1.0 版)的高密度 单层电子测试要求的通用测试接口引脚图配置标准

未注明发布机构,关于电子 测试的标准

  • ANSI/ISA 82.02.01-1999 电气和电子测试、测量、控制和相关设备的安全标准 一般要求 IEC 出版物 1010-1 的协调标准




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