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posición del pico de difracción xrd

posición del pico de difracción xrd, Total: 11 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en posición del pico de difracción xrd son: Química analítica, Refractarios, Productos de la industria química., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte..

British Standards Institution (BSI), posición del pico de difracción xrd

• BS EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro: métodos XRD
• BS ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• BS ISO 19950:2015 Óxido de aluminio utilizado principalmente para la producción de aluminio. Determinación del contenido de alfa alúmina. Método que utiliza áreas de picos netos de difracción de rayos X
• BS 7706:1993 Guía para la calibración y configuración de la técnica de difracción ultrasónica del tiempo de vuelo (TOFD) para la detección, localización y dimensionamiento de defectos.

American Society for Testing and Materials (ASTM), posición del pico de difracción xrd

• ASTM F3419-22 Método de prueba estándar para la caracterización mineral de materiales de superficie equinos mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX)

European Committee for Standardization (CEN), posición del pico de difracción xrd

• EN 12698-2:2007

Association Francaise de Normalisation, posición del pico de difracción xrd

• NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro - Parte 2: Métodos XRD.
• NF A09-282:2019 Ensayos no destructivos - Cuantificación de fases mediante difracción de rayos X
• NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X

German Institute for Standardization, posición del pico de difracción xrd

• DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06

International Organization for Standardization (ISO), posición del pico de difracción xrd

• ISO 19950:2015 Óxido de aluminio utilizado principalmente para la producción de aluminio. Determinación del contenido de alfa alúmina. Método que utiliza áreas de pico neto de difracción de rayos X.

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