ZH
RU
EN
pico de difracción xrd
pico de difracción xrd, Total: 40 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en pico de difracción xrd son: Materiales de construcción, Química analítica, Refractarios, Productos de la industria química., Mediciones de radiación, Equipo hospitalario, Protección de radiación, Equipo de proteccion, Dispositivos semiconductores, Metales no ferrosos, Optoelectrónica. Equipo láser.
British Standards Institution (BSI), pico de difracción xrd
- BS EN 14488-3:2006 Ensayos de hormigón proyectado - Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de probetas de vigas reforzadas con fibras
- BS EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro: métodos XRD
- BS ISO 19950:2015 Óxido de aluminio utilizado principalmente para la producción de aluminio. Determinación del contenido de alfa alúmina. Método que utiliza áreas de picos netos de difracción de rayos X
- BS 2606:1955 Especificación para guantes de protección contra rayos X con fines de diagnóstico médico hasta un pico de 150 kV
- BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- 21/30433501 DC BS EN 14488-3. Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3. Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de probetas de vigas reforzadas con fibras
- BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
International Organization for Standardization (ISO), pico de difracción xrd
- ISO 19950:2015 Óxido de aluminio utilizado principalmente para la producción de aluminio. Determinación del contenido de alfa alúmina. Método que utiliza áreas de pico neto de difracción de rayos X.
- ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
- ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
Association Francaise de Normalisation, pico de difracción xrd
- NF P18-511-3*NF EN 14488-3:2006 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de probetas de vigas reforzadas con fibras
- NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro - Parte 2: Métodos XRD.
- NF EN 14488-3:2006 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: resistencias a la flexión (en el primer pico, última y residual) de probetas de hormigón paralelepípedo reforzado con fibras
- NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
American Society for Testing and Materials (ASTM), pico de difracción xrd
- ASTM F3419-22 Método de prueba estándar para la caracterización mineral de materiales de superficie equinos mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX)
German Institute for Standardization, pico de difracción xrd
- DIN 6809-5:1996 Dosimetría clínica - Parte 5: Aplicación de rayos X con voltajes máximos entre 100 y 400 kV en radioterapia
- DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06
- DIN 6809-4:1988 Dosimetría clínica; Aplicaciones de rayos X con voltajes máximos entre 10 y 100 kV en radioterapia y diagnóstico de tejidos blandos.
- DIN EN 14488-3:2006 Ensayos de hormigón proyectado. Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras. Versión en inglés de DIN EN 14488-3:2006-09.
- DIN EN 14488-3:2021-05 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras; Versión en alemán e inglés prEN 14488-3:2021 / Nota: Fecha de emisión 2021-04-09*Previsto como reemplazo de DIN EN 14488-3 (2006...
- DIN EN 14488-3:2006-09 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras; Versión alemana EN 14488-3:2006 / Nota: Se sustituirá por DIN EN 14488-3 (2021-05).
European Committee for Standardization (CEN), pico de difracción xrd
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., pico de difracción xrd
- ASHRAE SE-99-1-2-1999 Efecto de la distribución de la radiación solar del haz sobre las cargas máximas de refrigeración
Professional Standard - Electron, pico de difracción xrd
- SJ/T 2658.12-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 12: Longitud de onda de emisión máxima y ancho de banda radiante espectral.
- SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, pico de difracción xrd
- GB/T 24981.1-2010 Métodos de prueba de fósforos de luminosidad prolongada activados por tierras raras. Parte 1: Determinación del pico dominante de emisión y las coordenadas de cromaticidad.
- GB/T 14634.2-2010 Métodos de prueba de fósforos de tres bandas de tierras raras para lámparas fluorescentes. Parte 2: Determinación del pico dominante de emisión y la cromaticidad.
- GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, pico de difracción xrd
- GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
- GB/T 24981.1-2020 Métodos de prueba de fósforos de luminosidad prolongada de tierras raras. Parte 1: Determinación del pico dominante de emisión y las coordenadas de cromaticidad.
Danish Standards Foundation, pico de difracción xrd
- DS/EN 14488-3:2006 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras
Lithuanian Standards Office , pico de difracción xrd
- LST EN 14488-3-2006 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras
AENOR, pico de difracción xrd
- UNE-EN 14488-3:2007 Ensayos de hormigón proyectado - Parte 3: Resistencias a la flexión (primer pico, última y residual) de muestras de vigas reforzadas con fibras
RU-GOST R, pico de difracción xrd
- GOST 17038.2-1979 Detectores de centelleo de radiaciones ionizantes. Método para medir el rendimiento luminoso del detector en el pico de absorción total o en el borde de distribución Compton
YU-JUS, pico de difracción xrd
- JUS N.N6.097-1985 Radiocomunicaciones. Receptores de radio para diversas clases de emisión. Métodos de medición. Mediciones de RF en receptores para emisiones de radiodifusión sonora en FM. Red de control de ruido y voltímetro de pico guasi