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difractómetro de rayos X monocristalino
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Professional Standard - Education, difractómetro de rayos X monocristalino
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
- JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino
Professional Standard - Machinery, difractómetro de rayos X monocristalino
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino
- GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
- GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
British Standards Institution (BSI), difractómetro de rayos X monocristalino
- BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
- BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
- BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
- BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro de rayos X monocristalino
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos X monocristalino
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
German Institute for Standardization, difractómetro de rayos X monocristalino
- DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
European Committee for Standardization (CEN), difractómetro de rayos X monocristalino
- EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Association Francaise de Normalisation, difractómetro de rayos X monocristalino
Danish Standards Foundation, difractómetro de rayos X monocristalino
- DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Lithuanian Standards Office , difractómetro de rayos X monocristalino
- LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
AENOR, difractómetro de rayos X monocristalino
- UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
工业和信息化部, difractómetro de rayos X monocristalino
- SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino
- JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, difractómetro de rayos X monocristalino
- GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro
Professional Standard - Nuclear Industry, difractómetro de rayos X monocristalino
- EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo