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Cómo probar la concentración de portadores

Cómo probar la concentración de portadores, Total: 57 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo probar la concentración de portadores son: pruebas de metales, Circuitos impresos y placas., Materiales semiconductores, químicos inorgánicos, Fluidos aislantes, Equipos de manipulación continua, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Calidad del aire.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo probar la concentración de portadores

GB/T 14146-2021 Método de prueba para la concentración de portadores de capas epitaxiales de silicio: método de capacitancia-voltaje

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo probar la concentración de portadores

GB/T 8757-1988 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 36705-2018 Método de prueba para la concentración de portadores de sustratos de nitruro de galio: método del espectro Raman
GB/T 8757-2006 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 11068-1989 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación de la concentración de portador. Método de voltaje-capacitancia.
GB/T 14146-1993 Capas epitaxiales de silicio--Determinación de la concentración de portadores--Sonda de mercurio Método de valtage-capacitancia
GB/T 11068-2006 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación del método de capacitancia-voltaje de concentración de portadores
GB/T 14146-2009 Capas epitaxiales de silicio-determinación de la concentración de portadores-voltajes de sonda de mercurio-método de capacitancia
GB 11068-1989 Método de medición de voltaje-capacitancia de concentración de portador de capa epitaxial de GaAs
GB/T 14863-2013 Método para la densidad neta de portadores en capas epitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados
GB/T 14863-1993 Método de prueba estándar para la densidad neta de portadores en capas equitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados

Professional Standard - Electron, Cómo probar la concentración de portadores

SJ 2757-1987 Método de medición por reflexión infrarroja de la concentración de portadores de carga en semiconductores fuertemente dopados.
SJ 3248-1989 Métodos para medir la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio añadidos mediante reflexión infrarroja
SJ 3244.1-1989 Métodos de medición de la movilidad del pasillo y la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio.
SJ 3244.4-1989 Métodos de medición para la distribución del perfil de la concentración de portadores de materiales de arseniuro de galio y fosfuro de indio - Método de capacitancia de voltaje electroquímico

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Cómo probar la concentración de portadores

IPC TP-1113-1994 Medición de la limpieza iónica de la placa de circuito: ¿Qué nos dice?

Group Standards of the People's Republic of China, Cómo probar la concentración de portadores

T/IAWBS 003-2017 Determinación de la concentración de portador en la capa epitaxial de SiC_Método de capacitancia-voltaje de la sonda de mercurio

British Standards Institution (BSI), Cómo probar la concentración de portadores

PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Dispositivos nanoelectrónicos orgánicos/de película fina. Medidas de concentración de portadores de carga.
BS EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Pruebas de capacidad de carga de corriente - Prueba 5b - Reducción de temperatura de corriente
BS EN 13205-4:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Prueba de rendimiento de laboratorio basada en comparación de concentraciones.
BS EN 13205-6:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Pruebas de transporte y manipulación.
BS EN 13205-2:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Prueba de rendimiento de laboratorio basada en la determinación de la eficiencia del muestreo.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo probar la concentración de portadores

ASTM F398-92(1997) Método de prueba estándar para la concentración de portadores mayoritarios en semiconductores mediante la medición del número de onda o la longitud de onda de la resonancia mínima del plasma
ASTM F1393-92(1997) Método de prueba estándar para determinar la densidad neta del portador en obleas de silicio mediante mediciones del perfilador de retroalimentación Miller con una sonda de mercurio
ASTM D6056-96 Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D6056-96(2001) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D6059-96(2001) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM D6059-96 Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM D6056-96(2006) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D6059-96(2006) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1392-00 Método de prueba estándar para determinar perfiles de densidad de portadora neta en obleas de silicio mediante mediciones de capacitancia-voltaje con una sonda de mercurio
ASTM D6281-06 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-04 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-09 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM F391-96 Métodos de prueba estándar para la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos mediante la medición de fotovoltaje superficial en estado estacionario

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo probar la concentración de portadores

KS M ISO 283-1:2011 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia
KS M ISO 283-1:2007 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia
KS C IEC 60512-5-2:2003 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) Conectores para equipos electrónicos－Pruebas y mediciones－Parte 5－2：Pruebas de capacidad de carga de corriente－Prueba 5b：Reducción de temperatura de corriente－
KS C IEC 60512-5-2:2014 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente

KR-KS, Cómo probar la concentración de portadores

KS M ISO 283-1-2007 Cintas transportadoras textiles－Prueba de tracción de espesor total－Parte 1:Determinación de la resistencia a la tracción, el alargamiento de rotura y el alargamiento con la carga de referencia

AENOR, Cómo probar la concentración de portadores

UNE-EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente.

International Electrotechnical Commission (IEC), Cómo probar la concentración de portadores

IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 5-3: Dispositivos nanoelectrónicos/orgánicos de película delgada - Mediciones de la concentración de portadores de carga
IEC 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual

Lithuanian Standards Office , Cómo probar la concentración de portadores

LST EN 60512-5-2-2003 Conectores para equipos electrónicos. Pruebas y mediciones. Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente. Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002)

German Institute for Standardization, Cómo probar la concentración de portadores

DIN EN 60512-5-2:2003-01 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002); Versión alemana EN 60512-5-2:2002 / Nota: DIN IEC 60512-3 (1994-05) sigue siendo válida junto...
DIN EN 13205-4:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 4: Prueba de rendimiento del laboratorio basada en la comparación de concentraciones; Versión alemana EN 13205-4:2014
DIN EN 60512-5-2:2003 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002); Versión alemana EN 60512-5-2:2002

Association Francaise de Normalisation, Cómo probar la concentración de portadores

NF X43-283-4*NF EN 13205-4:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 4: prueba de rendimiento del laboratorio basada en la comparación de concentraciones.
NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: pruebas de capacidad de carga de corriente - Prueba 5b: reducción de temperatura de corriente.
NF X43-283-6*NF EN 13205-6:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 6: pruebas de transporte y manipulación.
NF X43-283-2*NF EN 13205-2:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 2: prueba de rendimiento del laboratorio basada en la determinación de la eficiencia del muestreo.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cómo probar la concentración de portadores

JIS C 5402-5-2:2005 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente

Danish Standards Foundation, Cómo probar la concentración de portadores

DS/EN 60512-5-2:2002

工业和信息化部, Cómo probar la concentración de portadores

YS/T 679-2018 Método de fotovoltaje de superficie para medir la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Cómo probar la concentración de portadores

EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Cómo probar la concentración de portadores

YS/T 679-2008 Métodos de prueba para la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos mediante la medición del fotovoltaje superficial en estado estacionario