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Pieza de prueba conductora

Pieza de prueba conductora, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Pieza de prueba conductora son: pruebas de metales, Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Materiales semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Tintas. Tintas de impresión, Productos de caucho y plástico., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Alambres y cables eléctricos., Componentes electrónicos en general., Equipos e instrumentos a bordo., Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Circuitos impresos y placas., Accesorios electricos, Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales conductores, Ejes y acoplamientos, Controles automáticos para uso doméstico., Redes de transmisión y distribución de energía., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Materiales magnéticos, Quemadores. Calderas, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Plásticos reforzados, Equipo medico, Cinematografía, Mediciones de radiación, Óptica y medidas ópticas., Fluidos aislantes, tubos electronicos, ingenieria de energia hidraulica, Sistemas de telecomunicaciones, Protección contra el fuego, Pruebas no destructivas, Materiales para la construcción aeroespacial., Componentes para equipos eléctricos., Cerámica, Adhesivos, Calidad del agua, Materias primas para caucho y plástico., Materiales aislantes, Pruebas eléctricas y electrónicas., Resistencias, Plástica, Condensadores, Componentes de tuberías y tuberías., Agricultura y silvicultura, Equipos de manipulación continua, Vocabularios, Equipo óptico, Productos de la industria química., Zapatillas, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Conjuntos de componentes electrónicos., Refractarios, ingeniería de energía nuclear, Acústica y mediciones acústicas., Química analítica, Termodinámica y mediciones de temperatura., Elementos de edificios., Productos de la industria textil., Sistemas de vehículos de carretera, Construcción naval y estructuras marinas en general, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Pinturas y barnices, Pruebas ambientales, Materiales para el refuerzo de composites., Químicos orgánicos, Celdas de combustible, Goma, Fotografía, Combustibles.


IPC - Association Connecting Electronics Industries, Pieza de prueba conductora

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Pieza de prueba conductora

  • GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
  • GB/T 6616-2009 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas semiconductoras o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
  • GB/T 28030-2011 Probador de continuidad de tierra
  • GB/T 13789-2008 Métodos de medición de las propiedades magnéticas de láminas y tiras magnéticas mediante un probador de lámina única.
  • GB/T 13789-2022 Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única.
  • GB/T 26068-2010 Método de prueba para determinar la vida útil de la recombinación de portadores en obleas de silicio mediante medición sin contacto de la decadencia de la fotoconductividad mediante reflectancia de microondas
  • GB/T 12631-1990 Método de prueba para la resistencia del conductor de tableros impresos.
  • GB/T 42835-2023 Sistema de circuito integrado semiconductor en chip (SoC)
  • GB/T 1550-1997 Métodos estándar para medir el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.
  • GB/T 26068-2018 Medición de la vida útil de la recombinación del portador de lingotes y obleas de silicio Método de desintegración de la fotoconductividad por reflexión de microondas sin contacto
  • GB/T 31293-2014
  • GB/T 13920-1992 Cinematografía de 35 mm. Película de prueba subjetiva (carta de colores)
  • GB/T 13920-2015 Cinematografía en 35 mm.Película de prueba subjetiva (carta de colores)
  • GB/T 5201-1994 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.
  • GB/T 32206-2015 Práctica estándar para probar detectores de conductividad electrolítica utilizados en cromatografía de gases
  • GB/T 6616-1995
  • GB/T 15662-1995 Método de prueba de resistividad volumétrica de plásticos conductores y antiestáticos.
  • GB/T 12966-1991 El método para medir la conductividad eléctrica de aleaciones de aluminio mediante el uso de corrientes parásitas.
  • GB/T 12966-2008 El método para determinar la conductividad de las aleaciones de aluminio mediante corrientes de Foucault.
  • GB/T 42838-2023 Método de prueba de circuito Hall de circuito integrado de semiconductores
  • GB/T 4825.1-1984 Método de prueba para descargas parciales de conductores en placas impresas.
  • GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
  • GB/T 20671.10-2006 Sistema de clasificación y métodos de prueba para materiales de juntas no metálicos. Parte 10: Práctica estándar para evaluar la conductividad térmica de materiales de juntas.
  • GB 12201-1990 Métodos de prueba de VSWR del sistema de alimentación de guía de ondas para radar marino
  • GB 3320.3-1982 Registro de prueba de wow y flutter
  • GB/T 3320.3-1982 Registro de prueba de wow y flutter
  • GB/T 32791-2016 Método de examen electromagnético (corrientes parásitas) para la conductividad eléctrica del cobre y aleaciones de cobre.
  • GB/T 22586-2008 Mediciones de resistencia superficial de películas delgadas superconductoras de alta temperatura en frecuencias de microondas.
  • GB/T 42975-2023 Métodos de prueba de controladores de circuitos integrados de semiconductores.
  • GB/T 6833.9-1987 Especificación de prueba de compatibilidad electromagnética para instrumentos de medición electrónicos: prueba de interferencia conducida
  • GB/T 3789.6-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de transconductancia y factor de amplificación.
  • GB/T 26070-2010 Caracterización del daño subsuperficial en obleas semiconductoras compuestas pulidas mediante el método de espectroscopia de diferencia de reflectancia
  • GB/T 42970-2023 Métodos de prueba de circuitos de codificación y decodificación de vídeo de circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 6833.6-1987 Especificación de prueba de compatibilidad electromagnética para instrumentos de medición electrónicos: prueba de susceptibilidad realizada
  • GB 35007-2018 Método de prueba de circuito de señal diferencial de bajo voltaje de circuito integrado semiconductor
  • GB/T 43061-2023 Método de prueba del controlador PWM de circuito integrado semiconductor
  • GB 3320.4-1982 Registro de prueba de medición de ruido
  • GB/T 3320.4-1982 Registro de prueba de medición de ruido
  • GB/T 3320.1-1987 Registro de prueba de respuesta de frecuencia
  • GB/T 2522-2007 Métodos de prueba para la determinación de la resistencia de aislamiento de la superficie y el factor de laminación de láminas y tiras eléctricas.
  • GB/T 13789-1992
  • GB/T 23907-2009 Ensayos no destructivos. Cuñas para ensayos de partículas magnéticas.
  • GB/T 36477-2018 Circuito integrado semiconductor. Métodos de medición para memoria flash.
  • GB/T 43040-2023 Método de prueba del convertidor CA/CC del circuito integrado de semiconductores
  • GB/T 11007-1989 Método de prueba de analizadores de conductividad eléctrica.
  • GB/T 11007-2008 Método de prueba de analizadores de conductividad electrolítica.
  • GB/T 6619-1995
  • GB/T 6619-2009 Método de prueba para el arco de obleas de silicio.
  • GB/T 9037.2-1988 Métodos de medición para aparatos fotográficos facsímil.
  • GB/T 12636-1990 Método de prueba Stripline para la permitividad compleja de sustratos dieléctricos de microondas

Defense Logistics Agency, Pieza de prueba conductora

PL-PKN, Pieza de prueba conductora

  • PN T04850-1974 Tubos transmiliantes Electricos
  • PN E04160 ArkusZ54-1973 Cables eléctricos ¿Métodos de prueba de Te?t para resistencia contra? pegado de conductores
  • PN E04160-68-1988 Cables eléctricos Métodos de prueba Prueba eléctrica de pantalla polimérica conductora.
  • PN C99460-09-1986 Muestreo de materiales fotográficos sensibles a la luz para ensayos Guía de muestreo de aerofilms
  • PN E04605-02-1992 Productos eléctricos y electrónicos Procedimientos básicos de prueba ambiental Prueba Eb y guía: impacto
  • PN E04605-05-1992 Productos eléctricos y electrónicos Procedimientos básicos de prueba ambiental Prueba Ee y orientación: rebote
  • PN E04160 ArkusZ84-1973 Cables eléctricos Métodos de prueba Medición de la admisiones de transferencia debido al acoplamiento eléctrico

RO-ASRO, Pieza de prueba conductora

  • STAS 10138-1975 PRUEBAS DE RADIACIÓN PENETRANTE Guías para la visualización de radiografías
  • STAS SR 11388-2000 Métodos de prueba comunes para cables y conductores eléctricos.
  • SR EN 108-1996 Métodos de prueba de puertas Prueba de deformación de la hoja en su plano.
  • STAS 6693/2-1975 Dispositivos semiconductores TRANSISTORES Métodos para medir propiedades eléctricas.

Professional Standard - Electron, Pieza de prueba conductora

  • SJ/T 11399-2009 Métodos de medición para chips de diodos emisores de luz.
  • SJ/T 11487-2015 Método de medición sin contacto para la resistividad de una oblea semiconductora semiaislante.
  • SJ/Z 9010.12-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 12: Métodos de medición de la resistencia de los electrodos, transconductancia, factor de amplificación, resistencia de conversión y transconductancia de conversión.
  • SJ/T 2215-2015 Métodos de medición para fotoacopladores de semiconductores.
  • SJ 2857.2-1988 Métodos para medir las propiedades de materiales de refrigeración termoeléctrica. Métodos para medir la conductividad.
  • SJ/T 11742-2019 Láminas termoconductoras semisolidificantes de no preimpregnados para circuitos impresos.
  • SJ 3260-1989 Métodos de medición de propiedades eléctricas de resonador con diapasón y tableta.
  • SJ 2355.4-1983 Métodos de medición de la capacitancia de unión de dispositivos emisores de luz.
  • SJ/T 11386-2008 Especificación general del probador de continuidad de tierra.
  • SJ/T 11098-1996 Método de prueba para el coeficiente de onda estacionaria del sistema de alimentación de guía de ondas de radar de navegación marina
  • SJ 2355.3-1983 Método de medición de corriente inversa de dispositivos emisores de luz.
  • SJ 1388-1978 Métodos de medición de la conductancia anódica de diodos generadores de ruido.
  • SJ/Z 9010.3-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 3: Medición de admitancias de entrada y salida equivalentes.
  • SJ/T 11822-2022 Especificaciones detalladas para parches de botones elásticos de silicona conductora única
  • SJ 2857.1-1988 Métodos para medir las propiedades de materiales de refrigeración termoeléctrica. Métodos para medir la conductividad térmica.
  • SJ 2658.4-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de capacitancia
  • SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
  • SJ 2658.3-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de tensión invertida
  • SJ/T 10735-1996 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos TTL
  • SJ/T 10736-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos HTL
  • SJ/T 10737-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos ECL
  • SJ/T 10741-2000 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
  • SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
  • SJ/T 10482-1994 Método de prueba para caracterizar niveles profundos de semiconductores mediante técnicas de capacitancia transitoria.
  • SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
  • SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
  • SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores.

Association Francaise de Normalisation, Pieza de prueba conductora

  • NF C96-050-9*NF EN 62047-9:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS.
  • NF C28-913:2007 Materiales magnéticos - Métodos de medición de las propiedades magnéticas de láminas y tiras eléctricas mediante un probador de lámina única.
  • NF EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
  • NF C96-050-3*NF EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción
  • NF EN ISO 284:2013 Cintas transportadoras - Conductividad eléctrica - Especificación y método de prueba
  • NF C53-225:1985 Pruebas de válvulas semiconductoras para transmisión de energía CC de alta tensión.
  • NF EN 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos de modo guiado - Parte 1-5: información general y condiciones de prueba - Método para medir la conductividad en la interfaz entre una capa conductora y un sustrato dieléctrico que opera a h...
  • NF C20-131:1974 Terminales de cobre o aluminio con revestimiento conductor para conductores de aluminio - Reglas y dimensiones
  • NF EN 62567:2014 Líneas eléctricas aéreas: métodos para probar las características de autoamortiguación de los conductores.
  • NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 16: métodos de prueba para determinar tensiones residuales de películas MEMS - Métodos de curvatura de oblea y deflexión del haz en voladizo

International Electrotechnical Commission (IEC), Pieza de prueba conductora

  • IEC 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
  • IEC 62047-9:2011/COR1:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
  • IEC 62899-202-3:2019 Electrónica impresa - Parte 202-3: Materiales - Tinta conductora - Medición de la resistencia laminar de películas conductoras - Método sin contacto
  • IEC 62951-6:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables. Parte 6: Método de prueba para la resistencia laminar de películas conductoras flexibles.
  • IEC PAS 61338-1-5:2010 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.
  • IEC TR 63307:2020 Métodos de medición de la compleja permeabilidad relativa y permitividad de la lámina de supresión de ruido.
  • IEC 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
  • IEC 60404-3:2010 Materiales magnéticos – Parte 3: Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única (Edición 2.2 Reimpresión consolidada)

German Institute for Standardization, Pieza de prueba conductora

  • DIN 50448:1998
  • DIN 50435:1988 Pruebas de materiales semiconductores; determinación de la variación de la resistividad radial de láminas de silicio o germanio mediante el método de las cuatro sondas/corriente continua
  • DIN 50441-4:1999 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 4: Diámetro del corte, variación del diámetro, diámetro plano, longitud plana, profundidad plana.
  • DIN 50441-2:1998 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 2: Ensayos del perfil de los bordes.
  • DIN EN 62415:2010-12 Dispositivos semiconductores - Prueba de electromigración de corriente constante (IEC 62415:2010); Versión alemana EN 62415:2010
  • DIN EN 62047-3:2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
  • DIN 50445:1992 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación sin contacto de la resistividad eléctrica de láminas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas; obleas semiconductoras dopadas homogéneamente
  • DIN 16726:2017-08 Láminas de plástico - Ensayos
  • DIN 50441-1:1996 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
  • DIN ISO 3310-3:1992-02 Tamices de prueba; requisitos técnicos y pruebas; tamices de prueba de láminas electroformadas; idéntico a ISO 3310-3:1990
  • DIN EN ISO 284:2013-04 Cintas transportadoras - Conductividad eléctrica - Especificación y método de prueba (ISO 284:2012); Versión alemana EN ISO 284:2012
  • DIN 50441-5:2001 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 5: Términos de forma y desviación de planitud.
  • DIN EN 60749-19:2011-01 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Versión alemana EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Nota: DIN EN 60749-19 (2003-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2013-09-01.
  • DIN 52913:2002-04 Ensayos de juntas estáticas para conexiones bridadas - Ensayos de fluencia por compresión de juntas fabricadas a partir de láminas
  • DIN EN 61395:1998 Conductores eléctricos aéreos. Procedimientos de prueba de fluencia para conductores trenzados (IEC 61395:1998); Versión alemana EN 61395:1998
  • DIN 47304:1969-01 guías de ondas de RF; pruebas
  • DIN 45549:1980 Seguimiento del registro de prueba de capacidad
  • DIN IEC 60404-3 Berichtigung 1:2010-09 Materiales magnéticos. Parte 3: Métodos de medición de las propiedades magnéticas de bandas y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única (IEC 60404-3:1992 + A1:2002 + A2:2009), Corrigendum según DIN IEC 60404-3. :2010-05 / Nota: Para ser reemplazado por...
  • DIN IEC 60404-3:2010-05 Materiales magnéticos - Parte 3: Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única (IEC 60404-3:1992 + A1:2002 + A2:2009) / Nota: Se sustituirá por DIN EN IEC 60404-3 (2021-07).
  • DIN EN 62047-9:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS (IEC 62047-9:2011); Versión alemana EN 62047-9:2011
  • DIN 45544:1971 Registro de prueba de medición de ruido; Calle 33 y M 33

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Pieza de prueba conductora

  • EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
  • EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción
  • EN IEC 60404-3:2022 Materiales magnéticos - Parte 3: Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única

CZ-CSN, Pieza de prueba conductora

FI-SFS, Pieza de prueba conductora

  • SFS-IEC 885-1:1989 KAAPELIEN S?HK?ISET KOEMENETELM?T.KOKEET ENINT??N 450/750 V JOHTIMILLE JA KAAPELEILLE
  • SFS 2905-1975 COBRE LIBRE DE OXÍGENO PARA CABLEADO ELÉCTRICO Cu-OF

Professional Standard - Machinery, Pieza de prueba conductora

  • JB/T 8223.8-1999 Elementos para instrumentación eléctrica. Chips conductores.
  • JB/T 5469-1991 Instrumento de prueba del índice de pérdida total de una sola lámina de acero eléctrica (tira)
  • JB/T 9687.1-1999 Disco de molibdeno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 9687.2-1999 Disco de tungsteno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7061-1993 Obleas de silicio destinadas a ser utilizadas en dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 8736-1998 Sustrato cerámico de nitruro de aluminio destinado a ser utilizado en módulos semiconductores de potencia.
  • JB/T 6065-2004 Pieza de prueba para pruebas no destructivas de partículas magnéticas.
  • JB/T 6307.1-1992 Método de prueba para el módulo semiconductor de potencia Par de brazos del diodo rectificador

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Pieza de prueba conductora

  • KS C IEC 62899-202-3:2021 Electrónica impresa. Parte 202-3: Materiales. Tinta conductora. Medición de la resistencia laminar de películas conductoras. Método sin contacto.
  • KS M ISO 23559:2014 Plásticos. Películas y láminas. Orientaciones sobre los ensayos de películas termoplásticas.
  • KS M ISO 23559:2019 Plásticos. Películas y láminas. Orientaciones sobre los ensayos de películas termoplásticas.
  • KS I 3201-2007(2017) Métodos de prueba de conductividad eléctrica en agua altamente purificada.
  • KS C IEC 61395:2014 Conductores eléctricos aéreos. Procedimientos de prueba de fluencia para conductores trenzados.
  • KS C IEC 61395:2020 Conductores eléctricos aéreos. Procedimientos de prueba de fluencia para conductores trenzados.
  • KS C 2129-1996(2001) MÉTODOS DE PRUEBA PARA LA RESISTENCIA CC O LA CONDUCTA DE MATERIALES AISLANTES
  • KS P 4402-2007 Juego de lentes de prueba
  • KS C IEC 61788-21:2020 Superconductividad. Parte 21: Hilos superconductores. Métodos de prueba para hilos superconductores prácticos. Características generales y orientación.
  • KS L 1630-2021 Métodos de prueba para la conductividad eléctrica de cerámicas finas conductoras.
  • KS M 6773-2014 Método de prueba para la resistividad volumétrica de materiales de caucho y plástico eléctricamente conductores.
  • KS L 3306-2007(2012) Método de prueba de conductividad térmica de ladrillos refractarios mediante hilo caliente.
  • KS L 3306-1980 Método de prueba de conductividad térmica de ladrillos refractarios mediante hilo caliente.
  • KS C 2603-1980(2020) Método de prueba para la resistencia de conductores y resistividad de materiales de resistencia metálica.
  • KS L 1619-2013(2018) Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos
  • KS M 6773-2014(2019) Método de prueba para la resistividad volumétrica de materiales de caucho y plástico eléctricamente conductores.
  • KS C 5514-2005 PELÍCULA DE PRUEBA DE SONIDO MAGNÉTICA ESTÁNDAR DE 16 MM
  • KS C 5514-1982 PELÍCULA DE PRUEBA DE SONIDO MAGNÉTICA ESTÁNDAR DE 16 MM
  • KS D 0260-1999 MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS
  • KS M 6773-2009 Método de prueba para la resistividad volumétrica de materiales de caucho y plástico eléctricamente conductores.
  • KS M 3858-1988(1998) MÉTODOS DE PRUEBA PARA PRODUCTOS QUÍMICOS DE GRADO FOTOGRÁFICO
  • KS B 5639-1999 Cinematografía－Películas fotográficas de prueba de sonido, 35 mm y 16 mm－Especificaciones
  • KS C 0256-2002(2022) Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos

KR-KS, Pieza de prueba conductora

  • KS C IEC 62899-202-3-2021 Electrónica impresa. Parte 202-3: Materiales. Tinta conductora. Medición de la resistencia laminar de películas conductoras. Método sin contacto.
  • KS M ISO 23559-2019 Plásticos. Películas y láminas. Orientaciones sobre los ensayos de películas termoplásticas.
  • KS I 3201-2023 Métodos de prueba de conductividad eléctrica en agua altamente purificada.
  • KS C IEC 61395-2020 Conductores eléctricos aéreos. Procedimientos de prueba de fluencia para conductores trenzados.
  • KS C IEC 61788-21-2020 Superconductividad. Parte 21: Hilos superconductores. Métodos de prueba para hilos superconductores prácticos. Características generales y orientación.

Professional Standard - Aerospace, Pieza de prueba conductora

  • QJ 1523-1988 Método de prueba de resistividad del adhesivo conductor
  • QJ 259-1977 dispositivo
  • QJ 257-1977 Método de prueba de circuito digital integrado TTL de semiconductores
  • QJ 1528-1988 Método de prueba de base de tiempo de circuito integrado semiconductor
  • QJ 260-1977 dispositivo
  • QJ 20022-2011 El método de medición eléctrica del radomo para buscador pasivo.
  • QJ 20027-2011 Método de prueba para la conductividad térmica de grasa conductora térmica a baja temperatura.
  • QJ 1238.15-1987 Prueba de conducción del método de prueba de cable en un vehículo de lanzamiento de misiles
  • QJ 1460-1988 Método de prueba para amplificador de banda ancha de circuito integrado semiconductor.
  • QJ 2491-1993 Métodos de prueba para amplificadores operacionales en circuitos integrados semiconductores.
  • QJ 2464-1993 Método de prueba del radar de guía terminal para misiles de defensa costera

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Pieza de prueba conductora

  • SMPTE ST 183M-1996 Película cinematográfica - Películas fotográficas de prueba de nivel de audio - Medición del factor de salida fotoeléctrica
  • SMPTE 183M-1996 Película cinematográfica - Películas fotográficas de prueba de nivel de audio - Medición del factor de salida fotoeléctrica

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Pieza de prueba conductora

  • JEDEC JESD51-4-1997 Erratas de las directrices sobre chips de prueba térmica (chip tipo enlace de alambre), septiembre de 1997; Reemplaza a JEP129: 1997

Standard Association of Australia （SAA）, Pieza de prueba conductora

Group Standards of the People's Republic of China, Pieza de prueba conductora

  • T/SHMHZQ 042-2022 Hojas de grafito termoconductoras para productos electrónicos.
  • T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
  • T/WJDGC 0005-2021 Método de prueba para lámina aislante de olla arrocera automática
  • T/CSEE 0209-2021 Directrices para probar equipos de suministro de energía de emergencia de bajo voltaje
  • T/CECA 64-2021 Pasta conductora de metal base para condensadores de chip cerámicos multicapa
  • T/CEC 611-2022 Directrices técnicas para pruebas de imágenes acústicas de equipos de subestaciones
  • T/CSEE 0114-2019 Guía de prueba de corriente capacitiva de inyección para señal de frecuencia diferente de punto neutro
  • T/CIMA 0007-2020 Directrices de prueba para el dispositivo de medición de pérdidas de línea síncrona de la red de distribución.
  • T/ZGIA 001-2019 Método de prueba de grafeno para la determinación de la conductividad del polvo método de cuatro sondas

CU-NC, Pieza de prueba conductora

  • NC 66-100-1988 Industria Electrónica y Electrotécnica. Pruebas eléctricas de conductores de potencia
  • NC 68-05-1985 Aparatos domésticos industriales. Colectores solares planos para métodos de prueba de fluidos
  • NC 90-13-36-1986 Conductómetros de Garantía Metrológica. Métodos de prueba

AR-IRAM, Pieza de prueba conductora

American Society for Testing and Materials (ASTM), Pieza de prueba conductora

  • ASTM F673-90(1996)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad de rodajas de semiconductores o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
  • ASTM D4399-05(2023) Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D4496-21 Método de prueba estándar para resistencia CC o conductancia de materiales moderadamente conductores
  • ASTM D4399-05 Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D4399-90(1999) Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D2739-97 Método de prueba estándar para la resistividad del volumen de adhesivos conductores
  • ASTM B193-02 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM B193-00 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM B193-01 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM D1125-95(1999) Métodos de prueba estándar para conductividad eléctrica y resistividad del agua
  • ASTM B193-87(1992) Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM B193-19 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM B193-87 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM B193-20 Método de prueba estándar para la resistividad de materiales conductores eléctricos
  • ASTM F1680-96 Método de prueba estándar para determinar la resistencia del circuito de un interruptor de membrana
  • ASTM D4399-05e1 Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D4399-05(2011) Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D4399-05(2017) Método de prueba estándar para medir la conductividad eléctrica de baños de electrorrevestimiento
  • ASTM D3380-90(2003) Método de prueba estándar para permitividad relativa (constante dieléctrica) y factor de disipación de sustratos de circuitos de microondas a base de polímeros
  • ASTM B342-63(1980)e1 Método de prueba de conductividad eléctrica mediante el uso de corrientes de Foucault
  • ASTM F1896-10 Método de prueba para determinar la resistividad eléctrica de un material conductor impreso
  • ASTM C483-95(2000) Método de prueba estándar para la resistencia eléctrica de baldosas cerámicas conductoras (retirado en 2004)
  • ASTM D5128-90(1999)e1 Método de prueba estándar para la medición en línea del pH de agua de baja conductividad
  • ASTM E2584-07 Práctica estándar para la conductividad térmica de materiales utilizando un calorímetro de capacitancia térmica (babosa)
  • ASTM E1004-09 Método de prueba estándar para determinar la conductividad eléctrica mediante el método electromagnético (corrientes de Foucault)
  • ASTM B869-07(2013) Especificación estándar para conductores eléctricos de acero revestido de cobre para cables de bajada CATV
  • ASTM E2775-16 Práctica estándar para pruebas de ondas guiadas de tuberías de acero aéreas mediante transducción de efecto piezoeléctrico
  • ASTM F1689-05(2020) Método de prueba estándar para determinar la resistencia de aislamiento de un interruptor de membrana
  • ASTM F1896-98(2004) Método de prueba para determinar la resistividad eléctrica de un material conductor impreso
  • ASTM E1004-17 Método de prueba estándar para determinar la conductividad eléctrica utilizando el método electromagnético (corriente de Foucault)
  • ASTM F1896-16 Método de prueba para determinar la resistividad eléctrica de un material conductor impreso
  • ASTM C417-05 Método de prueba estándar para la conductividad térmica de refractarios monolíticos sin cocer
  • ASTM F1896-98 Método de prueba para determinar la resistividad eléctrica de un material conductor impreso
  • ASTM D5128-90(2005) Método de prueba estándar para la medición en línea del pH de agua de baja conductividad
  • ASTM D5128-09 Método de prueba estándar para la medición en línea del pH de agua de baja conductividad
  • ASTM F81-00 Método de prueba estándar para medir la variación de la resistividad radial en obleas de silicio

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Pieza de prueba conductora

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Pieza de prueba conductora

  • IEEE No 51-1955 Principios rectores del IEEE para pruebas dieléctricas
  • IEEE Std 82-1963 Procedimiento de prueba IEEE para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • IEEE 82-1963 Procedimiento de prueba IEEE para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • SMPTE ST 183:1996 ST 183:1996 - Estándar SMPTE - Para películas cinematográficas - Películas fotográficas de prueba de nivel de audio - Medición del factor de salida fotoeléctrica
  • IEEE 82-2002 Procedimiento de prueba estándar para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • IEEE 82-1994 Procedimiento de prueba para pruebas de tensión de impulso en conductores aislados.
  • IEEE Std 82-2002 Procedimiento de prueba estándar IEEE para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • IEEE Std 82-1994 Procedimiento de prueba estándar IEEE para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • IEEE 82/COR-2009 Erratas del procedimiento de prueba estándar IEEE para pruebas de voltaje de impulso en conductores aislados
  • IEEE Std 300-1988 Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores
  • ANSI/IEEE Std 300-1982 Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores
  • IEEE 1142-1995 Guía para el diseño, prueba y aplicación de cables de alimentación de 5-35 kV, dieléctrico sólido, impermeables a la humedad, que utilizan laminados de metal y plástico.

IX-ICAO, Pieza de prueba conductora

  • ICAO 8071-1-2000 Manual de pruebas de radioayudas para la navegación - Volumen I: Pruebas de sistemas de radionavegación terrestres
  • ICAO 8071-2-2007 Manual sobre pruebas de radioayudas para la navegación - Volumen II: Pruebas de sistemas de radionavegación por satélite
  • ICAO 8071-2 CORR-2008 Manual sobre pruebas de radioayudas para la navegación - Volumen II: Pruebas de sistemas de radionavegación por satélite; Corrección
  • ICAO 8071-3-1998 Manual de pruebas de radioayudas para la navegación - Volumen III: Pruebas de sistemas de radar de vigilancia

YU-JUS, Pieza de prueba conductora

  • JUS N.C0.035-1983 Frivolité de conductores y cables aislados. Medición de resistencia eléctrica de conductores.
  • JUS N.C6.005-1981 Ri>cables de diofrecuencia. Prueba de continuidad del revestimiento de plata de conductores internos.
  • JUS N.A5.053-1990 Ingeniería electrotécnica. Testimonio de Pire bazsrd. Prueba de alambre glou
  • JUS N.R1.500-1980 Dispositivos semiconductores. Aceptación. Pruebas electricas
  • JUS N.C0.031-1987 Energía eléctrica e iluminación. Ensayos de conductores y cables aislados. Comprobación de la construcción.
  • JUS N.C0.048-1985 Energía eléctrica e iluminación. Ensayos de conductores y cables aislados. Separabilidad de núcleos de conductores aislados gemelos planos.
  • JUS N.C0.050-1984 Energía eléctrica e iluminación. Ensayos de conductores y cables aislados. Resistencia I/Vear
  • JUS N.C0.030-1987 Energía eléctrica e iluminación. Ensayos de conductores y cabinas aislados. Condiciones generales de prueba
  • JUS N.R2.602-1980 Condensadores de chip Tantahim. Selección de métodos de prueba y requisitos generales.
  • JUS N.C0.082-1990 Iluminación eléctrica. Pruebas de conductores y cables aislados. Estañado de conductores simples
  • JUS N.R4.493-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16p: Resistencia a la torsión. pestañas masculinas fijas
  • JUS N.M6.090-1985 Herramientas eléctricas manuales accionadas por motor. Cizallas para chapa. Requisitos y pruebas suplementarias

CH-SNV, Pieza de prueba conductora

  • SEV 3034-1963 Reglas para impedancias nominales y dimensiones de altavoces.

(U.S.) Ford Automotive Standards, Pieza de prueba conductora

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Pieza de prueba conductora

  • YB/T 4148-2006 Métodos de medición de las propiedades magnéticas de láminas y flejes de acero eléctrico con una única muestra de lámina pequeña.
  • YB/T 4292-2012 Métodos de determinación de las características geométricas de chapas y flejes de acero eléctrico.

CL-INN, Pieza de prueba conductora

  • INDITECNOR 62-8 ¿AGUA PARA FINES INDUSTRIALES? EN-SAYOS.. DETEMINACION DE LA CON-DUC TIVIDAD ELECTRICA.
  • INDITECNOR 55-15 GOMA PARA CUBIERTAS DE CONDUCTORES ELECTRICOS:ENSA YOS

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Pieza de prueba conductora

  • DB/1300 F04 6-1990 Directrices para la prueba del equilibrio hídrico en centrales térmicas
  • DB13/T 58-1991 Directrices para la prueba del equilibrio hídrico en centrales térmicas
  • DB13/T 5120-2019 Especificaciones para la prueba de rendimiento de CC de chips láser semiconductores FP y DFB para comunicación óptica
  • DB13/T 5026.3-2019 Método para determinar las propiedades físicas de la pasta conductora de grafeno Parte 3: Método de cuatro sondas para determinar la resistividad de los electrodos de la pasta

RU-GOST R, Pieza de prueba conductora

  • GOST 21573-1976 Embragues electromagnéticos multidisco con discos conductores de flujo magnético. Parámetros y dimensiones básicos.
  • GOST 7229-1976 Cables, alambres y cordones. Método de medición de la resistencia eléctrica de los conductores.
  • GOST 6134-2007 Bombas rotodinámicas. Métodos de prueba
  • GOST 6134-1987 Bombas rotodinámicas. Métodos de prueba
  • GOST 24461-1980 Dispositivos semiconductores de potencia. Métodos de prueba y medición.
  • GOST 21574-1988 Embragues electromagnéticos con discos conductores de flujo magnético. Especificaciones
  • GOST R 53835-2010 Vehículos. Elementos del actuador de dirección y suspensión de la paleta guía. Requisitos técnicos y métodos de prueba.

SAE - SAE International, Pieza de prueba conductora

  • SAE AS85049/130C-2016 ACCESORIOS PARA CONECTORES, MATERIAL DE JUNTAS ELÉCTRICAS, CONDUCTORES/NO CONDUCTORES, MONTAJE EN BRIDA, CATEGORÍA 7
  • SAE AS85049/130A-2006 ACCESORIOS PARA CONECTORES, MATERIAL DE JUNTAS ELÉCTRICAS, CONDUCTORES/NO CONDUCTORES, MONTAJE EN BRIDA, CATEGORÍA 7
  • SAE AS85049/130B-2011 ACCESORIOS PARA CONECTORES, MATERIAL DE JUNTAS ELÉCTRICAS, CONDUCTORES/NO CONDUCTORES, MONTAJE EN BRIDA, CATEGORÍA 7
  • SAE AS85049/130-2004 ACCESORIOS PARA CONECTORES@ MATERIAL DE JUNTAS ELÉCTRICAS@ CONDUCTORES/NO CONDUCTORES@ MONTAJE EN BRIDA@ CATEGORÍA 7 (FSC 5935)

Society of Automotive Engineers (SAE), Pieza de prueba conductora

  • SAE AS85049/130C-2021 ACCESORIOS PARA CONECTORES, MATERIAL DE JUNTAS ELÉCTRICAS, CONDUCTORES/NO CONDUCTORES, MONTAJE EN BRIDA, CATEGORÍA 7
  • SAE ARP5724-2013 Aeroespacial: pruebas de actuadores electromecánicos, directrices generales para

Professional Standard - Chemical Industry, Pieza de prueba conductora

  • HG/T 2295-1992 Junta de goma de conducción de calor para TV en color
  • HG 2-1047-1977 Método de determinación de la conductividad de la pintura electroforética
  • HG/T 3335-1977 Método de determinación de la conductividad de la pintura electroforética

化学工业部, Pieza de prueba conductora

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Pieza de prueba conductora

  • IPC TM-650 2.6.25-2003 Prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF): eje XY
  • IPC TM-650 5.5.4.19-1998 Prueba de conductores
  • IPC 9691-2005 Guía del usuario para IPC-TM-650, Método 2.6.25, Prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF) (prueba de migración electroquímica)

IN-BIS, Pieza de prueba conductora

  • IS 5266-1969 ESPECIFICACIÓN PARA LA PELÍCULA DE PRUEBA DE NIVEL DE SEÑAL DE 400 Hz
  • IS 5265-1969 ESPECIFICACIONES PARA PELÍCULAS DE PRUEBA PARA PROYECTORES DE CINEMATOGRAFÍA DE SONIDO E IMAGEN DE 16 mm
  • IS 5263-1969 ESPECIFICACIONES PARA PELÍCULAS DE PRUEBA PARA PROYECTORES DE CINEMATOGRAFÍA DE SONIDO E IMAGEN DE 16 mm
  • IS 5262-1969 ESPECIFICACIONES PARA PELÍCULAS DE PRUEBA PARA PROYECTORES DE CINEMATOGRAFÍA DE SONIDO E IMAGEN DE 16 mm

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Pieza de prueba conductora

  • GB/T 1550-2018 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.
  • GB/T 39042-2020 Medición de las propiedades magnéticas de aceros eléctricos mediante un probador de una sola hoja: método de bobina H
  • GB/T 12966-2022 Los métodos para determinar la conductividad del aluminio y las aleaciones de aluminio utilizando corrientes de Foucault.

Danish Standards Foundation, Pieza de prueba conductora

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Pieza de prueba conductora

  • ECA J-STD-002C-2007 Pruebas de soldabilidad para cables, terminaciones, lengüetas, terminales y cables de componentes
  • ECA EIA-970-2013 Procedimiento de prueba para la caracterización de alta frecuencia de condensadores de chip cerámicos multicapa de baja inductancia

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Pieza de prueba conductora

  • JIS C 2556:2015 Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de lámina única.
  • JIS Z 2359:2021 Principio de las pruebas de galgas extensométricas.
  • JIS R 1661:2004 Método para medir la conductividad de cerámicas finas conductoras de iones.

IEC - International Electrotechnical Commission, Pieza de prueba conductora

  • PAS 61338-1-5-2010 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas – Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba – Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas (Edición 1.0)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Pieza de prueba conductora

  • GB/T 12631-2017 Método de prueba para la resistencia de conductores de tableros impresos.
  • GB/T 33655-2017 Dispositivos de potencia superconductores: requisitos generales para pruebas características de cables de corriente diseñados para alimentar dispositivos superconductores.
  • GB/T 35006-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición del convertidor de nivel.
  • GB/T 2522-2017 Métodos de prueba para la determinación de la resistencia del aislamiento del revestimiento y la adhesión del revestimiento de tiras y láminas eléctricas.
  • GB/T 35007-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición de circuitos de señalización diferencial de bajo voltaje.
  • GB/T 14028-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición de interruptores analógicos.
  • GB/T 35010.5-2018 Productos de matriz semiconductores. Parte 5: Requisitos relacionados con la simulación eléctrica.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Pieza de prueba conductora

  • DB4401/T 116-2021 Directrices para las pruebas de eficiencia energética de calderas de calefacción eléctrica

Aerospace Industries Association, Pieza de prueba conductora

  • AIA NAS 4122-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Extruido
  • AIA NAS 4119-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Presión
  • AIA NAS 4121-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Formado FSC 5999
  • AIA NAS 4118-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Clip de Retención

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Pieza de prueba conductora

  • GJB 5232.3-2004 Método de prueba de alcance de ojivas de misiles tácticos Parte 3: prueba de velocidad de fragmentos de prueba de explosión estática
  • GJB 6390.2-2008 Método de potencia estática para ojivas de misiles antisuperficie. Parte 2: Medición de la velocidad inicial de los fragmentos.
  • GJB 5232.2-2004 Método de prueba de alcance de ojivas de misiles tácticos Parte 2: Prueba de características de dispersión de fragmentos de prueba de explosión estática
  • GJB 6919-2009 Métodos de prueba y evaluación del rendimiento de la fibra conductora.
  • GJB 8681-2015 Procedimientos de calibración para probadores de conductividad y resistencia de volumen de explosivos sólidos.
  • GJB 8696.7-2015 Método de prueba de proyectil guiado por terminal Parte 7: Detección de resistencia del circuito
  • GJB 1047.2-1990 Métodos de prueba para la pólvora negra: determinación del método de conductividad del nitrato de potasio
  • GJB 9147-2017 Métodos de prueba de amplificador operacional de circuito integrado de semiconductores.

Professional Standard - Water Conservancy, Pieza de prueba conductora

  • SL 78-1994 Determinación de la conductividad (método del instrumento de conductividad)

BR-ABNT, Pieza de prueba conductora

  • ABNT NBR 9150-2013 Alambres y cables para telecomunicaciones. Separación de conductores aislados. Método de prueba.

工业和信息化部, Pieza de prueba conductora

  • SJ/T 11792-2022 Método de prueba para la conductividad de materiales de electrodos de baterías de iones de litio.
  • SJ/T 11627-2016 Método de prueba en línea de resistividad de obleas de silicio para células solares
  • SJ/T 10805-2018 Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor
  • SJ/T 11631-2016 Método de prueba para detectar defectos de apariencia en obleas de silicio para células solares
  • SJ/T 11630-2016 Método de prueba para las dimensiones geométricas de obleas de silicio para células solares.
  • SJ/T 11628-2016 Método de prueba en línea para el tamaño de oblea de silicio y caracterización eléctrica de células solares.
  • SJ/T 11632-2016 Método de prueba para detectar defectos por microfisuras en obleas de silicio para células solares

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Pieza de prueba conductora

  • EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante

Professional Standard - Aviation, Pieza de prueba conductora

  • HB 5356-1986 Método de prueba de corrientes de Foucault para la conductividad eléctrica de una aleación de aluminio.

Professional Standard - Energy, Pieza de prueba conductora

  • NB/T 11072-2023 Directrices para la aplicación de sistemas de medida de tensión de prueba.
  • NB/T 10827-2021 Método de prueba para la conductividad iónica de películas delgadas de baterías eléctricas.
  • NB/T10827-2021 Método de prueba para la conductividad iónica de películas delgadas de baterías eléctricas.

ES-UNE, Pieza de prueba conductora

  • UNE-EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores - Ensayo de electromigración en corriente constante (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)
  • UNE-EN ISO 284:2012 Cintas transportadoras - Conductividad eléctrica - Especificación y método de ensayo (ISO 284:2012) (Ratificada por AENOR en febrero de 2013.)
  • UNE-EN IEC 60404-3:2022 Materiales magnéticos - Parte 3: Métodos de medida de las propiedades magnéticas de flejes y chapas de acero eléctrico mediante un comprobador de chapa única (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

British Standards Institution (BSI), Pieza de prueba conductora

  • BS PD IEC TR 63307:2020 Métodos de medición de la compleja permeabilidad relativa y permitividad de la lámina de supresión de ruido.
  • PD IEC TR 63307:2020 Métodos de medición de la compleja permeabilidad relativa y permitividad de la lámina de supresión de ruido.
  • PD ES 59008-4-1:2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras. Requisitos y recomendaciones específicas. Prueba y calidad
  • BS DD IEC/PAS 61338-1-5:2010 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Información general y condiciones de prueba - Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas
  • BS EN 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.
  • BS EN IEC 60404-3:2022 Materiales magnéticos - Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de una sola lámina.
  • BS IEC 62899-202-5:2018 Electrónica impresa - Materiales. Tinta conductora. Ensayo de flexión mecánica de una capa conductora impresa sobre un sustrato aislante.
  • PD IEC/TR 62878-2-2:2015 Sustrato integrado en el dispositivo. Pautas. Pruebas electricas
  • BS IEC 62951-6:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables: método de prueba para la resistencia laminar de películas conductoras flexibles
  • 22/30383603 DC BS IEC 63215-4. Métodos de prueba de resistencia para materiales de fijación de matrices aplicados a dispositivos electrónicos de potencia. Parte 4. Método de prueba de ciclo de energía para materiales de fijación de matrices (cerca de la interconexión de chips) aplicados a dispositivos electrónicos de potencia de tipo módulo.
  • BS EN 61395:1998 Conductores eléctricos aéreos. Procedimientos de prueba de fluencia para conductores trenzados.
  • BS ISO 20567-2:2005 Pinturas y barnices - Determinación de la resistencia al impacto de piedras de los revestimientos - Ensayo de impacto único con cuerpo de impacto guiado
  • BS EN ISO 20567-2:2005 Pinturas y barnices - Determinación de la resistencia al impacto de piedras de los revestimientos - Ensayo de impacto único con cuerpo de impacto guiado
  • BS EN ISO 20567-2:2017 Pinturas y barnices. Determinación de la resistencia al impacto de piedras de los revestimientos. Ensayo de impacto único con cuerpo de impacto guiado
  • BS EN 60068-2-10:2005+A1:2018 Ensayos ambientales - Ensayos. Prueba J y orientación: crecimiento de moho
  • BS EN 10280:2001+A1:2007 Materiales magnéticos. Métodos de medición de las propiedades magnéticas de láminas y tiras eléctricas mediante un probador de lámina única.
  • 21/30438135 DC BS EN IEC 60404-3. Materiales magnéticos. Parte 3. Métodos de medición de las propiedades magnéticas de flejes y láminas de acero eléctrico mediante un probador de una sola lámina.

NZ-SNZ, Pieza de prueba conductora

  • AS/NZS 1660.5.5:2005 Métodos de prueba para cables, cordones y conductores eléctricos Método 5.5: Pruebas de fuego - Integridad del circuito
  • AS/NZS 1660.1:1998 Métodos de prueba para cables, cordones y conductores eléctricos Método 1: Conductores y componentes metálicos
  • AS/NZS 1660.5.6:2005 Métodos de prueba para cables, cordones y conductores eléctricos Método 5.6: Pruebas de fuego - Prueba de propagación vertical de la llama para un solo alambre o cable aislado

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Pieza de prueba conductora

  • CNS 7367-1981 Método de prueba para resistencia CC o conductancia de materiales aislantes
  • CNS 7631-1981 Método de prueba para la resistividad del aislamiento de superficies de muestras de tiras múltiples

ZA-SANS, Pieza de prueba conductora

  • SANS 6282-1:2007 Métodos de prueba para conductores desnudos y conductores de cables eléctricos aislados Parte 1: Resistencia del conductor

TR-TSE, Pieza de prueba conductora

  • TS 2643-1977 Procedimientos de prueba para detectores bemiconductores de radiación ionizante
  • TS 1861-1975 CINEMATOGRAFÍA — MOVIMIENTO — F?LM DE SEGURIDAD DE LA IMAGEN — DEFINICIÓN, PRUEBAS Y MARCADO
  • TS 2452-1976 MEDICIONES DE LAS PROPIEDADES ELÉCTRICAS DE TUBOS Y VÁLVULAS EIJECTRONICAS PARTE 12: MÉTODOS DE MEDICIÓN DE RESISTENCIA DE ELECTRODOS, TRANSCONDUCTANO, FACTOR DE AMPLIFICACIÓN, RESISTENCIA DE CONVERSIÓN Y TRANSCONDUCCTANCIA DE CONVERSIÓN
  • TS 2683-1977 Métodos de prueba para cables eléctricos de uso general con conductores de cobre para embarcaciones
  • TS 2443-1976 MEDICIONES DE LAS PROPIEDADES ELÉCTRICAS DE TUBOS Y VÁLVULAS ELECTRÓNICAS PARTE 3: MEDIDA DE ADMITANCIAS DE ENTRADA Y SALIDA EQUIVALENTES
  • TS 2586-1977 MÉTODOS DE PRUEBA PARA CABLES ELÉCTRICOS CON CONDUCTORES DE COBRE RESISTENTES AL CALOR (190°C) PARA AERONAVES

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