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memoria

memoria, Total: 353 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en memoria son: Vocabularios, Símbolos gráficos, Circuitos integrados. Microelectrónica, Aplicaciones de la tecnología de la información., Productos de metales no ferrosos., pruebas de metales, Metales no ferrosos, Pruebas eléctricas y electrónicas., Materiales conductores, Productos de la industria textil., Dispositivos de almacenamiento de datos, Pruebas no destructivas, Procesos de la industria textil., Educación, Ergonomía, Centrales eléctricas en general, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Metalurgia de polvos, Ferroaleaciones, Productos de hierro y acero., Equipo para entretenimiento, Radiocomunicaciones, Materiales para la construcción aeroespacial., Productos alimenticios en general., Agricultura y silvicultura, Equipo medico, Componentes para la construcción aeroespacial., Equipos de servicio y mantenimiento en tierra., Productos de la industria química., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Procesos de conformado de fabricación., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Fotografía, Juegos de caracteres y codificación de información..

U.S. Military Regulations and Norms, memoria

ARMY MIL-C-70490 NOTICE 1-1995 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO, MEMORIA
ARMY MIL-C-70490 (1)-1986 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO, MEMORIA
ARMY MIL-C-70490-1985 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO, MEMORIA
ARMY MIL-H-2987 B NOTICE 1-1997 OCULTAR, FLASH
ARMY MIL-H-2987 B-1975 OCULTAR, FLASH
ARMY MIL-C-63526 NOTICE 1-1996 CARTUCHO, 105 MM, SIMULADOR DE FLASH DE PISTOLA DE TANQUE, XM23
ARMY MIL-C-63526-1981 CARTUCHO, 105 MM, SIMULADOR DE FLASH DE PISTOLA DE TANQUE, XM23

RO-ASRO, memoria

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), memoria

KS D 0057-2004 Glosario de términos utilizados para aleaciones con memoria de forma.
KS D 0057-2001 Glosario de términos utilizados para aleaciones con memoria de forma.
KS D 0057-2004(2019) Glosario de términos utilizados para aleaciones con memoria de forma.
KS B ISO 24497-1-2008(2013) Pruebas no destructivas－Memoria magnética de metal－Parte 1: Vocabulario
KS D 0058-2004(2019) Método para determinar la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma.
KS D 0058-2001 Método para determinar la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma.
KS D 0058-2004 Método para determinar la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma.
KS D 0304-2004 Método para la prueba de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS B ISO 24497-2-2008(2013) Pruebas no destructivas－Memoria magnética de metal－Parte 2:Requisitos generales
KS D 0304-1995 Método de prueba de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0072-2002 Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
KS D 0072-1993 Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
KS D 0304-2004(2019) Método para la prueba de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0072-2002(2017) Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
KS D 0302-2004 Método de prueba de carga a temperatura fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS B ISO 24497-3-2008(2013) Pruebas no destructivas－Memoria magnética de metal－Parte 3: Inspección de uniones soldadas
KS D 0302-1993 Método de prueba de carga a temperatura fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0303-2004 Método de prueba de ciclos térmicos de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0302-2004(2019) Método de prueba de carga a temperatura fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0303-2004(2019) Método de prueba de ciclos térmicos de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0303-1995 Método de ensayo de ciclos térmicos de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
KS D 0072-2002(2022) Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
KS A ISO 12234-2:2006 Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 2: Formato de datos de imagen TIFF/EP
KS A ISO 12234-1:2011 Imágenes electrónicas de fotografías-Memoria extraíble-Parte 1: Modelo básico de memoria extraíble
KS A ISO 12234-1:2016 Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 1: Modelo básico de memoria extraíble

International Electrotechnical Commission (IEC), memoria

IEC TR 61352:2006 Mnemónicos y símbolos para circuitos integrados.
IEC TR 61352:2000 Mnemónicos y símbolos para circuitos integrados.

British Standards Institution (BSI), memoria

BS ISO/IEC 11694-6:2006 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de registro lineal - Uso de la biometría en una tarjeta de memoria óptica
BS ISO/IEC 11694-6:2014 Tarjetas de identificación. Tarjetas de memoria óptica. Método de grabación lineal. Uso de biometría en una tarjeta de memoria óptica.
BS ISO/IEC 11694-4:1997 Tarjetas de identificación. Tarjetas de memoria óptica. Método de grabación lineal. Estructuras de datos lógicas
BS ISO/IEC 11694-3:2008 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Propiedades y características ópticas
BS ISO/IEC 11694-3:2015 Tarjetas de identificación. Tarjetas de memoria óptica. Método de grabación lineal. Propiedades y características ópticas.
BS ISO 24497-1:2020 Pruebas no destructivas. Memoria magnética metálica - Vocabulario y requisitos generales
BS EN 4819:2012 Serie aeroespacial. Etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves
BS ISO/IEC 11694-2:2012 Tarjetas de identificación. Tarjetas de memoria óptica. Dimensiones y ubicación del área óptica accesible.
BS ISO/IEC 11694-5:2014 Tarjetas de identificación. Tarjetas de memoria óptica. Método de grabación lineal. Formato de datos para intercambio de información para aplicaciones que utilizan ISO/IEC 11694-4
18/30358882 DC BS ISO 24497-2. Pruebas no destructivas. Memoria magnética metálica. Parte 2. Inspección de uniones soldadas.
18/30358879 DC BS ISO 24497-1. Pruebas no destructivas. Memoria magnética metálica. Parte 1. Vocabulario y requisitos generales
BS ISO/IEC 11694-5:2006 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Formato de datos para intercambio de información para aplicaciones que utilizan ISO/IEC 11694-4, anexo B
BS ISO/IEC 15962:2013 Tecnologías de la información. Identificación por radiofrecuencia (RFID) para la gestión de artículos. Protocolo de datos: reglas de codificación de datos y funciones de memoria lógica.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), memoria

JIS H 7107:2003 Alambres de aleación con memoria de forma Ti-Ni.
JIS H 7001:2009 Glosario de términos utilizados para aleaciones con memoria de forma.
JIS H 7001:2002 Glosario de términos utilizados para aleaciones con memoria de forma.
JIS H 7001:1989 Glosario de términos utilizados en aleaciones con memoria de forma.
JIS H 7101:1989 Método para determinar las temperaturas de transformación de aleaciones con memoria de forma.
JIS H 7101:2002 Método para determinar la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma.
JIS H 7107:2009 Alambres, cintas y tubos de aleación con memoria de forma de Ti-Ni.
JIS H 7103:1991 Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
JIS H 7104:1991 Método de prueba de carga a temperatura fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
JIS H 7105:1993 Método de prueba de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
JIS H 7105:2002 Método de prueba de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
JIS H 7104:2002 Método de prueba de carga a temperatura fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
JIS H 7105:2012 Método de pruebas de deformación constante para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni.
JIS H 7103:2002 Método de ensayo de tracción a temperatura fija para alambres de aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni
JIS H 7103:2012 Método de ensayos de tracción para aleaciones con memoria de forma de Ti-Ni.
JIS H 7106:1993 Método de ensayo de ciclos térmicos de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma
JIS H 7106:2002 Método de ensayo de ciclos térmicos de deformación fija para resortes helicoidales de aleaciones con memoria de forma

Defense Logistics Agency, memoria

DLA SMD-5962-02517 REV A-2004 MEMORIA DE MICROCIRCUITO CMOS, DIGITAL, DRAM SINCRÓNICA (SDRAM) DE 128 M X 8 BITS APILADOS (1 GBIT), MÓDULO
DLA SMD-5962-02518-2003 MEMORIA DE MICROCIRCUITO CMOS, DIGITAL, DRAM SINCRÓNICA (SDRAM) DE 256 M X 8 BITS APILADOS (2 GBIT), MÓDULO
DLA SMD-5962-89841 REV L-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE (EEPLD), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-84129 REV E-2004 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, BIPOLAR, LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96893 REV B-2003 MICROCIRCUITO LINEAL TRANSCEPTOR DIFERENCIAL DE 9 CANALES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96902 REV F-2004 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, MEMORIA ESTÁTICA DE ACCESO ALEATORIO (SRAM) 256K X 16-BIT
DLA SMD-5962-81036 REV L-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BIPOLAR, LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89839 REV F-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE EE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90573-1991 MICROCIRCUITO, MEMORIA, BIPOLAR, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE ECL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88696 REV A-1990 MICROCIRCUITOS, CONTROLADOR DE MEMORIA DINÁMICA BIPOLAR DIGITAL SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94634-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA CONFIGURABLE DE PUERTA CMOS 8000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89823 REV H-2007 MICROCIRCUITOS DE MEMORIA DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 9000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97631-1998 MICROCIRCUITO, MEMORIA, CMOS, FIFO SINCRÓNICO PARALELO 32K X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96892 REV B-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL-LINEAL, CONVERTIDOR D/A DE 12 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97610 REV B-2004 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, DIGITAL, FLASH EPROM, 2M X 16-BIT
DLA SMD-5962-92338-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA DIGITAL, BICMOS, PROGRAMABLE UNA VEZ, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98586 REV A-2001 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BICMOS, ROM ENMASCARADA PERSONALIZADA DE 512 X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94763 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-78015 REV H-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA DIGITIAL, RAM BIPOLAR DE 64 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94537-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, UNIDAD DE PROCESAMIENTO DE MEMORIA DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-81015 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO DINÁMICO 16K (RAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-84132 REV C-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 16K RAM ESTÁTICA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93008-1994 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 16K X 9 FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93091 REV D-2005 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, 512K X 8 BITS, MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE
DLA SMD-5962-93152 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 32K X 9 FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88776 REV C-2004 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, LINEAL, 8 BITS, FLASH, CONVERTIDOR ANALÓGICO A DIGITAL
DLA SMD-5962-98509 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE 28000 PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98510 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE 36000 PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98511 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA 62000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98579-1999 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 10.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96795 REV C-2004 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM) 256K X 16, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96889 REV A-2006 MICROCIRCUITO MATRIZ, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 4M X 1 MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO DINÁMICO (DRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89567 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 2K X 9 FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89568 REV K-2003 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 4K X 9 FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94549 REV D-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, VIDEO RAM MULTIPUERTO 256K X 16, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94567-1996 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO X 9 CON RELOJ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89840 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE EE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89892 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 16K X 4 SRAM CON OE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93154 REV A-2005 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, 128K X 8 BITS, MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE
DLA SMD-5962-93155 REV B-2005 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, 256K X 8 BITS, MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE
DLA SMD-5962-99514 REV B-2006
DLA SMD-5962-99527 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 20.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99569 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 16.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99585 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 36.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99586 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-82005 REV E-2005 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, 65,536 (8KX8), PROM BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-82009 REV K-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BIPOLAR 64K (8K X 8) MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE (PROM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01529 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 16K X 1 MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO, (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94511 REV A-1996 MICROCIRCUITO, MEMORIA, CMOS, FIFO SINCRÓNICO PARALELO 4K X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94524 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89755 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92252 REV D-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 5000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92305 REV E-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 10000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92344-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BICMOS, SRAM RESETABLE 8K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93124 REV B-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO PARALELO 2K X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93138 REV C-2001 MICROCIRCUITO, MEMORIA, CMOS, FIFO SINCRÓNICO PARALELO 1K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93173-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 512 X 9 PARALELO FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93177 REV E-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO PARALELO 16K X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96840 REV A-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, MEMORIA, RADIACIÓN ENDURECIDA, CMOS, 4 X 32K X 40 SRAM, MÓDULO MULTICHIP (MCM)
DLA SMD-5962-79018 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 128 X 8 BITS MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO (RAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94573 REV B-1996 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, HISTOGRAMADOR/TAMPÓN DE ACUMULACIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94574 REV A-2002 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, TRANSCEPTOR REGISTRADO TTL/BTL DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94585 REV J-2003 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, DIGITAL, 128K X 32 BITS, MEMORIA DE SÓLO LECTURA BORRABLE/PROGRAMABLE ELÉCTRICAMENTE
DLA SMD-5962-94614 REV E-2003
DLA SMD-5962-92324 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 8K X 8 RAM ESTÁTICA NO VOLÁTIL SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93156 REV B-2000 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO, CMOS, 128K X 8 BITS
DLA SMD-5962-93168 REV A-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93221 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 4000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93235 REV A-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 256K X 8 BIT EEPROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96796 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, 128K X 8 BITS, MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96901 REV D-2004 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, 512K X 16-BIT, SRAM Y FLASH EPROM
DLA SMD-5962-97597 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE FLASH ALTERABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97599 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE FLASH ALTERABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97609 REV A-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, FLASH EPROM, 2M X 8-BIT, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-03202-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, PROM BIPOLAR DE 1024 X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-03203-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, 2048 X 8-BIT BIPOLAR PROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89661-1989 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO 64 X 9 EN CASCADA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89664 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO 64 X 8 EN CASCADA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89942 REV A-1993 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 2K X 9 SERIE PARALELA FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89943 REV A-1994 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO SERIE PARALELO 4K X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88595 REV A-1989 MICROCIRCUITOS DIGITALES, NMOS, 256 X 4 RAM ESTÁTICA (SRAM) SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93087 REV A-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93189 REV C-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO SINCRÓNICO PARALELO 4K X 18, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93249 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, FIFO SINCRÓNICO PARALELO 512 X 9, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-80012 REV H-2005
DLA SMD-5962-82008 REV K-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, SCHOTTKY BIPOLAR 32K MEMORIA DE SÓLO LECTURA PROGRAMABLE (PROM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-78016 REV G-2005 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 8K X 8 UV BORRABLE PROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89666 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 256 X 9 PARALELO FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94611 REV R-2004
DLA SMD-5962-89690 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, RAM ESTÁTICA 2K X 8 (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89691 REV A-1990 MICROCIRCUITO, MEMORIA, CMOS DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM) 8K X 8, SILICIO MONOLÍTICO [Reemplazado por: DLA SMD-5962-38294 REV H, DLA SMD-5962-38294 REV G, DLA SMD-5962-38294 REV F , DLA SMD-5962-38294 REV E, DLA SMD-5962-38294 REV D, DLA
DLA SMD-5962-89692 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 16K X 4 RAM ESTÁTICA (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89694 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 16 X 4 SRAM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89712 REV B-2007 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 16K X 4 BITS SRAM, (STD POWER), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89863 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PARALELO 512 X 9 FIFO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89883 REV B-1995
DLA SMD-5962-89891 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 16K X 4 SRAM CON OE Y DUAL CE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90622 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 4M X 1 MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO DINÁMICO (DRAM) SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92312 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 4MEG X 4 DRAM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93225-1994 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 64K X 4 SRAM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93247 REV A-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89855 REV A-1992 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROGRAMABLE UNA VEZ, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE REGISTRADO ASÍNCRONO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-82025 REV H-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MEMORIA DE SOLO LECTURA PROGRAMABLE BORRABLE UV 16K X 8 (EPROM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-84036 REV G-2005 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, RAM ESTÁTICA DE 16K (2048 X 8) BIT, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-84111 REV E-2004 MICROCIRCUITO, MEMORIA DIGITAL, 262, 144 BITS (32K X 8) PROM BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89577 REV J-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, CONTROLADOR DE BUS, TERMINAL REMOTO Y MONITOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92172-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BICMOS, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM) 16K X 4, E/S SEPARADAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93157 REV G-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, HÍBRIDA Y MONOLÍTICA, DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICA, CMOS, 256K X 8-BIT
DLA SMD-5962-98644 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, SOI, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, ROM PROGRAMABLE CON MÁSCARA DE 32K X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97522 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97523 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97524 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97525 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-38294 REV H-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM) 8K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88594 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 256 X 4 RAM ESTÁTICA (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90555 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROGRAMABLE UNA VEZ, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE ASÍNCRONO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90620 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO DE 2K X 8 PUERTOS DOBLES (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93144 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROGRAMABLE BORRABLE UV, DISPOSITIVO LÓGICO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93153 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PUERTO DUAL 4K X 9, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99541 REV A-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS ENDURECIDO POR RADIACIÓN, RAM ESTÁTICA DE 256K X 8 BITS, MÓDULO MULTICHIP
DLA SMD-5962-96836 REV A-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO 2000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96837-2000 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO 8000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-82007 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, NMOS 16K (16,384 X 1) BIT MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89598 REV R-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 128K X 8 MEMORIA ESTÁTICA DE ACCESO ALEATORIO (SRAM) BAJA CONSUMO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94588-1995
DLA SMD-5962-93056 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, RAM ESTÁTICA NO VOLÁTIL 8K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93123-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 2K X 16 BITS, MÁQUINA DE ESTADOS PROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93248-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98537 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CMOS/SOI, RAM ESTÁTICA 128K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96877 REV C-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CMOS, RAM ESTÁTICA 128K X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-82010 REV G-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, NMOS, RAM DINÁMICA DE 65.536 X 1 BIT, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-03235 REV A-2004 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 512K X 8 BITS (4M), SRAM ENDURECIDO POR RADIACIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89590 REV A-1994 MICROCIRCUITOS DE MEMORIA DIGITAL, CMOS, EEPROM SERIE DE 512 X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89667 REV A-1994 MICROCIRCUITOS, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, EEPROM SERIE 2048 X 8, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89951-1990 MICROCIRCUITOS DE MEMORIA DIGITAL NMOS 256 X 4 BIT RAM ESTÁTICA NO VOLÁTIL SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89967 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROM REGISTRADO 8K X 8-BIT, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-84033 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TRANSCEPTOR DE BUS OCTAL CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89575 REV C-2007 MICROCIRCUITO DIGITAL CMOS TERMINAL REMOTO PARA TIENDAS CON RAM 1K X 16, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94557 REV A-1994 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 1MEG X 8 BIT EEPROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93166 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, ALIMENTACIÓN CONMUTADA, PROM DE 32K x 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93245-1993 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, MEMORIA, CMOS, TENSIÓN EXTENDIDA, BORRABLE UV, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98615 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CMOS, BAJO VOLTAJE, RAM ESTÁTICA DE 128K X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99572 REV A-2003
DLA SMD-5962-99573 REV A-2003
DLA SMD-5962-99574 REV A-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, ALTERABLE ELÉCTRICAMENTE (REPROGRAMMABLE EN EL SISTEMA), 1.124.022 PUERTAS, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-79024 REV C-2005
DLA SMD-5962-81039 REV G-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, NMOS 16K (2048 X 8) BIT MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO (SRAM), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89817 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, UVEPROM DE 32K X 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92322-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 64K X 8 BITS ACCESO RÁPIDO A COLUMNA UVEPROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90658 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, 4K X 8 UVEPROM, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93244-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS 512K X 8 BITS EEPROM DE PROGRAMACIÓN DE 5 VOLTIOS, SILICIO MONOLÍTICO

工业和信息化部, memoria

YS/T 1307.1-2019 Métodos de ensayo para las propiedades de memoria de aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio Parte 1: Métodos de ensayo de tracción
YS/T 1307.2-2019 Método de prueba de rendimiento de memoria de aleación de níquel-titanio con memoria de forma Parte 2: Método de prueba de flexión
YS/T 1136-2016 Tubo sin costura de aleación médica con memoria de forma de níquel-titanio
JB/T 13468-2018 Pruebas no destructivas Método de prueba integrado de memoria magnética de corrientes parásitas

Professional Standard - Non-ferrous Metal, memoria

YS/T 971-2014
YS/T 1064-2015 Terminología para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
YS/T 970-2014
YS/T 969-2014

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, memoria

GB/T 20296-2006 Mnemónicos y símbolos para circuitos integrados.
GB/T 20296-2012 Mnemónicos y símbolos para circuitos integrados.
GB/T 26641-2011 Ensayos no destructivos.Pruebas de memoria magnética.Principios generales
GB/T 12604.10-2011 Ensayos no destructivos. Terminología. Términos utilizados en las pruebas de memoria magnética.
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GB/T 12604.10-2023 Terminología de pruebas no destructivas, Parte 10: Pruebas de memoria magnética
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GB/T 5009.198-2003 Mariscos: método de prueba del ácido domoico en la intoxicación amnésica por mariscos
GB/T 17550.3-1998 Tarjetas de identificación--Tarjetas de memoria óptica--Método de grabación lineal--Parte 3: Propiedades y características ópticas
GB/T 17550.4-2000 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 4: Estructuras de datos lógicas
GB 24627-2009 Especificación estándar para aleaciones forjadas con memoria de forma de níquel-titanio para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
GB/T 17550.2-1998 Tarjetas de identificación--Tarjetas de memoria óptica--Método de grabación lineal--Parte 2: Dimensiones y ubicación del área óptica accesible
GB/T 42516-2023 Método de análisis químico de aleación con memoria de forma a alta temperatura Determinación del contenido de platino Método de precipitación del complejo de tiourea

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, memoria

CNS 10322-1983 Método de prueba de núcleos de ferrita para dispositivos de memoria
CNS 13939-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Características generales
CNS 13940-3-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 3: Propiedades y características ópticas
CNS 13940.3-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 3: Propiedades y características ópticas
CNS 13940-1-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 1:Características físicas
CNS 13940.1-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 1:Características físicas
CNS 13940.2-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 2:Dimensiones y ubicación del área óptica accesible
CNS 13940-2-1997 Tarjetas de identificación-Tarjetas de memoria óptica-Método de grabación lineal-Parte 2:Dimensiones y ubicación del área óptica accesible

Professional Standard - Textile, memoria

FZ/T 43053-2019 Tejido con memoria de forma de fibra de poliéster

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, memoria

GB/T 39985-2021 Placa de aleación con memoria de forma de titanio y níquel
GB/T 26641-2021 Pruebas no destructivas—Pruebas de memoria magnética—Requisitos generales
GB/T 41420-2022 Textiles: determinación y evaluación de la propiedad de memoria de forma.
GB/T 39989-2021 Barra y alambre de aleación superelástica de titanio y níquel con memoria de forma
GB/T 34370.10-2020 Pruebas no destructivas de equipos de entretenimiento. Parte 10: Pruebas de memoria magnética.

Association Francaise de Normalisation, memoria

NF EN 111100:1991 Especificación intermedia: tubos de visualización de memoria
NF EN 111101:1991 Especificación de marco especial: tubos de visualización de memoria
NF A51-080:1991 Aleaciones con memoria de forma (SMA). Vocabulario y medidas.
NF EN 4819:2017 Serie Aeroespacial - Pulsador con memoria de contactos (CMB) para uso aeronáutico
NF L50-004*NF EN 4819:2017 Serie aeroespacial: etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves

CZ-CSN, memoria

CSN 01 3349-1989 Símbolos gráficos para diagramas eléctricos. Unidades de memoria

International Organization for Standardization (ISO), memoria

ISO/IEC 11693:2000 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Características generales
ISO 24497-1:2007 Ensayos no destructivos - Memoria magnética metálica - Parte 1: Vocabulario
ISO/IEC 11694-1:2000 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 1: Características físicas
ISO/IEC 11694-1:2005 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 1: Características físicas
ISO/IEC 11694-1:2012 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 1: Características físicas
ISO/IEC 11694-3:2001 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica; Método de grabación lineal - Parte 3: Propiedades y características ópticas
ISO/IEC 11694-4:2001 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica; Método de grabación lineal - Parte 4: Estructuras de datos lógicas
ISO 24497-2:2020 Ensayos no destructivos. Memoria magnética metálica. Parte 2: Inspección de uniones soldadas.
ISO/IEC 11694-2:2000 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 2: Dimensiones y ubicación del área óptica accesible
ISO/IEC 11694-2:2005 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 2: Dimensiones y ubicación del área óptica accesible

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, memoria

GJB 8518-2015 Especificación para anillos de sujeción de aleación con memoria de forma
GJB 8620-2015 Especificación para varillas de aleación con memoria de forma de níquel-titanio-niobio

Group Standards of the People's Republic of China, memoria

T/QGCML 1174-2023 Especificaciones técnicas de producción de colchones viscoelásticos.
T/HCPA 007-2023 Evaluación de habilidades profesionales del instructor de memoria eficiente
T/GDAQI 011-2019 Método de prueba de memoria magnética para la tensión de una tubería metálica superficial
T/CALAS 74-2019 Animales de laboratorio - Guía para pruebas de comportamiento de aprendizaje y memoria
T/CSBM 0015-2021 Método para evaluar la recuperabilidad de la forma de placas óseas de aleación con memoria de forma de níquel-titanio
T/CSBM 0017-2021 Método de evaluación para evaluar la recuperabilidad de la forma del oclusor cardíaco de aleación con memoria de forma de níquel-titanio
T/CSBM 0016-2021 Método de prueba in vitro para la liberación de iones de níquel de un implante óseo de aleación con memoria de forma de níquel-titanio
T/GAMA 19-2021 Fabricación aditiva: método de prueba para las propiedades de memoria de forma de materiales poliméricos: prueba de flexión
T/GAMA 20-2021 Fabricación aditiva. Método de conducción para la memoria de forma de materiales poliméricos. Método de conducción térmica UV.
T/SDAS 639-2023 Materiales y requisitos de proceso para implantes ortopédicos de aleación de níquel-titanio con memoria de forma fabricados aditivamente
T/CSBM 0018-2021 Método de prueba para evaluar la recuperabilidad de la forma del stent vascular autoexpandible de aleación con memoria de forma de níquel-titanio

U.S. Air Force, memoria

AIR FORCE MIL-W-6873 C NOTICE 1-1997 SOLDADURA; FLASH, ACERO AL CARBONO Y ALEACIÓN
AIR FORCE MIL-W-6873 C-1991 SOLDADURA; FLASH, ACERO AL CARBONO Y ALEACIÓN

American Society for Testing and Materials (ASTM), memoria

ASTM F2005-05 Terminología estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
ASTM F2005-00 Terminología estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
ASTM F2005-05(2010) Terminología estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
ASTM F2005-21 Terminología estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
ASTM F2005-05(2015) Terminología estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio
ASTM E3097-23 Método de prueba estándar para ciclos térmicos de fuerza constante uniaxial de aleaciones con memoria de forma
ASTM F2063-05 Especificación estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio forjado para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM F2063-00 Especificación estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio forjado para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM E3097-17 Método de prueba estándar para ciclos térmicos mecánicos uniaxiales de fuerza constante de aleaciones con memoria de forma
ASTM F2063-12 Especificación estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio forjado para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM F2063-18 Especificación estándar para aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio forjado para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM F2633-07 Especificación estándar para tubos forjados sin costura de aleación con memoria de forma de níquel-titanio para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM E3098-17 Método de prueba estándar para predeformación mecánica uniaxial y recuperación libre térmica de aleaciones con memoria de forma
ASTM F2633-13 Especificación estándar para tubos forjados sin costura de aleación con memoria de forma de níquel-titanio para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM F2082-01 Método de prueba estándar para la determinación de la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio mediante curvatura y recuperación libre
ASTM F2082-15 Método de prueba estándar para la determinación de la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio mediante curvatura y recuperación libre
ASTM F2082/F2082M-16
ASTM F2082/F2082M-23 Standard Test Method for Determination of Transformation Temperature of Nickel-Titanium Shape Memory Alloys by Bend and Free Recovery
ASTM F2082-03 Método de prueba estándar para la determinación de la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio mediante curvatura y recuperación libre
ASTM F2633-19 Especificación estándar para tubos forjados sin costura de aleación con memoria de forma de níquel-titanio para dispositivos médicos e implantes quirúrgicos
ASTM F2082-06 Método de prueba estándar para la determinación de la temperatura de transformación de aleaciones con memoria de forma de níquel-titanio mediante curvatura y recuperación libre

Canadian Standards Association (CSA), memoria

CSA ISO/IEC 11694-6-06:2006 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria óptica Método de registro lineal Parte 6: Uso de datos biométricos en una tarjeta de memoria óptica ISO/IEC 11694-6:2006
CSA ISO/IEC 11693-06:2006 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria ópticas Características generales ISO/IEC 11693:2005
CSA ISO/IEC 10373-5-06:2006 Tarjetas de identificación Métodos de prueba Parte 5: Tarjetas de memoria óptica Segunda edición
CSA ISO/IEC 11694-1-06:2006 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria óptica Método de grabación lineal Parte 1: Características físicas ISO/IEC 11694-1:2005
CSA ISO/IEC-11694-3-02:2002 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria óptica Método de grabación lineal Parte 3: Propiedades y características ópticas iso/iec 11694-3:2001
CSA ISO/IEC-11694-4-02:2002 Tarjetas de identificación - Tarjetas de memoria óptica - Método de grabación lineal - Parte 4: Estructuras de datos lógicas ISO/IEC 11694-4:2001
CSA ISO/IEC 11694-2-06:2006 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria óptica Método de grabación lineal Parte 2: Dimensiones y ubicación del área óptica accesible ISO/IEC 11694-2:2005
CSA ISO/IEC 11694-5-06:2006 Tarjetas de identificación Tarjetas de memoria óptica Parte 5: Formato de datos para el intercambio de información para aplicaciones que utilizan ISO/IEC 11694-4, Anexo B ISO/IEC 11694-5:2006

FI-SFS, memoria

SFS 5233-1986 ASENNUSPUTKET.ITSEST??NPALAUTUVIEN ERISTYSPUTKIEN ERITYISVAATIMUKSET

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, memoria

GJB 5913-2006 Especificación para barras de aleación con memoria de forma de NiTiNb

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, memoria

JEDEC JESD21-C-1998

RU-GOST R, memoria

GOST 21480-1976 Mnemoesquemas del sistema "hombre-máquina". Requisitos ergonómicos generales.
GOST 25492-1982 Memorias de ordenadores digitales. Términos y definiciones
GOST R 52081-2003 Pruebas no destructivas. Método de memoria magnética metálica. Términos y definiciones

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JB/T 11606-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Verificación de instrumentos de memoria magnética metálica.

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TIA-136-005-C-2004 TDMA: Introducción, identificación y memoria semipermanente inalámbricas de tercera generación

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), memoria

ETSI GS LIS 002-2013 Estándares de la industria de localización (LIS); Intercambio de memoria de traducción (TMX) (V1.4.2)

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SN/T 1070-2002 Método para la determinación del veneno amnésico de mariscos en mariscos para importación y exportación.

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YY/T 1771-2021 Método de recuperación sin flexión para probar la temperatura de transición de fase de una aleación con memoria de forma de níquel-titanio

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DS/EN 4819:2012 Serie aeroespacial: etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves

CEN - European Committee for Standardization, memoria

EN 4819:2012 Serie aeroespacial: etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves

German Institute for Standardization, memoria

DIN EN 4819:2012-09 Serie aeroespacial: etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves; Versión alemana e inglesa EN 4819:2012
DIN EN 4819:2012 Serie aeroespacial: etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) destinadas a uso en aeronaves; Versión alemana e inglesa EN 4819:2012

ES-UNE, memoria

UNE-EN 4819:2012 Serie Aeroespacial - Etiquetas de Botón de Memoria de Contacto (CMB) destinadas a uso aeronáutico (Ratificada por AENOR en julio de 2012.)

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NAVY MIL-STD-2217 VALID NOTICE 3-2005 CARGADOR DE MEMORIA/VERIFICADOR INTERFAZ DE BUS MULTIPLEX CON SISTEMAS AVIÓNICOS, REQUISITOS PARA
NAVY MIL-STD-2217 CHG NOTICE 2-2000 CARGADOR DE MEMORIA/VERIFICADOR INTERFAZ DE BUS MULTIPLEX CON SISTEMAS AVIÓNICOS, REQUISITOS PARA

GOSTR, memoria

GOST R ISO 24497-3-2009 Pruebas no destructivas. Método de memoria magnética metálica. Parte 3. Inspección de uniones soldadas.

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ASD-STAN PREN 4819-2011 Etiquetas de botón de memoria de contacto (CMB) de la serie aeroespacial destinadas a uso en aeronaves (Edición P 1)

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Standard Association of Australia （SAA）, memoria

AS ISO/IEC 15962:2006 Tecnología de la información - Identificación por radiofrecuencia (RFID) para la gestión de artículos - Protocolo de datos: reglas de codificación de datos y funciones de memoria lógica

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Professional Standard - Agriculture, memoria

114药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos para mejorar la función cerebral (medicamentos nootrópicos) y fármaco antimemoria Piracetam
112药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Fármacos para el sistema nervioso Sección 7 Fármacos que mejoran la función cerebral (fármacos nootrópicos) y fármacos antimemoria Citicolina
117药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Fármacos para el sistema nervioso Sección 7 Fármacos que mejoran la función cerebral (fármacos nootrópicos) y fármaco antimemoria nicergolina
119药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Fármacos para el sistema nervioso Sección 7 Fármacos que mejoran la función cerebral (fármacos nootrópicos) y fármacos antimemoria Huperzina A
115药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos para mejorar la función cerebral (medicamentos nootrópicos) y medicamentos antimemoria Aniracetam
111药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos que mejoran la función cerebral (medicamentos nootrópicos) y medicamentos contra la memoria Clorhidrato de piritiol
123药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos que mejoran la función cerebral (fármacos nootrópicos) y fármacos antimemoria clorhidrato de memantina
113药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos que mejoran la función cerebral (medicamentos nootrópicos) y medicamentos contra la memoria Clorhidrato de meclofenoxato
120药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos que mejoran la función cerebral (medicamentos nootrópicos) y medicamentos contra la memoria Clorhidrato de donepezilo
122药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 1 Medicamentos para el sistema nervioso Sección 7 Medicamentos para mejorar la función cerebral (fármacos nootrópicos) y antimemoria Bromhidrato de galantamina