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Analizador de espectro remoto

Analizador de espectro remoto, Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Analizador de espectro remoto son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Optoelectrónica. Equipo láser, Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Química analítica, Minerales metalíferos, Químicos orgánicos, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Metales no ferrosos, Educación, Componentes electrónicos en general., Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Calidad, pruebas de metales, Combustibles, Centrales eléctricas en general, Fotografía, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Productos de hierro y acero., Equipo óptico, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Materiales de construcción, Metales ferrosos, Refractarios, Pruebas no destructivas, Productos de la industria química., Medidas lineales y angulares., ingeniería de energía nuclear, Ferroaleaciones, Joyería, Compatibilidad electromagnética (CEM), Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Corrosión de metales.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador de espectro remoto

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico

U.S. Air Force, Analizador de espectro remoto

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

International Electrotechnical Commission (IEC), Analizador de espectro remoto

IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico

European Committee for Standardization (CEN), Analizador de espectro remoto

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
prEN ISO 23674:2021 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica - Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO/DIS 23674:2021)

Association Francaise de Normalisation, Analizador de espectro remoto

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros de canales múltiples. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
T01-040:1982 Métodos espectroscópicos analíticos. Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica. Vocabulario.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Analizador de espectro remoto

KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2553-2015(2020) Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2568-2019 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS B ISO 14490-3-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 3: Métodos de prueba para miras telescópicas.
KS D 1681-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS D 2086-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de titanio.
KS D 1684-2008(2018) Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 2086-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS D 2518-2015(2020) Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS B ISO 14490-3:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Métodos de prueba para sistemas telescópicos－Parte 3:Métodos de prueba para miras telescópicas
KS D 1899-2003 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de cobre de cátodo electrolítico.
KS D 1683-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
KS D 1681-2018 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS D 1650-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS D 1899-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
KS D 1929-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
KS D 1929-2004 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
KS D 2597-1996(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D 1685-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de zinc metálico.
KS D 1687-2007 Análisis espectroscópico de emisión de arrabio y hierro fundido.
KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D 1852-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS E 3075-2002 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1852-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS D 1852-2020 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS D 1655-2008(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D 1679-1993 Métodos para el análisis espectrométrico de absorción atómica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS E 3075-2017 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1686-2011(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS E 3075-2022 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1929-2009 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de aleaciones de zinc fundidas a presión.
KS D 1929-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de aleación de zinc de fundición a presión
KS D 1679-2008 Métodos para el análisis espectrométrico de absorción atómica de aluminio y aleaciones de aluminio.
KS D 1899-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de cobre de cátodo electrolítico.
KS D 1652-2022 Hierro y acero. Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica por descarga de chispas.
KS D 1652-2007(2017) Hierro y acero－Método para análisis espectrométrico de emisión atómica por descarga de chispas
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D 2597-1996(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Analizador de espectro remoto

JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica. Métodos de prueba. Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba del analizador de espectro óptico.
JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
JIS B 7263-4:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 4: Métodos de prueba para telescopios astronómicos.
JIS H 1683:2002 Tantalio - Método de análisis espectrométrico de absorción atómica
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
JIS G 1202:1975 Normas generales sobre análisis espectroscópico de emisiones para el hierro y el acero
JIS G 1257:1994 Hierro y acero - Métodos de análisis espectrométrico de absorción atómica
JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
JIS H 1163:1991 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
JIS H 1113:2022 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del zinc metálico.
JIS H 1303:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
JIS H 1322:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de magnesio.
JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
JIS B 7263-3:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 3: Métodos de prueba para miras telescópicas.
JIS C 6122-1-2:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
JIS H 1183 AMD 1:2012 Método de análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata (Enmienda 1)
JIS G 1251:1976 Análisis espectroscópico de emisión de arrabio y hierro fundido.
JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS H 1305:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS C 6122-10-4:2012 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
JIS H 1306:1992 Métodos para el análisis espectrométrico de absorción atómica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS R 2216:1995 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos refractarios y morteros refractarios.
JIS B 7263-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 1: Métodos de prueba para características básicas.
JIS H 1291:1977 Método para el análisis espectroquímico de absorción atómica de cobre y aleaciones de cobre.
JIS H 1306:1999 Métodos para el análisis espectrométrico de absorción atómica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS G 1257 AMD 1:1999 Hierro y acero - Métodos de análisis espectrométrico de absorción atómica (Enmienda 1)
JIS K 0121:1993 Reglas generales para el análisis espectroquímico de absorción atómica.
JIS B 7263-2:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 2: Métodos de prueba para sistemas binoculares.
JIS G 1252:1975 Análisis espectroscópico de emisiones para acero al carbono y acero de baja aleación.

British Standards Institution (BSI), Analizador de espectro remoto

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
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BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
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BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
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BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
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BS EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico

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DS/EN 61290-3-2:2008
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National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Analizador de espectro remoto

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GB/T 8152.11-2006 Métodos de análisis químico de concentrados de plomo. Determinación del contenido de mercurio. Método del espectrómetro de fluorescencia atómica.
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GB/T 4325.3-2013 Métodos de análisis químico del molibdeno.Parte 3:Determinación del contenido de bismuto.Espectrometría de fluorescencia atómica
GB/T 4325.4-2013 Métodos de análisis químico del molibdeno.Parte 4:Determinación del contenido de estaño.Espectrometría de fluorescencia atómica
GB/T 4325.5-2013 Métodos de análisis químico del molibdeno.Parte 5:Determinación del contenido de antimonio.Espectrometría de fluorescencia atómica
GB/T 4325.6-2013 Métodos de análisis químico del molibdeno.Parte 6:Determinación del contenido de arsénico.Espectrometría de fluorescencia atómica

ZA-SANS, Analizador de espectro remoto

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IS 2271-1967 MÉTODO RECOMENDADO PARA EL ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DEL PLATINO
IS 11035-1984 MÉTODO PARA EL ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DE ALEACIONES DE ALUMINIO FORJADO
IS 8858-1978 MÉTODO PARA EL ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DE LINGOTES DE PLATA FINA (GRADOS 9999 Y 999)

Lithuanian Standards Office , Analizador de espectro remoto

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LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
LST EN 61290-1-1-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006).
LST EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).
LST EN 61290-3-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008).
LST EN 61290-10-1-2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009).
LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
LST EN 61290-10-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007).
LST EN 61290-10-4-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007).
LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)

German Institute for Standardization, Analizador de espectro remoto

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
DIN ISO 14490-3:2004 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 3: Métodos de prueba para miras telescópicas (ISO 14490-3:2004)
DIN EN 61290-3-2:2009-06 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008); Versión alemana EN 61290-3-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-3-2 (2003-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2011-10-01....
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN IEC 61290-1-1:2019 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 86C/1563/CD:2018); Texto en alemán e inglés.
DIN EN 61290-10-2:2008-07 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-10-2 (2004-02) sigue siendo válida junto con esta norma...
DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020); Versión alemana EN IEC 61290-1-1:2020 / Nota: DIN EN 61290-1-1 (2016-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023-10...
DIN EN 61290-1-2:2006-07 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005 / Nota: DIN EN 61290-1-2 (1999-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2008-10-0...
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN ISO 14490-5:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 5: Métodos de prueba para transmitancia (ISO 14490-5:2005); versión en inglés de DIN ISO 14490-5:2007-06.
DIN EN 61290-5-2:2004-12 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
DIN EN 61290-10-4:2008-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61291...
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

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ANSI/ASTM D6645:2001 Métodos de prueba para el contenido de metilo (comonómero) en polietileno mediante espectrofotometría infrarroja
ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

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GOST 15483.10-2004 Estaño. Métodos de análisis espectral de emisiones atómicas.
GOST 12228.1-1978 Rutenio. Método de análisis espectral.
GOST 15483.10-1978 Estaño. Métodos espectrales para la determinación de bismuto, hierro, cobre, arsénico, plomo, antimonio, zinc y aluminio.
GOST 12552.2-1977 Aleaciones de platino-níquel. Método de análisis espectral.
GOST 27981.1-2015 Cobre de alta pureza. Método de análisis atómico-espectral.
GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
GOST 23116.0-1983 Cadmio de alta pureza. Requisitos generales para los métodos de análisis espectral.
GOST 27981.3-1988 Cobre de alta pureza. Método de análisis espectral de emisión con registro fotoeléctrico del espectro / Nota: Será reemplazado por GOST 31382 (2009).

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EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
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EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
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EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
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ES-UNE, Analizador de espectro remoto

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UNE-EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-2: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante un analizador de espectro óptico controlado (Ratificado por AENOR en mayo de 2008.)
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SJ/Z 3206.13-1989 Reglas generales para el análisis del espectro de emisión de materiales semiconductores.
SJ/Z 3206.5-1989 Métodos de tratamiento para fotografías de placas y películas sensibilizadas para análisis químicos utilizando espectro.
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ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
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TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-1 - Especificaciones básicas Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
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