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Oscilador líquido

Oscilador líquido, Total: 381 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Oscilador líquido son: Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Equipos para la industria química., Equipos para la industria del caucho y del plástico., Filtros electricos, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Materiales para la construcción aeroespacial., Odontología, Componentes electrónicos en general., Pruebas ambientales, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Dispositivos semiconductores, Goma, Horología, Medición del tiempo, velocidad, aceleración, velocidad angular., Petróleo crudo, Combustibles, Óptica y medidas ópticas., Circuitos integrados. Microelectrónica, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Vibraciones y golpes con respecto a los seres humanos., Mediciones de vibraciones, golpes y vibraciones., Residuos, Centrales eléctricas en general, Calidad del agua, Maquinaria rotativa, Física. Química, Productos de la industria química., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Adhesivos, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Productos petrolíferos en general, Vocabularios, Transformadores. reactores, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Compatibilidad electromagnética (CEM), Sistemas de lubricación, Plástica, Pruebas eléctricas y electrónicas., Medición del flujo de fluido., Componentes para equipos eléctricos., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Calidad, Química analítica.


Association Francaise de Normalisation, Oscilador líquido

  • NF EN ISO 15212-2:2002 Densímetros oscilantes - Parte 2: instrumentos industriales para líquidos homogéneos
  • NF B35-212-2*NF EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • NF EN 60679-6:2011 Osciladores accionados por cristal de calidad garantizada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • NF EN ISO 15212-1:1999 Densímetros oscilantes - Parte 1: instrumentos de laboratorio
  • NF T43-015:2009 Caucho - Medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante.
  • NF M08-016:1992 Petróleo y productos petrolíferos líquidos. Determinación de densidad con fines metrológicos. Método de frecuencia de oscilación.
  • NF M07-096:2000 Emulsiones de agua en diésel - Determinación de la densidad - Método del tubo en U oscilante
  • NF T46-017-2*NF ISO 6502-2:2018 Caucho. Medición de las características de vulcanización mediante curómetros. Parte 2: curómetro de disco oscilante.
  • NF ISO 6502-2:2018 Caucho. Medición de las características de vulcanización mediante reómetros. Parte 2: reómetro de disco oscilante.
  • NF T43-015:1996 Caucho - Medición de las características de vulcanización con el curemetro oscilante.
  • NF E90-403:2005 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentación de medida.
  • NF C96-016-5*NF EN 60747-16-5:2014 Dispositivos semiconductores. Parte 16-5: circuitos integrados de microondas. Osciladores.
  • NF EN 60747-16-5/A1:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • NF EN 60747-16-5:2014 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - osciladores
  • NF M08-016:2005 Petróleo y productos petrolíferos líquidos - Determinación de la densidad con fines metrológicos - Método de frecuencia de oscilación.
  • NF M08-016:2014 Petróleo y productos petrolíferos líquidos. Determinación de la densidad con fines metrológicos. Método de frecuencia de oscilación.
  • NF C93-611:1975 Componentes para equipos electrónicos. Dispositivos piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • NF C93-620-1:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: especificación genérica
  • UTE C93-611U*UTE C93-611:1975 Componentes para equipos eléctricos. Dispositivos piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • NF EN 60679-4-1:1999 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 4-1: especificación del marco particular. Aprobación del know-how.
  • NF EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 3: dimensiones estandarizadas y conexiones de salida
  • NF E90-403-1*NF EN ISO 8041-1:2017 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentos de medición - Parte 1: medidores de vibraciones de uso general
  • NF C93-620-4*NF EN 60679-4:1999 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: especificación seccional. Aprobación de capacidad.

Danish Standards Foundation, Oscilador líquido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Oscilador líquido

  • KS B ISO 15212-2-2006(2021) Densímetros de tipo oscilación -Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • KS B ISO 15212-2-2006(2016) Densímetros de tipo oscilación -Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • KS B ISO 15212-2:2006 Densímetros de tipo oscilación -Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • KS C 6503-1999 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • KS C 6503-1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • KS C IEC 60679-2:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-2-2023 Oscilador de cristal de cuarzo, parte 2: una guía para usar un oscilador de cristal de cuarzo
  • KS C 6509-1991 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • KS C 6508-2013 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
  • KS C 6509-1991(2011) Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • KS C 6504-1987 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
  • KS C 6508-1990 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
  • KS B ISO 15212-1:2006 Densímetros de tipo oscilación-Parte 1: Instrumentos de laboratorio
  • KS B ISO 15212-1-2006(2016) Densímetros de tipo oscilación-Parte 1: Instrumentos de laboratorio
  • KS B ISO 15212-1-2006(2021) Densímetros de tipo oscilación-Parte 1: Instrumentos de laboratorio
  • KS C IEC 60679-6:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • KS C IEC 60679-6-2023 Osciladores de cristal de cuarzo calificados, Parte 6: Directrices de aplicación para métodos de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores de ondas acústicas de superficie
  • KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
  • KS M ISO 3417-2012(2022) Caucho-Medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante
  • KS C 6509-2013 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • KS C 6508-1990(2010) Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
  • KS B ISO 8041:2013 Respuesta humana a la vibración-Instrumentos de medición
  • KS C IEC 62860-1:2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • KS B ISO 4868-2003(2008) Código para la medición y notificación de datos de vibraciones locales de la estructura y el equipo del buque
  • KS C IEC 60679-5:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
  • KS C IEC 60679-4:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
  • KS C IEC 60679-4-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 4: Certificación de competencia según las especificaciones del segmento
  • KS C IEC 60679-5-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 5: Calificación de especificación parcial
  • KS B ISO 8041-1:2019 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medición. Parte 1: Medidores de vibraciones de uso general.
  • KS C IEC 60679-3:2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.

German Institute for Standardization, Oscilador líquido

  • DIN EN ISO 15212-2 Berichtigung 1:2009-07 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002); Versión alemana EN ISO 15212-2:2002, corrección de errores según DIN EN ISO 15212-2:2002-07; Versión alemana EN ISO 15212-2:2002/AC:2009
  • DIN EN ISO 15212-2:2002-07 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002); Versión alemana EN ISO 15212-2:2002
  • DIN IEC 60679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN ISO 15212-1 Berichtigung 1:2009-07 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998); Versión alemana EN ISO 15212-1:1999, corrección de errores según DIN EN ISO 15212-1:1999-06; Versión alemana EN ISO 15212-1:1999/AC:2009
  • DIN EN ISO 15212-1:1999-06 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998); Versión alemana EN ISO 15212-1:1999
  • DIN IEC 60679-2:1997-09 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación (IEC 60679-6:2011); Versión alemana EN 60679-6:2011
  • DIN EN 169200:1996-05 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169200:1995
  • DIN EN ISO 8041:2006 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentos de medida (ISO 8041:2005); Versión en inglés de DIN EN ISO 8041:2006-06
  • DIN 53513:1990 Determinación de las propiedades viscoelásticas de elastómeros expuestos a vibraciones forzadas a frecuencias no resonantes.
  • DIN EN 60747-16-5:2021-08 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Versión alemana EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Nota: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023...
  • DIN EN 169201:1996-05 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169201:1995
  • DIN EN 60679-1:2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica (IEC 60679-1:2007); Versión alemana EN 60679-1:2007
  • DIN EN 60679-5:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional; aprobación de calificación (IEC 60679-5:1998); Versión alemana EN 60679-5:1998
  • DIN 53019-4:2016 Reometría - Medición de propiedades reológicas utilizando reómetros rotacionales - Parte 4: Reología oscilatoria
  • DIN 53019-4:2016-10 Reometría - Medición de propiedades reológicas utilizando reómetros rotacionales - Parte 4: Reología oscilatoria
  • DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 47E/649/CD:2019); Texto en alemán e inglés.
  • DIN EN ISO 8041-1:2017-10 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medición. Parte 1: Medidores de vibraciones de uso general (ISO 8041-1:2017); Versión alemana EN ISO 8041-1:2017
  • DIN EN 60679-4:1998-11 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998
  • DIN EN 60679-4-1:1998-12 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4-1: Especificación detallada del blanco; aprobación de capacidad (IEC 60679-4-1:1998); Versión alemana EN 60679-4-1:1998 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 60679-1 (2008-02), DIN EN 60679-4 (1...
  • DIN EN 60679-5-1:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificación detallada del blanco; aprobación de calificación (IEC 60679-5-1:1998); Versión alemana EN 60679-5-1:1998 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
  • DIN 51810-4:2021 Ensayos de lubricantes: determinación de la consistencia de grasas lubricantes saponificadas con metales mediante un reómetro oscilatorio con sistema de cono/placa.
  • DIN 51810-4:2021-04 Ensayos de lubricantes: determinación de la consistencia de grasas lubricantes saponificadas con metales mediante un reómetro oscilatorio con sistema de cono/placa.
  • DIN EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998

ES-UNE, Oscilador líquido

  • UNE-EN ISO 15212-2:2002/AC:2010 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
  • UNE-EN ISO 15212-1:1999/AC:2010 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
  • UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
  • UNE-EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (Ratificada por AENOR en octubre de 2013.)
  • UNE-EN ISO 8041-1:2018 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medición. Parte 1: Medidores de vibraciones de uso general (ISO 8041-1:2017).
  • UNE-EN 60679-4:1998 OSCILADORES CONTROLADOS POR CRISTAL DE CUARZO DE CALIDAD EVALUADA. PARTE 4: ESPECIFICACIÓN SECTORIAL. APROBACIÓN DE CAPACIDAD. (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)
  • UNE-EN 60679-5:1998 OSCILADORES CONTROLADOS POR CRISTAL DE CUARZO DE CALIDAD EVALUADA. PARTE 5: ESPECIFICACIÓN SECCIONAL. APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN (Ratificada por AENOR en noviembre de 1998.)

未注明发布机构, Oscilador líquido

  • BS EN ISO 15212-2:2002(2009) Oscilación - medidores de densidad tipo - Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • DIN IEC 679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo; Parte 2; Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • BS EN ISO 15212-1:1999(2009) Oscilación - densímetros tipográficos. Parte 1: Instrumentos de laboratorio.

Professional Standard - Education, Oscilador líquido

工业和信息化部, Oscilador líquido

International Organization for Standardization (ISO), Oscilador líquido

  • ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
  • ISO 15212-2:2002/cor 1:2008 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos; Corrigendum técnico 1
  • ISO 15212-1:1998 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 1: Instrumentos de laboratorio
  • ISO 3159:2009 Instrumentos de cronometraje - Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte
  • ISO 3159:1976 Instrumentos de cronometraje; Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte.
  • ISO 8041:2005 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentos de medida
  • ISO 8041:1990 Respuesta humana a la vibración; instrumentación de medición
  • ISO 15212-1:1998/cor 1:2008 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio; Corrigendum técnico 1
  • ISO 8041:1990/Amd 1:1999 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentos de medida; Enmienda 1
  • ISO 8041:1990/Cor 1:1993 Respuesta humana a la vibración; instrumentación de medición; corrección técnica 1
  • ISO 23350:2021 Hidrometría: medidores de medición de precipitación líquida de tipo captador

European Committee for Standardization (CEN), Oscilador líquido

  • EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002)
  • EN ISO 15212-2:2002/AC:2009 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
  • EN ISO 15212-1:1999 Densímetros de tipo oscilación - Parte 1: Instrumentos de laboratorio
  • EN ISO 15212-1:1999/AC:2009 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
  • EN ISO 8041:2005 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medida (ISO 8041:2005)
  • DD ENV 28041-1993 Respuesta humana a las vibraciones: instrumentos de medición (ISO 8041: 1990)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Oscilador líquido

  • CNS 12253-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 1 MHz - 125 MHz)
  • CNS 12254-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200-1000 kHz)
  • CNS 12256-1988 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
  • CNS 11624-1986 Unidad de Cristal Cuarzo CR-84/U para Radio Oscilación
  • CNS 3770-1989 Dimensiones y devanado del transformador de frecuencia intermedia y la bobina del oscilador para radio de transistores

British Standards Institution (BSI), Oscilador líquido

  • BS EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos.
  • BS EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Método de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Pautas de solicitud
  • BS ISO 3159:2009 Instrumentos de cronometraje. Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte.
  • BS ISO 3159:2010 Instrumentos de cronometraje - Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte
  • BS EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados de microondas. Osciladores
  • BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Osciladores
  • BS ISO 6502-2:2018 Cambios rastreados. Goma. Medición de las características de vulcanización mediante curómetros. Curímetro de disco oscilante
  • BS EN 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación genérica
  • BS EN ISO 8041:2005 Respuesta humana a las vibraciones - Instrumentos de medida
  • BS EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • BS IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos.
  • BS 9620:1975 Especificación para osciladores de cristal de cuarzo de calidad evaluada: datos genéricos y métodos de prueba.
  • BS EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Contornos estándar y conexiones de cables.
  • 19/30387856 DC BS EN 17408. Determinación de la fluidez y comportamiento de aplicación de adhesivos viscoelásticos mediante reometría oscilatoria.
  • BS ISO 6721-10:2001 Plásticos - Determinación de propiedades mecánicas dinámicas - Viscosidad de corte compleja utilizando un reómetro oscilatorio de placas paralelas
  • BS 9625:1983 Especificación detallada en blanco para osciladores de cristal de cuarzo de calidad evaluada: nivel de evaluación completo
  • BS EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación seccional. Aprobación de capacidad
  • BS EN 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación seccional. Aprobación de calificación
  • BS EN 169101:1995 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
  • BS EN 169100:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación seccional: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
  • 19/30393894 DC BS EN 60747-16-5 AMD1. Dispositivos semiconductores. Parte 16-5. Circuitos integrados de microondas. Osciladores
  • BS EN 169000:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica. Osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • BS EN 60679-4-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de capacidad
  • BS EN 60679-5-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de calificación

Lithuanian Standards Office , Oscilador líquido

  • LST EN ISO 15212-2:2003 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002)
  • LST EN ISO 15212-2:2003/AC:2009 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002/Cor 1:2008)
  • LST EN 60679-6-2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación (IEC 60679-6:2011).
  • LST EN 169000+A1-2001 Especificación genérica: osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • LST EN ISO 15212-1:2000 Densímetros de tipo oscilación. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998)
  • LST EN 168200-2002/A1-2005 Especificación seccional. Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
  • LST EN 168200-2002 Especificación seccional. Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
  • LST EN 169100-2003 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
  • LST EN 168201-2001 Especificación detallada en blanco. Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
  • LST EN 168101-2001 Especificación detallada en blanco. Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
  • LST EN ISO 15212-1:2000/AC:2009 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998/Cor 1:2008)
  • LST EN 169101-2003 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
  • LST EN 17408-2020 Determinación de la fluidez y comportamiento de aplicación de adhesivos viscoelásticos mediante reometría oscilatoria.
  • LST EN ISO 8041:2005 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medida (ISO 8041:2005)
  • LST EN 60679-1-2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica (IEC 60679-1:2007)
  • LST EN 60747-16-5/A1-2020 Dispositivos semiconductores. Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas. Osciladores (IEC 60747-16-5:2013/A1:2020)

Defense Logistics Agency, Oscilador líquido

AENOR, Oscilador líquido

  • UNE-EN ISO 15212-2:2003 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos. (ISO 15212-2:2002)
  • UNE-EN ISO 15212-1:1999 MEDIDORES DE DENSIDAD DE TIPO OSCILACIÓN. PARTE 1: INSTRUMENTOS DE LABORATORIO (ISO 15212-1:1999)
  • UNE-EN ISO 8041:2006 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medida (ISO 8041:2005)

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Oscilador líquido

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Oscilador líquido

  • JIS T 5504:2021 Instrumentos dentales rotatorios y oscilantes - Mangos
  • JIS C 6701:1995 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • JIS C 6710:1995 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • JIS C 6710:1999 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
  • JIS C 6710:2007 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
  • JIS K 6296-2:2023 Caucho - Medición de las características de vulcanización usando curómetros - Parte 2: Curímetro de disco oscilante

TR-TSE, Oscilador líquido

  • TS 2319-1976 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores
  • TS 3436-1979 GOMA - MEDICIÓN DE LAS CARACTERÍSTICAS DE VULCANIZACIÓN CON EL CURÍMETRO DE DISCO OSCILANTE
  • TS 2268-1976 Soportes de unidades de cristal de cuarzo para osciladores y conectores de clavijas

Professional Standard - Electron, Oscilador líquido

  • SJ/Z 9155.2-1987 Oscilador de cristal de cuarzo Parte 2: Guía para el uso del oscilador de cristal de cuarzo
  • SJ 1852-1981 Términos para osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • SJ 51648/5-1997 Tipo ZC 503, osciladores, cristal, especificación detallada para
  • SJ/T 10638-1995 Métodos de medición para osciladores de cristal de cuarzo.
  • SJ 51648.4-1995 Oscilador, cristal, tipo ZC505E, especificación detallada para
  • SJ 51648/1-1994 Oscilador, cristal, especificación detallada tipo ZF507 para
  • SJ 51648/2-1994 Oscilador, tipo cristal ZD509, especificación detallada para
  • SJ/T 9570.3-1995 Estándar de clasificación de calidad para osciladores de cristal de cuarzo
  • SJ 51648/3-1994 Oscilador, cristal, tipo ZC505 (A ~ D) especificación detallada para
  • SJ 2073-1982 Núcleos para transformadores IF y bobinas osciladoras de onda media de receptores de radio transistores
  • SJ/T 11256-2001 Osciladores controlados ctratales de cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica
  • SJ/T 10685-1995 Transformadores de frecuencia intermedia y bobinas de oscilador para receptores de radiodifusión con modulación de amplitud transistorizada.
  • SJ/T 11257-2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional Aprobación de calificación.
  • SJ 2072-1982 Núcleos para transformadores IF de transistores y para bobinas de osciladores de onda corta de receptores de radio.
  • SJ/Z 9155.1-1987 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.

International Electrotechnical Commission (IEC), Oscilador líquido

  • IEC 60679-2:1981 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • IEC PAS 60679-6:2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
  • IEC 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
  • IEC 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • IEC 60679-1:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
  • IEC 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
  • IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • IEC 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • IEC 60679-3:1989 Osciladores controlados por cristal de cuarzo; parte 3: contornos estándar y conexiones de cables
  • IEC 60679-1/AMD1:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 1
  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Corrigendum 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • IEC 60679-1:1980 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
  • IEC 60679-1/AMD1:1985 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
  • IEC 60679-4:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
  • IEC 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
  • IEC 60679-1/AMD2:2003 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 2

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Oscilador líquido

  • GB/T 32710.13-2016
  • GB 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo Especificación genérica para
  • GB/T 12275-1990 La regla de designación de tipo para osciladores de cristal de cuarzo.
  • GB 12275-1990 Nomenclatura del modelo de oscilador de cristal de cuarzo
  • GB/T 9869-1997 Caucho: medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante.
  • GB/T 9869-2014 Caucho. Medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante.
  • GB/T 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo: especificación genérica para
  • GB 5086.2-1997 Norma de método de prueba para la toxicidad de la lixiviación de desechos sólidos: procedimiento de extracción por vibración horizontal
  • GB/T 20870.5-2023 Dispositivos semiconductores Parte 16-5: Osciladores de circuito integrado de microondas
  • GB/T 12274.1-2012 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica
  • GB/T 23716-2009 Respuesta humana a la vibración. Instrumentación de medición.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Oscilador líquido

  • JJG 180-2002 Regulación de verificación de osciladores de cristal dentro de instrumentos de medición eléctricos.
  • JJG(电子) 01002-1989 Regulaciones de verificación del oscilador de cristal controlado por voltaje QF16101GAJF 5MHz
  • JJG 1058-2010 Reglamento de Verificación de Densímetros de Líquidos Tipo Oscilación de Laboratorio
  • JJG 370-2019 Medidores de densidad de líquidos de tubo oscilante en línea

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Oscilador líquido

  • JJF 1984-2022 Especificación para la calibración de osciladores de cristal de cuarzo en instrumentos de medición electrónicos.
  • JJF(机械) 1013-2018 Especificación de calibración para el probador de interferencias de corriente oscilante por impulso
  • JJF(机械)1013-2018 Especificación de calibración para el probador de interferencias de corriente oscilante por impulso
  • JJF 1866-2020 Especificación de calibración para medidores electrónicos de densidad de líquidos de tipo oscilación de inmersión

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Oscilador líquido

  • GJB 1648-1993 Especificaciones generales para osciladores de cristal.
  • GJB 1648-2-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
  • GJB 1648A-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
  • GJB 1648/1-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal tipo ZA511 (ZPB-5)
  • GJB 1648/2-2011 Especificación detallada para osciladores de cristal con compensación de temperatura tipo ZC547(ZWB-1)
  • GJB/Z 45.2-1993 Oscilador de cristal de espectro de serie de dispositivos piezoeléctricos militares
  • GJB 1648/3-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal con compensación de temperatura tipo ZC545 (ZWC-6B-1/2)

KR-KS, Oscilador líquido

  • KS C IEC 60679-2-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-6-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • KS B ISO 3159-2008 Instrumentos de cronometraje-Cronómetros de muñeca con oscilador de equilibrio de resorte
  • KS C IEC 60679-6-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • KS C IEC 62860-1-2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • KS C IEC 62860-1-2018(2023) Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • KS B ISO 8041-2013 Respuesta humana a la vibración-Instrumentos de medición
  • KS C IEC 60679-4-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
  • KS C IEC 60679-5-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
  • KS B ISO 8041-1-2019 Respuesta humana a las vibraciones. Instrumentos de medición. Parte 1: Medidores de vibraciones de uso general.
  • KS C IEC 60679-5-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
  • KS C IEC 60679-4-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
  • KS C IEC 60679-3-2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.

Group Standards of the People's Republic of China, Oscilador líquido

U.S. Military Regulations and Norms, Oscilador líquido

  • ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,2 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, HCMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
  • ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
  • ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, Sello Hermético, Onda Cuadrada, TTL
  • ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 450 KHz a 100 MHz, Sello Hermético, CMOS de Bajo Voltaje
  • ARMY QPL-55310-70-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY QPL-55310-71-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY QPL-55310-74-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHZ HASTA 85 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
  • ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, controlado por cristal, tipo 1 (oscilador de cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, sello hermético, onda cuadrada, CMOS de alta velocidad
  • ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,544 MHZ HASTA 125 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
  • ARMY QPL-55310-69-2006
  • ARMY QPL-55310-76-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY QPL-55310-81-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY QPL-55310-83-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY QPL-55310-84-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
  • ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
  • ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 50 Hz HASTA 50 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
  • ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,01 Hz HASTA 15,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 25 MHz HASTA 175 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, LÓGICA EMISOR ACOPLADO
  • ARMY MIL-PRF-55310/30 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 450 kHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
  • ARMY MIL-PRF-55310/12 H-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,05 MHz HASTA 10 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/37 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/27 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
  • ARMY MIL-PRF-55310/32 B-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1.544 MHz HASTA 125 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
  • ARMY MIL-PRF-55310/31 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,75 MHz HASTA 200 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
  • ARMY MIL-PRF-55310/33 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/34 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
  • ARMY MIL-PRF-55310/38 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
  • ARMY MIL-PRF-55310/35 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/36 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/39 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
  • ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS

SE-SIS, Oscilador líquido

IEC - International Electrotechnical Commission, Oscilador líquido

  • PAS 60679-6-2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada – Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW – Guía de aplicación (Edición 1.0)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Oscilador líquido

  • EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
  • EN 169200:1995 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
  • EN 169201:1995 Especificación detallada en blanco: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
  • EN 60679-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica (Incorpora la Enmienda A1: 2002)

PL-PKN, Oscilador líquido

  • PN T01029-1985
  • PN-EN 17408-2021-02 E Determinación de la fluidez y comportamiento de aplicación de adhesivos viscoelásticos mediante reometría oscilatoria.
  • PN N01355-1991 Vibraciones. Instrumentación de medición para medir la respuesta humana a las vibraciones. Requisitos y pruebas

American Water Works Association (AWWA), Oscilador líquido

American National Standards Institute (ANSI), Oscilador líquido

  • ANSI/AWWA C713-2015 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
  • ANSI/IEEE 1620.1:2006 Norma para métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos

VN-TCVN, Oscilador líquido

  • TCVN 6094-2010 Caucho. Medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante.

RO-ASRO, Oscilador líquido

  • STAS 9294-1982 HUBBEH Medición de las características de vulcanización con curómetro de disco oscilante
  • STAS SR ISO 3159:1994 Instrumentos de cronometraje. Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte.

European Standard for Electrical and Electronic Components, Oscilador líquido

  • EN 169000:1992 Especificación genérica: osciladores controlados por cristal de cuarzo.

Professional Standard - Aerospace, Oscilador líquido

  • QJ 3047-1998 Especificaciones detalladas para osciladores de cristal controlados por voltaje Z602
  • QJ 3046-1998 Especificaciones detalladas para osciladores de cristal controlados por voltaje Z601
  • QJ 2658-1994 Especificación detallada para el oscilador de frecuencia principal MF05 del circuito integrado semiconductor TTL-megahercios

YU-JUS, Oscilador líquido

  • JUS G.S2.118-1984 Goma. Medición de las características de vulcanización con el curemetro de disco oscilante.

CZ-CSN, Oscilador líquido

IN-BIS, Oscilador líquido

  • IS 9018-1978 REQUISITOS GENERALES Y PRUEBAS PARA OSCILADORES DE CRISTAL DE CUARZO
  • IS 2916 Pt.9-1976 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅸ TIPO AA-08
  • IS 2916 Pt.8-1976 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅷ TIPO AA-07
  • IS 2916 Pt.10-1977 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅹ TIPO AA-09

United States Navy, Oscilador líquido

American Society for Testing and Materials (ASTM), Oscilador líquido

  • ASTM D7271-06(2012) Método de prueba estándar para las propiedades viscoelásticas del vehículo de tinta en pasta utilizando un reómetro oscilatorio
  • ASTM D7483-21 Método de prueba estándar para la determinación de la viscosidad dinámica y la viscosidad cinemática derivada de líquidos mediante un viscosímetro de pistón oscilante
  • ASTM D7483-20a Método de prueba estándar para la determinación de la viscosidad dinámica y la viscosidad cinemática derivada de líquidos mediante un viscosímetro de pistón oscilante
  • ASTM D7483-20 Método de prueba estándar para la determinación de la viscosidad dinámica y la viscosidad cinemática derivada de líquidos mediante un viscosímetro de pistón oscilante
  • ASTM D7483-13a(2017) Método de prueba estándar para la determinación de la viscosidad dinámica y la viscosidad cinemática derivada de líquidos mediante un viscosímetro de pistón oscilante
  • ASTM D3987-85(2004) Método de prueba estándar para la extracción por agitación de residuos sólidos con agua
  • ASTM D3987-85(1999) Método de prueba estándar para la extracción por agitación de residuos sólidos con agua
  • ASTM D2084-07 Método de prueba estándar para la vulcanización de propiedades del caucho utilizando un medidor de curado de disco oscilante
  • ASTM D2084-01 Método de prueba estándar para la vulcanización de propiedades del caucho utilizando un medidor de curado de disco oscilante
  • ASTM D3987-06 Método de prueba estándar para la extracción por agitación de residuos sólidos con agua
  • ASTM D3987-12 Práctica estándar para la extracción por batido de residuos sólidos con agua
  • ASTM D7271-06(2020) Método de prueba estándar para las propiedades viscoelásticas del vehículo de tinta en pasta utilizando un reómetro oscilatorio
  • ASTM D2084-11 Método de prueba estándar para las propiedades del caucho; vulcanización mediante un medidor de curado de disco oscilante
  • ASTM D7271-06 Método de prueba estándar para las propiedades viscoelásticas del vehículo de tinta en pasta utilizando un reómetro oscilatorio
  • ASTM D2981-94(1998) Método de prueba estándar para determinar la vida útil de lubricantes de película sólida en movimiento oscilante
  • ASTM D2981-94(2019) Método de prueba estándar para determinar la vida útil de lubricantes de película sólida en movimiento oscilante
  • ASTM D7217-11 Método de prueba estándar para determinar las propiedades de presión extrema de películas unidas sólidamente utilizando una máquina de prueba de oscilación lineal (SRV) de alta frecuencia

Professional Standard - Environmental Protection, Oscilador líquido

  • HJ 557-2010 Residuos sólidos. Procedimiento de extracción por toxicidad de lixiviación. Método de vibración horizontal.

Professional Standard - Electricity, Oscilador líquido

  • DL/T 1988-2019 Método de medición de la densidad del gas de hexafluoruro de azufre (método de oscilación del tubo en U)
  • DL/T 849.5-2004 Especificaciones técnicas generales de los instrumentos de prueba utilizados para equipos de potencia. Parte 5: generador de alto voltaje de onda oscilante.
  • DL/T 849.5-2019 Especificaciones generales para instrumentos de prueba especiales para equipos eléctricos Parte 5: Generador de alto voltaje de onda oscilante

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  • GOST 16165-1980 Osilladores ultrasónicos de transistores para instalaciones tecnológicas. Especificaciones generales
  • GOST 18604.15-1977 Transistores osciladores de microondas bipolares. Técnicas para medir la corriente crítica.
  • GOST 29179-1991 Compatibilidad electromagnética de medios técnicos. Equipo HUF. Métodos de medición de oscilaciones laterales.
  • GOST 4.166-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Analizadores de líquido. Nomenclatura de índices

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  • GB/T 5832.4-2020 Análisis de gases. Determinación de la humedad. Parte 4: El método de oscilación del cristal de cuarzo.
  • GB/T 12274.4-2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificación seccional. Aprobación de capacidad.

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  • EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
  • EN 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
  • EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
  • EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • EN 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
  • EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
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CH-SNV, Oscilador líquido

  • SN EN 17408-2021 Determinación de la fluidez y comportamiento de aplicación de adhesivos viscoelásticos mediante reometría oscilatoria.

IT-UNI, Oscilador líquido

  • UNI EN 17408-2021 Determinación de la fluidez y comportamiento de aplicación de adhesivos viscoelásticos mediante reometría oscilatoria.

NL-NEN, Oscilador líquido

  • NVN-ISO 8041:1993 Respuesta humana a la vibración. Instrumentación de medida (ISO 8041:1990)

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  • IEC 62860-1:2013*IEEE Std 1620.1:2006 Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • IEEE/IEC 62860-1-2013 Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • IEEE Std 1620.1-2006 Estándar IEEE para métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • IEC 62860-1:2013(E) IEEE Std. 1620.1-2006 Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
  • IEEE P1871.1/D4, April 2014 Borrador de práctica recomendada de IEEE para el uso de plantillas de descripción de instrumentos IEEE 1671.2 para describir instrumentación sintética para clases de instrumentos como generadores de formas de onda, digitalizadores, osciladores externos y convertidores ascendentes y descendentes
  • IEEE Std P1620.1/D8, Jul 2005 Borrador del estándar IEEE para métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos

AT-OVE/ON, Oscilador líquido

  • OVE EN 60747-16-5-2021 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (versión alemana)

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Oscilador líquido

  • ESDU 83010 A-1992 Aerodinámica oscilatoria de cuerpos esbeltos (SOFTWARE ASOCIADO: ESDUPAC A8310 DISPONIBLE SÓLO MEDIANTE SUSCRIPCIÓN)

AT-ON, Oscilador líquido

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Oscilador líquido

  • IEEE 1620.1-2006 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos (IEEE Computer Society)




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