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fase cristalina

fase cristalina, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fase cristalina son: Materiales semiconductores, Vaso, Productos de metales no ferrosos., Fotografía, Dispositivos de visualización electrónica., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Sistemas de vehículos de carretera, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Componentes electrónicos en general., ingeniería de energía solar, Organización y gestión de la empresa., Productos de hierro y acero., Calidad del aire, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, pruebas de metales, Equipo medico, Dispositivos semiconductores, Optoelectrónica. Equipo láser, Cerámica, Componentes de tuberías y tuberías., Elementos de edificios., Componentes para equipos eléctricos., Materiales magnéticos, Filtros electricos, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Protección de y en edificios, Circuitos integrados. Microelectrónica, Óptica y medidas ópticas., Metales ferrosos, Sistemas y operaciones espaciales., Herramientas de corte, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Pinturas y barnices, sujetadores, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Química analítica, Corrosión de metales, Fluidos aislantes, Productos de la industria química., químicos inorgánicos, Motores de combustión interna, Alimentos para animales, Resistencias, Adhesivos, Medicina de laboratorio, Transformadores. reactores, Horología, Terminología (principios y coordinación), Industria de construccion.

Professional Standard - Electron, fase cristalina

• SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
• SJ/Z 9154.2-1987 Utilice la técnica de fase cero en la red π para medir los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo. Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacidad dinámica de elementos de cristal de cuarzo.
• SJ 51648/5-1997 Tipo ZC 503, osciladores, cristal, especificación detallada para
• SJ 51648.4-1995 Oscilador, cristal, tipo ZC505E, especificación detallada para
• SJ 2816.1-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados) para el tipo J1
• SJ 2816.3-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados) para el tipo J3
• SJ 20639-1997 Especificación para cristal líquido negro huésped-anfitrión
• SJ 51648/1-1994 Oscilador, cristal, especificación detallada tipo ZF507 para
• SJ 51648/2-1994 Oscilador, tipo cristal ZD509, especificación detallada para
• SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante
• SJ 2592-1985 Filtros monolíticos de cristal de cuarzo para tipo LSP10.7MA(～E)
• SJ 2816.2-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados por resistencia) para el tipo J1A
• SJ 2816.4-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados por resistencia) para el tipo J3A
• SJ 2816.5-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados en frío) para el tipo J3B
• SJ 52138.1-1995 Unidad de cristal, cuarzo, tipo JA 538, especificación detallada para
• SJ 20110-1992 Filtros, cristal de cuarzo, tipo LST60MA, especificación detallada para
• SJ 51508/1-1994 Filtro, cristal de cuarzo, tipo LST60.02M, especificación detallada para
• SJ 51508/2-1994 Filtro, cristal de cuarzo, tipo LST42.02M, especificación detallada para
• SJ 51508/6-1996 Filtros, cristal de cuarzo, tipo LST21.4M, especificación detallada para
• SJ 51508/7-1996 Filtros, cristal de cuarzo, tipo LST25.0425M, especificación detallada para
• SJ 51648/3-1994 Oscilador, cristal, tipo ZC505 (A ~ D) especificación detallada para
• SJ 2701-1986 Especificación detallada para transistores de silicio PNP de baja potencia, tipo 3DX673
• SJ/Z 9154.1-1987 Utilice la técnica de fase cero en la red π para medir los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo. Parte 1: Método básico para medir la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de elementos de cristal de cuarzo.
• SJ 51508.4-1995 Filtro, cristal de cuarzo, banda lateral, tipo LSB1.4M, especificación detallada para
• SJ 51508.5-1995 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LSP21.4M, especificación detallada para
• SJ 51508/8-1999 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LP12, especificación detallada para
• SJ/T 31108-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para hornos monocristalinos CG3000.
• SJ 2700-1986 Especificación detallada para transistores de potencia media de alta frecuencia NPN de silicio, tipo 3DG2060
• SJ 2702-1986 Especificación detallada para transistores de silicio NPN de alta frecuencia y baja potencia, tipo 3DG458
• SJ 50033.40-1994 Especificación detallada para el fototransistor NPN de silicio semiconductor tipo GT11
• SJ/T 10015-1991 Unidades de cristal de cuarzo con diapasón de 32 kHz para relojes y relojes tipo JU38 y JU26

International Organization for Standardization (ISO), fase cristalina

• PRF IWA 43:2023 Tipos de vidrio. Vidrio cristal, cristal y cristal de plomo. Especificaciones y métodos de prueba.
• IWA 43:2023 Tipos de vidrio. Vidrio cristal, cristal y cristal de plomo. Especificaciones y métodos de prueba.
• ISO 419:1972 Tiosulfato de sodio de calidad fotográfica, cristalino; Especificación
• ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
• ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
• ISO 643:1983 Aceros; Determinación micrográfica del tamaño de grano ferrítico o austenítico.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, fase cristalina

• YS/T 225-2010 Placa de zinc microcristalina para zincografía.
• YS/T 225-1994 Hoja de Zinc Microcristalino para Fotograbado
• YS/T 785-2012 Determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X.

YU-JUS, fase cristalina

• JUS N.R9.031-1986 Vibradores piezoeléctricos. Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red n. Método de compensación de fase para medir la capacitancia del movimiento de una unidad de cristal de guartz
• JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
• JUS N.R9.074-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Esquema de soporte de cristal de dos hilos, tipo 19
• JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
• JUS N.R9.072-1986 Vibradores piezoe/eléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema de soporte de cristal de dos wfre, tipo 16
• JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
• JUS N.R9.077-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema portacristales de dos hilos, tipo 20
• JUS N.R9.076-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Outllne más caliente de cristal de dos pines, tipo 08
• JUS N.R9.075-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos clavijas, tipo 10
• JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
• JUS N.R9.078-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de alambre de Turo, tipo 21
• JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15

Professional Standard - Aviation, fase cristalina

• HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
• HBm 66.33-1989 Relé intermitente de transistor minivan

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• CNS 5152-1980 Tiosulfato de sodio cristalino (grado fotográfico)
• CNS 3009-1994 Radios de transistores de tipo simple
• CNS 3010-1994 Radios de transistores de tipo general
• CNS 5389-1980 Sulfato de aluminio y potasio dodecahidrato (grado fotográfico)
• CNS 5390-1980 Método de prueba para dodecahidrato de sulfato de aluminio y patasio de calidad fotográfica

RO-ASRO, fase cristalina

• STAS 10139-1984 Glassines GLASSINE TIPO CRISTAL
• STAS 1817/1-1975 TIOSULFATO DE SODIO CRISTALIZADO, GRADO FOTOGRÁFICO Y CINEMATOGRÁFICO

Defense Logistics Agency, fase cristalina

• DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Transistor, PNP, germanio tipo 2N2273
• DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Transistor, NPN, tipos de silicio 2N2015, 2N2016
• DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, tipo transistor Tipo 2N744
• DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, tipo silicio 2N3904
• DLA SMD-5962-91738 REV A-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, OCTAL TIPO D, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97593 REV B-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, INVERSORES HEXAGONALES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN SUPERFICIE
• DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, TIPO DE SILICIO 2N1051
• DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, tipos 2N2631 y 2N2876
• DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, REGISTRO DE ALTA VELOCIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 60,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 60,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• DLA SMD-5962-97591 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, COMPARADORES DE IDENTIDAD DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PNP, TIPO DE SILICIO JAN-2N1119
• DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PNP, TIPO DE SILICIO 2N2377
• DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, tipo silicio 2N2377
• DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio tipo 2N1499A
• DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, tipo silicio 2N1234
• DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, NPN, tipo silicio 2N1051
• DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Semiconductor, Transistor, NPN, Germanio, Tipo de alimentación 2N326
• DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO TTL, TRIPLE 3 ENTRADAS POSITIVAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97588 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, CUÁDRUPLE PUERTAS O POSITIVAS DE 2 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86719 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, SILICIO MONOLÍTICO DE REGISTRO TIPO QUAD D
• DLA SMD-5962-99532 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, CONTADOR DE 10 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, CAMBIO, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, PUERTA BUFFER DE BUS CUÁDRUPLE, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, PUERTA DOBLE NAND POSITIVA DE 4 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, TRANSCEPTOR DE BUS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86069-1986 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, COMPARADOR DE MAGNITUD, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, AVANZADO, SCHOTTKY TTL, UNIDAD LÓGICA ARITMÉTICA, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, BUFFER, TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, NAND BUFFER, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87517 REV B-2001
• DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN CIRCUITO IMPRESO
• DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, SILICIO, FOTO TIPO 2N986
• DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA MIL-S-19500/219 A VALID NOTICE 4-2011 Transistor, PNP, Germanio, Conmutación de Potencia, Tipos 2N1651, 2N1652, 2N1653
• DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio tipos 2N499 y 2N499A
• DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo Semiconductor, Transistor, PNP, Germanio, Tipos 2N464, 2N465, 2N467
• DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, tipos 2N389 y 2N424 (azul marino)
• DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, tipos 2N1173 y 2N1174 (azul marino)
• DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, BUFFERS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, TRADUCTOR TTL A ECL, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87508 REV E-2006
• DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, PESTILLOS TIPO D OCTAL TRANSPARENTES CON SALIDAS DE 3 ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, CHANCLAS TIPO D DISPARADAS POR BORDE OCTAL CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA DSCC-DWG-04029-2005 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, SILICIO, TIPO DE ALTA POTENCIA 2N5927
• DLA DSCC-DWG-04030-2005 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, SILICIO, TIPO DE ALTA POTENCIA 2N5926
• DLA DSCC-DWG-05009-2005 RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, CHIP (MELF), 1/4 VATIO, ESTILO 0204
• DLA DSCC-DWG-99009 REV A-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, SILICIO, TIPO DE ALTA POTENCIA 2N5241
• DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PNP, GERMANIO, TIPO DE BAJA POTENCIA 2N240
• DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PNP, GERMANIO, ALTA FRECUENCIA TIPO 2N384
• DLA MIL-S-19500/68 A VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, tipo de conmutación 2N1120
• DLA MIL-S-19500/80 E VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo Semiconductor, Transistor, NPN, Silicio, Tipo de Bajo Consumo 3N35
• DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, alta potencia tipo 2N174A
• DLA MIL-S-19500/25 B VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, bajo consumo tipo 2N240
• DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, alta potencia tipo 2N297A
• DLA MIL-S-19500/44 D VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, tipo de bajo consumo 2N428
• DLA MIL-S-19500/51 E VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, bajo consumo tipo 2N466
• DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo Semiconductor, Transistor, PNP, Germanio, Alta Potencia Tipo 2N665
• DLA MIL-S-19500/330 A VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor PNP, germanio tipos 2N1557A a 2N1560A
• DLA MIL-S-19500/338 VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, germanio PNP, tipo de conmutación 2N3449
• DLA SMD-5962-91586 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, CODIFICADOR DE PRIORIDAD DE 10 A 4 LÍNEAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86836 REV C-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA O PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86842 REV E-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, TTL SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-91627 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, CONDUCTOR NAND CUÁDRUPLE DE 2 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, NPN DE ALTA CORRIENTE, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87683 REV C-2006 MICROCIRCUITO DIGITAL BIPOLAR ALS TTL DECODIFICADOR SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86070 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, AVANZADO SCHOTTKY TTL. COMPARADOR DE IDENTIDAD DE 8 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, PUERTAS NAND, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86843 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, INVERSORES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86865 REV D-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, NAND GATE, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86866 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, DECODIFICADOR, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87533 REV B-2001
• DLA SMD-5962-92090 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, BUFFER/CONDUCTOR DE LÍNEA DE 10 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, DECODIFICADORES/DEMULTIPLEXORES DE 3 A 8 LÍNEAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, SELECTORES/MULTIPLEXORES DE DATOS DOBLES 1 DE 4, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 2-2008 Dispositivo Semiconductor, Transistor, NPN, Silicio, Bajo Consumo, Tipos 2N2708, JAN
• DLA MIL-S-19500/69 E VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, NPN, silicio, tipos JAN-2N337 y JAN-2N338
• DLA MIL-S-19500/71 D VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, tipo de bajo consumo 2N1195
• DLA MIL-S-19500/87 A VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio de baja potencia tipo 2N1142
• DLA MIL-S-19500/16 E VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, NPN, silicio tipos 2N342, 2N342A y 2N343
• DLA MIL-S-19500/138 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, silicio, tipo de bajo consumo 2N1118
• DLA MIL-S-19500/174 B VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio, tipo de baja potencia JAN-2N398A
• DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 3-2013 Dispositivo Semiconductor, Transistor, NPN, Silicio, Bajo Consumo, Tipos 2N2708, JAN
• DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, OSCILADOR CONTROLADO POR TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86838 REV C-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, NOR GATES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86841 REV D-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA Y PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86844 REV D-2006 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, BIPOLAR, AVANZADOS SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, NOR GATES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86876 REV B-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, CONTADOR ARRIBA/ABAJO, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-98621-1998 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS AVANZADOS, GENERADOR DE RELOJ DE CRISTAL, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA MIL-S-19500/372 A VALID NOTICE 2-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TIRISTOR (RECTIFICADOR CONTROLADO), TIPOS DE SILICIO 2N4199 A 2N4206
• DLA SMD-5962-97585 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL SCHOTTKY AVANZADO, BÚFERS OCTAL CON SALIDAS INVERTIDAS DE 3 ESTADOS HABILITADA PARA BAJO ACTIVO, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-97586 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, BÚFERS OCTAL CON SALIDAS NO INVERTIDAS DE 3 ESTADOS HABILITADA PARA BAJO ACTIVO, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXORES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-91661-1993
• DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR AVANZADO DE BAJA POTENCIA, SCHOTTKY TTL, NAND GATES, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86840 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, CONTADOR, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), fase cristalina

• KS B 2813-2019 Válvulas de mariposa con asiento de goma tipo wafer
• KS C IEC 61747-6:2005 Dispositivos de visualización de cristal líquido－Parte 6: Métodos de medición para módulos de cristal líquido－Tipo transmisivo
• KS D ISO 14250:2003 Caracterización acero-metalográfica del tamaño y distribuciones de grian dúplex.
• KS D ISO 14250:2014 Acero－Caracterización metalográfica del tamaño y distribuciones de grian dúplex.
• KS C IEC 60444-2-2002(2017) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red p－Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
• KS C IEC 61747-6-2:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de cristal líquido. Tipo reflectante.
• KS C IEC 60444-2-2002(2022) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red p－Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
• KS D 0205-2002(2022) Acero－Determinación micrográfica del tamaño de grano ferrítico o austenítico
• KS P ISO 11979-5:2006 Implantes oftálmicos－Lentes intraoculares－Parte 5: Biocompatibilidad
• KS D 0205-2002(2017) Acero－Determinación micrográfica del tamaño de grano ferrítico o austenítico
• KS P ISO 11979-5-2006(2016) Implantes oftálmicos－Lentes intraoculares－Parte 5: Biocompatibilidad
• KS P ISO 11979-5:2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 5: Biocompatibilidad.
• KS D 0205-1987 Acero－Determinación micrográfica del tamaño de grano ferrítico o austenítico
• KS C IEC 61215:2006 Módulos fotovoltaicos terrestres (PV) de silicio cristalino: calificación de diseño y aprobación de tipo

U.S. Military Regulations and Norms, fase cristalina

• ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 50 Hz HASTA 50 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,01 Hz HASTA 15,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
• ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR36/U
• ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR37/U
• ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR42/U
• ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR46/U
• ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR47/U
• ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR52/U
• ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR54/U
• ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR55/U
• ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR58/U
• ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR59/U
• ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR60/U
• ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR63/U
• ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR67/U
• ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR69/U
• ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR79/U
• ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR119/U
• ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR101/U
• ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR130/U
• ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR165/U
• ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR18/U
• ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR19/U
• ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR25/U
• ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR26/U
• ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR27/U
• ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR28/U
• ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR33/U
• ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR35/U
• ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR101/U
• ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR130/U
• ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR165/U
• ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR78/U
• ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR79/U
• ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR91/U
• ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR97/U
• ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR5/U
• ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR6/U
• ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR73/U
• ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR85/U
• ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR81/U
• ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR82/U
• ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR83/U
• ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR89/U
• ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR60/U
• ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR61/U
• ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 UNIDADES DE CRISTAL, CUARZO, CR62/U
• ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR63/U
• ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR64/U
• ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR65/U
• ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR67/U
• ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR69/U
• ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR72/U
• ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR74/U
• ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR75/U
• ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR76/U
• ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR18/U
• ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR19/U
• ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR25/U
• ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR26/U
• ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR27/U
• ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR28/U
• ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR33/U
• ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR35/U
• ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR36/U
• ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR37/U
• ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR42/U
• ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR45/U
• ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR46/U
• ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR47/U
• ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR52/U
• ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR54/U
• ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR55/U
• ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR56/U
• ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR58/U
• ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR59/U
• ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,544 MHZ HASTA 125 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
• ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,2 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, HCMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, Sello Hermético, Onda Cuadrada, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 450 KHz a 100 MHz, Sello Hermético, CMOS de Bajo Voltaje
• ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
• ARMY MIL-C-60459 NOTICE 1-1996 CARTUCHO, 105MM, HE, ASISTIDO POR COHETE, XM548, GRANO PROPULSOR DE COHETE PARA
• ARMY MIL-C-60459-1967 CARTUCHO, 105MM, HE, ASISTIDO POR COHETE, XM548, GRANO PROPULSOR DE COHETE PARA
• ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHZ HASTA 85 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
• ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, controlado por cristal, tipo 1 (oscilador de cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, sello hermético, onda cuadrada, CMOS de alta velocidad
• ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 25 MHz HASTA 175 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, LÓGICA EMISOR ACOPLADO

Professional Standard - Agriculture, fase cristalina

• 331药典 四部-2020 Principios rectores 9000 Principios rectores 9015 para la investigación de formas cristalinas de fármacos y el control de calidad de las formas cristalinas
• 316药典 四部-2015 Principios rectores 9000 Principios rectores 9015 para la investigación de formas cristalinas de fármacos y el control de calidad de las formas cristalinas
• 877兽药典 一部-2015 Contenido del Apéndice 9000 Principios rectores 9015 Principios rectores para la investigación de formas cristalinas de medicamentos veterinarios y el control de calidad de las formas cristalinas

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, fase cristalina

• YB/T 4290-2012 Método de determinación del grado de tamaño de grano más grande (tamaño de grano ALA) en la superficie de inspección metalográfica

British Standards Institution (BSI), fase cristalina

• BS EN 61747-30-1:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. tipo transmisivo
• BS EN 61747-6:2004 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Métodos de medición para módulos de cristal líquido - Tipo transmisivo
• BS EN ISO 643:2012 Aceros. Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente.
• BS EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo.
• BS DD ENV 14273:2002 Cerámica técnica avanzada - Polvos cerámicos - Determinación de fases cristalinas en circonio
• BS EN ISO 11979-5:2020 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares - Biocompatibilidad
• BS EN 60444-2:1993 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo: método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
• 21/30447603 DC BS EN IEC 61747-30-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 30-1. Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. tipo transmisivo
• DD ENV 14273:2002 Cerámica técnica avanzada. Polvos cerámicos. Determinación de fases cristalinas en circonio.
• BS EN 60444-1:1993 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red $Gp.
• BS ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
• BS ISO 16463:2014 Inserciones de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos

CZ-CSN, fase cristalina

• CSN 70 8010-1988 Cristal formado con máquina del tipo LINKUZ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, fase cristalina

• GB/T 6430-1986 La regla de designación de tipo para soportes de cristal (cajas)
• GB 6430-1986 Nomenclatura del modelo de caja de cristal
• GB/T 16468-1996 Programas en serie para transistores de inducción estática.
• GB/T 3351-1982 Designaciones para cristales de cuarzo sintético.
• GB/T 11295-1989 La regla de designación de las varillas de cristal láser.
• GB 18445-2001 Materiales impermeabilizantes cristalinos capilares cementosos.
• GB/T 3951-1983 La regla de designación de tipo de dispositivos de visualización de cristal líquido.
• GB 18445-2012 Materiales impermeabilizantes cristalinos capilares cementosos.
• GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
• GB/T 17007-1997 Métodos de medición para transistores bipolares de puerta aislada.
• GB/T 12275-1990 La regla de designación de tipo para osciladores de cristal de cuarzo.
• GB 12275-1990 Nomenclatura del modelo de oscilador de cristal de cuarzo
• GB/T 21952-2023 Tipos y tamaños de discos de diamante policristalinos
• GB/T 6627-1986 Designación para cristal de cuarzo sintético maderado
• GB 6627-1986 Nomenclatura del modelo de varilla de cristal de cuarzo artificial
• GB 6627-1986 Nomenclatura del modelo de varilla de cristal de cuarzo artificial
• GB　6627-1986 Nomenclatura del modelo de varilla de cristal de cuarzo artificial
• GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
• GB/T 15655-1995 Especificación seccional para dispositivos de visualización de cristal líquido nemáticos súper trenzados
• GB/T 6218-1996 Especificación detallada en blanco para transistores bipolares para aplicaciones de conmutación

Professional Standard - Machinery, fase cristalina

• JB/T 8951.1-1999 Transistor Bipolar de Puerta Aislada
• JB/T 7826.2-1996 Módulo puente monofásico para tiristores serie MTQ (MFQ)
• JB/T 7826.3-1996 Módulo puente monofásico para tiristores serie MTS（MFS）
• JB/T 7826.3-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTS (MFS)
• JB/T 7826.2-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTQ (MFQ)
• JB/T 6307.5-1994 Métodos de prueba del módulo semiconductor de potencia Transistores bipolares Puente monofásico y puente trifásico
• JB/T 6324-1992 Tiristores destinados a ser utilizados en máquinas de soldar KE modelo 50A-500A.
• JB/T 7946.4-1999 Metalógrafo de aleaciones de aluminio fundido.Aleaciones de aluminio-cobre fundido－Tamaño de grano
• JB/T 8892-1999 Motores de combustión interna. Inspección metalográfica para pistón de aleación eutéctica Al-Si-RE
• JB/T 8892-2011 Motores de combustión interna. Pistón de aleación eutéctica Al-Si-Re. Inspección metalográfica
• JB/T 8951.2-1999 Brazo y par de brazos de módulos de transistores bipolares de puerta aislada

Aerospace Industries Association, fase cristalina

• AIA NAS 4117-1996 Disipador de calor-aislante, tipo oblea

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., fase cristalina

• NAS4117-1996 Disipador de calor-aislante@ tipo oblea
• NAS4117-2012 DISIPADOR DE CALOR@ AISLADOR@ TIPO WAFER (Rev 1)

Group Standards of the People's Republic of China, fase cristalina

• T/HEBQIA 135-2022 Oscilador de cristal de temperatura constante OC1409
• T/SDZBZZ 001-2022 Molde de tubo de cobre de rueda de palanquilla de arco
• T/JSSIA 0006-2021 Dimensiones habituales del paquete Fan-out Wafer-Level
• T/CSTM 00463-2023 Clasificación de anillos negros en células fotovoltaicas de silicio cristalino tipo N.
• T/CSTM 00463-2022 Clasificación de anillos negros en células fotovoltaicas de silicio cristalino tipo N.
• T/CASME 487-2023 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino para fuera de la red
• T/SDTL 09-2022 Recubrimiento artístico de capa gruesa Argentite para arquitectura
• T/SBX 046-2021 Método para la determinación del coeficiente elástico del cristal líquido termotrópico nemático
• T/SBX 040-2020 Determinación de la anisotropía óptica de cristales líquidos termotrópicos nemáticos
• T/JSSIA 0003-2017 Programas en serie para paquete de báscula de chip a nivel de oblea
• T/FSI 121-2023 Geles de silicona para transistores bipolares de puerta aislada
• T/ZZB 2873-2022 Transformadores de distribución trifásicos de núcleo bobinado tridimensionales de aleación amorfa de tipo seco
• T/SBX 041-2021 Determinación de la pureza del monómero de cristal líquido de alquino tricíclico mediante cromatografía de gases
• T/SBX 044-2021 Determinación de la pureza de monómeros de cristales líquidos de terfenilo mediante cromatografía de gases
• T/ICMTIA SM0027-2022 Oblea pulida de cristal único de silicio tipo P de 300 mm para tecnología de memoria avanzada
• T/CECS 1397-2023
• T/SBX 070-2022 Determinación de la pureza de monómeros de cristales líquidos de alquilbifenilo mediante cromatografía de gases

Association Francaise de Normalisation, fase cristalina

• NF T29-002:1968 Productos químicos destinados a la fotografía - Tiosulfato de sodio cristalizado.
• NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red pi - Parte 2: método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo.
• NF A04-102:2003 Aceros - Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente.
• NF A04-102:2013 Aceros - Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente
• NF ISO 16463:2014 Insertos soldados con diamante policristalino - Dimensiones, tipos
• NF C93-547-30-1*NF EN 61747-30-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo.
• NF C93-547-6-2*NF EN 61747-6-2:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante.
• NF EN 61747-6-2:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo réflex.
• NF EN 61747-30-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 30-1: métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido - Tipo transmisivo
• NF C93-547-6:2004 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 6: métodos de medición para módulos de cristal líquido. Tipo transmisivo.
• NF E66-314:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos.
• NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
• NF C96-611/A1:1972 Semiconductores Transistores de unión Hojas de normas particulares
• NF S94-750-5:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: biocompatibilidad.
• NF S94-750-5*NF EN ISO 11979-5:2020 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: biocompatibilidad
• NF EN ISO 11979-5:2020 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: biocompatibilidad

HU-MSZT, fase cristalina

• MNOSZ 5709-1952 KOKILLA kéreghenger?ntéshez

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, fase cristalina

• AIA/NAS NAS 4117-1996
• AIA/NAS NAS4117-2012 DISIPADOR DE CALOR, AISLADOR, TIPO WAFER (Rev 1)
• AIA/NAS NAS 67-1973 Guía-Sujetador, forma baja, capota, tipo Dzus (Rev. 4)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• DB35/T 1126-2011 Célula solar de silicio amorfo con poca luz
• DB35/T 1914-2020 Determinación del contenido de cristales β en tuberías y accesorios de polipropileno con cristales β (método de difracción de rayos X)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, fase cristalina

• GB/T 38907-2020 Empresas que ahorran agua: industria del polisilicio
• GB/T 18910.62-2019 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante.
• GB/T 37405-2019 Dispositivo de arranque suave de alto voltaje mediante control de fase por tiristores.

RU-GOST R, fase cristalina

• GOST R ISO 14250-2013 Acero. Caracterización metalográfica del tamaño y distribución de grano dúplex.
• GOST R ISO 643-2011 Aceros. Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente.
• GOST R ISO 643-2015 Aceros. Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente.
• GOST 27264-1987 Transistores bipolares de potencia. Métodos de medición
• GOST 17466-1980 Transistores bipolares y de efecto de campo. Parametros basicos
• GOST 18604.10-1976 Transistores bipolares. Técnica de medición de resistencia de entrada.
• GOST 18604.26-1985 Transistores bipolares. Métodos de medición de parámetros de tiempo.
• GOST 18604.23-1980 Transistores bipolares. Método para medir frecuencias combinadas.
• GOST 16947-1971 Transistores tipo GT701A para equipos de amplio uso.

International Electrotechnical Commission (IEC), fase cristalina

• IEC 60444-2:1980 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 2: método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
• IEC 61747-6:2004 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 6: Métodos de medición para módulos de cristal líquido. Tipo transmisivo.
• IEC 61747-30-1:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo.
• IEC 60444-1:1986 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 1: método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red
• IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido - Tipo reflectante; Corrección 1
• IEC 61747-6-2:2011 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante.
• IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red - Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; Enmienda
• IEC TR 60444-3:1986 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 3: método básico para la medición de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz mediante técnica de fase en una red w con compensación de la p

German Institute for Standardization, fase cristalina

• DIN EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red pi. Parte 2: Método de desplazamiento de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-2:1980); Versión alemana EN 60444-2:1997
• DIN EN 61747-30-1:2013-03 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo (IEC 61747-30-1:2012); Versión alemana EN 61747-30-1:2012 / Nota: DIN EN 61747-6 (2004-12) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2...
• DIN EN 61747-6-2:2012-02 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante (IEC 61747-6-2:2011); Versión alemana EN 61747-6-2:2011
• DIN EN 60444-1:2000 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red. Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red (IEC 60444
• DIN ISO 16463:2005 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2004); versión inglesa de DIN ISO 16463:2005.
• DIN ISO 16463:2015-08 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2014)
• DIN IEC 60122-2:1993-09 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia; parte 2: guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para el control y selección de frecuencia; idéntico a IEC 60122-2:1983
• DIN EN ISO 11979-5:2021-05 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: Biocompatibilidad (ISO 11979-5:2020); Versión alemana EN ISO 11979-5:2020

American National Standards Institute （ANSI), fase cristalina

• ANSI/ASTM D6057:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
• ANSI/ASTM A901:1997 Especificación para tipos semiprocesados de aleaciones de núcleo magnético amorfo

American Society for Testing and Materials (ASTM), fase cristalina

• ASTM E930-99 Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)
• ASTM E930-99(2007) Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)
• ASTM E930-18 Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)
• ASTM E930-99(2015) Métodos de prueba estándar para estimar el grano más grande observado en una sección metalográfica (tamaño de grano ALA)
• ASTM E1181-87(1998)e1 Métodos de prueba estándar para caracterizar tamaños de grano dúplex
• ASTM E1181-02 Métodos de prueba estándar para caracterizar tamaños de grano dúplex
• ASTM D6057-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
• ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
• ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
• ASTM D6057-96(2001)e1 Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
• ASTM D6057-96 Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
• ASTM D6057-96(2006) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
• ASTM A901-03(2008) Especificación estándar para aleaciones de núcleo magnético amorfo, tipos semiprocesados
• ASTM A901-19 Especificación estándar para aleaciones de núcleo magnético amorfo, tipos semiprocesados
• ASTM A901-03 Especificación estándar para aleaciones de núcleo magnético amorfo, tipos semiprocesados
• ASTM A901-97 Especificación estándar para aleaciones de núcleo magnético amorfo, tipos semiprocesados
• ASTM A901-12 Especificación estándar para aleaciones de núcleo magnético amorfo, tipos semiprocesados

Professional Standard - Medicine, fase cristalina

• YY 0290.5-1997 Lentes intraoculares.Parte 5:Biocompatibilidad
• YY 0290.5-2008 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 5: Biocompatibilidad
• YY/T 0290.5-2008 Implantes oftálmicos—Lentes intraoculares—Parte 5: Biocompatibilidad
• YY/T 0290.5-2023 Lentes intraoculares ópticas oftálmicas Parte 5: Biocompatibilidad

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, fase cristalina

• EN 61747-6:2004 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido Parte 6: Métodos de medición para módulos de cristal líquido Tipo transmisivo
• EN 61747-30-1:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo.

IN-BIS, fase cristalina

• IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
• IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB
• IS 4570 Pt.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 3 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL TIPO TUBO (VIDRIO) TIPOS AP, AR, AS, AT Y AU
• IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
• IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
• IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
• IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
• IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
• IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
• IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
• IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
• IS 9728-1981 ESPECIFICACIÓN PARA EL MÉTODO DE COMPENSACIÓN DE FASE PARA LA MEDICIÓN DE LA CAPACITANCIA DE MOVIMIENTO DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO
• IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-03
• IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 5 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-05
• IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-02
• IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-01
• IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-04
• IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-06
• IS 4570 Pt.5-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 5 ftfiETAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPOS BF, EF/1 Y BG, BG 1

Professional Standard - Building Materials, fase cristalina

• JC/T 2146-2012 Cristal de niobato de litio fuertemente dopado con MgO para aplicaciones de coincidencia de fases

Danish Standards Foundation, fase cristalina

• DS/EN 61747-6-2:2011
• DS/EN 61747-30-1:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo.
• DS/EN 60444-2:1998
• DS/EN ISO 11979-5:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: Biocompatibilidad
• DS/ENV 14273:2002 Cerámica técnica avanzada - Polvos cerámicos - Determinación de fases cristalinas en circonio

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, fase cristalina

• EN 61747-6-2:2011 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante.

未注明发布机构, fase cristalina

• BS EN 61747-6-2:2011(2012) Dispositivos de visualización de cristal líquido Parte 6 - 2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante.
• DIN EN 13503-5:2001 Implantes oftálmicos – Lentes intraoculares – Parte 5: Biocompatibilidad

ES-UNE, fase cristalina

• UNE-EN 61747-6-2:2011 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 6-2: Métodos de medida para módulos de visualización de cristal líquido - Tipo reflectante (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
• UNE-EN 61747-30-1:2012 Dispositivos visualizadores de cristal líquido - Parte 30-1: Métodos de medida para módulos visualizadores de cristal líquido - Tipo transmisivo (Ratificada por AENOR en octubre de 2012.)
• UNE-EN 60444-2:1997 MEDICIÓN DE PARÁMETROS DE LA UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO POR FASE CERO EN UNA RED PI. PARTE 2: MÉTODO DE COMPENSACIÓN DE FASES PARA LA MEDIDA DE LA CAPACITANCIA DE MOVIMIENTO DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)
• UNE-EN ISO 11979-5:2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 5: Biocompatibilidad (ISO 11979-5:2020)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, fase cristalina

• GJB 2138/4-2011 Especificación detallada para la unidad de cristal de cuarzo tipo JA500
• GJB 1648/1-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal tipo ZA511 (ZPB-5)
• GJB 1648/2-2011 Especificación detallada para osciladores de cristal con compensación de temperatura tipo ZC547(ZWB-1)
• GJB/Z 45.2-1993 Oscilador de cristal de espectro de serie de dispositivos piezoeléctricos militares
• GJB/Z 41.6-1993 Transistor bipolar de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
• GJB/Z 45.1-1993 Componentes de cristal de cuarzo de espectro de serie de dispositivos piezoeléctricos militares

Professional Standard - Aerospace, fase cristalina

• QJ 2979-1997 Especificación detallada para componentes de cristal de cuarzo tipo XJ33
• QJ 2980-1997 Especificaciones detalladas para elementos de cristal de cuarzo XJ36
• QJ 2981-1997 Especificaciones detalladas para elementos de cristal de cuarzo XJ39
• QJ 2978-1997 Especificaciones detalladas para elementos de cristal de cuarzo XJ17
• QJ 2929-1997 Especificación detallada para el elemento de cristal de cuarzo tipo XJ42
• QJ 3047-1998 Especificaciones detalladas para osciladores de cristal controlados por voltaje Z602
• QJ 3046-1998 Especificaciones detalladas para osciladores de cristal controlados por voltaje Z601
• QJ 2930-1997 Especificaciones detalladas para elementos de cristal de cuarzo de alta precisión XB87

机械工业部, fase cristalina

• JB 6324-1992 Tiristor KE tipo 50A a 500A para soldadora eléctrica

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• DB13/T 5222-2020 Determinación de la pureza del monómero de cristal líquido termotrópico nemático mediante cromatografía de gases
• DB13/T 2789-2018 Requisitos técnicos generales para cristales líquidos termotrópicos nemáticos para exhibición.
• DB13/T 5223-2020 Método para determinar la tasa de retención de voltaje del monómero de cristal líquido termotrópico nemático
• DB13/T 5096-2019 Método de prueba para el punto de limpieza de cristal líquido termotrópico nemático para pantalla monocromática

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, fase cristalina

• GJB 2138/1-2007 Especificación detallada para resonadores de cristal de cuarzo JA533
• GJB 2138/2-2007 Especificación detallada para resonadores de cristal de cuarzo JA547
• GJB 2138/3-2007 Especificación detallada para resonadores de cristal de cuarzo JA557
• GJB 2138.1-2007 Especificación detallada del resonador de cristal de cuarzo JA533
• GJB 2138.2-2007 Especificación detallada del resonador de cristal de cuarzo JA547
• GJB 2138.3-2007 Especificación detallada del resonador de cristal de cuarzo JA557

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, fase cristalina

• JJG(电子) 04045-1995 Regulaciones de verificación para el probador de transistores JS-7B
• JJG(电子) 04052-1995 Reglas de verificación para el instrumento de detección rápida de transistores PTQ-2

中国石油化工总公司, fase cristalina

• SH 2002-1991 Condiciones técnicas del cristalizador de tubo de evaporación de amoníaco.

European Committee for Standardization (CEN), fase cristalina

• EN ISO 643:2020 Aceros. Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente (ISO 643:2019, Versión corregida 2020-03)
• EN ISO 643:2012 Aceros - Determinación micrográfica del tamaño de grano aparente

Lithuanian Standards Office , fase cristalina

• LST EN 61747-6-2004 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 6: Métodos de medición para módulos de cristal líquido. Tipo transmisivo (IEC 61747-6:2004)
• LST EN 61747-6-2-2011 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-2: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo reflectante (IEC 61747-6-2:2011)
• LST EN 61747-30-1-2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 30-1: Métodos de medición para módulos de visualización de cristal líquido. Tipo transmisivo (IEC 61747-30-1:2012)
• LST L ENV 14273-2004 Cerámica técnica avanzada - Polvos cerámicos - Determinación de fases cristalinas en circonio

United States Navy, fase cristalina

• NAVY MIL-I-22110 C-1985 INHIBIDORES DE CORROSIÓN VOLÁTILES EN POLVO CRISTALINO
• NAVY QPL-22110-10 NOTICE 1-2007 INHIBIDORES DE CORROSIÓN VOLÁTILES EN POLVO CRISTALINO
• NAVY QPL-22110-10-1989 INHIBIDORES DE CORROSIÓN VOLÁTILES EN POLVO CRISTALINO

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• DB44/T 1219-2013 Agente de nucleación de cristales β de tierras raras para polipropileno (PP)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, fase cristalina

• JJF(电子) 20-1982 Método de verificación del óhmetro digital de transistor CR1A
• JJF(电子) 21-1982 Método de verificación del instrumento gráfico de características del transistor JT-l

Professional Standard - Labor and Labor Safety, fase cristalina

• LD/T 94-1996 Equipo de disco de ruptura por sobrepresión tipo panal para hervidor de cristal

国家质量监督检验检疫总局, fase cristalina

• SN/T 4563-2016 Método para la identificación de la orientación de grano de láminas (tiras) de acero eléctrico Método metalográfico

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), fase cristalina

• JIS C 8990:2004 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino: calificación de diseño y aprobación de tipo

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• DB22/T 1617-2012 Determinación de verde malaquita, verde leuco malaquita, violeta cristal y violeta cristal leuco en alimentación mediante cromatografía líquida-espectrometría de masas/espectrometría de masas

TH-TISI, fase cristalina

• TIS 1864-2009 Dispositivos semiconductores.parte 7: transistores bipolares

劳动部, fase cristalina

• LD/T 0094-1996 Dispositivo de disco de ruptura de presión ultraalta tipo tapón roscado para hervidor de cristal

Professional Standard - Hygiene , fase cristalina

• WS/T 49-1996 Orina.Determinación de fenol.Método cromatográfico de gases.I Columna de cristal líquido

SAE - SAE International, fase cristalina

• SAE AMS2316A-1991 EVALUACIÓN METALOGRÁFICA DEL TAMAÑO DE GRANO EN NÍQUEL FORJADO Y ALEACIONES RESISTENTES AL CALOR

Society of Automotive Engineers (SAE), fase cristalina

• SAE AMS2316-1989 EVALUACIÓN METALOGRÁFICA DEL TAMAÑO DE GRANO EN NÍQUEL FORJADO Y ALEACIONES RESISTENTES AL CALOR

Indonesia Standards, fase cristalina

• SNI IEC 61215:2013 Módulo fotovoltaico de silicona cristal-Kualifikasi disain dan pengesahan jenis

Professional Standard - Public Safety Standards, fase cristalina

• GA/T 1084-2013 Especificaciones generales para monitores en color de cristal líquido para eventos a gran escala

Professional Standard - Commodity Inspection, fase cristalina

• SN/T 1176-2003 Métodos para la inspección de dispositivos de visualización de cristal líquido nemáticos súper trenzados para importación y exportación.

IT-UNI, fase cristalina

• UNI EN ISO 11979-5:2021 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 5: Biocompatibilidad

KR-KS, fase cristalina

• KS P ISO 11979-5-2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 5: Biocompatibilidad.

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, fase cristalina

• DB53/T 500-2013 Determinación del contenido del componente triclorosilano para polisilicio mediante cromatografía de gases.

Professional Standard - Energy, fase cristalina

• NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5

Otros:   Fase cristalina, carbono cristalino, Detección de forma cristalina, forma cristalina, cara de cristal, forma de cristal,, , forma cristalina del producto, grado + forma cristalina, forma cristalina, Forma cristalina y fase cristalina., cristal cristalino, Clasificación de formas cristalinas, Forma de plano cristalino, Forma cristalina de punto de fusión, Forma y fase cristalina., fase cristalina fase amorfa, forma cristalina, fase cristalina, Punto de fusión del cristal, fase cristalina, Solución + forma cristalina.