ZH
EN
ES
Кристаллическая фаза
Кристаллическая фаза, Всего: 500 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Кристаллическая фаза, являются: Полупроводниковые материалы, Стекло, Изделия цветных металлов, Фотография, Электронные устройства отображения, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Системы дорожного транспорта, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Электронные компоненты в целом, Солнечная энергетика, Организация и управление компанией, Изделия из железа и стали, Качество воздуха, Анализ размера частиц. просеивание, Испытание металлов, Медицинское оборудование, Полупроводниковые приборы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Керамика, Детали трубопроводов и трубопроводы, Элементы зданий, Компоненты для электрооборудования, Магнитные материалы, Электрические фильтры, Сварка, пайка и пайка, Защита зданий и внутри зданий, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Оптика и оптические измерения, Черные металлы, Космические системы и операции, Режущие инструменты, Энергетика и теплопередача в целом, Краски и лаки, Крепежи, Условия и процедуры испытаний в целом, Аналитическая химия, Коррозия металлов, Изоляционные жидкости, Продукция химической промышленности, Неорганические химикаты, Двигатель внутреннего сгорания, Корма для животных, Резисторы, Клеи, Лабораторная медицина, Трансформеры. Реакторы, Часовое искусство, Терминология (принципы и координация), Строительная индустрия.
Professional Standard - Electron, Кристаллическая фаза
- SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
- SJ/Z 9154.2-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристаллического блока. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения динамической емкости кварцевых кристаллических элементов.
- SJ 51648/5-1997 Тип ZC 503, генераторы, кристалл, подробная спецификация для
- SJ 51648.4-1995 Генератор, кварцевый, тип ZC505E, подробная спецификация для
- SJ 2816.1-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J1
- SJ 2816.3-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J3
- SJ 20639-1997 Спецификация черного жидкокристаллического гостевого хоста
- SJ 51648/1-1994 Генератор, кварцевый, тип ZF507, подробная спецификация для
- SJ 51648/2-1994 Генератор, тип кристалла ZD509, подробная спецификация для
- SJ/T 11864-2022 Полуизолирующая монокристаллическая подложка из карбида кремния
- SJ 2592-1985 Кварцевые монолитные фильтры для типа LSP10.7MA(~E)
- SJ 2816.2-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J1A
- SJ 2816.4-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J3A
- SJ 2816.5-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (холодной сварки) для типа J3B
- SJ 52138.1-1995 Кристаллический элемент, кварц, тип JA 538, подробная спецификация для
- SJ 20110-1992 Фильтры, кварцевый, тип LST60MA, подробная спецификация для
- SJ 51508/1-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST60.02M, подробная спецификация для
- SJ 51508/2-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST42.02M, подробная спецификация для
- SJ 51508/6-1996 Фильтры кварцевые, тип LST21.4M, подробная спецификация для
- SJ 51648/3-1994 Генератор, кварцевый, тип ZC505 (A ~ D), подробная спецификация для
- SJ 51508/7-1996 Фильтры кварцевые, тип LST25.0425M, подробная спецификация для
- SJ 2701-1986 Подробная спецификация кремниевых PNP-транзисторов малой мощности типа 3DX673
- SJ/Z 9154.1-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристалла. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических элементов.
- SJ 51508.4-1995 Фильтр, кварцевый, боковая полоса, тип LSB1.4M, подробная спецификация для
- SJ 51508.5-1995 Фильтр кварцевый монолитный типа ЛСП21.4М ТУ
- SJ 51508/8-1999 Фильтр кварцевый монолитный тип LP12 детализация
- SJ/T 31108-1994 Требования к готовности и методы проверки и оценки монокристаллических печей CG3000
- SJ 2700-1986 Подробная спецификация кремниевых NPN высокочастотных транзисторов средней мощности типа 3DG2060
- SJ 2702-1986 Подробная спецификация кремниевых NPN высокочастотных маломощных транзисторов типа 3DG458
- SJ 50033.40-1994 Подробная спецификация полупроводникового кремниевого NPN фототранзистора типа GT11
- SJ/T 10015-1991 Кварцевые камертоны 32 кГц для часов типа JU38 и JU26
International Organization for Standardization (ISO), Кристаллическая фаза
- PRF IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
- IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
- ISO 419:1972 Тиосульфат натрия фотографической чистоты, кристаллический; Спецификация
- ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
- ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
- ISO 643:1983 Стали; Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Кристаллическая фаза
- YS/T 225-2010 Микрокристаллическая цинковая пластина для цинкографии.
- YS/T 225-1994 Микрокристаллический цинковый лист для фотогравировки
- YS/T 785-2012 Определение относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
YU-JUS, Кристаллическая фаза
- JUS N.R9.031-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Измерение параметров кристалла кварца методом нулевой фазы в n-сети. Фазовый метод измерения подвижной емкости кварцевого кристалла
- JUS N.R9.071-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя двух кристаллов mre, тип 18
- JUS N.R9.074-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 19
- JUS N.R9.070-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухштырьковый держатель кристалла, outlfne, type09
- JUS N.R9.072-1986 Пьезо/электрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур держателя для двух кристаллов, тип 16
- JUS N.R9.073-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристалл кварца не используется. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 17
- JUS N.R9.077-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 20
- JUS N.R9.076-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухконтактный кристаллический нагреватель Outllne, type08
- JUS N.R9.075-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухштырьковый держатель кристалла, тип 10
- JUS N.R9.069-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя для двух кристаллов Пири, тип 07
- JUS N.R9.078-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя кристаллов из проволоки Turo, тип 21
- JUS N.R9.064-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур двухпроволочного держателя кристалла. Типы 11, 14 и 15
Professional Standard - Aviation, Кристаллическая фаза
- HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
- HBm 66.33-1989 Реле мигалки транзистора минивэна
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- CNS 5152-1980 Кристаллический тиосульфат натрия (фотографический класс)
- CNS 3009-1994 Транзисторные радиоприемники простого типа
- CNS 3010-1994 Транзисторные радиоприемники общего типа
- CNS 5389-1980 Додекагидрат сульфата алюминия и калия (фотографический класс)
- CNS 5390-1980 Метод определения додекагидрата сульфата алюминия-патассия фотографического качества
RO-ASRO, Кристаллическая фаза
Defense Logistics Agency, Кристаллическая фаза
- DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Транзистор PNP германиевый тип 2N2273
- DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, NPN, кремниевый тип 2N2015, 2N2016
- DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор транзисторного типа 2N744
- DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, кремниевый тип 2N3904
- DLA SMD-5962-91738 REV A-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЙ ТИП D, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97593 REV B-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ШЕСТИГРАННЫЕ ИНВЕРТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, ПОВЕРХНОСТНЫЙ МОНТАЖ
- DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР NPN КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N1051
- DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N2631 и 2N2876
- DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
- DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
- DLA SMD-5962-97591 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННЫЕ ТТЛ ШОТКИ, 8-БИТНЫЕ КОМПАРАТОРЫ ИДЕНТИЧНОСТИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА JAN-2N1119
- DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N2377
- DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N2377
- DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый тип 2N1499A
- DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N1234
- DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый тип 2N1051
- DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводник, транзистор, NPN, германий, тип питания 2N326
- DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ТРОЙНАЯ 3-ВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ И ЗАТВОРА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97588 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, ЧЕТЫРЕХВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ ИЛИ С 2 ВХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86719 REV A-2007 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ TTL, СЧЕТВЕРНЫЙ РЕГИСТР D-ТИПА МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-99532 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, 10-БИТЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ ТТЛ, ШИФТЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ЧЕТЫРЕХРУСТНОЙ ШИННЫЙ БУФЕР, TTL-СОВМЕСТИМАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ДВОЙНОЙ 4-ВХОДНЫЙ ЗАТВОР ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ-И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, ДВОЙНОЙ МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86069-1986 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, КОМПАРАТОР ВЕЛИЧИНЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ, ТТЛ ШОТКИ, АРИФМЕТИКО-ЛОГИЧЕСКИЙ БЛОК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, БУФЕРНАЯ, ТРЕХСОСТОЯННАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, БУФЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87517 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ДВОИЧНЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, КРЕПЛЕНИЕ ПЕЧАТНОЙ СХЕМЫ
- DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ФОТО ТИПА 2N986
- DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 МИКРОсхема, ЛИНЕЙНАЯ, ТРАНЗИСТОРНАЯ МАССИВ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA MIL-S-19500/219 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, PNP, германиевый, силовое переключение, типы 2N1651, 2N1652, 2N1653
- DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, германиевые типы 2N499 и 2N499A
- DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, типы 2N464, 2N465, 2N467
- DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N389 и 2N424 (ВМФ)
- DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор типов 2N1173 и 2N1174 (ВМФ)
- DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, БУФЕРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 МИКРОсхема, цифровая, транслятор TTL-ECL, монолитный кремний
- DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ ПЕРЕВОДЧИК ECL-TO-TTL, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ ПРОЗРАЧНЫЕ ЗАЩЕЛКИ ТИПА D С 3-ХОСТОВЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНО-КРЕМНИЕВЫЕ ШЛЕПАНЦЫ D-ТИПА С ТРЕМЯ ГОСУДАРСТВЕННЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA DSCC-DWG-04029-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5927
- DLA DSCC-DWG-04030-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5926
- DLA DSCC-DWG-05009-2005 РЕЗИСТОР ФИКСИРОВАННЫЙ, ПЛЕНОЧНЫЙ, ЧИП (MELF), 1/4 ВАТТ, ТИПА 0204
- DLA DSCC-DWG-99009 REV A-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5241
- DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР ПНП ГЕРМАНИЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТИПА 2Н240
- DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP, ГЕРМАНИЯ, ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ТИПА 2Н384
- DLA MIL-S-19500/68 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, тип переключения 2N1120
- DLA MIL-S-19500/80 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, маломощный тип 3N35
- DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокой мощности, тип 2N174A
- DLA MIL-S-19500/25 B VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N240
- DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N297A
- DLA MIL-S-19500/44 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N428
- DLA MIL-S-19500/51 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N466
- DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N665
- DLA MIL-S-19500/330 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзистор PNP, германиевые типы от 2N1557A до 2N1560A
- DLA MIL-S-19500/338 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, германиевый PNP, тип переключения 2N3449
- DLA SMD-5962-91586 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ПРИОРИТЕТНЫЙ ЭНКОДЕР С 10 ЛИНИИ НА 4 ЛИНИИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86836 REV C-2001 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ TTL, ИЛИ ВЕНТИЛЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86842 REV E-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, И ЗАБИТА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-91627 REV A-2004 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, ЧЕТЫРЕХВХОДНОЙ ДРАЙВЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЛИНЕЙНАЯ, СИЛЬНОТОЧНАЯ NPN, ТРАНЗИСТОРНАЯ МАССИВ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87683 REV C-2006 МИКРОсхема ЦИФРОВАЯ БИПОЛЯРНАЯ АЛС ТТЛ, ДЕКОДЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86070 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ. 8-битный компаратор идентичности, монолитный кремний
- DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ TTL, ВЕНТИЛИ NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86843 REV C-2006 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ИНВЕРТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86865 REV D-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ НИЗКАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, НЕ-НЕ-ЗАТВОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86866 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ДЕКОДЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, УНИВЕРСАЛЬНЫЙ МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-92090 REV A-2004 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, 10-БИТНЫЙ БУФЕР/ЛИНИЕЙНЫЙ ДРАЙВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, 3-8-СТРОИТЕЛЬНЫЕ ДЕКОДЕРЫ/ДЕМУЛЬТИПЛЕКСОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ДВОЙНЫЕ СЕЛЕКТОРЫ ДАННЫХ/МУЛЬТИПЛЕКСОРЫ 1-ИЗ-4, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 2-2008 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, малой мощности, тип 2N2708, JAN
- DLA MIL-S-19500/69 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые, типы JAN-2N337 и JAN-2N338
- DLA MIL-S-19500/71 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N1195
- DLA MIL-S-19500/87 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый маломощный тип 2N1142
- DLA MIL-S-19500/16 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые типы 2N342, 2N342A и 2N343
- DLA MIL-S-19500/138 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый, маломощный, тип 2N1118
- DLA MIL-S-19500/174 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип JAN-2N398A
- DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 3-2013 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, малой мощности, тип 2N2708, JAN
- DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, ГЕНЕРАТОР, УПРАВЛЯЕМЫЙ НАПРЯЖЕНИЕМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86838 REV C-2001 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, НОР-ВЕЙТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86841 REV D-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ И ВЕНТИЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86844 REV D-2006 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БИПОЛЯРНЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, НОР-ВЕЙТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86876 REV B-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ TTL, СЧЕТЧИК ПОВЕРХ/ВНИЗ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-98621-1998 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, СОВРЕМЕННЫЕ КМОП, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ТАКТОВЫЙ ГЕНЕРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA MIL-S-19500/372 A VALID NOTICE 2-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТИРИСТОР (УПРАВЛЯЕМЫЙ ВЫПРЯМИТЕЛЬ), КРЕМНИЕВЫЕ ТИПЫ 2N4199 ДО 2N4206
- DLA SMD-5962-97585 REV A-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ БУФЕРЫ С АКТИВНЫМИ ИНВЕРСИРОВАННЫМИ ВЫХОДАМИ С 3-Х СОСТОЯНИЯМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-97586 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ БУФЕРЫ С АКТИВНЫМИ НИЗКИМИ ВКЛЮЧЕННЫМИ 3-СОСТОЯННЫМИ НЕИНВЕРТИРУЕМЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БИПОЛЯРНЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-91661-1993 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, ЧЕТЫРЕХТРОЙНОЙ ТРЕХНАПРАВЛЕННЫЙ ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ РАСШИРЕННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ, ТТЛ ШОТТКИ, ВОРОТА NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86840 REV E-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ ТТЛ, СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
- DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Кристаллическая фаза
- KS B 2813-2019 Дисковые затворы с резиновым седлом вафельного типа
- KS C IEC 61747-6:2005 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
- KS D ISO 14250:2003 Сталеметаллографическая характеристика размеров и распределения дуплексного гриана.
- KS D ISO 14250:2014 Сталь - Металлографическая характеристика размеров и распределения дуплексного грана.
- KS C IEC 60444-2-2002(2017) Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в p-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
- KS C IEC 61747-6-2:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Отражательного типа.
- KS C IEC 60444-2-2002(2022) Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в p-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
- KS D 0205-2002(2022) Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
- KS P ISO 11979-5:2006 Офтальмологические имплантаты-Интраокулярные линзы-Часть 5:Биосовместимость
- KS D 0205-2002(2017) Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
- KS P ISO 11979-5-2006(2016) Офтальмологические имплантаты-Интраокулярные линзы-Часть 5:Биосовместимость
- KS P ISO 11979-5:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
- KS D 0205-1987 Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
- KS C IEC 61215:2006 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния – Квалификация конструкции и одобрение типа
U.S. Military Regulations and Norms, Кристаллическая фаза
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГц ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 50 Гц ДО 50 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, ПРЯМОПОДАВНАЯ ВОЛНА, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,01 Гц ДО 15,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, КМОП
- ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR36/U
- ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR37/U
- ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR42/U
- ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR46/U
- ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR47/U
- ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
- ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR54/U
- ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
- ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR58/U
- ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
- ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
- ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR63/U
- ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR67/U
- ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
- ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
- ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR119/U
- ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR18/U
- ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR19/U
- ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR25/U
- ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR26/U
- ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR27/U
- ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR28/U
- ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR33/U
- ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Кристаллический блок, кварц, CR35/U
- ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR78/U
- ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR79/U
- ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR91/U
- ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR97/U
- ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR5/U
- ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR6/U
- ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR73/U
- ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR85/U
- ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR81/U
- ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR82/U
- ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR83/U
- ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR89/U
- ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR60/U
- ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR61/U
- ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, CR62/U
- ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR63/U
- ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR64/U
- ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR65/U
- ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR67/U
- ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR69/U
- ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR72/U
- ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR74/U
- ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR75/U
- ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR76/U
- ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR18/U
- ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR19/U
- ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR25/U
- ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR26/U
- ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR27/U
- ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR28/U
- ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR33/U
- ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR35/U
- ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR36/U
- ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, CR37/U
- ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR42/U
- ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR45/U
- ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR46/U
- ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR47/U
- ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR52/U
- ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR54/U
- ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR55/U
- ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR56/U
- ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR58/U
- ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR59/U
- ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,544 МГЦ ДО 125 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЙ КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,2 МГЦ ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ УПЛОТНЕНИЕ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ ГЕНЕРАТОР, HCMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 500 КГЦ ДО 150 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНАЯ КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 450 кГц до 100 МГц, герметичный, низковольтный КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 ГЕНЕРАТОР С КРИСТАЛЛИЧЕСКИМ УПРАВЛЕНИЕМ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
- ARMY MIL-C-60459 NOTICE 1-1996 ПАТРОН, 105ММ, HE, РАКЕТНЫЙ С ПОМОЩЬЮ, XM548, РАКЕТНОЕ ПОРОШКОВОЕ ЗЕРНО ДЛЯ
- ARMY MIL-C-60459-1967 ПАТРОН, 105ММ, HE, РАКЕТНЫЙ С ПОМОЩЬЮ, XM548, РАКЕТНОЕ ПОРОШКОВОЕ ЗЕРНО ДЛЯ
- ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,0 МГЦ ДО 85 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Генератор, кварцевый, тип 1 (кварцевый генератор (XO)), от 1,0 до 85 МГц, герметичный, прямоугольный, высокоскоростной КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 ГЕНЕРАТОР С КРИСТАЛЛИЧЕСКИМ УПРАВЛЕНИЕМ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO), 1 ДО 133 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 2,5 В КМОП
- ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 25 МГц ДО 175 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ ВОЛНЫ, ЛОГИКА, СВЯЗАННАЯ С ЭМИТТЕРОМ
Professional Standard - Agriculture, Кристаллическая фаза
- 331药典 四部-2020 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
- 316药典 四部-2015 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
- 877兽药典 一部-2015 Содержание приложения Руководящие принципы 9000. Руководящие принципы 9015 для исследования кристаллических форм ветеринарных препаратов и контроля качества кристаллических форм.
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Кристаллическая фаза
- YB/T 4290-2012 Метод определения наибольшей крупности зерна (зерен АЛК) на поверхности металлографического контроля
British Standards Institution (BSI), Кристаллическая фаза
- BS EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
- BS EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
- BS EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
- BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов
- BS DD ENV 14273:2002 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.
- BS EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы - Биосовместимость
- BS EN 60444-2:1993 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
- 21/30447603 DC БС ЕН МЭК 61747-30-1. Устройства жидкокристаллические индикаторные. Часть 30-1. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
- DD ENV 14273:2002 Передовая техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония
- BS EN 60444-1:1993 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в $Gp-сети
- BS ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
- BS ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы
CZ-CSN, Кристаллическая фаза
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Кристаллическая фаза
- GB/T 6430-1986 Правила обозначения типа кристаллодержателей (корпусов)
- GB 6430-1986 Номенклатура моделей хрустальных коробок
- GB/T 16468-1996 Серийные программы для статических индукционных транзисторов
- GB/T 3351-1982 Обозначения синтетических кристаллов кварца
- GB/T 11295-1989 Правило обозначения стержней лазерных кристаллов
- GB 18445-2001 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
- GB/T 3951-1983 Правило обозначения типа жидкокристаллических устройств отображения
- GB 18445-2012 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
- GB/T 9532-2012 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов
- GB/T 17007-1997 Методы измерения биполярного транзистора с изолированным затвором
- GB/T 12275-1990 Правила обозначения типа кварцевых генераторов
- GB 12275-1990 Номенклатура моделей кварцевых генераторов
- GB/T 21952-2023 Типы и размеры поликристаллических алмазных дисков
- GB/T 6627-1986 Обозначение громоздкого кристалла синтетического кварца.
- GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
- GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
- GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
- GB/T 19421.1-2003 Методы испытаний кристаллического слоистого дисиликата натрия. Качественный анализ дельта-кристаллического слоистого дисиликата натрия. Метод рентгеновской дифрактометрии.
- GB/T 15655-1995 Спецификация в разрезе сверхскрученных нематических жидкокристаллических устройств отображения
- GB/T 6218-1996 Пустая подробная спецификация биполярных транзисторов для коммутационных приложений.
Professional Standard - Machinery, Кристаллическая фаза
- JB/T 8951.1-1999 Биполярный транзистор с изолированным затвором
- JB/T 7826.2-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTQ (MFQ)
- JB/T 7826.3-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTS(MFS)
- JB/T 7826.3-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTS (MFS)
- JB/T 7826.2-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTQ (MFQ)
- JB/T 6307.5-1994 Методы испытаний силовых полупроводниковых модулей. Биполярные транзисторы. Однофазный мост и трехфазный мост.
- JB/T 6324-1992 Тиристоры предназначены для использования в сварочных аппаратах КЕ модели 50А-500А.
- JB/T 7946.4-1999 Металлография литых алюминиевых сплавов. Литейные алюминиево-медные сплавы-Зернистость
- JB/T 8892-1999 Двигатели внутреннего сгорания. Металлографический контроль поршня из эвтектического сплава Al-Si-RE.
- JB/T 8892-2011 Двигатели внутреннего сгорания. Поршень из эвтектического сплава Al-Si-Re. Металлографический контроль.
- JB/T 8951.2-1999 Плечо и пара плеч биполярных транзисторных модулей с изолированным затвором
Aerospace Industries Association, Кристаллическая фаза
AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Кристаллическая фаза
Group Standards of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Кварцевый генератор постоянной температуры
- T/SDZBZZ 001-2022 Пресс-форма для медной трубы дуговой машины для разливки заготовок
- T/JSSIA 0006-2021 Габаритные размеры корпуса уровня пластины с разветвлением
- T/CSTM 00463-2023 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
- T/CSTM 00463-2022 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
- T/CASME 487-2023 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния для автономных сетей
- T/SDTL 09-2022 Художественное покрытие с толстым покрытием Argentite для архитектуры
- T/SBX 046-2021 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ коэффициента упругости нематического термотропного жидкого кристалла
- T/SBX 040-2020 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НЕМАТИЧЕСКИХ ТЕРМОТРОПНЫХ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ
- T/JSSIA 0003-2017 Серийные программы для пакета масштабирования чипов уровня пластины
- T/FSI 121-2023 Силиконовые гели для биполярных транзисторов с изолированным затвором
- T/ZZB 2873-2022 Трехфазные распределительные трансформаторы из аморфного сплава сухого типа, трехмерные распределительные трансформаторы с намотанным сердечником
- T/SBX 041-2021 Определение чистоты трициклического алкинового жидкокристаллического мономера методом газовой хроматографии
- T/SBX 044-2021 Определение чистоты жидкокристаллических мономеров терфенила методом газовой хроматографии
- T/ICMTIA SM0027-2022 Монокристаллическая полированная кремниевая пластина p-типа диаметром 300 мм для передовых технологий памяти
- T/CECS 1397-2023
- T/SBX 070-2022 Определение чистоты жидкокристаллических мономеров алкилдифенила методом газовой хроматографии
Association Francaise de Normalisation, Кристаллическая фаза
- NF T29-002:1968 Химические продукты, предназначенные для фотографии – кристаллизованный тиосульфат натрия.
- NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
- NF A04-102:2003 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
- NF A04-102:2013 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
- NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные паяные вставки – размеры, типы
- NF C93-547-30-1*NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
- NF C93-547-6-2*NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
- NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
- NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Рефлекторного типа
- NF C93-547-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
- NF E66-314:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы.
- NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
- NF C96-611/A1:1972 Полупроводники Переходные транзисторы. Особые стандарты.
- NF S94-750-5:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
- NF S94-750-5*NF EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
- NF EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
HU-MSZT, Кристаллическая фаза
- MNOSZ 5709-1952 Кристаллизатор непрерывного литья. формование резервуара из коры
Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, Кристаллическая фаза
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- DB35/T 1126-2011 Солнечная батарея из аморфного кремния для слабого освещения
- DB35/T 1914-2020 Определение содержания β-кристаллов в β-кристаллических полипропиленовых трубах и фитингах (рентгеноструктурный метод)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Кристаллическая фаза
- GB/T 38907-2020 Водосберегающие предприятия — Поликремниевая промышленность
- GB/T 18910.62-2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
- GB/T 37405-2019 Устройство плавного пуска высокого напряжения с тиристорным управлением фазой.
RU-GOST R, Кристаллическая фаза
International Electrotechnical Commission (IEC), Кристаллическая фаза
- IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.
- IEC 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
- IEC 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
- IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
- IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа; Исправление 1
- IEC 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети - Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети; Поправка
- IEC TR 60444-3:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 3: основной метод измерения двухполюсных параметров кварцевых агрегатов до 200 МГц фазовым методом в ш-сети с компенсацией р
German Institute for Standardization, Кристаллическая фаза
- DIN EN 60444-2:1997 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980); Немецкая версия EN 60444-2:1997.
- DIN EN 61747-6-2:2012-02 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа (IEC 61747-6-2:2011); Немецкая версия EN 61747-6-2:2011
- DIN EN 61747-30-1:2013-03 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012); Немецкая версия EN 61747-30-1:2012 / Примечание: DIN EN 61747-6 (2004-12) остается действительным наряду с этим стандартом до 2...
- DIN EN 60444-1:2000 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети (IEC 60444).
- DIN ISO 16463:2005 Поликристаллические алмазные вставки, с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2004);Английская версия DIN ISO 16463:2005.
- DIN ISO 16463:2015-08 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2014)
- DIN IEC 60122-2:1993-09 Кварцевые блоки регулировки и выбора частоты; часть 2: руководство по использованию кварцевых блоков для регулирования и выбора частоты; идентичен IEC 60122-2:1983
- DIN EN ISO 11979-5:2021-05 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость (ISO 11979-5:2020); Немецкая версия EN ISO 11979-5:2020
American National Standards Institute (ANSI), Кристаллическая фаза
- ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии
- ANSI/ASTM A901:1997 Спецификация для полуобработанных типов аморфных сплавов с магнитным сердечником
American Society for Testing and Materials (ASTM), Кристаллическая фаза
- ASTM E930-99 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
- ASTM E930-99(2007) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
- ASTM E930-18 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
- ASTM E930-99(2015) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
- ASTM E1181-87(1998)e1 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
- ASTM E1181-02 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
- ASTM D6057-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
- ASTM D5357-03 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
- ASTM D5357-19 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
- ASTM D6057-96(2001)e1 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
- ASTM D6057-96 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
- ASTM D6057-96(2006) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
- ASTM A901-03(2008) Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
- ASTM A901-19 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
- ASTM A901-03 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
- ASTM A901-97 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
- ASTM A901-12 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
Professional Standard - Medicine, Кристаллическая фаза
- YY 0290.5-1997 Интраокулярные линзы.Часть 5: Биосовместимость
- YY 0290.5-2008 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5: Биосовместимость.
- YY/T 0290.5-2008 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
- YY/T 0290.5-2023 Офтальмологические оптические интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Кристаллическая фаза
- EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей Передающего типа
- EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
IN-BIS, Кристаллическая фаза
- IS 4570 Pt.7-1985 Спецификация поддержки кварцевого блока, часть 7. Микро, металлический, запаянный, двухпроводной, поддержка кварцевого блока, тип DJ
- IS 4570 Pt.12-1989 Спецификация опор кристаллического модуля. Часть 12. Микрометаллические двухпроволочные опоры кристаллического модуля холодной сварки типа EB.
- IS 4570 Pt.3-1984 Технические характеристики держателей хрусталя. Часть 3. Трубчатые держатели хрусталя (стекла) типов AP, AR, AS, AT и AU.
- IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
- IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
- IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.
- IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
- IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.
- IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обработанных держателей кварцевых блоков. Раздел 3. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 03.
- IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обрабатываемых держателей кварцевых блоков. Раздел 2. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 02.
- IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Обзор кварцевых держателей блоков для автоматического перемещения. Раздел 1. Металлический, герметичный, двухштифтовый держатель кристаллических блоков типа CU 01.
- IS 9728-1981 Технические условия на метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кристаллов кварца
- IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 3. Кварцевый блок типа AA-03.
- IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 5. Кварцевый блок типа AA-05.
- IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 2. Кварцевый блок типа AA-02.
- IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 1. Кварцевый блок типа AA-01.
- IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 Спецификация кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II серии AA. Раздел 4. Кварцевый блок типа AA-04.
- IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 Спецификация кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 6. Кварцевый блок типа AA-06.
- IS 4570 Pt.5-1984 Спецификация держателя кристаллического блока, часть 5 ftfiETAL, запаянный, двухпроводной держатель кристаллического блока типов BF, EF/1 и BG, BG 1
Professional Standard - Building Materials, Кристаллическая фаза
- JC/T 2146-2012 Кристалл ниобата лития, сильно легированный MgO, для применения в квазисинхронизме
Danish Standards Foundation, Кристаллическая фаза
- DS/EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
- DS/EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
- DS/EN 60444-2:1998 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в PI-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
- DS/EN ISO 11979-5:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
- DS/ENV 14273:2002 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Кристаллическая фаза
- EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
ES-UNE, Кристаллическая фаза
- UNE-EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (одобрено AENOR в ноябре 2011 г.)
- UNE-EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (одобрено AENOR в октябре 2012 г.)
- UNE-EN 60444-2:1997 ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА ПО НУЛЕВОЙ ФАЗЕ В ПИ-СЕТИ. ЧАСТЬ 2: МЕТОД СМЕЩЕНИЯ ФАЗ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВИЖИТЕЛЬНОЙ ЕМКОСТИ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА (Одобрено AENOR в октябре 1997 г.)
- UNE-EN ISO 11979-5:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость (ISO 11979-5:2020)
未注明发布机构, Кристаллическая фаза
- BS EN 61747-6-2:2011(2012) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6–2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
- DIN EN 13503-5:2001 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Кристаллическая фаза
- GJB 2138/4-2011 Подробная спецификация кварцевого блока типа JA500
- GJB 1648/1-2011 Детальная спецификация кварцевого генератора типа ЗА511(ЗПБ-5)
- GJB 1648/2-2011 Подробная спецификация кварцевых генераторов с температурной компенсацией типа ZC547(ZWB-1)
- GJB/Z 45.2-1993 Кварцевый генератор спектра военного пьезоэлектрического устройства серии
- GJB/Z 41.6-1993 Военные полупроводниковые дискретные устройства, биполярный транзистор спектра
- GJB/Z 45.1-1993 Военные пьезоэлектрические устройства серии спектральных компонентов кварцевого кристалла
Professional Standard - Aerospace, Кристаллическая фаза
- QJ 2979-1997 Подробная спецификация для кварцевых компонентов типа XJ33
- QJ 2980-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ36
- QJ 2981-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ39
- QJ 2978-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ17
- QJ 2929-1997 Подробная спецификация кварцевого кристаллического элемента типа XJ42
- QJ 3047-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z602, управляемых напряжением
- QJ 3046-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z601, управляемых напряжением
- QJ 2930-1997 Подробные характеристики высокоточных кварцевых элементов XB87
机械工业部, Кристаллическая фаза
- JB 6324-1992 Тиристор КЕ типа от 50А до 500А для электросварочного аппарата
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- DB13/T 5222-2020 Определение чистоты нематического термотропного жидкокристаллического мономера методом газовой хроматографии
- DB13/T 2789-2018 Общие технические требования к нематическим термотропным жидким кристаллам для отображения.
- DB13/T 5223-2020 Метод определения скорости удержания напряжения нематического термотропного жидкокристаллического мономера
- DB13/T 5096-2019 Метод испытания точки исчезновения нематического термотропного жидкого кристалла для монохромного дисплея
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Кристаллическая фаза
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
中国石油化工总公司, Кристаллическая фаза
- SH 2002-1991 Технические условия кристаллизатора корпуса испарения аммиака
European Committee for Standardization (CEN), Кристаллическая фаза
- EN ISO 643:2020 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна (ISO 643:2019, исправленная версия 2020-03)
- EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
Lithuanian Standards Office , Кристаллическая фаза
- LST EN 61747-6-2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6: Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающий тип (IEC 61747-6:2004)
- LST EN 61747-6-2-2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (IEC 61747-6-2:2011)
- LST EN 61747-30-1-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012)
- LST L ENV 14273-2004 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.
United States Navy, Кристаллическая фаза
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- DB44/T 1219-2013 Редкоземельный β-кристаллический зародышеобразователь для полипропилена (ПП)
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- JJF(电子) 20-1982 Методика поверки транзисторного цифрового омметра CR1A
- JJF(电子) 21-1982 Метод проверки графического прибора характеристик транзистора JT-l
Professional Standard - Labor and Labor Safety, Кристаллическая фаза
- LD/T 94-1996 Оборудование с разрывным диском сотового типа для хрустального чайника
国家质量监督检验检疫总局, Кристаллическая фаза
- SN/T 4563-2016 Металлографический метод определения ориентации зерен листов (полос) электротехнической стали.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Кристаллическая фаза
- JIS C 8990:2004 Наземные фотоэлектрические (ФЭ) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа
Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- DB22/T 1617-2012 Определение малахитового зеленого, лейкомалахитового зеленого, кристаллического фиолетового и лейкокристаллфиолетового в сырье методом жидкостной хроматографии-масс-спектрометрии/масс-спектрометрии.
TH-TISI, Кристаллическая фаза
- TIS 1864-2009 Полупроводниковые приборы.часть 7: биполярные транзисторы
劳动部, Кристаллическая фаза
- LD/T 0094-1996 Устройство разрывной мембраны сверхвысокого давления с винтовой пробкой для хрустального чайника
Professional Standard - Hygiene , Кристаллическая фаза
- WS/T 49-1996 Моча.Определение фенола.Газохроматографический метод.I Жидкокристаллическая колонка.
SAE - SAE International, Кристаллическая фаза
- SAE AMS2316A-1991 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ
Society of Automotive Engineers (SAE), Кристаллическая фаза
- SAE AMS2316-1989 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ
Indonesia Standards, Кристаллическая фаза
- SNI IEC 61215:2013 Квалификация проектирования и одобрение типа фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния
Professional Standard - Public Safety Standards, Кристаллическая фаза
- GA/T 1084-2013 Общие спецификации цветных жидкокристаллических мониторов для крупномасштабных мероприятий
Professional Standard - Commodity Inspection, Кристаллическая фаза
- SN/T 1176-2003 Методы проверки сверхскрученных нематических жидкокристаллических устройств отображения при импорте и экспорте
IT-UNI, Кристаллическая фаза
KR-KS, Кристаллическая фаза
Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза
- DB53/T 500-2013 Определение содержания трихлорсиланового компонента в поликремнии методом газовой хроматографии
Professional Standard - Energy, Кристаллическая фаза
- NB/SH/T 6024-2021 Определение относительной кристалличности молекулярного сита ZSM-5 рентгеноструктурным методом