ZH

EN

ES

Кристаллическая фаза

Кристаллическая фаза, Всего: 500 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Кристаллическая фаза, являются: Полупроводниковые материалы, Стекло, Изделия цветных металлов, Фотография, Электронные устройства отображения, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Системы дорожного транспорта, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Электронные компоненты в целом, Солнечная энергетика, Организация и управление компанией, Изделия из железа и стали, Качество воздуха, Анализ размера частиц. просеивание, Испытание металлов, Медицинское оборудование, Полупроводниковые приборы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Керамика, Детали трубопроводов и трубопроводы, Элементы зданий, Компоненты для электрооборудования, Магнитные материалы, Электрические фильтры, Сварка, пайка и пайка, Защита зданий и внутри зданий, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Оптика и оптические измерения, Черные металлы, Космические системы и операции, Режущие инструменты, Энергетика и теплопередача в целом, Краски и лаки, Крепежи, Условия и процедуры испытаний в целом, Аналитическая химия, Коррозия металлов, Изоляционные жидкости, Продукция химической промышленности, Неорганические химикаты, Двигатель внутреннего сгорания, Корма для животных, Резисторы, Клеи, Лабораторная медицина, Трансформеры. Реакторы, Часовое искусство, Терминология (принципы и координация), Строительная индустрия.


Professional Standard - Electron, Кристаллическая фаза

  • SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
  • SJ/Z 9154.2-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристаллического блока. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения динамической емкости кварцевых кристаллических элементов.
  • SJ 51648/5-1997 Тип ZC 503, генераторы, кристалл, подробная спецификация для
  • SJ 51648.4-1995 Генератор, кварцевый, тип ZC505E, подробная спецификация для
  • SJ 2816.1-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J1
  • SJ 2816.3-1987 Подробная спецификация (припаянных) держателей кристаллов (корпусов) для типа J3
  • SJ 20639-1997 Спецификация черного жидкокристаллического гостевого хоста
  • SJ 51648/1-1994 Генератор, кварцевый, тип ZF507, подробная спецификация для
  • SJ 51648/2-1994 Генератор, тип кристалла ZD509, подробная спецификация для
  • SJ/T 11864-2022 Полуизолирующая монокристаллическая подложка из карбида кремния
  • SJ 2592-1985 Кварцевые монолитные фильтры для типа LSP10.7MA(~E)
  • SJ 2816.2-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J1A
  • SJ 2816.4-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (сварных контактной сваркой) для типа J3A
  • SJ 2816.5-1987 Подробная спецификация держателей (корпусов) кристаллов (холодной сварки) для типа J3B
  • SJ 52138.1-1995 Кристаллический элемент, кварц, тип JA 538, подробная спецификация для
  • SJ 20110-1992 Фильтры, кварцевый, тип LST60MA, подробная спецификация для
  • SJ 51508/1-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST60.02M, подробная спецификация для
  • SJ 51508/2-1994 Фильтр, кварцевый, тип LST42.02M, подробная спецификация для
  • SJ 51508/6-1996 Фильтры кварцевые, тип LST21.4M, подробная спецификация для
  • SJ 51648/3-1994 Генератор, кварцевый, тип ZC505 (A ~ D), подробная спецификация для
  • SJ 51508/7-1996 Фильтры кварцевые, тип LST25.0425M, подробная спецификация для
  • SJ 2701-1986 Подробная спецификация кремниевых PNP-транзисторов малой мощности типа 3DX673
  • SJ/Z 9154.1-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристалла. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических элементов.
  • SJ 51508.4-1995 Фильтр, кварцевый, боковая полоса, тип LSB1.4M, подробная спецификация для
  • SJ 51508.5-1995 Фильтр кварцевый монолитный типа ЛСП21.4М ТУ
  • SJ 51508/8-1999 Фильтр кварцевый монолитный тип LP12 детализация
  • SJ/T 31108-1994 Требования к готовности и методы проверки и оценки монокристаллических печей CG3000
  • SJ 2700-1986 Подробная спецификация кремниевых NPN высокочастотных транзисторов средней мощности типа 3DG2060
  • SJ 2702-1986 Подробная спецификация кремниевых NPN высокочастотных маломощных транзисторов типа 3DG458
  • SJ 50033.40-1994 Подробная спецификация полупроводникового кремниевого NPN фототранзистора типа GT11
  • SJ/T 10015-1991 Кварцевые камертоны 32 кГц для часов типа JU38 и JU26

International Organization for Standardization (ISO), Кристаллическая фаза

  • PRF IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
  • IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
  • ISO 419:1972 Тиосульфат натрия фотографической чистоты, кристаллический; Спецификация
  • ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
  • ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
  • ISO 643:1983 Стали; Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Кристаллическая фаза

  • YS/T 225-2010 Микрокристаллическая цинковая пластина для цинкографии.
  • YS/T 225-1994 Микрокристаллический цинковый лист для фотогравировки
  • YS/T 785-2012 Определение относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции

YU-JUS, Кристаллическая фаза

  • JUS N.R9.031-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Измерение параметров кристалла кварца методом нулевой фазы в n-сети. Фазовый метод измерения подвижной емкости кварцевого кристалла
  • JUS N.R9.071-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя двух кристаллов mre, тип 18
  • JUS N.R9.074-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 19
  • JUS N.R9.070-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллы Уарца. Двухштырьковый держатель кристалла, outlfne, type09
  • JUS N.R9.072-1986 Пьезо/электрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур держателя для двух кристаллов, тип 16
  • JUS N.R9.073-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристалл кварца не используется. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 17
  • JUS N.R9.077-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухпроволочный контур держателя кристалла, тип 20
  • JUS N.R9.076-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухконтактный кристаллический нагреватель Outllne, type08
  • JUS N.R9.075-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Двухштырьковый держатель кристалла, тип 10
  • JUS N.R9.069-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя для двух кристаллов Пири, тип 07
  • JUS N.R9.078-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кварцевые кристаллические агрегаты. Контур держателя кристаллов из проволоки Turo, тип 21
  • JUS N.R9.064-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Кристаллические агрегаты Ктуарца. Контур двухпроволочного держателя кристалла. Типы 11, 14 и 15

Professional Standard - Aviation, Кристаллическая фаза

  • HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
  • HBm 66.33-1989 Реле мигалки транзистора минивэна

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • CNS 5152-1980 Кристаллический тиосульфат натрия (фотографический класс)
  • CNS 3009-1994 Транзисторные радиоприемники простого типа
  • CNS 3010-1994 Транзисторные радиоприемники общего типа
  • CNS 5389-1980 Додекагидрат сульфата алюминия и калия (фотографический класс)
  • CNS 5390-1980 Метод определения додекагидрата сульфата алюминия-патассия фотографического качества

RO-ASRO, Кристаллическая фаза

  • STAS 10139-1984 Глясины КРИСТАЛЛ ТИПА
  • STAS 1817/1-1975 НАТРИЯ ТИОСУЛЬФАТ КРИСТАЛЛИЗОВАННЫЙ ФОТОГРАФИЧЕСКОЙ И КИНЕМАТОГРАФИЧЕСКОЙ ЧАСТИ

Defense Logistics Agency, Кристаллическая фаза

  • DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Транзистор PNP германиевый тип 2N2273
  • DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, NPN, кремниевый тип 2N2015, 2N2016
  • DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор транзисторного типа 2N744
  • DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, кремниевый тип 2N3904
  • DLA SMD-5962-91738 REV A-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЙ ТИП D, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97593 REV B-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ШЕСТИГРАННЫЕ ИНВЕРТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, ПОВЕРХНОСТНЫЙ МОНТАЖ
  • DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР NPN КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N1051
  • DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N2631 и 2N2876
  • DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
  • DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГЦ ДО 60,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, ТТЛ
  • DLA SMD-5962-97591 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННЫЕ ТТЛ ШОТКИ, 8-БИТНЫЕ КОМПАРАТОРЫ ИДЕНТИЧНОСТИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА JAN-2N1119
  • DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP КРЕМНИЕВОГО ТИПА 2N2377
  • DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N2377
  • DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый тип 2N1499A
  • DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый тип 2N1234
  • DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый тип 2N1051
  • DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводник, транзистор, NPN, германий, тип питания 2N326
  • DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ТРОЙНАЯ 3-ВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ И ЗАТВОРА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97588 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, ЧЕТЫРЕХВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ ИЛИ С 2 ВХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86719 REV A-2007 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ TTL, СЧЕТВЕРНЫЙ РЕГИСТР D-ТИПА МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-99532 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, 10-БИТЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ ТТЛ, ШИФТЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ЧЕТЫРЕХРУСТНОЙ ШИННЫЙ БУФЕР, TTL-СОВМЕСТИМАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ДВОЙНОЙ 4-ВХОДНЫЙ ЗАТВОР ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ-И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, ДВОЙНОЙ МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86069-1986 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, КОМПАРАТОР ВЕЛИЧИНЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ, ТТЛ ШОТКИ, АРИФМЕТИКО-ЛОГИЧЕСКИЙ БЛОК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, БУФЕРНАЯ, ТРЕХСОСТОЯННАЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, БУФЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87517 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ДВОИЧНЫЙ СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, КРЕПЛЕНИЕ ПЕЧАТНОЙ СХЕМЫ
  • DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ФОТО ТИПА 2N986
  • DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 МИКРОсхема, ЛИНЕЙНАЯ, ТРАНЗИСТОРНАЯ МАССИВ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-S-19500/219 A VALID NOTICE 4-2011 Транзистор, PNP, германиевый, силовое переключение, типы 2N1651, 2N1652, 2N1653
  • DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, PNP, германиевые типы 2N499 и 2N499A
  • DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, типы 2N464, 2N465, 2N467
  • DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N389 и 2N424 (ВМФ)
  • DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор типов 2N1173 и 2N1174 (ВМФ)
  • DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, БУФЕРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 МИКРОсхема, цифровая, транслятор TTL-ECL, монолитный кремний
  • DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ ПЕРЕВОДЧИК ECL-TO-TTL, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ ПРОЗРАЧНЫЕ ЗАЩЕЛКИ ТИПА D С 3-ХОСТОВЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНО-КРЕМНИЕВЫЕ ШЛЕПАНЦЫ D-ТИПА С ТРЕМЯ ГОСУДАРСТВЕННЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA DSCC-DWG-04029-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5927
  • DLA DSCC-DWG-04030-2005 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5926
  • DLA DSCC-DWG-05009-2005 РЕЗИСТОР ФИКСИРОВАННЫЙ, ПЛЕНОЧНЫЙ, ЧИП (MELF), 1/4 ВАТТ, ТИПА 0204
  • DLA DSCC-DWG-99009 REV A-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТРАНЗИСТОР, NPN, КРЕМНИЙ, ВЫСОКОЙ МОЩНОСТИ ТИПА 2N5241
  • DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР ПНП ГЕРМАНИЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТИПА 2Н240
  • DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР ТРАНЗИСТОР PNP, ГЕРМАНИЯ, ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ТИПА 2Н384
  • DLA MIL-S-19500/68 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, тип переключения 2N1120
  • DLA MIL-S-19500/80 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, маломощный тип 3N35
  • DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокой мощности, тип 2N174A
  • DLA MIL-S-19500/25 B VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N240
  • DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N297A
  • DLA MIL-S-19500/44 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N428
  • DLA MIL-S-19500/51 E VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N466
  • DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, высокомощный тип 2N665
  • DLA MIL-S-19500/330 A VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковые приборы, транзистор PNP, германиевые типы от 2N1557A до 2N1560A
  • DLA MIL-S-19500/338 VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, германиевый PNP, тип переключения 2N3449
  • DLA SMD-5962-91586 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ПРИОРИТЕТНЫЙ ЭНКОДЕР С 10 ЛИНИИ НА 4 ЛИНИИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86836 REV C-2001 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ TTL, ИЛИ ВЕНТИЛЯ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86842 REV E-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, И ЗАБИТА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-91627 REV A-2004 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, ЧЕТЫРЕХВХОДНОЙ ДРАЙВЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЛИНЕЙНАЯ, СИЛЬНОТОЧНАЯ NPN, ТРАНЗИСТОРНАЯ МАССИВ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87683 REV C-2006 МИКРОсхема ЦИФРОВАЯ БИПОЛЯРНАЯ АЛС ТТЛ, ДЕКОДЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86070 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ. 8-битный компаратор идентичности, монолитный кремний
  • DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ TTL, ВЕНТИЛИ NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86843 REV C-2006 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, ИНВЕРТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86865 REV D-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ НИЗКАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, НЕ-НЕ-ЗАТВОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86866 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ДЕКОДЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, УНИВЕРСАЛЬНЫЙ МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-92090 REV A-2004 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, 10-БИТНЫЙ БУФЕР/ЛИНИЕЙНЫЙ ДРАЙВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, 3-8-СТРОИТЕЛЬНЫЕ ДЕКОДЕРЫ/ДЕМУЛЬТИПЛЕКСОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ДВОЙНЫЕ СЕЛЕКТОРЫ ДАННЫХ/МУЛЬТИПЛЕКСОРЫ 1-ИЗ-4, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 2-2008 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, малой мощности, тип 2N2708, JAN
  • DLA MIL-S-19500/69 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые, типы JAN-2N337 и JAN-2N338
  • DLA MIL-S-19500/71 D VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип 2N1195
  • DLA MIL-S-19500/87 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германиевый маломощный тип 2N1142
  • DLA MIL-S-19500/16 E VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы, NPN, кремниевые типы 2N342, 2N342A и 2N343
  • DLA MIL-S-19500/138 C VALID NOTICE 4-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, кремниевый, маломощный, тип 2N1118
  • DLA MIL-S-19500/174 B VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковый прибор, транзистор, PNP, германий, маломощный тип JAN-2N398A
  • DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 3-2013 Полупроводниковый прибор, транзистор, NPN, кремниевый, малой мощности, тип 2N2708, JAN
  • DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, ГЕНЕРАТОР, УПРАВЛЯЕМЫЙ НАПРЯЖЕНИЕМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86838 REV C-2001 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, НОР-ВЕЙТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86841 REV D-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ И ВЕНТИЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86844 REV D-2006 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БИПОЛЯРНЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, НОР-ВЕЙТЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86876 REV B-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ TTL, СЧЕТЧИК ПОВЕРХ/ВНИЗ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-98621-1998 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, СОВРЕМЕННЫЕ КМОП, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ТАКТОВЫЙ ГЕНЕРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA MIL-S-19500/372 A VALID NOTICE 2-2004 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ТИРИСТОР (УПРАВЛЯЕМЫЙ ВЫПРЯМИТЕЛЬ), КРЕМНИЕВЫЕ ТИПЫ 2N4199 ДО 2N4206
  • DLA SMD-5962-97585 REV A-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ БУФЕРЫ С АКТИВНЫМИ ИНВЕРСИРОВАННЫМИ ВЫХОДАМИ С 3-Х СОСТОЯНИЯМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-97586 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ БУФЕРЫ С АКТИВНЫМИ НИЗКИМИ ВКЛЮЧЕННЫМИ 3-СОСТОЯННЫМИ НЕИНВЕРТИРУЕМЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БИПОЛЯРНЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-91661-1993 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, ЧЕТЫРЕХТРОЙНОЙ ТРЕХНАПРАВЛЕННЫЙ ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ РАСШИРЕННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ, ТТЛ ШОТТКИ, ВОРОТА NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86840 REV E-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ ТТЛ, СЧЕТЧИК, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
  • DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Кристаллическая фаза

  • KS B 2813-2019 Дисковые затворы с резиновым седлом вафельного типа
  • KS C IEC 61747-6:2005 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
  • KS D ISO 14250:2003 Сталеметаллографическая характеристика размеров и распределения дуплексного гриана.
  • KS D ISO 14250:2014 Сталь - Металлографическая характеристика размеров и распределения дуплексного грана.
  • KS C IEC 60444-2-2002(2017) Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в p-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
  • KS C IEC 61747-6-2:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Отражательного типа.
  • KS C IEC 60444-2-2002(2022) Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в p-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
  • KS D 0205-2002(2022) Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
  • KS P ISO 11979-5:2006 Офтальмологические имплантаты-Интраокулярные линзы-Часть 5:Биосовместимость
  • KS D 0205-2002(2017) Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
  • KS P ISO 11979-5-2006(2016) Офтальмологические имплантаты-Интраокулярные линзы-Часть 5:Биосовместимость
  • KS P ISO 11979-5:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
  • KS D 0205-1987 Сталь - Микрографическое определение размера ферритного или аустенитного зерна.
  • KS C IEC 61215:2006 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния – Квалификация конструкции и одобрение типа

U.S. Military Regulations and Norms, Кристаллическая фаза

Professional Standard - Agriculture, Кристаллическая фаза

  • 331药典 四部-2020 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
  • 316药典 四部-2015 9000 Руководящие принципы 9015 Руководящие принципы исследования кристаллических форм лекарственных средств и контроля качества кристаллических форм
  • 877兽药典 一部-2015 Содержание приложения Руководящие принципы 9000. Руководящие принципы 9015 для исследования кристаллических форм ветеринарных препаратов и контроля качества кристаллических форм.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Кристаллическая фаза

  • YB/T 4290-2012 Метод определения наибольшей крупности зерна (зерен АЛК) на поверхности металлографического контроля

British Standards Institution (BSI), Кристаллическая фаза

  • BS EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
  • BS EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
  • BS EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
  • BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов
  • BS DD ENV 14273:2002 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.
  • BS EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы - Биосовместимость
  • BS EN 60444-2:1993 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
  • 21/30447603 DC БС ЕН МЭК 61747-30-1. Устройства жидкокристаллические индикаторные. Часть 30-1. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
  • DD ENV 14273:2002 Передовая техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония
  • BS EN 60444-1:1993 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в $Gp-сети
  • BS ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
  • BS ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы

CZ-CSN, Кристаллическая фаза

  • CSN 70 8010-1988 Хрустальное стекло формовано на машине типа ЛИНКУЗ.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Кристаллическая фаза

  • GB/T 6430-1986 Правила обозначения типа кристаллодержателей (корпусов)
  • GB 6430-1986 Номенклатура моделей хрустальных коробок
  • GB/T 16468-1996 Серийные программы для статических индукционных транзисторов
  • GB/T 3351-1982 Обозначения синтетических кристаллов кварца
  • GB/T 11295-1989 Правило обозначения стержней лазерных кристаллов
  • GB 18445-2001 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
  • GB/T 3951-1983 Правило обозначения типа жидкокристаллических устройств отображения
  • GB 18445-2012 Цементные капиллярно-кристаллические гидроизоляционные материалы
  • GB/T 9532-2012 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов
  • GB/T 17007-1997 Методы измерения биполярного транзистора с изолированным затвором
  • GB/T 12275-1990 Правила обозначения типа кварцевых генераторов
  • GB 12275-1990 Номенклатура моделей кварцевых генераторов
  • GB/T 21952-2023 Типы и размеры поликристаллических алмазных дисков
  • GB/T 6627-1986 Обозначение громоздкого кристалла синтетического кварца.
  • GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
  • GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
  • GB 6627-1986 Номенклатура моделей стержней из искусственного кварцевого кристалла
  • GB/T 19421.1-2003 Методы испытаний кристаллического слоистого дисиликата натрия. Качественный анализ дельта-кристаллического слоистого дисиликата натрия. Метод рентгеновской дифрактометрии.
  • GB/T 15655-1995 Спецификация в разрезе сверхскрученных нематических жидкокристаллических устройств отображения
  • GB/T 6218-1996 Пустая подробная спецификация биполярных транзисторов для коммутационных приложений.

Professional Standard - Machinery, Кристаллическая фаза

  • JB/T 8951.1-1999 Биполярный транзистор с изолированным затвором
  • JB/T 7826.2-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTQ (MFQ)
  • JB/T 7826.3-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTS(MFS)
  • JB/T 7826.3-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTS (MFS)
  • JB/T 7826.2-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTQ (MFQ)
  • JB/T 6307.5-1994 Методы испытаний силовых полупроводниковых модулей. Биполярные транзисторы. Однофазный мост и трехфазный мост.
  • JB/T 6324-1992 Тиристоры предназначены для использования в сварочных аппаратах КЕ модели 50А-500А.
  • JB/T 7946.4-1999 Металлография литых алюминиевых сплавов. Литейные алюминиево-медные сплавы-Зернистость
  • JB/T 8892-1999 Двигатели внутреннего сгорания. Металлографический контроль поршня из эвтектического сплава Al-Si-RE.
  • JB/T 8892-2011 Двигатели внутреннего сгорания. Поршень из эвтектического сплава Al-Si-Re. Металлографический контроль.
  • JB/T 8951.2-1999 Плечо и пара плеч биполярных транзисторных модулей с изолированным затвором

Aerospace Industries Association, Кристаллическая фаза

  • AIA NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Кристаллическая фаза

  • NAS4117-1996 Теплоотвод-изолятор @ Тип пластины
  • NAS4117-2012 ТЕПЛООТВОД@ ИЗОЛЯТОР@ ВАФЕЛЬНОГО ТИПА (Ред. 1)

Group Standards of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • T/HEBQIA 135-2022 OC1409 Кварцевый генератор постоянной температуры
  • T/SDZBZZ 001-2022 Пресс-форма для медной трубы дуговой машины для разливки заготовок
  • T/JSSIA 0006-2021 Габаритные размеры корпуса уровня пластины с разветвлением
  • T/CSTM 00463-2023 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
  • T/CSTM 00463-2022 Классификация черных колец в фотоэлектрических элементах кристаллического кремния N-типа
  • T/CASME 487-2023 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния для автономных сетей
  • T/SDTL 09-2022 Художественное покрытие с толстым покрытием Argentite для архитектуры
  • T/SBX 046-2021 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ коэффициента упругости нематического термотропного жидкого кристалла
  • T/SBX 040-2020 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НЕМАТИЧЕСКИХ ТЕРМОТРОПНЫХ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ
  • T/JSSIA 0003-2017 Серийные программы для пакета масштабирования чипов уровня пластины
  • T/FSI 121-2023 Силиконовые гели для биполярных транзисторов с изолированным затвором
  • T/ZZB 2873-2022 Трехфазные распределительные трансформаторы из аморфного сплава сухого типа, трехмерные распределительные трансформаторы с намотанным сердечником
  • T/SBX 041-2021 Определение чистоты трициклического алкинового жидкокристаллического мономера методом газовой хроматографии
  • T/SBX 044-2021 Определение чистоты жидкокристаллических мономеров терфенила методом газовой хроматографии
  • T/ICMTIA SM0027-2022 Монокристаллическая полированная кремниевая пластина p-типа диаметром 300 мм для передовых технологий памяти
  • T/CECS 1397-2023
  • T/SBX 070-2022 Определение чистоты жидкокристаллических мономеров алкилдифенила методом газовой хроматографии

Association Francaise de Normalisation, Кристаллическая фаза

  • NF T29-002:1968 Химические продукты, предназначенные для фотографии – кристаллизованный тиосульфат натрия.
  • NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
  • NF A04-102:2003 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
  • NF A04-102:2013 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
  • NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные паяные вставки – размеры, типы
  • NF C93-547-30-1*NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
  • NF C93-547-6-2*NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
  • NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
  • NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Рефлекторного типа
  • NF C93-547-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
  • NF E66-314:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы.
  • NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
  • NF C96-611/A1:1972 Полупроводники Переходные транзисторы. Особые стандарты.
  • NF S94-750-5:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
  • NF S94-750-5*NF EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
  • NF EN ISO 11979-5:2020 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.

HU-MSZT, Кристаллическая фаза

  • MNOSZ 5709-1952 Кристаллизатор непрерывного литья. формование резервуара из коры

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, Кристаллическая фаза

  • AIA/NAS NAS 4117-1996 Теплоотвод-изолятор, пластинчатого типа
  • AIA/NAS NAS4117-2012 РАДИАТОР, ИЗОЛЯТОР, ВАФЕЛЬНОГО ТИПА (Ред. 1)
  • AIA/NAS NAS 67-1973 Направляющая-застежка, низкая форма, капот, тип Дзус (Ред. 4)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • DB35/T 1126-2011 Солнечная батарея из аморфного кремния для слабого освещения
  • DB35/T 1914-2020 Определение содержания β-кристаллов в β-кристаллических полипропиленовых трубах и фитингах (рентгеноструктурный метод)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Кристаллическая фаза

  • GB/T 38907-2020 Водосберегающие предприятия — Поликремниевая промышленность
  • GB/T 18910.62-2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
  • GB/T 37405-2019 Устройство плавного пуска высокого напряжения с тиристорным управлением фазой.

RU-GOST R, Кристаллическая фаза

  • GOST R ISO 14250-2013 Сталь. Металлографическая характеристика размера и распределения зерен дуплекса.
  • GOST R ISO 643-2011 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
  • GOST R ISO 643-2015 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна
  • GOST 27264-1987 Силовые биполярные транзисторы. Методы измерения
  • GOST 17466-1980 Транзисторы биполярные и полевые. Основные параметры
  • GOST 18604.10-1976 Транзисторы биполярные. Методика измерения входного сопротивления
  • GOST 18604.26-1985 Биполярные транзисторы. Методы измерения временных параметров
  • GOST 18604.23-1980 Биполярные транзисторы. Метод измерения комбинационных частот
  • GOST 16947-1971 Транзисторы типа ГТ701А для аппаратуры широкого применения.

International Electrotechnical Commission (IEC), Кристаллическая фаза

  • IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.
  • IEC 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
  • IEC 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
  • IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
  • IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа; Исправление 1
  • IEC 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
  • IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети - Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети; Поправка
  • IEC TR 60444-3:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 3: основной метод измерения двухполюсных параметров кварцевых агрегатов до 200 МГц фазовым методом в ш-сети с компенсацией р

German Institute for Standardization, Кристаллическая фаза

  • DIN EN 60444-2:1997 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980); Немецкая версия EN 60444-2:1997.
  • DIN EN 61747-6-2:2012-02 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа (IEC 61747-6-2:2011); Немецкая версия EN 61747-6-2:2011
  • DIN EN 61747-30-1:2013-03 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012); Немецкая версия EN 61747-30-1:2012 / Примечание: DIN EN 61747-6 (2004-12) остается действительным наряду с этим стандартом до 2...
  • DIN EN 60444-1:2000 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети (IEC 60444).
  • DIN ISO 16463:2005 Поликристаллические алмазные вставки, с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2004);Английская версия DIN ISO 16463:2005.
  • DIN ISO 16463:2015-08 Поликристаллические алмазные вставки с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2014)
  • DIN IEC 60122-2:1993-09 Кварцевые блоки регулировки и выбора частоты; часть 2: руководство по использованию кварцевых блоков для регулирования и выбора частоты; идентичен IEC 60122-2:1983
  • DIN EN ISO 11979-5:2021-05 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость (ISO 11979-5:2020); Немецкая версия EN ISO 11979-5:2020

American National Standards Institute (ANSI), Кристаллическая фаза

  • ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии
  • ANSI/ASTM A901:1997 Спецификация для полуобработанных типов аморфных сплавов с магнитным сердечником

American Society for Testing and Materials (ASTM), Кристаллическая фаза

  • ASTM E930-99 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
  • ASTM E930-99(2007) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
  • ASTM E930-18 Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
  • ASTM E930-99(2015) Стандартные методы испытаний для оценки наибольшего зерна, наблюдаемого в металлографическом сечении (размер зерна ALA)
  • ASTM E1181-87(1998)e1 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
  • ASTM E1181-02 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен
  • ASTM D6057-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
  • ASTM D5357-03 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
  • ASTM D5357-19 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
  • ASTM D6057-96(2001)e1 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
  • ASTM D6057-96 Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
  • ASTM D6057-96(2006) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии
  • ASTM A901-03(2008) Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
  • ASTM A901-19 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
  • ASTM A901-03 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
  • ASTM A901-97 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
  • ASTM A901-12 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов

Professional Standard - Medicine, Кристаллическая фаза

  • YY 0290.5-1997 Интраокулярные линзы.Часть 5: Биосовместимость
  • YY 0290.5-2008 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5: Биосовместимость.
  • YY/T 0290.5-2008 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
  • YY/T 0290.5-2023 Офтальмологические оптические интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Кристаллическая фаза

  • EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей Передающего типа
  • EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа

IN-BIS, Кристаллическая фаза

  • IS 4570 Pt.7-1985 Спецификация поддержки кварцевого блока, часть 7. Микро, металлический, запаянный, двухпроводной, поддержка кварцевого блока, тип DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 Спецификация опор кристаллического модуля. Часть 12. Микрометаллические двухпроволочные опоры кристаллического модуля холодной сварки типа EB.
  • IS 4570 Pt.3-1984 Технические характеристики держателей хрусталя. Часть 3. Трубчатые держатели хрусталя (стекла) типов AP, AR, AS, AT и AU.
  • IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
  • IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
  • IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обработанных держателей кварцевых блоков. Раздел 3. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 03.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обрабатываемых держателей кварцевых блоков. Раздел 2. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 02.
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Обзор кварцевых держателей блоков для автоматического перемещения. Раздел 1. Металлический, герметичный, двухштифтовый держатель кристаллических блоков типа CU 01.
  • IS 9728-1981 Технические условия на метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кристаллов кварца
  • IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 3. Кварцевый блок типа AA-03.
  • IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 5. Кварцевый блок типа AA-05.
  • IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 2. Кварцевый блок типа AA-02.
  • IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 1. Кварцевый блок типа AA-01.
  • IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 Спецификация кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II серии AA. Раздел 4. Кварцевый блок типа AA-04.
  • IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 Спецификация кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 6. Кварцевый блок типа AA-06.
  • IS 4570 Pt.5-1984 Спецификация держателя кристаллического блока, часть 5 ftfiETAL, запаянный, двухпроводной держатель кристаллического блока типов BF, EF/1 и BG, BG 1

Professional Standard - Building Materials, Кристаллическая фаза

  • JC/T 2146-2012 Кристалл ниобата лития, сильно легированный MgO, для применения в квазисинхронизме

Danish Standards Foundation, Кристаллическая фаза

  • DS/EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
  • DS/EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
  • DS/EN 60444-2:1998 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в PI-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
  • DS/EN ISO 11979-5:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.
  • DS/ENV 14273:2002 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Кристаллическая фаза

  • EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.

ES-UNE, Кристаллическая фаза

  • UNE-EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (одобрено AENOR в ноябре 2011 г.)
  • UNE-EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (одобрено AENOR в октябре 2012 г.)
  • UNE-EN 60444-2:1997 ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА ПО НУЛЕВОЙ ФАЗЕ В ПИ-СЕТИ. ЧАСТЬ 2: МЕТОД СМЕЩЕНИЯ ФАЗ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВИЖИТЕЛЬНОЙ ЕМКОСТИ КРИСТАЛЛОВ КВАРЦА (Одобрено AENOR в октябре 1997 г.)
  • UNE-EN ISO 11979-5:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость (ISO 11979-5:2020)

未注明发布机构, Кристаллическая фаза

  • BS EN 61747-6-2:2011(2012) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6–2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
  • DIN EN 13503-5:2001 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Кристаллическая фаза

  • GJB 2138/4-2011 Подробная спецификация кварцевого блока типа JA500
  • GJB 1648/1-2011 Детальная спецификация кварцевого генератора типа ЗА511(ЗПБ-5)
  • GJB 1648/2-2011 Подробная спецификация кварцевых генераторов с температурной компенсацией типа ZC547(ZWB-1)
  • GJB/Z 45.2-1993 Кварцевый генератор спектра военного пьезоэлектрического устройства серии
  • GJB/Z 41.6-1993 Военные полупроводниковые дискретные устройства, биполярный транзистор спектра
  • GJB/Z 45.1-1993 Военные пьезоэлектрические устройства серии спектральных компонентов кварцевого кристалла

Professional Standard - Aerospace, Кристаллическая фаза

  • QJ 2979-1997 Подробная спецификация для кварцевых компонентов типа XJ33
  • QJ 2980-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ36
  • QJ 2981-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ39
  • QJ 2978-1997 Подробные характеристики кварцевых элементов XJ17
  • QJ 2929-1997 Подробная спецификация кварцевого кристаллического элемента типа XJ42
  • QJ 3047-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z602, управляемых напряжением
  • QJ 3046-1998 Подробные характеристики кварцевых генераторов Z601, управляемых напряжением
  • QJ 2930-1997 Подробные характеристики высокоточных кварцевых элементов XB87

机械工业部, Кристаллическая фаза

  • JB 6324-1992 Тиристор КЕ типа от 50А до 500А для электросварочного аппарата

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • DB13/T 5222-2020 Определение чистоты нематического термотропного жидкокристаллического мономера методом газовой хроматографии
  • DB13/T 2789-2018 Общие технические требования к нематическим термотропным жидким кристаллам для отображения.
  • DB13/T 5223-2020 Метод определения скорости удержания напряжения нематического термотропного жидкокристаллического мономера
  • DB13/T 5096-2019 Метод испытания точки исчезновения нематического термотропного жидкого кристалла для монохромного дисплея

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Кристаллическая фаза

  • GJB 2138/1-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA533
  • GJB 2138/2-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA547.
  • GJB 2138/3-2007 Детальная спецификация кварцевых резонаторов JA557.
  • GJB 2138.1-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA533
  • GJB 2138.3-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA557
  • GJB 2138.2-2007 Подробная спецификация кварцевого резонатора JA547

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • JJG(电子) 04045-1995 Правила поверки тестера транзисторов JS-7B
  • JJG(电子) 04052-1995 Правила поверки прибора быстрого досмотра транзисторов ПТК-2

中国石油化工总公司, Кристаллическая фаза

  • SH 2002-1991 Технические условия кристаллизатора корпуса испарения аммиака

European Committee for Standardization (CEN), Кристаллическая фаза

  • EN ISO 643:2020 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна (ISO 643:2019, исправленная версия 2020-03)
  • EN ISO 643:2012 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.

Lithuanian Standards Office , Кристаллическая фаза

  • LST EN 61747-6-2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6: Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающий тип (IEC 61747-6:2004)
  • LST EN 61747-6-2-2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (IEC 61747-6-2:2011)
  • LST EN 61747-30-1-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012)
  • LST L ENV 14273-2004 Современная техническая керамика. Керамические порошки. Определение кристаллических фаз в диоксиде циркония.

United States Navy, Кристаллическая фаза

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • DB44/T 1219-2013 Редкоземельный β-кристаллический зародышеобразователь для полипропилена (ПП)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • JJF(电子) 20-1982 Методика поверки транзисторного цифрового омметра CR1A
  • JJF(电子) 21-1982 Метод проверки графического прибора характеристик транзистора JT-l

Professional Standard - Labor and Labor Safety, Кристаллическая фаза

  • LD/T 94-1996 Оборудование с разрывным диском сотового типа для хрустального чайника

国家质量监督检验检疫总局, Кристаллическая фаза

  • SN/T 4563-2016 Металлографический метод определения ориентации зерен листов (полос) электротехнической стали.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Кристаллическая фаза

  • JIS C 8990:2004 Наземные фотоэлектрические (ФЭ) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • DB22/T 1617-2012 Определение малахитового зеленого, лейкомалахитового зеленого, кристаллического фиолетового и лейкокристаллфиолетового в сырье методом жидкостной хроматографии-масс-спектрометрии/масс-спектрометрии.

TH-TISI, Кристаллическая фаза

  • TIS 1864-2009 Полупроводниковые приборы.часть 7: биполярные транзисторы

劳动部, Кристаллическая фаза

  • LD/T 0094-1996 Устройство разрывной мембраны сверхвысокого давления с винтовой пробкой для хрустального чайника

Professional Standard - Hygiene , Кристаллическая фаза

  • WS/T 49-1996 Моча.Определение фенола.Газохроматографический метод.I Жидкокристаллическая колонка.

SAE - SAE International, Кристаллическая фаза

  • SAE AMS2316A-1991 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ

Society of Automotive Engineers (SAE), Кристаллическая фаза

  • SAE AMS2316-1989 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА РАЗМЕРА ЗЕРНА В ДЕВАЛИРУЕМЫХ НИКЕЛЕВЫХ И ЖАРОПРОЧНЫХ СПЛАВАХ

Indonesia Standards, Кристаллическая фаза

  • SNI IEC 61215:2013 Квалификация проектирования и одобрение типа фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния

Professional Standard - Public Safety Standards, Кристаллическая фаза

  • GA/T 1084-2013 Общие спецификации цветных жидкокристаллических мониторов для крупномасштабных мероприятий

Professional Standard - Commodity Inspection, Кристаллическая фаза

  • SN/T 1176-2003 Методы проверки сверхскрученных нематических жидкокристаллических устройств отображения при импорте и экспорте

IT-UNI, Кристаллическая фаза

  • UNI EN ISO 11979-5:2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.

KR-KS, Кристаллическая фаза

  • KS P ISO 11979-5-2021 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 5. Биосовместимость.

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Кристаллическая фаза

  • DB53/T 500-2013 Определение содержания трихлорсиланового компонента в поликремнии методом газовой хроматографии

Professional Standard - Energy, Кристаллическая фаза

  • NB/SH/T 6024-2021 Определение относительной кристалличности молекулярного сита ZSM-5 рентгеноструктурным методом




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.