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coleccionista de imágenes

coleccionista de imágenes, Total: 496 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en coleccionista de imágenes son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Comunicaciones de fibra óptica., Equipo óptico, Pruebas no destructivas, Protección contra el crimen, Componentes electrónicos en general., Optoelectrónica. Equipo láser, Vocabularios, Astronomía. Geodesia. Geografía, Dispositivos de almacenamiento de datos, Fotografía, Dibujos tecnicos, Óptica y medidas ópticas., Equipo medico, Tratamiento superficial y revestimiento., Cereales, legumbres y productos derivados, Materiales semiconductores, Tecnología gráfica, Control de accidentes y desastres, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el fuego, Dispositivos semiconductores, Lámparas y equipos relacionados., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Controles automáticos para uso doméstico., Agricultura y silvicultura, Pruebas mecánicas, Vaso, Pinturas y barnices, Medidas lineales y angulares., Mediciones de vibraciones, golpes y vibraciones., Juegos de caracteres y codificación de información., Desarrollo de software y documentación del sistema., Ejes y acoplamientos, Ingeniería vial, ingeniería de energía solar, Instalaciones en edificios, Aplicaciones de la tecnología de la información., Equipo de cocina, Encendiendo, tubos electronicos, Calidad del aire, Sistemas de automatización industrial, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Química analítica, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Transformadores. reactores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones..


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, coleccionista de imágenes

  • GB/T 43063-2023 Método de prueba del sensor de imagen CMOS de circuito integrado
  • GB/T 28511.1-2012 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en un circuito de onda de luz plana. Parte 1: Divisor de potencia óptica basado en tecnología PLC.
  • GB/T 29846-2013 Pasta resistente al grabado y revestimiento fotoimagen de placas de circuito impreso
  • GB/T 28511.2-2012 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en circuitos de ondas de luz planas. Parte 2: Filtro DWDM basado en tecnología AWG
  • GB/T 15651-1995 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: Dispositivos optoelectrónicos
  • GB/T 17574-1998 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • GB/T 17940-2000 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • GB/T 17574.9-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2-9: Circuitos integrados digitales. Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS.
  • GB/T 17574.20-2006 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 2-20: Circuitos integrados digitales Especificación de la familia Circuitos integrados de baja tensión
  • GB/T 20515-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • GB/T 17574.10-2003 Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 2-10: Circuitos integrados digitales-Especificación detallada en blanco para memorias dinámicas de lectura/escritura de circuitos integrados
  • GB/T 24791.3-2009 Fotografía.Sensitometría del sistema de pantalla/película para radiografía médica.Parte 3:Determinación de la forma de la curva sensitométrica, velocidad y gradiente promedio para mamografía.
  • GB/T 15651.3-2003 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos Métodos de medición

工业和信息化部, coleccionista de imágenes

  • YD/T 3540-2019 Detector de potencia óptica integrado (IPM)
  • YD/T 2000.2-2018 Dispositivo de circuito óptico integrado de guía de ondas ópticas planas Parte 2: Filtro de multiplexación por división de longitud de onda densa (DWDM) basado en tecnología de rejilla de guía de ondas (AWG)
  • YD/T 2799.1-2015 Condiciones técnicas para receptores ópticos coherentes integrados Parte 1: 40 Gb/s
  • YD/T 2799.2-2015 Especificaciones técnicas para receptores ópticos coherentes integrados Parte 2: 100 Gb/s
  • YD/T 2799.4-2021 Condiciones técnicas para receptores ópticos coherentes integrados Parte 4: 400 Gb/s
  • YD/T 2904.2-2018 Componentes láser sintonizables integrados Parte 2: Componentes miniaturizados
  • YD/T 2904.3-2019 Componentes láser sintonizables integrados Parte 3: Componentes de doble canal
  • YD/T 2799.3-2018 Condiciones técnicas para receptores ópticos coherentes integrados Parte 3: Miniaturización de 100 Gbit/s
  • YD/T 3126.1-2016 Módulo de fuente de luz sintonizable integrado, parte 1: interfaz
  • YD/T 3831.1-2021 Transceptor coherente integrado y componentes luminosos, parte 1: 100 Gb/s
  • YD/T 3831.2-2022 Transceptor coherente integrado y componentes luminosos, parte 2: 400 Gb/s

U.S. Military Regulations and Norms, coleccionista de imágenes

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), coleccionista de imágenes

  • KS B ISO 9358:2006 Óptica e instrumentos ópticos Deslumbramiento velador de sistemas de formación de imágenes: definiciones y métodos de medición
  • KS B ISO 9358-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos -- Deslumbramiento velador de los sistemas de formación de imágenes -- Definiciones y métodos de medición
  • KS B ISO 9358-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos -- Deslumbramiento velador de los sistemas de formación de imágenes -- Definiciones y métodos de medición
  • KS A ISO 18925:2006 Materiales de imagen-Medios de disco óptico-Prácticas de almacenamiento
  • KS A ISO 18925-2016(2021) Materiales de imagen－Medios de disco óptico－Prácticas de almacenamiento
  • KS A ISO 18925:2016 Materiales de imagen－Medios de disco óptico－Prácticas de almacenamiento
  • KS C IEC 60747-5:2004 Dispositivos semiconductores－Dispositivos discretos－Parte 5:Dispositivos optoelectrónicos
  • KS C IEC 60747-5-1:2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • KS C IEC 60748-3-1:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 3：Circuitos integrados analógicos－Sección 1：Especificación detallada en blanco para amplificadores operacionales integrados monolíticos
  • KS C IEC 60748-2-8:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 8:Especificación detallada en blanco para memorias estáticas de lectura/escritura de circuitos integrados
  • KS A ISO 12234-2-2006(2021) Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 2: Formato de datos de imagen TIFF/EP
  • KS A ISO 12234-2-2006(2016) Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 2: Formato de datos de imagen TIFF/EP
  • KS C IEC 60748-4:2004 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-2:2001 Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2021) Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2016) Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-4-2004(2020) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-3-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS G ISO 11380-2001(2016) Óptica e instrumentos ópticos－Óptica oftálmica－Formadores
  • KS C IEC 62149-3-2005(2020) Componentes y dispositivos activos de fibra óptica－Estándares de rendimiento－Parte 3: Modulador de 2,5 Gbit/s－Transmisores de diodo láser integrados
  • KS B ISO 9345-1-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
  • KS B ISO 9345-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
  • KS C IEC 60748-2-6-2002(2022) Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales Sección 6: Especificación detallada en blanco para circuitos integrados de microprocesadores
  • KS C IEC 60748-2-6-2002(2017) Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales Sección 6: Especificación detallada en blanco para circuitos integrados de microprocesadores
  • KS C IEC 60748-5:2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60747-5-1:2004 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados－Parte 5－1：Dispositivos optoelectrónicos－General
  • KS C IEC 60747-5-3:2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • KS C IEC 60748-2-20:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2－20：Circuitos integrados digitales－Especificación de familia－Circuitos integrados de baja tensión
  • KS C IEC 60748-2-20:2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2-20: Circuitos integrados digitales. Especificaciones de la familia. Circuitos integrados de baja tensión.
  • KS C IEC 60748-3-1-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 3：Circuitos integrados analógicos－Sección 1：Especificación detallada en blanco para amplificadores operacionales integrados monolíticos
  • KS C IEC 60748-3-1-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 3：Circuitos integrados analógicos－Sección 1：Especificación detallada en blanco para amplificadores operacionales integrados monolíticos
  • KS C IEC 60748-5:2003 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • KS C IEC 60748-20:2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS C IEC 60747-5-3:2004 Dispositivos semiconductores－Dispositivos discretos－Parte 5－3：Dispositivos optoelectrónicos－Método de medición
  • KS C IEC 60050-521-2002(2022) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60050-521-2002(2017) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60748-20-1:2003 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbrida－Sección 1: Requisitos para el examen visual interno
  • KS C IEC 60748-20:2003 Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos
  • KS C IEC 60748-2-10:2001 Circuitos integrados semiconductores - Parte 2: Circuitos integrados digitales Sección 10 - Especificación detallada en blanco para memorias dinámicas de lectura/escritura de circuitos integrados (excluyendo matrices lógicas no comprometidas)
  • KS C IEC 60748-2-8-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 8:Especificación detallada en blanco para memorias estáticas de lectura/escritura de circuitos integrados
  • KS C IEC 60748-2-8-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 8:Especificación detallada en blanco para memorias estáticas de lectura/escritura de circuitos integrados
  • KS A ISO 12234-1-2016(2021) Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 1: Modelo básico de memoria extraíble
  • KS B ISO 11807-2-2017(2022) Óptica integrada — Vocabulario — Parte 2: Términos utilizados en la clasificación
  • KS C IEC 60748-20:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS C IEC 60748-2-20:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS C IEC 60748-2-12-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2：Circuitos integrados digitales－Sección 12：Circuitos integrados digitales－Especificación detallada en blanco para dispositivos lógicos programables (PLD)
  • KS C IEC 60748-2-9:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 9:Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS
  • KS C IEC 60748-2-9-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 9:Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS
  • KS C IEC 60748-2-9-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 9:Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS
  • KS C IEC 60748-2-7:2002 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales Sección 7: Especificación detallada en blanco para circuitos integrados fusible - enlace bipolar programable - memorias de solo lectura
  • KS A 4730-1997(2007) Unidades de rayos X monotanque para uso diagnóstico
  • KS C ISO 10656-2001(2006) Soldadura por resistencia eléctrica－Transformadores integrados para pistolas de soldar
  • KS G ISO 11380-2001(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Óptica oftálmica－Formadores
  • KS A ISO 18929:2007 Materiales de imagen－Plata procesada en húmedo－gelatina tipo impresiones fotográficas en blanco y negro－Especificaciones para almacenamiento en oscuridad
  • KS C IEC 60748-2-12-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2：Circuitos integrados digitales－Sección 12：Circuitos integrados digitales－Especificación detallada en blanco para dispositivos lógicos programables (PLD)
  • KS C IEC 60748-2-3-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2:Circuitos integrados digitales－Sección 3:Especificación detallada en blanco para circuitos integrados digitales HCMOS (series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU)
  • KS B ISO 14881:2006 Óptica integrada－Interfaces－Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento
  • KS B ISO 11807-2:2007 Óptica integrada－Vocabulario－Parte 2：Términos utilizados en la clasificación
  • KS C 8577-2022 Construcción de módulos fotovoltaicos integrados (BIPV): el requisito de la evaluación del desempeño
  • KS C 8577-2016(2021) Construcción de módulos fotovoltaicos integrados (BIPV): el requisito de la evaluación del desempeño
  • KS C IEC 60748-2-11:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 2－11：Circuitos integrados digitales－Especificación detallada en blanco para circuito integrado de suministro único, memoria de solo lectura programable y borrable eléctricamente
  • KS C IEC 60747-5-2:2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.

International Organization for Standardization (ISO), coleccionista de imágenes

  • ISO 9358:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Deslumbramiento velante de los sistemas de formación de imágenes - Definiciones y métodos de medición
  • ISO 18925:2008 Materiales de imagen - Medios de disco óptico - Prácticas de almacenamiento
  • ISO 15529:1999 Óptica e instrumentos ópticos - Función de transferencia óptica - Principios de medición de la función de transferencia de modulación (MTF) de sistemas de imágenes muestreadas
  • ISO 18925:2013 Materiales de imagen - Medios de disco óptico - Prácticas de almacenamiento
  • ISO 18938:2008 Materiales de imagen - Discos ópticos - Cuidado y manipulación para almacenamiento prolongado
  • ISO 18938:2014 Materiales de imagen - Discos ópticos - Cuidado y manipulación para almacenamiento prolongado
  • ISO 11380:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica oftálmica - Formadores
  • ISO/CD 18221:2023 Microscopios — Microscopios con pantallas de imágenes digitales — Información proporcionada al usuario sobre el rendimiento de las imágenes
  • ISO 18943:2014 Materiales de imagen - Discos duros magnéticos utilizados para el almacenamiento de imágenes - Cuidado y manipulación
  • ISO 18221:2016 Microscopios - Microscopios con pantallas de imágenes digitales - Información proporcionada al usuario sobre el rendimiento de las imágenes
  • ISO/CIE TR 21783:2022 Luz e iluminación — Iluminación integradora — Efectos no visuales
  • ISO 12234-3:2016 Imágenes electrónicas de fotografías - Memoria extraíble - Parte 3: XMP para fotografía digital
  • ISO 18920:2000 Materiales de imagen - Impresiones fotográficas procesadas de reflexión - Prácticas de almacenamiento
  • ISO 18929:2012 Materiales de imagen - Impresiones fotográficas de reflexión en blanco y negro del tipo gelatina de plata procesadas en húmedo - Especificaciones para almacenamiento en oscuridad
  • ISO 18929:2003 Materiales de imagen - Impresiones fotográficas de reflexión en blanco y negro del tipo gelatina de plata procesadas en húmedo - Especificaciones para almacenamiento en oscuridad
  • ISO 21073:2019 Microscopios — Microscopios confocales — Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
  • ISO/CD 18937-3:2014 Materiales de imagen. Métodos para medir la estabilidad de la luz interior de impresiones fotográficas. Parte 3: Exposición a lámparas LED.
  • ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • ISO 11807-2:2001 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en la clasificación
  • ISO 14881:2001 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento
  • ISO 14881:2021 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento
  • ISO 11807-2:2021 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en la clasificación
  • ISO/TR 12037:1998 Imágenes electrónicas: recomendaciones para la eliminación de información registrada en medios ópticos de una sola escritura
  • ISO 18937:2014 Materiales de imagen - Impresiones fotográficas de reflexión - Métodos para medir la estabilidad de la luz interior
  • ISO 11807-1:2021 Óptica integrada — Vocabulario — Parte 1: Términos y símbolos básicos de guías de ondas ópticas
  • ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
  • ISO 18902:2001 Materiales de formación de imágenes - Películas, planchas y papeles fotográficos procesados - Archivadores y contenedores de almacenamiento
  • ISO 18434-2:2019 Monitorización del estado y diagnóstico de sistemas de máquinas. Termografía. Parte 2: Interpretación y diagnóstico de imágenes.
  • ISO/CD 18937-3.2 Materiales de imagen. Métodos para medir la estabilidad de la luz interior de impresiones fotográficas. Parte 3: Exposición a lámparas LED.
  • ISO 1073-1:1976/Amd 1:1978 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico; Parte 1: Juego de caracteres OCR-A; Formas y dimensiones de la imagen impresa.
  • ISO 1073-1:1976 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico; Parte 1: Juego de caracteres OCR-A; Formas y dimensiones de la imagen impresa.
  • ISO 1073-2:1976 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico; Parte 2: Juego de caracteres OCR-B; Formas y dimensiones de la imagen impresa.
  • ISO 1073-2:1976/Amd 1:1978 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico; Parte 2: Juego de caracteres OCR-B; Formas y dimensiones de la imagen impresa.

German Institute for Standardization, coleccionista de imágenes

  • DIN ISO 9358:2021-08 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velante de sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición (ISO 9358:1994).
  • DIN EN 17501:2020 Ensayos no destructivos - Ensayos termográficos - Termografía activa con excitación láser; Versión alemana e inglesa prEN 17501:2020
  • DIN EN 17501:2022-08 Ensayos no destructivos - Ensayos termográficos - Termografía activa con excitación láser; Versión alemana EN 17501:2022
  • DIN 54185:2021-06 Ensayos no destructivos - Ensayos termográficos - Termografía Lock-In mediante excitación óptica
  • DIN ISO 9358:2021 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velante de sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición (ISO 9358:1994).
  • DIN ISO 9358:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento de velo de sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición (ISO 9358:1994); Texto en alemán e inglés.
  • DIN 54184:2017-10 Ensayos no destructivos: termografía de impulsos mediante excitación óptica
  • DIN EN ISO 24157:2020-06 Óptica e instrumentos oftálmicos: notificación de aberraciones del ojo humano (ISO 24157:2008 + Amd 1:2020); Versión alemana EN ISO 24157:2008 + A1:2020
  • DIN 58002:2001 Óptica integrada: medición de campo cercano para componentes de chips ópticos monomodo
  • DIN EN ISO 11380:1996-08 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica oftálmica - Formadores (ISO 11380:1994); Versión alemana EN ISO 11380:1996
  • DIN EN ISO 14881:2005 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento (ISO 14881:2001); Versión alemana EN ISO 14881:2005
  • DIN EN 62149-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de funcionamiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado de 2,5 Gbit/s (IEC 62149-3:2004); Versión alemana EN 62149-3:2004
  • DIN 19277:2015-12 Monitoreo de condición y diagnóstico de máquinas. Termografía. Procedimientos generales (ISO 18434-1:2008, modificada)
  • DIN EN ISO 11807-2:2005 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en la clasificación (ISO 11807-2:2001); Versión alemana EN ISO 11807-2:2005
  • DIN EN ISO 11146-1:2021-11 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 1: Haces estigmáticos y astigmáticos simples (ISO 11146-1:2021); Versión alemana EN ISO 11146-1:2021
  • DIN EN ISO 11807-1:2022-05 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 1: Términos y símbolos básicos de guías de ondas ópticas (ISO 11807-1:2021); Versión alemana EN ISO 11807-1:2021
  • DIN EN 14603:2005 Tecnología de la información - Conjunto de imágenes de glifos alfanuméricos para el reconocimiento óptico de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa; Versión inglesa EN 14603:2004
  • DIN EN 61964:2000 Circuitos integrados - Configuraciones de pines de dispositivos de memoria (IEC 61964:1999); Versión alemana EN 61964:1999

未注明发布机构, coleccionista de imágenes

  • BS ISO 9358:1994(2000) Óptica e instrumentos ópticos. Resplandor velador de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
  • BS EN 60747-5-1:2001(2003) Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5 - 1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • BS EN 60747-5-3:2001(2003) Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5 - 3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • GJB 6916-2009 Procedimientos de prueba de diseño y finalización para detectores de minas con imágenes de soldados individuales.
  • BS EN 60747-5-2:2001(2003) Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5 - 2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.

ES-UNE, coleccionista de imágenes

  • UNE-EN 17501:2022 Ensayos no destructivos - Ensayos termográficos - Termografía activa con excitación láser
  • IEEE 3333.1.4-2022 Práctica recomendada por IEEE para la evaluación de la calidad de imágenes de campo luminoso
  • UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados -- Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos - Métodos de medida (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002.)
  • UNE-EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001.)
  • UNE-EN 190110:1994 BDS: CIRCUITOS INTEGRADOS CON MICROPROCESADOR DIGITAL. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
  • UNE-EN ISO 11146-1:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de ensayo para anchos de haz láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz - Parte 1: Haces estigmáticos y astigmáticos simples (ISO 11146-1:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre
  • UNE-EN ISO 11807-1:2021 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 1: Términos y símbolos básicos de guías de ondas ópticas (ISO 11807-1:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2021.)
  • UNE-EN 60747-5-2:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001.)
  • UNE-EN 60747-5-2:2001/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados -- Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos - Clasificaciones y características esenciales (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002.)

Association Francaise de Normalisation, coleccionista de imágenes

  • NF EN 17501:2022 Ensayos no destructivos - Análisis termográfico - Termografía activa con excitación láser
  • NF S10-043*NF ISO 9358:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Resplandor velador de los sistemas formadores de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
  • NF C96-005:1994 Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: dispositivos optoelectrónicos.
  • NF ISO 9358:1998 Óptica e instrumentos ópticos - Luz difusa difusa procedente de sistemas de formación de imágenes - Definiciones y métodos de medición.
  • NF S10-045:1999 Óptica e instrumentos ópticos - Métodos generales de ensayo óptico - Medición de la irradiancia relativa en el campo de la imagen.
  • NF S10-051*NF ISO 15795:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Evaluación de la calidad de los sistemas ópticos - Evaluación de la degradación de la calidad de la imagen debido a aberraciones cromáticas
  • NF C96-005-1/A1*NF EN 60747-5-1/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • NF C96-005-1*NF EN 60747-5-1:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • NF EN 60747-5-1/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • NF EN 60747-5-1/A2:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • NF EN 60747-5-1:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • NF C96-042:1989 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • NF C96-005-1/A2*NF EN 60747-5-1/A2:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: dispositivos optoelectrónicos. General.
  • NF EN 50201:2002 Interfaces para decodificador DVB integrado
  • NF C96-005-3*NF EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • NF EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • NF EN 60747-5-3/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • NF ISO 18251-2:2023 Ensayos no destructivos - Termografía infrarroja - Parte 2: Método de ensayo relacionado con el rendimiento integrado del sistema y el equipo
  • NF EN 1837:2020 Seguridad de las máquinas - Iluminación integrada en las máquinas
  • NF EN IEC 62878-1:2019 Técnicas de montaje con dispositivo(s) integrado(s) - Parte 1: especificación genérica para sustratos con dispositivo(s) integrado(s)
  • NF EN 14603:2005 Tecnología de la información - Conjunto de imágenes de glifos alfanuméricos para el reconocimiento óptico de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa
  • NF ISO 18434-2:2019 Monitorización del estado y diagnóstico de sistemas de máquinas. Termografía. Parte 2: Interpretación y diagnóstico de imágenes.
  • NF C93-884-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de funcionamiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado de 2,5 Gbit/s.
  • NF EN 61964:2000 Circuitos integrados: configuración de pines de memoria
  • NF EN 60747-5-2:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Parte 5-2: dispositivos optoelectrónicos - Valores límite y características esenciales
  • NF EN 60747-5-2/A1:2003 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Parte 5-2: dispositivos optoelectrónicos - Valores límite y características esenciales
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica: métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos
  • NF S10-131:2005 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento.
  • NF S10-130-2:2005 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en la clasificación.
  • NF EN ISO 14881:2021 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros que caracterizan las propiedades de acoplamiento
  • NF S10-130-1*NF EN ISO 11807-1:2021 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 1: términos y símbolos básicos de guías de ondas ópticas
  • NF Z62-013*NF EN 14603:2005 Tecnología de la información - Conjunto de imágenes de glifos alfanuméricos para el reconocimiento óptico de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa.
  • NF C96-005-2/A1*NF EN 60747-5-2/A1:2003 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-2: dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.
  • NF C96-005-2*NF EN 60747-5-2:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-2: dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.
  • NF C96-012*NF EN 61964:2000 Circuitos integrados: configuraciones de pines de dispositivos de memoria.
  • NF A82-043:1996 Soldadura por resistencia eléctrica. Transformadores integrados para pistolas de soldar.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, coleccionista de imágenes

  • GJB 9631-2019 Especificaciones para sensores ópticos de imágenes para encuentro y acoplamiento de naves espaciales tripuladas
  • GJB 4026A-2014 Especificaciones generales para dispositivos de óptica integrada LiNbO
  • GJB 9888-2020 Método de prueba de dispositivo óptico integrado de niobato de litio
  • GJB 4026-2000 Especificaciones generales para dispositivos ópticos integrados de niobato de litio.
  • GJB 9726-2020 Especificaciones para generadores de imágenes hiperespectrales espaciales
  • GJB 5546-2006 Especificación general para el reconocimiento de imágenes ópticas aerotransportadas.
  • GJB 7951-2012 Métodos de medición para dispositivos de imágenes de carga acoplada.
  • GJB 5968-2007 Especificación general para dispositivos de imágenes con carga acoplada
  • GJB 5968A-2021 Especificaciones generales para dispositivos de imágenes de carga acoplada
  • GJB 10036-2021 Método de evaluación de la adaptabilidad de las nubes y el humo para un sistema de imágenes láser
  • GJB 10245-2022 Especificaciones para cámaras infrarrojas fijas para misiles aerotransportados
  • GJB 4799-1997*GJBz 20432-1997 Reglas de inspección y aceptación de instrumentos militares de imágenes térmicas infrarrojas.
  • GJB/Z 42.4-1993 Serie de microcircuitos militares Circuito integrado de semiconductores de espectro Circuito integrado de interfaz
  • GJB 2438/23-2021 Circuito integrado híbrido WHZD950M1050M-10 tipo microondas híbrido oscilador controlado por voltaje integrado especificaciones detalladas
  • GJB 2438/24-2021 Circuito integrado híbrido WHZD800M1100M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
  • GJB 2438/28-2021 Circuito integrado híbrido WHZD2200M2600M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
  • GJB 2438/21-2021 Circuito integrado híbrido Especificaciones detalladas del oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas tipo WHZD8240M8600M-10
  • GJB 2438/25-2021 Especificaciones detalladas para el circuito integrado híbrido WHZD6500M-11 oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas

Society of Automotive Engineers (SAE), coleccionista de imágenes

  • SAE ARP4967C-2023 Paneles de información iluminados integralmente con sistemas de imágenes de visión nocturna (NVIS)
  • SAE J2661-2011 Evaluación de imágenes ópticas de pruebas de resistencia a daños por impacto en acabados exteriores
  • SAE J2661-2023 Evaluación de imágenes ópticas de pruebas de resistencia a daños por impacto en acabados exteriores

GB-REG, coleccionista de imágenes

  • REG NASA-LLIS-0526-1994 Lecciones aprendidas: distribución del campo magnético en el instrumento de imágenes magnetoópticas
  • REG NASA-LLIS-0903-2000 Lecciones aprendidas: accidente en la prueba del generador de imágenes espectroscópicas de alta energía

British Standards Institution (BSI), coleccionista de imágenes

  • BS EN 17501:2022 Pruebas no destructivas. Pruebas termográficas. Termografía activa con excitación láser.
  • 20/30410182 DC BS EN 17501. Ensayos no destructivos. Pruebas termográficas. Termografía activa con excitación láser.
  • BS ISO 9358:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velado de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
  • BS ISO 13653:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos generales de prueba óptica. Medición de la irradiancia relativa en el campo de la imagen.
  • BS IEC 60747-5-1:1998 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos optoelectrónicos. General
  • BS EN 60747-5-1:1998 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos optoelectrónicos. General
  • BS EN 60747-5-1:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Dispositivos optoelectrónicos - General
  • BS IEC 60747-5-3:1998 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición
  • BS EN 60747-5-3:1998 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición
  • BS EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Dispositivos optoelectrónicos - Métodos de medida
  • BS IEC 60748-4:1997 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados de interfaz
  • BS IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados digitales
  • BS IEC 60748-2:1998 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados digitales
  • BS ISO 18925:2013 Materiales de imagen. Medios de disco óptico. Práctica de almacenamiento
  • BS IEC 60748-2-20:2008 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados digitales - Especificación de familia - Circuitos integrados de baja tensión
  • PD IEC TS 63202-2:2021 Celdas fotovoltaicas. Imágenes de electroluminiscencia de células solares de silicio cristalino.
  • BS IEC 60748-2-11:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados digitales - Especificación detallada en blanco para circuito integrado de suministro único, memoria de solo lectura programable y borrable eléctricamente - Especificación detallada en blanco para circuito integrado de suministro único
  • BS ISO 15529:2010 Óptica y fotónica. Función de transferencia óptica. Principios de medición de la función de transferencia de modulación (MTF) de sistemas de imágenes muestreados.
  • BS EN 60747-16-1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Circuitos integrados de microondas - Amplificadores
  • BS EN ISO 11807-2:2005 Óptica integrada - Vocabulario - Términos utilizados en la clasificación
  • BS EN ISO 11807-2:2021 Óptica integrada. Vocabulario. Términos utilizados en la clasificación.
  • BS 6493-2.3:1987 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Recomendaciones para circuitos integrados analógicos.
  • BS ISO 18938:2008 Materiales de imagen - Discos ópticos - Cuidado y manipulación para almacenamiento prolongado
  • BS ISO 18938:2014 Materiales de imagen. Discos ópticos. Cuidado y manipulación durante el almacenamiento prolongado
  • BS EN 60747-5-2:1998 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.
  • BS EN 60747-5-2:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Dispositivos optoelectrónicos - Clasificaciones y características esenciales
  • BS IEC 62679-3-3:2016 Pantallas electrónicas de papel: métodos de medición óptica para pantallas con unidades de iluminación integradas
  • BS EN 62149-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de rendimiento - Transmisores de diodo láser integrados en modulador de 2,5 Gbit/s
  • BS 7012-1:1998 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios
  • BS ISO 18943:2014 Materiales de imagen. Discos duros magnéticos utilizados para el almacenamiento de imágenes. Cuidado y manejo
  • BS ISO 18434-2:2019 Monitoreo de condición y diagnóstico de sistemas de máquinas. Termografía - Interpretación y diagnóstico de imágenes
  • BS EN ISO 11807-1:2005 Óptica integrada - Vocabulario - Términos y símbolos básicos
  • BS IEC 60748-5:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados semipersonalizados
  • BS IEC 60748-4-3:2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados - Circuitos integrados de interfaz. Criterios dinámicos para convertidores analógico-digital (ADC)
  • BS EN 62148-11:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de interfaz y paquetes - Transmisores de diodo láser integrados con modulador de 14 pines
  • BS EN ISO 24157:2008+A1:2020 Óptica e instrumentos oftálmicos. Informar de aberraciones del ojo humano
  • BS EN IEC 62149-3:2020 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de desempeño. Transmisores de diodos láser con modulador integrado para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s
  • BS IEC 60748-4-3:2007 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados de interfaz - Criterios dinámicos para convertidores analógico-digitales (ADC)
  • BS IEC 60748-1:2002 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - General
  • BS 6493-2.1:1985 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - General
  • BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007 Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos integrados de microondas. Amplificadores.
  • BS EN 62228-2:2017 Circuitos integrados. Evaluación EMC de transceptores. Transceptores LIN
  • BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Osciladores
  • BS EN 60747-16-3:2002+A2:2017 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia
  • BS EN 60747-16-1:2002+A2:2017 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Amplificadores
  • BS EN IEC 60747-16-6:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados de microondas. Multiplicadores de frecuencia
  • BS EN 61223-3-2:2008 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imágenes médicas -Parte 3-2: Pruebas de aceptación - Rendimiento de imágenes de equipos de rayos X mamográficos
  • BS ISO 18929:2012 Materiales de imagen. Impresiones de reflejos fotográficos en blanco y negro del tipo gelatina de plata procesadas en húmedo. Especificaciones para almacenamiento oscuro
  • BS EN ISO 11146-1:2021 Cambios rastreados. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Haces estigmáticos y astigmáticos simples.
  • BS EN 61291-6-1:2009 Amplificadores ópticos. Interfaces. conjunto de comandos
  • BS EN 61291-6-1:2008 Amplificadores ópticos - Interfaces - Conjunto de comandos
  • BS EN ISO 14881:2005 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento
  • PD IEC/TR 63072-1:2017 Circuitos integrados fotónicos. Introducción y hoja de ruta para la estandarización
  • BS ISO 18937:2014 Materiales de imagen. Impresiones fotográficas de reflejos. Métodos para medir la estabilidad de la luz interior.
  • BS PD IEC TS 63140:2021 Módulos fotovoltaicos (PV). Pruebas de resistencia a la sombra parcial para productos monolíticamente integrados
  • BS EN ISO 11807-1:2021 Cambios rastreados. Óptica integrada. Vocabulario. Términos y símbolos básicos de guías de ondas ópticas.
  • BS EN 62149-3:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de desempeño. Transmisores de diodos láser con modulador integrado para sistemas de transmisión de fibra óptica de 2,5 Gbit/s a 40 Gbit/s
  • BS IEC 60748-2-12:2001 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados digitales. Especificación detallada en blanco para dispositivos lógicos programables (PLD)
  • BS EN IEC 62228-6:2022 Circuito integrado. Evaluación EMC de transceptores: transceptores PSI5
  • BS EN IEC 62228-3:2019 Circuitos integrados. Evaluación EMC de transceptores - Transceptores CAN

Professional Standard - Electron, coleccionista de imágenes

  • SJ/T 11404-2009 Especificaciones generales para dispositivos ópticos integrados en LiNbO
  • SJ 20869-2003 Métodos de medición para moduladores ópticos de onda guiada integrados LiNbO3
  • SJ 20868-2003 Métodos de medición para dispositivos de imágenes con carga acoplada.

Professional Standard - Public Safety Standards, coleccionista de imágenes

  • GA/T 1195-2014 Métodos de obtención de imágenes espectrales mediante filtro sintonizable en ciencia forense
  • GA/T 1775-2021 Especificaciones de la tecnología de imágenes de termoluminiscencia de ciencias forenses para mostrar huellas dactilares
  • GA/T 1202-2022 Requisitos técnicos generales para el dispositivo de luz suplementario de imágenes de monitoreo de tecnología de tráfico
  • GA/T 1202-2014 Requisitos técnicos generales para el dispositivo de luz suplementario de imágenes de monitoreo de tecnología de tráfico

KR-KS, coleccionista de imágenes

  • KS B ISO 9358-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velante de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
  • KS A ISO 18925-2016 Materiales de imagen－Medios de disco óptico－Prácticas de almacenamiento
  • KS C IEC 60747-5-1-2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades.
  • KS B ISO 9345-2-2016 Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
  • KS C IEC 60748-5-2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5-2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60747-5-3-2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • KS C IEC 60748-2-20-2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2-20: Circuitos integrados digitales. Especificaciones de la familia. Circuitos integrados de baja tensión.
  • KS B ISO 9345-1-2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
  • KS C IEC 60748-20-2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS A ISO 12234-1-2016 Imágenes electrónicas de fotografías－Memoria extraíble－Parte 1: Modelo básico de memoria extraíble
  • KS C IEC 60748-2-20-2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS C IEC 60748-20-2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos.
  • KS C IEC 60747-5-2-2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características esenciales.

Group Standards of the People's Republic of China, coleccionista de imágenes

  • T/CIE 079-2020 Evaluación de circuitos integrados industriales de alta confiabilidad Parte 14: Sensores de imagen
  • T/ZZB 1335-2019 Filtro óptico de paso bajo para imágenes de alta definición
  • T/SCGS 313003-2023 Estándares para la evaluación de la calidad de la imagen de la tecnología de imágenes de fluorescencia de segunda zona del infrarrojo cercano
  • T/CAIA YQ007-2021 Método de prueba general para el rendimiento fotoeléctrico de un dispositivo de imágenes con carga acoplada multiplicadora de electrones.
  • T/YNBX 098-2023 Determinación del vigor de las semillas de arroz: método de imágenes multiespectrales
  • T/NJAF 001-2020 Método de imágenes térmicas infrarrojas para la detección rápida de la temperatura corporal en áreas concurridas
  • T/CFPA 027-2023 Infrared Thermography Heat Fire Detector
  • T/CADBM 61-2022 Controlador eléctrico integrado para techo.
  • T/ICMTIA 5.1-2020 Fotorresistente ArF Dry para circuitos integrados
  • T/CPIA 0009-2019 Método de imágenes por electroluminiscencia para la detección de defectos en módulos fotovoltaicos de silicio cristalino
  • T/ICMTIA 5.3-2020 Litografía ArF FotoResistencia de medida para circuitos intergrados
  • T/ZZB 2866-2022 Controlador de frecuencia variable para estufa integrada
  • T/ICMTIA 5.2-2020 Fotorresistencia de inmersión ArF para circuitos integrados.
  • T/QGCML 1273-2023 Banco de pruebas de vacío con pantalla fluorescente intensificadora de imagen
  • T/CESA 1151-2021 Plataforma inteligente en la nube fotovoltaica (PV): esquema de integración del sistema
  • T/SHMHZQ 018-2022 Especificación técnica para el sistema integrado de detección de torsión de fibra óptica a prueba de explosiones con acoplamiento de diafragma
  • T/SZCX 003-2019 Aparato de gas para aparatos de cocina integrados.
  • T/CNHA 1061-2023 Requisitos Técnicos de Calidad para Aparatos de Cocina para Compra Centralizada y Fines Similares integración (electromagnetismo) de aparatos de cocina
  • T/CSBME 047-2022 Especificación para la adquisición y posprocesamiento de imágenes de perfusión cerebral por resonancia magnética con etiquetado de espín arterial
  • T/AHEPI 0002-2023 Guía técnica para la monitorización mediante teledetección de gases traza mediante imágenes hiperespectrales dirigidas
  • T/CIRA 37-2022 Sistema de inspección rápida para contenedores de carga ferroviaria basado en tecnología de imágenes de rayos X
  • T/SZCX 001-2019 Controlador electrónico de aparatos de cocina de integración.
  • T/CASME 403-2023 Vco para circuitos integrados híbridos

U.S. Air Force, coleccionista de imágenes

US-RTCA, coleccionista de imágenes

  • RTCA DO-275-2001 Normas mínimas de rendimiento operativo para equipos de sistemas integrados de imágenes de visión nocturna

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, coleccionista de imágenes

  • GB/T 38935-2020 Evaluación de características radiométricas en órbita para un sensor remoto de imágenes ópticas: VIS-SWIR
  • GB/T 36301-2018 Niveles de productos de preprocesamiento para datos de imágenes hiperespectrales espaciales
  • GB/T 40139-2021 Método de medición de áreas superficiales de materiales: medición de áreas tridimensionales basada en imágenes hiperespectrales
  • GB/T 36614-2018 Circuitos integrados: configuración de pines de dispositivos de memoria

Danish Standards Foundation, coleccionista de imágenes

ANSI - American National Standards Institute, coleccionista de imágenes

  • IT9.25-1998 Materiales de imágenes - Medios de disco óptico - Almacenamiento (IS&T)
  • IT9.18-1996 Materiales de formación de imágenes - Placas fotográficas procesadas - Prácticas de almacenamiento (IS&T)

RU-GOST R, coleccionista de imágenes

  • GOST R IEC 61223-3-1-2001 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imagen médica. Parte 3-1. Rendimiento de imágenes de equipos de rayos X para sistemas radiográficos y radioscópicos. Prueba de aceptacion
  • GOST 29283-1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5. Dispositivos optoelectrónicos
  • GOST R ISO 4090-2006 Fotografía. Casetes/pantallas/películas radiográficas médicas y películas impresas para imágenes. Dimensiones y requisitos técnicos.
  • GOST R IEC 61675-2-2002 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único
  • GOST R IEC 61675-2-2006 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 2. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único
  • GOST R IEC 61223-2-10-2001 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imagen médica. Parte 2-10. Pruebas de constancia. Equipo de rayos X para mamografía.
  • GOST 29108-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3. Circuitos integrados analógicos
  • GOST 29107-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2. Circuitos integrados digitales
  • GOST 29109-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4. Circuitos integrados de interfaz.
  • GOST R IEC 60627-2005 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general.
  • GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 2. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único
  • GOST 24613.0-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Requisitos generales para la medición de parámetros eléctricos.
  • GOST 24613.9-1983 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir los tiempos de conmutación.
  • GOST 24613.18-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Métodos para medir la resistencia de aislamiento.
  • GOST 21815.14-1986 Tubos intensificadores de imagen y convertidor de imágenes. Método de medición de la deriva de la imagen.
  • GOST 24613.1-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la capacitancia de entrada a salida.
  • GOST 24613.2-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir la corriente de fuga.
  • GOST 24613.3-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir el voltaje de entrada.
  • GOST 24613.6-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la tensión de aislamiento.
  • GOST 24613.17-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir la resistencia diferencial de salida de conmutadores de señales analógicas.
  • GOST 24613.19-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la relación de transferencia de corriente.
  • GOST R ISO 18434-2-2021 Monitoreo de condición y diagnóstico de sistemas de máquinas. Termografía. Parte 2. Interpretación y diagnóstico de imágenes.

Professional Standard - Post and Telecommunication, coleccionista de imágenes

  • YD/T 2000.1-2014 Dispositivos de trayectoria óptica integrados basados en circuitos de ondas de luz planas. Parte 1: Divisor de potencia óptica basado en tecnología PLC
  • YD/T 2000.1-2009 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en un circuito de onda de luz plana. Parte 1: Divisor de potencia óptica basado en tecnología PLC.
  • YD/T 2000.2-2009 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en circuitos de ondas de luz planas. Parte 2: Filtro DWDM basado en tecnología AWG
  • YD/T 2799.5-2023
  • YD/T 2904.1-2015 Conjunto de láser sintonizable integrado. Parte 1: Conjunto de paquete de mariposa

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, coleccionista de imágenes

  • STANAG 4161-1982 LA FUNCIÓN DE TRANSFERENCIA ÓPTICA DE LOS SISTEMAS DE IMAGEN - AISP-01

IET - Institution of Engineering and Technology, coleccionista de imágenes

Professional Standard - Machinery, coleccionista de imágenes

  • JB/T 5453-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Sistema de imágenes de intensificador de imágenes de rayos X industriales.

American Society for Testing and Materials (ASTM), coleccionista de imágenes

  • ASTM D5767-95(2004) Métodos de prueba estándar para la medición instrumental de la claridad de imagen del brillo de superficies de revestimiento
  • ASTM F1443-93(2003) Práctica estándar para el uso de 0,008 pulg. (0,203 mm) Reflectómetros de apertura como instrumentos de prueba para medir la calidad de la imagen visual de las imágenes de copia comercial
  • ASTM E1260-03(2020) Método de prueba estándar para determinar las características del tamaño de gota de líquido en un aerosol utilizando instrumentos ópticos de dispersión de luz sin imágenes
  • ASTM E1260-03(2009) Método de prueba estándar para determinar las características del tamaño de gota de líquido en un aerosol utilizando instrumentos ópticos de dispersión de luz sin imágenes
  • ASTM F1443-93(2009) Práctica estándar para el uso de 0,008 pulg. (0,203 mm) Reflectómetros de apertura como instrumentos de prueba para medir la calidad de la imagen visual de las imágenes de copia comercial

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, coleccionista de imágenes

  • SPA-M10-2-2010 09 de abril: Sondeo de depósitos de intercambiadores de calor de petróleo con imágenes espectroscópicas

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, coleccionista de imágenes

  • GB/T 35437-2017 Especificaciones generales para sistemas optoelectrónicos de seguimiento e imágenes a bordo de vehículos espaciales.
  • GB/T 33806-2017 Requisito técnico del escáner de microarrays de imágenes fluorescentes de área

International Electrotechnical Commission (IEC), coleccionista de imágenes

  • IEC 60747-5:1992 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos y circuitos integrados; parte 5: dispositivos optoelectrónicos
  • IEC 60858:1986 Determinación de la distorsión de la imagen de intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos.
  • IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • IEC 60748-3:1986 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • IEC 60748-4:1987 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos; General; Enmienda 2
  • IEC 60747-5-1:1997+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. General
  • IEC 60747-5-1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos; General
  • IEC 60748-2-20:2000 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2-20: Circuitos integrados digitales; Especificaciones de la familia: Circuitos integrados de baja tensión.
  • IEC 60748-20:1988 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos
  • IEC 60748-2-11:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2-11: Circuitos integrados digitales - Especificación detallada en blanco para circuito integrado de suministro único, memoria de solo lectura programable y borrable eléctricamente
  • IEC 60748-2-6:1992 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 2: circuitos integrados digitales; sección seis: especificación detallada en blanco para circuitos integrados de microprocesador
  • IEC 60748-5:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • IEC 60748-2-20:2008 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2-20: Circuitos integrados digitales - Especificación de la familia - Circuitos integrados de baja tensión
  • IEC 62149-3:2020 RLV Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s.
  • IEC TS 63202-2:2021 Células fotovoltaicas - Parte 2: Imágenes por electroluminiscencia de células solares de silicio cristalino
  • IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
  • IEC 62149-3:2020 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s.
  • IEC 60748-3-1:1991 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; sección 1: especificación detallada en blanco para amplificadores operacionales integrados monolíticos
  • IEC 60748-2-10:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales; sección 10: Especificación detallada en blanco para memorias dinámicas de lectura/escritura de circuitos integrados
  • IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2
  • IEC 60748-3:1986/AMD1:1991 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 1
  • IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2
  • IEC 62149-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado de 2,5 Gbit/s.
  • IEC 60747-5-1:1997/AMD1:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos; General; Enmienda 1
  • IEC 62679-3-3:2016 Pantallas electrónicas de papel - Parte 3-3: Métodos de medición óptica para pantallas con unidades de iluminación integradas
  • IEC 60748-20:1988/AMD1:1995 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 20: Especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos
  • IEC 60748-2/AMD1:1991 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 2: circuitos integrados digitales; enmienda 1
  • IEC 60748-4/AMD1:1991 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 4: circuitos integrados de interfaz; enmienda 1
  • IEC 62148-11:2003 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquete e interfaz. Parte 11: Transmisores de diodo láser integrados con modulador de 14 pines.

Association of German Mechanical Engineers, coleccionista de imágenes

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, coleccionista de imágenes

  • GJB 5984-2007 Especificación para el conjunto intensificador de imágenes de generación Ⅲ

Professional Standard - Military and Civilian Products, coleccionista de imágenes

  • WJ 2091-1992 Método de prueba del intensificador de imágenes con poca luz

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, coleccionista de imágenes

  • HD 515 S1-1989 Determinación de la distorsión de la imagen de intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos
  • EN 62148-11:2009 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquete e interfaz. Parte 11: Módulos de dispositivos activos de 14 pines.
  • EN 61964:1999 Circuitos integrados: configuraciones de pines de dispositivos de memoria

IN-BIS, coleccionista de imágenes

  • IS 13814-1993 Determinación de la distorsión de la imagen de intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos.
  • IS 12970 Pt.2/Sec.3-1993 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales. Calificación y características esenciales. Sección 3: Microprocesadores de circuitos integrados
  • IS 12970 Pt.2/Sec.2-1992 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES — CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 2 CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES — CAPACIDADES Y CARACTERÍSTICAS ESENCIALES Sección 2 Memorias de circuitos integrados
  • IS 5001 Pt.2-1973 GUÍA PARA LA PREPARACIÓN DE DIBUJOS DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES Y CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE Ⅱ CIRCUITOS INTEGRADOS
  • IS 9076-1979 ESPECIFICACIÓN PARA BANDEJAS VÍTREAS INTEGRADAS PARA USO MARINO
  • IS 12970 Pt.6/Sec.3-1992 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES — CIRCUITOS INTEGRADOS PARTE 6 CIRCUITOS INTEGRADOS ANALÓGICOS MÉTODOS DE MEDICIÓN Sección 3 Reguladores de voltaje

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), coleccionista de imágenes

Professional Standard - Medicine, coleccionista de imágenes

  • YY/T 1895-2023 Dispositivo de obtención de imágenes por tomografía de coherencia óptica intravascular
  • YY/T 1418-2016 Óptica e instrumentos oftálmicos. Notificación de aberraciones del ojo humano.

Standard Association of Australia （SAA）, coleccionista de imágenes

  • AS/NZS 4184.3.4:2002 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imágenes médicas - Pruebas de aceptación - Rendimiento de imágenes de equipos de rayos X dentales
  • AS/NZS 4184.3.3:1998 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imágenes médicas - Pruebas de aceptación - Rendimiento de imágenes de equipos de rayos X para angiografía por sustracción digital (DSA)
  • IEC 62149-3:2023 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, coleccionista de imágenes

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), coleccionista de imágenes

  • JIS Z 4721:2000 Intensificadores de imágenes de rayos X médicos
  • JIS R 3421:1991 Tejidos de vidrio con acabado textil para filtro de mangas.
  • JIS X 6319-1:2005 Especificación de implementación para tarjetas de circuito(s) integrado(s) -- Parte 1: Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos
  • JIS X 6319-1:2010 Especificación de implementación para tarjetas de circuitos integrados. Parte 1: Tarjetas de circuitos integrados con contactos.
  • JIS C 5953-3:2019 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodo láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, coleccionista de imágenes

  • CNS 13197-1993 Determinación de la distorsión de la imagen de intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos
  • CNS 12365-1988 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico - Parte II: Juego de caracteres OCR-B: formas y dimensiones de la imagen impresa

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, coleccionista de imágenes

  • ECA CB16-1999 Definiciones de dispositivos pasivos integrados (IPD)

Professional Standard - Energy, coleccionista de imágenes

  • NB/T 11081-2023 Especificaciones técnicas de inspección de imágenes térmicas infrarrojas (TIS) del módulo fotovoltaico
  • NB/T 10433-2020 Especificaciones para la recopilación y archivo de archivos de audio y vídeo para proyectos de construcción de generación de energía fotovoltaica.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, coleccionista de imágenes

  • DB37/T 2888-2016 Espectrómetro de imágenes de resolución moderada (MODIS) Imagen de teledetección Monitoreo del crecimiento del trigo Reglamento técnico

RO-ASRO, coleccionista de imágenes

  • SR CEI 748-3+A1-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos

PL-PKN, coleccionista de imágenes

  • PN T01303-03-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados analógicos. Métodos de medición
  • PN T01303-03-A1-1991 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Circuitos integrados analógicos Métodos de medición Enmienda 1

ECIA - Electronic Components Industry Association, coleccionista de imágenes

  • CB16-1999 Definiciones de dispositivos pasivos integrados (IPD)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, coleccionista de imágenes

  • EN 62149-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica Normas de rendimiento Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado de 2 a 5 Gbit/s

American National Standards Institute （ANSI), coleccionista de imágenes

  • ANSI/ASTM E1260:1995 Método de prueba para determinar las características del tamaño de gota de líquido en un aerosol utilizando instrumentos ópticos de dispersión de luz sin imágenes
  • ANSI/INCITS/ISO 1073-1:1976 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico - Parte 1: Juego de caracteres OCR-A - Formas y dimensiones de la imagen impresa
  • ANSI/INCITS/ISO 1073-2:1976 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico - Parte 2: Juego de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa
  • ANSI/INCITS/ISO/IEC 1073-2:1976 Juegos de caracteres alfanuméricos para reconocimiento óptico - Parte 2: Juego de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa

Compressed Gas Association (U.S.), coleccionista de imágenes

  • CGA E-18-2008 Reguladores de presión integrados con válvula de gas medicinal.

International Telecommunication Union (ITU), coleccionista de imágenes

  • ITU-R BT.1664-2003 Representación de varias relaciones de aspecto de imagen en la imagen de aplicaciones de imágenes digitales de pantalla grande que utilizan una trama de 16:9
  • ITU-R BT.1664 FRENCH-2003 Representación de varias relaciones de aspecto de imagen en la imagen de aplicaciones de imágenes digitales de pantalla grande que utilizan una trama de 16:9
  • ITU-R BT.1664 SPANISH-2003

Lithuanian Standards Office , coleccionista de imágenes

  • LST EN ISO 11380:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica oftálmica - Formadores (ISO 11380:1994)
  • LST EN 14603-2005 Tecnología de la información - Conjunto de imágenes de glifos alfanuméricos para el reconocimiento óptico de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa

IT-UNI, coleccionista de imágenes

International Commission on Illumination (CIE), coleccionista de imágenes

  • CIE X036-2010 Actas del Simposio de expertos de la CIE sobre métodos espectrales y de imágenes para fotometría y radiometría

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, coleccionista de imágenes

  • JJF 2044-2023 Especificación de calibración para el sistema de tomografía computarizada por emisión de fotón único (SPECT)

European Committee for Standardization (CEN), coleccionista de imágenes

  • CEN/TR 16791:2017 Cuantificación de la irradiancia de los efectos de la luz que no forman imágenes mediados por los ojos en humanos
  • PD CEN/TR 16791:2017 Cuantificación de la irradiancia de los efectos de la luz que no forman imágenes mediados por los ojos en humanos
  • EN 62148-11:2003 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquetes e interfaces. Parte 11: Transmisores de diodos láser integrados con modulador de 14 pines.
  • EN ISO 11807-2:2021 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en la clasificación (ISO 11807-2:2021)
  • EN ISO 14881:2021 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros relevantes para las propiedades de acoplamiento (ISO 14881:2021)
  • EN 14603:2004 Tecnología de la información - Conjunto de imágenes de glifos alfanuméricos para el reconocimiento óptico de caracteres OCR-B - Formas y dimensiones de la imagen impresa

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., coleccionista de imágenes

  • IEEE 538-1976 Disyuntores de potencia de CA de bajo voltaje con fusibles integrales

Aeronautical Radio Inc., coleccionista de imágenes

CEN - European Committee for Standardization, coleccionista de imágenes

  • EN ISO 11807-2:2005 Óptica integrada - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en la clasificación

ES-AENOR, coleccionista de imágenes

  • UNE 20-575-1981 Medida del factor de conversión de losintensificadoresDE IMAGEN ELECTRO-OPTICOS

Professional Standard - Aviation, coleccionista de imágenes

  • HB 8428-2014 Método de inspección para termografía de flash infrarrojo de materiales compuestos para el sector aeroespacial.

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), coleccionista de imágenes

  • SMPTE RP 133-1991 Especificaciones para el patrón de prueba de imágenes de diagnóstico médico para monitores de televisión y cámaras de grabación impresas

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), coleccionista de imágenes

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