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Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

Totalmente eléctrico y mitad eléctrico., Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Totalmente eléctrico y mitad eléctrico. son: Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Dispositivos semiconductores, Papel y cartón, Alambres y cables eléctricos., Transformadores. reactores, Vocabularios, Circuitos integrados. Microelectrónica, Materiales aislantes, ingenieria electrica en general, herramientas de mano, Seguridad de la maquinaria, Sistemas de automatización industrial, Radiocomunicaciones, Optoelectrónica. Equipo láser, Accesorios electricos, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Materiales de construcción, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Símbolos gráficos, Condensadores, Motores de combustión interna para vehículos de carretera., Aplicaciones de la tecnología de la información., Herramientas de corte, Materiales para la construcción aeroespacial., Materiales semiconductores, pruebas de metales, Herramientas de máquina, Plástica, Componentes electrónicos en general., Productos de la industria textil., Calidad, ingeniería de energía solar, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Materiales conductores, Medición de fuerza, peso y presión., Resistencias, Aparamenta y control, Redes de transmisión y distribución de energía., Residuos.


RU-GOST R, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

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  • GOST 26567-1985 Convertidores de energía de semiconductores. Métodos de prueba
  • GOST R 50471-1993 Fotoemisores semiconductores. Método de medición del ángulo de media intensidad
  • GOST 18130-1979 Máquinas semiautomáticas de soldadura por arco con electrodos consumibles. Especificaciones generales
  • GOST 26284-1984 Convertidores de potencia de semiconductores. Designaciones convencionales
  • GOST R IEC 60748-11-1-2001 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores. Parte 11. Sección 1. Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GOST R 50515-1993 Relés eléctricos todo o nada
  • GOST 4.137-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Dispositivos semiconductores de potencia. Nomenclatura de índices
  • GOST 18986.10-1974 Diodos semiconductores. Métodos para medir la inductancia.
  • GOST R 53734.5.6-2021 Electrostática. Protección de dispositivos electrónicos contra fenómenos electrostáticos. Circuitos integrados y dispositivos semiconductores.
  • GOST R IEC 748-11-1-2001 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores. Parte 11. Sección 1. Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GOST 18986.4-1973 Diodos semiconductores. Métodos para medir la capacitancia.
  • GOST 30617-1998 Módulos semiconductores de potencia. Especificaciones generales
  • GOST 20859.1-1989 Dispositivos semiconductores de potencia. Requisitos técnicos generales
  • GOST 23414-1984 Convertidores de potencia de semiconductores. Términos y definiciones

American National Standards Institute （ANSI), Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

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  • GB/T 20515-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • GB/T 13422-1992 Convertidores de semiconductores de potencia. Métodos de prueba eléctrica.
  • GB/T 2900.66-2004 Terminología electrotécnica Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • GB/T 12750-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GB/T 15872-1995 Interfaz de fuente de alimentación para equipos semiconductores.
  • GB/T 15872-2013 Interfaz de fuente de alimentación para equipos semiconductores.
  • GB/T 42838-2023 Método de prueba de circuito Hall de circuito integrado de semiconductores
  • GB/T 3048.3-1994 Métodos de prueba para determinar las propiedades eléctricas de cables y alambres eléctricos. Medición de la resistividad volumétrica de cauchos y plásticos semiconductores.
  • GB/T 42736-2023 Funda de poliolefina semiconductora termocontraíble
  • GB 35007-2018 Método de prueba de circuito de señal diferencial de bajo voltaje de circuito integrado semiconductor
  • GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
  • GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
  • GB/T 19403.1-2003 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 11: Sección 1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores (excluidos los circuitos híbridos)
  • GB/T 14027.5-1992 Series y productos de circuitos de comunicación para circuitos integrados semiconductores-Productos de circuitos telefónicos.
  • GB/T 4376-1994 Series y productos de reguladores de voltaje para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 14113-1993 Terminología de paquetes para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 7092-1993 Dimensiones de Qutline de circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 42970-2023 Métodos de prueba de circuitos de codificación y decodificación de vídeo de circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 3048.3-2007 Métodos de prueba para las propiedades eléctricas de cables y alambres eléctricos. Parte 3: Prueba de resistividad volumétrica de cauchos y plásticos semiconductores.
  • GB/T 16608.50-2012/IEC 61811-50:2002 Relés electromecánicos todo o nada. Parte 50: Especificación seccional. Relés electromecánicos de telecomunicaciones todo o nada de calidad evaluada.
  • GB/T 16608.50-2012/IEC 61811-50-2002 Relés electromecánicos todo o nada. Parte 50: Especificación seccional. Relés electromecánicos de telecomunicaciones todo o nada de calidad evaluada.
  • GB/T 13422-2013 Convertidores de semiconductores. Métodos de prueba eléctrica.
  • GB/T 17951.2-2014 Fleje de acero eléctrico no orientado, laminado en frío, entregado en estado semielaborado
  • GB/T 42836-2023 Mezclador de circuito integrado de semiconductores de microondas
  • GB/T 42835-2023 Sistema de circuito integrado semiconductor en chip (SoC)
  • GB/T 42837-2023 amplificador de circuito integrado semiconductor de microondas
  • GB/T 17574-1998 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • GB/T 17940-2000 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • GB/T 3859.3-1993 Convertidores de semiconductores. Transformadores y reactores.

Underwriters Laboratories (UL), Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

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  • UL 1557-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (sexta edición)
  • UL 1557-1993 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557-1997 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557-2006 Norma UL para seguridad de dispositivos semiconductores aislados eléctricamente, cuarta edición; Reimpresión con revisiones hasta el 26/06/2006 inclusive
  • UL 1557-2011 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557 BULLETINS-2006 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (11/04/2006 (4p); 26/01/2006 (4p))
  • UL 1557 BULLETIN-2014 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 13 DE OCTUBRE DE 2014)
  • UL 1557 BULLETIN-2012 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 22 de julio de 2012)
  • UL 1557 BULLETIN-2011 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 19 DE DICIEMBRE DE 2011)
  • UL 60730-2-4 BULLETIN-2003 Norma UL para controles eléctricos automáticos de seguridad para uso doméstico y similar; Parte 2: Requisitos particulares para protectores térmicos de motores para motocompresores de tipo hermético y semihermético
  • UL 1557 BULLETIN-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 12 de marzo de 2018)
  • UL 1557 BULLETIN-2009 Norma UL para dispositivos semiconductores eléctricamente aislados de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 13 de julio de 2009)

未注明发布机构, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • SEMI S22-1110b-2011 DIRECTRIZ DE SEGURIDAD PARA EL DISEÑO ELÉCTRICO DE EQUIPOS DE FABRICACIÓN DE SEMICONDUCTORES
  • SEMI E129-0709-2009 GUÍA PARA EVALUAR Y CONTROLAR LA CARGA ELECTROSTÁTICA EN UNA INSTALACIÓN DE FABRICACIÓN DE SEMICONDUCTOR

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • KS C 3129-1996(2001) ALAMBRES DE ALUMINIO SEMIDURO PARA FINES ELÉCTRICOS
  • KS C 3129-1981 ALAMBRES DE ALUMINIO SEMIDURO PARA FINES ELÉCTRICOS
  • KS C IEC 60748-5:2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5:2003 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • KS C 3129-2004 ALAMBRES DE ALUMINIO SEMIDURO PARA FINES ELÉCTRICOS
  • KS C IEC 60748-11:2004 Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS F 2712-2002 Método de prueba para potenciales de media celda de acero de refuerzo en hormigón.
  • KS C 6305-1985(2000) CONDENSADORES CERÁMICOS PREAJUSTADOS (TIPO C) PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS
  • KS C 6305-1985 CONDENSADORES CERÁMICOS PREAJUSTADOS (TIPO C) PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS
  • KS R 5012-2003 DIMENSIONES DE MONTAJE DE ALTERNADORES DE CARGA TIPO SEMICONDUCTOR PARA AUTOMÓVILES
  • KS C IEC 60050-521-2002(2022) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60050-521-2002(2017) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60050-521-2022 Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60748-11:2020 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • KS C IEC 60748-11-1-2020 Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 11－1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS C IEC 60748-11-1:2004 Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 11－1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS C IEC 60748-11-1-2004(2020) Dispositivos semiconductores －Circuitos integrados－Parte 11－1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS C 2607-1974(2000) MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR
  • KS C 2607-1980 MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR
  • KS C IEC 60204-33:2010 Directrices de seguridad para equipos de fabricación de semiconductores
  • KS B 0511-2013 Práctica recomendada para soldadura por arco semiautomática
  • KS C IEC 60748-4:2004 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3:2002 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-2:2001 Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2021) Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2016) Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-4-2004(2020) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3-2002(2017) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-3-2002(2022) Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-2-2021 Dispositivos semiconductores－circuitos integrados－Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-4-2020 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados－Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3-2022 Dispositivos semiconductores－Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos

Canadian Standards Association (CSA), Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • CSA E730-2-4-94-CAN/CSA-1994 Dispositifs de commande 閘ectrique automatiques a use domestique et analogue Deuxi鑝e par-tie: R間les particuli鑢es pour les protecteurs thermiques de moteurs pour motocompresseurs de type herm閠ique et semi-herm閠ique Premiere Edition; Enmienda 1: 02
  • CSA C22.2 No.61029-2-9-06-2006 S閏urit?des machine-outils 閘ectriques semi-fixes Partie 2 : R鑗les particuli鑢es pour les scies ?onglet La Preimere Edition

CZ-CSN, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • CSN 36 2311-1973 Pantógrafos y semipantógrafos de vehículos de motor eléctrico.
  • CSN 35 8761-1973
  • CSN 35 8762-1973 Dispositivos semiconductores. Fotodiodos fototransistores. Medición de corriente oscura.
  • CSN 35 8735-1964 Diodos semiconductores. Medición de corrientes y voltajes CC.
  • CSN 35 8773-1977 Medición de dispositivos semiconductores. Tiristores. Medición de corriente de bloqueo y corriente de bloqueo inversa.
  • CSN 35 8732-1964 Diodos semiconductores. Medición de corriente directa
  • CSN IEC 748-3:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • CSN IEC 748-2:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales.
  • CSN IEC 748-4:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • CSN 35 8733-1975 Dispositivos semiconductores. Diodos. Medición de voltago inverso (voltago de trabajo)
  • CSN 35 8736-1964 Diodos semiconductores. Medición de capacitancia entre electrodos.
  • CSN 35 1603-1983 Dispositivos semiconductores de potencia. Métodos generales de medición.

Defense Logistics Agency, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

TR-TSE, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

Professional Standard - Machinery, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • JB/T 9644-1999 Reactor para accionamiento eléctrico semiconductor.
  • JB/T 7063-1993 Tensión y corriente nominales de dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 11331-2013 Tubos semiconductores termorretráctiles
  • JB/T 4277-1996 Embalaje de piezas de semiconductores de potencia.
  • JB/T 10097-2000 Estuche para dispositivo semiconductor de potencia.
  • JB/T 8661-1997 Piezas de construcción de módulos semiconductores eléctricos.
  • JB/T 10097-1999 Estuches para dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 10738-2007 Compuesto de blindaje semiconductor para cables de alimentación de tensiones nominales de hasta 35 kV inclusive.
  • JB/T 9687.1-1999 Disco de molibdeno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 9687.2-1999 Disco de tungsteno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7061-1993 Obleas de silicio destinadas a ser utilizadas en dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 5843-2005 Conectores para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5844-1991 Símbolos de parámetros para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5843-1991 Conectores para dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 10501-2005 Piezas cerámicas de carcasa para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7483-2005 Transductor/sensor de fuerza de galga extensométrica de resistencia semiconductora
  • JB/T 7483-1994 Sensor de tensión de resistencia semiconductora
  • JB/T 6264.2-1992 Circuito integrado semiconductor. Especificación para circuito especial de fotocopiadoras SJ5081CP
  • JB/T 5835-2005 Componentes del terminal de puerta para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 8757-1998 Radiadores de tubo caliente destinados a ser utilizados en dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7786-1995 Método de muestreo para pruebas de dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5842-2005 Anillos de matrices de dispositivos semiconductores.
  • JB/T 2423-1999 Designación de tipo para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 11645-2013 Equipo de pulverización de residuos de carburo de calcio para la desulfuración de gases de combustión semisecos

国家机械工业局, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • JB 9644-1999 Reactor para transmisión eléctrica de semiconductores.

KR-KS, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • KS C IEC 60748-5-2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5-2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-11-2020 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.

International Electrotechnical Commission (IEC), Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • IEC 60748-5:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • IEC 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
  • IEC 60748-11:1990 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11: especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60748-11:1990/AMD2:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos; Enmienda 2
  • IEC 60700:1981 Pruebas de válvulas semiconductoras para transmisión de energía CC de alto voltaje.
  • IEC 60748-11-1:1992 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11; sección 1: examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60748-11:1990/AMD1:1995 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60853-3:2002 Cálculo de la clasificación de corriente cíclica y de emergencia de cables - Parte 3: Factor de clasificación cíclica para cables de todas las tensiones, con secado parcial del suelo
  • IEC 60204-33:2009 Seguridad de la maquinaria. Equipo eléctrico de máquinas. Parte 33: Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • IEC 60747-15:2003 Dispositivos semiconductores discretos - Parte 15: Dispositivos semiconductores de potencia aislados
  • IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
  • IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • IEC 60748-3:1986 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • IEC 60748-4:1987 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • IEC 60748-4:1997 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.

GSO, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • GSO IEC 60748-5:2015 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • OS GSO IEC 60748-11:2014 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • GSO IEC 60748-11:2014 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • GSO IEC 62830-2:2021 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 2: Recolección de energía termoeléctrica basada en energía termoeléctrica
  • GSO IEC 60748-11-1:2014 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11-1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • BH GSO IEC 62830-2:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 2: Recolección de energía termoeléctrica basada en energía termoeléctrica
  • BH GSO IEC 60748-11-1:2016 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11-1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • GSO IEC 60204-33:2017 Seguridad de la maquinaria. Equipo eléctrico de máquinas. Parte 33: Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • OS GSO IEC 60204-33:2017 Seguridad de la maquinaria. Equipo eléctrico de máquinas. Parte 33: Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • GSO IEC 62047-19:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
  • BH GSO IEC 62047-19:2022 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
  • GSO IEC 61811-50:2014 Relés electromecánicos todo o nada. Parte 50: Especificación seccional. Relés electromecánicos de telecomunicaciones todo o nada de calidad evaluada.
  • BH GSO IEC 61811-50:2016 Relés electromecánicos todo o nada. Parte 50: Especificación seccional. Relés electromecánicos de telecomunicaciones todo o nada de calidad evaluada.
  • GSO IEC 60748-4:2013 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • GSO IEC 60748-3:2014 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • BH GSO IEC 60748-3:2016 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • BH GSO IEC 60748-2:2016 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • OS GSO IEC 60748-2:2014 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • OS GSO IEC 60748-4:2013 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • GSO IEC 60748-2:2014 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • OS GSO IEC 60748-3:2014 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • GSO IEC 60747-15:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 15: Dispositivos semiconductores de potencia aislados

RO-ASRO, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • STAS 11943-1980
  • STAS 12258/7-1987 DISPOSITIVOS OPTOELECTRÓNICOS SEMICONDIC- TOH CÉLULAS FOTOVOLTAICAS Terminología y cliarac esenciales! erística
  • STAS 11381/13-1981 Símbolos gráficos para diagramas eléctricos DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES
  • SR CEI 748-11-1-1992 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 11: Sección 1: Examen visual internacional de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • SR CEI 748-3+A1-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • STAS 12258/2-1984 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos PIIOTODIODES Terminología y características esenciales
  • STAS 12258/3-1985 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos FOTOTRANSISTORES Terminología y características esenciales
  • STAS 11418-1980 Dispositivos semiconductores TRANSISTORES DE UNIJUNCIÓN Terminología

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

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  • SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
  • SJ 50033/113-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para fotodiodos tipo GD3252Y.
  • SJ/T 11005-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos de canales de audio.
  • SJ/T 11006-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de barrido horizontal y vertical.
  • SJ/T 10076-1991 Especificación detallada de componentes electrónicos. Circuito integrado semiconductor. Comparador de tensión tipo CJ 710.
  • SJ/T 11004-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de canales de imágenes.
  • SJ/T 10990-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - CD5612CP Circuitos de procesamiento de señales de crominancia de imagen
  • SJ/T 9534-1993 Norma de clasificación de calidad para circuitos integrados semiconductores.
  • SJ 1795-1981 Especificación detallada para tiristores de baja corriente de 50-1000 mA

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  • NEMA PV 5-1976 Cargadores de baterías de tipo potencial constante para servicios públicos (convertidores estáticos de semiconductores).
  • NEMA RI 6-1959 EQUIPO RECTIFICADOR DE SEMICONDUCTOR PARA PROCESAMIENTO ELECTROQUÍMICO

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  • JEDEC JESD51-1-1995 Método de medición térmica de circuito integrado: método de prueba eléctrica (dispositivo semiconductor único)
  • JEDEC JESD12-6-1991 Estándar de interfaz para circuitos integrados semipersonalizados

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  • T/CEEIA 610-2022 Cintas semiconductoras para capa protectora de cables de alimentación de tensiones nominales de 110 kV y superiores
  • T/SHPTA 014.2-2021 Compuestos aislantes de polipropileno modificado y compuestos de blindaje semiconductores para cables de alimentación de tensiones nominales desde 6 kV hasta 35 kV. Parte 2: Compuestos de blindaje semiconductores para cables de alimentación aislantes de polipropileno de tensiones nominales de
  • T/SDAS 243-2021 Material de blindaje semiconductor para cables aislados extruidos con tensión nominal de 35 kV e inferior
  • T/QGCML 2020-2023 Módulo de proceso de células fotovoltaicas de medio corte
  • T/CAS 374-2019 Material de capa amortiguadora semiconductora para cables de alimentación aislados extruidos con tensión nominal superior a 26/35 kV

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  • NZSS GP 34-1967 CORTADORAS DE ALIMENTOS SEMIAUTOMÁTICAS DE ACCIONAMIENTO ELÉCTRICO
  • AS/NZS 1102.105:1997 Símbolos gráficos para documentación electrotécnica Parte 105: Semiconductores y tubos de electrones

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  • AIA NAS 4119-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Presión
  • AIA NAS 4124-1996 Disipador De Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Doble Enlace
  • AIA NAS 4121-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Formado FSC 5999
  • AIA NAS 4118-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Clip de Retención
  • AIA NAS 4120-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Encapsulante, TO-5

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • NAS4122-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Extruido
  • NAS4121-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Formado
  • NAS4124-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Enlace dual
  • NAS4119-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Tipo de presión
  • NAS4118-1996 Disipador de calor @ Componentes eléctricos y electrónicos @ Dispositivos semiconductores @ Tipo de clip de retención
  • NAS4120-1996 Disipador de calor @ Componentes eléctricos y electrónicos @ Dispositivos semiconductores @ Tipo de encapsulación @ TO-5

工业和信息化部, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • SJ/T 10805-2018 Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

PH-BPS, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico.

  • PNS IEC 62830-2:2021 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 2: Recolección de energía termoeléctrica basada en energía termoeléctrica

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  • AIA/NAS NAS 4122-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Extruido
  • AIA/NAS NAS 4124-1996 Disipador De Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Doble Enlace
  • AIA/NAS NAS 4119-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Presión
  • AIA/NAS NAS4120-2012 DISIPADOR DE CALOR, COMPONENTE ELÉCTRICO, ELECTRÓNICO, DISPOSITIVOS SEMICONDUCTOR, TIPO ENCAPSULADOR, TO-5

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  • ASTM D4388-02 Especificación estándar para cintas de caucho semiconductoras y eléctricamente aislantes no metálicas
  • ASTM D4388-08 Especificación estándar para cintas de caucho semiconductoras y eléctricamente aislantes no metálicas
  • ASTM D4388-13 Especificación estándar para cintas de caucho semiconductoras y eléctricamente aislantes no metálicas

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  • 258-1962 Cables y conectores coaxiales dieléctricos de aire semiflexibles a 50 ohmios

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  • GM 9986117-1996 Sistema de dirección electrohidráulico fluido y semisintético

  Tensión del contador eléctrico semiseco, batería semi seca, Sistema totalmente eléctrico, Instrumento eléctrico semiseco, Contador electrico semiseco, Tipo totalmente eléctrico, Todo electrico, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica., electricidad de media onda, Totalmente eléctrico y mitad eléctrico., Semiconductor.

 



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