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Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

Mitad eléctrica, totalmente eléctrica., Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Mitad eléctrica, totalmente eléctrica. son: Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Dispositivos semiconductores, Fluidos aislantes, Papel y cartón, Alambres y cables eléctricos., Transformadores. reactores, Vocabularios, Circuitos integrados. Microelectrónica, ingenieria electrica en general, Materiales aislantes, Seguridad de la maquinaria, Sistemas de automatización industrial, Radiocomunicaciones, Accesorios electricos, Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Materiales de construcción, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Símbolos gráficos, Condensadores, Aplicaciones de la tecnología de la información., Materiales para la construcción aeroespacial., Materiales semiconductores, pruebas de metales, Plástica, Componentes electrónicos en general., Productos de la industria textil., Calidad, ingeniería de energía solar, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Materiales conductores, Medición de fuerza, peso y presión., Productos de metales no ferrosos., Protección contra descargas eléctricas, Resistencias, Aparamenta y control, Redes de transmisión y distribución de energía., Residuos, Productos de hierro y acero..


RU-GOST R, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • GOST 12.2.007.11-1975
  • GOST 26567-1985 Convertidores de energía de semiconductores. Métodos de prueba
  • GOST R 50471-1993 Fotoemisores semiconductores. Método de medición del ángulo de media intensidad
  • GOST 18130-1979 Máquinas semiautomáticas de soldadura por arco con electrodos consumibles. Especificaciones generales
  • GOST 26284-1984 Convertidores de potencia de semiconductores. Designaciones convencionales
  • GOST R IEC 60748-11-1-2001 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores. Parte 11. Sección 1. Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GOST R 50515-1993 Relés eléctricos todo o nada
  • GOST 4.137-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Dispositivos semiconductores de potencia. Nomenclatura de índices
  • GOST 18986.10-1974 Diodos semiconductores. Métodos para medir la inductancia.
  • GOST R 53734.5.6-2021 Electrostática. Protección de dispositivos electrónicos contra fenómenos electrostáticos. Circuitos integrados y dispositivos semiconductores.
  • GOST 18986.4-1973 Diodos semiconductores. Métodos para medir la capacitancia.
  • GOST 30617-1998 Módulos semiconductores de potencia. Especificaciones generales
  • GOST 20859.1-1989 Dispositivos semiconductores de potencia. Requisitos técnicos generales
  • GOST 23414-1984 Convertidores de potencia de semiconductores. Términos y definiciones
  • GOST R IEC 748-11-1-2001 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores. Parte 11. Sección 1. Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos

American National Standards Institute (ANSI), Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • ANSI/UL 1557-2013 Norma de seguridad para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • GB 7971-1987
  • GB/T 7971-2007 Papel semiconductor para cables eléctricos.
  • GB/T 2900.32-1994 Terminología electrotécnica. Dispositivo semiconductor de potencia
  • GB/T 20515-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • GB/T 13422-1992 Convertidores de semiconductores de potencia. Métodos de prueba eléctrica.
  • GB/T 2900.66-2004 Terminología electrotécnica Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • GB/T 12750-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GB/T 15872-1995 Interfaz de fuente de alimentación para equipos semiconductores.
  • GB/T 15872-2013 Interfaz de fuente de alimentación para equipos semiconductores.
  • GB/T 3434-1986 Familias y productos de circuitos ECL para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 42838-2023 Método de prueba de circuito Hall de circuito integrado de semiconductores
  • GB/T 3048.3-1994 Métodos de prueba para determinar las propiedades eléctricas de cables y alambres eléctricos. Medición de la resistividad volumétrica de cauchos y plásticos semiconductores.
  • GB/T 42736-2023 Funda de poliolefina semiconductora termocontraíble
  • GB 35007-2018 Método de prueba de circuito de señal diferencial de bajo voltaje de circuito integrado semiconductor
  • GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
  • GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
  • GB/T 19403.1-2003 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 11: Sección 1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores (excluidos los circuitos híbridos)
  • GB/T 14027.5-1992 Series y productos de circuitos de comunicación para circuitos integrados semiconductores-Productos de circuitos telefónicos.
  • GB/T 12750-1991 Especificación seccional para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • GB/T 4376-1994 Series y productos de reguladores de voltaje para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 8446.1-1987 Disipador de calor para dispositivo semiconductor de potencia.
  • GB/T 14113-1993 Terminología de paquetes para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 7092-1993 Dimensiones de Qutline de circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 42970-2023 Métodos de prueba de circuitos de codificación y decodificación de vídeo de circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 3048.3-2007 Métodos de prueba para las propiedades eléctricas de cables y alambres eléctricos. Parte 3: Prueba de resistividad volumétrica de cauchos y plásticos semiconductores.
  • GB/T 13422-2013 Convertidores de semiconductores. Métodos de prueba eléctrica.
  • GB/T 17951.2-2014 Fleje de acero eléctrico no orientado, laminado en frío, entregado en estado semielaborado
  • GB/T 42836-2023 Mezclador de circuito integrado de semiconductores de microondas
  • GB/T 42835-2023 Sistema de circuito integrado semiconductor en chip (SoC)
  • GB/T 42837-2023 amplificador de circuito integrado semiconductor de microondas
  • GB/T 17574-1998 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • GB/T 17940-2000 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • GB/T 3859.3-1993 Convertidores de semiconductores. Transformadores y reactores.
  • GB 5839-1986 Sistema de clasificación para tubos de electrones y dispositivos semiconductores.
  • GB 12565-1990 Especificación seccional para dispositivos semiconductores y dispositivos optoelectrónicos
  • GB/T 3430-1989 La regla de designación de tipo para circuitos integrados semiconductores.
  • GB/T 17951.2-2002 Fleje (hoja) de acero eléctrico no orientado de grano laminado en frío entregado en estado semiprocesado
  • GB/T 5839-1986 Sistemas de clasificación para tubos electrónicos y dispositivos semiconductores.
  • GB/T 42974-2023 Memoria flash de circuito integrado de semiconductores (FLASH)
  • GB 28526-2012 Seguridad eléctrica de maquinaria. Seguridad funcional de sistemas de control eléctricos, electrónicos y electrónicos programables relacionados con la seguridad.
  • GB/T 14030-1992 Principios generales de los métodos de medición de circuitos temporizadores para circuitos integrados de semiconductores.
  • GB/T 12703.1-2008 Textil. Evaluación de propiedades electrostáticas. Parte 1: Medio período estático.
  • GB/T 42709.19-2023 Dispositivos semiconductores Dispositivos microelectromecánicos Parte 19: Brújula electrónica
  • GB 14030-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de circuitos basados en el tiempo de circuitos integrados de semiconductores.
  • GB/T 15509-1995 Series y productos para circuitos integrados semiconductores. Productos de series de robots para TV en color.

Underwriters Laboratories (UL), Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • UL 1557-2022 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad
  • UL 1557-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (sexta edición)
  • UL 1557-1993 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557-1997 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557-2006 Norma UL para seguridad de dispositivos semiconductores aislados eléctricamente, cuarta edición; Reimpresión con revisiones hasta el 26/06/2006 inclusive
  • UL 1557-2011 Dispositivos semiconductores eléctricamente aislados.
  • UL 1557 BULLETINS-2006 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (11/04/2006 (4p); 26/01/2006 (4p))
  • UL 1557 BULLETIN-2014 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 13 DE OCTUBRE DE 2014)
  • UL 1557 BULLETIN-2012 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 22 de julio de 2012)
  • UL 1557 BULLETIN-2011 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDO: 19 DE DICIEMBRE DE 2011)
  • UL 60730-2-4 BULLETIN-2003 Norma UL para controles eléctricos automáticos de seguridad para uso doméstico y similar; Parte 2: Requisitos particulares para protectores térmicos de motores para motocompresores de tipo hermético y semihermético
  • UL 1557 BULLETIN-2018 Norma UL para dispositivos semiconductores aislados eléctricamente de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 12 de marzo de 2018)
  • UL 1557 BULLETIN-2009 Norma UL para dispositivos semiconductores eléctricamente aislados de seguridad (COMENTARIOS DEBIDOS: 13 de julio de 2009)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • KS C 3129-1996(2001) ALAMBRES DE ALUMINIO SEMIDURO PARA FINES ELÉCTRICOS
  • KS C 3129-1981 ALAMBRES DE ALUMINIO SEMIDURO PARA FINES ELÉCTRICOS
  • KS C IEC 60748-5:2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5:2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5:2003 Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • KS C IEC 60748-11:2004 Dispositivos semiconductores -Circuitos integrados-Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS F 2712-2002 Método de prueba para potenciales de media celda de acero de refuerzo en hormigón.
  • KS C 6305-1985(2000) CONDENSADORES CERÁMICOS PREAJUSTADOS (TIPO C) PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS
  • KS C 6305-1985 CONDENSADORES CERÁMICOS PREAJUSTADOS (TIPO C) PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS
  • KS C IEC 60050-521-2002(2022) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60050-521-2002(2017) Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.
  • KS C IEC 60748-11:2020 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • KS C IEC 60748-11-1:2004 Dispositivos semiconductores -Circuitos integrados-Parte 11-1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS C IEC 60748-11-1-2004(2020) Dispositivos semiconductores -Circuitos integrados-Parte 11-1: Examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • KS C 2607-1974(2000) MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR
  • KS C 2607-1980 MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR
  • KS C IEC 60204-33:2010 Directrices de seguridad para equipos de fabricación de semiconductores
  • KS B 0511-2013 Práctica recomendada para soldadura por arco semiautomática
  • KS C IEC 60748-4:2004 Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3:2002 Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-2:2001 Dispositivos semiconductores-circuitos integrados-Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2021) Dispositivos semiconductores-circuitos integrados-Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-2-2001(2016) Dispositivos semiconductores-circuitos integrados-Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • KS C IEC 60748-4-2004(2020) Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 4: Circuitos integrados de interfaz
  • KS C IEC 60748-3-2002(2017) Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60748-3-2002(2022) Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados Parte 3:Circuitos integrados analógicos
  • KS C IEC 60050-521:2002 Dispositivos semiconductores y circuitos integrados.

CZ-CSN, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • CSN 36 2311-1973 Pantógrafos y semipantógrafos de vehículos de motor eléctrico.
  • CSN 35 8761-1973
  • CSN 35 8762-1973 Dispositivos semiconductores. Fotodiodos fototransistores. Medición de corriente oscura.
  • CSN 35 8735-1964 Diodos semiconductores. Medición de corrientes y voltajes CC.
  • CSN 35 8773-1977 Medición de dispositivos semiconductores. Tiristores. Medición de corriente de bloqueo y corriente de bloqueo inversa.
  • CSN 35 8732-1964 Diodos semiconductores. Medición de corriente directa
  • CSN IEC 748-3:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • CSN IEC 748-2:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2: Circuitos integrados digitales.
  • CSN IEC 748-4:1994 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • CSN 35 8733-1975 Dispositivos semiconductores. Diodos. Medición de voltago inverso (voltago de trabajo)
  • CSN 35 8736-1964 Diodos semiconductores. Medición de capacitancia entre electrodos.
  • CSN 35 1603-1983 Dispositivos semiconductores de potencia. Métodos generales de medición.

Defense Logistics Agency, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

TR-TSE, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

Professional Standard - Machinery, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • JB/T 9644-1999 Reactor para accionamiento eléctrico semiconductor.
  • JB/T 7063-1993 Tensión y corriente nominales de dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 11331-2013 Tubos semiconductores termorretráctiles
  • JB/T 4277-1996 Embalaje de piezas de semiconductores de potencia.
  • JB/T 10097-2000 Estuche para dispositivo semiconductor de potencia.
  • JB/T 8661-1997 Piezas de construcción de módulos semiconductores eléctricos.
  • JB/T 10097-1999 Estuches para dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 10738-2007 Compuesto de blindaje semiconductor para cables de alimentación de tensiones nominales de hasta 35 kV inclusive.
  • JB/T 9687.1-1999 Disco de molibdeno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 9687.2-1999 Disco de tungsteno para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7061-1993 Obleas de silicio destinadas a ser utilizadas en dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 5843-2005 Conectores para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5844-1991 Símbolos de parámetros para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5843-1991 Conectores para dispositivos semiconductores de potencia
  • JB/T 10501-2005 Piezas cerámicas de carcasa para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7483-2005 Transductor/sensor de fuerza de galga extensométrica de resistencia semiconductora
  • JB/T 7483-1994 Sensor de tensión de resistencia semiconductora
  • JB/T 6264.2-1992 Circuito integrado semiconductor. Especificación para circuito especial de fotocopiadoras SJ5081CP
  • JB/T 5835-2005 Componentes del terminal de puerta para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 8757-1998 Radiadores de tubo caliente destinados a ser utilizados en dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 7786-1995 Método de muestreo para pruebas de dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5842-2005 Anillos de matrices de dispositivos semiconductores.
  • JB/T 2423-1999 Designación de tipo para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 11645-2013 Equipo de pulverización de residuos de carburo de calcio para la desulfuración de gases de combustión semisecos
  • JB/T 7059-1993 Guía para la preparación de estándares para módulos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5842-1991 Anillos de alineación de troqueles para dispositivos semiconductores de potencia.
  • JB/T 5835-1991 Conjuntos de puertas para dispositivos semiconductores de potencia.

国家机械工业局, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • JB 9644-1999 Reactor para transmisión eléctrica de semiconductores.

KR-KS, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • KS C IEC 60748-5-2021 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-5-2019 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados.
  • KS C IEC 60748-11-2020 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 11: Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.

International Electrotechnical Commission (IEC), Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • IEC 60748-5:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
  • IEC 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
  • IEC 60748-11:1990 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11: especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60748-11:1990/AMD2:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos; Enmienda 2
  • IEC 60700:1981 Pruebas de válvulas semiconductoras para transmisión de energía CC de alto voltaje.
  • IEC 60748-11-1:1992 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11; sección 1: examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60748-11:1990/AMD1:1995 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • IEC 60204-33:2009 Seguridad de la maquinaria. Equipo eléctrico de máquinas. Parte 33: Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • IEC 60853-3:2002 Cálculo de la clasificación de corriente cíclica y de emergencia de cables - Parte 3: Factor de clasificación cíclica para cables de todas las tensiones, con secado parcial del suelo
  • IEC 60747-15:2003 Dispositivos semiconductores discretos - Parte 15: Dispositivos semiconductores de potencia aislados
  • IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
  • IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2: Circuitos integrados digitales
  • IEC 60748-3:1986 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.
  • IEC 60748-4:1987 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados. Parte 4: Circuitos integrados de interfaz.
  • IEC 60050-521:2002 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 521: Dispositivos semiconductores y circuitos integrados
  • IEC 60747-5-5:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores
  • IEC 62435-7:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
  • IEC 60747-5-7:2016 Dispositivos semiconductores - Parte 5-7: Dispositivos optoelectrónicos - Fotodiodos y fototransistores

RO-ASRO, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • STAS 11943-1980
  • STAS 12258/7-1987 DISPOSITIVOS OPTOELECTRÓNICOS SEMICONDIC- TOH CÉLULAS FOTOVOLTAICAS Terminología y cliarac esenciales! erística
  • STAS 11381/13-1981 Símbolos gráficos para diagramas eléctricos DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES
  • SR CEI 748-11-1-1992 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 11: Sección 1: Examen visual internacional de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • SR CEI 748-3+A1-1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • STAS 12258/2-1984 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos PIIOTODIODES Terminología y características esenciales
  • STAS 12258/3-1985 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos FOTOTRANSISTORES Terminología y características esenciales
  • STAS 11418-1980 Dispositivos semiconductores TRANSISTORES DE UNIJUNCIÓN Terminología

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • GB/T 5226.33-2017 Seguridad eléctrica de maquinaria. Equipos eléctricos de máquinas. Parte 33: Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • GB/T 35007-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición de circuitos de señalización diferencial de bajo voltaje.
  • GB/T 35006-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición del convertidor de nivel.

HU-MSZT, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • CNS 1368-1995 Alambre de cobre sólido semiestirado desnudo
  • CNS 5744-1989 Alambres de aluminio trefilados semiduros para fines eléctricos
  • CNS 13802-5-1997 Símbolos gráficos para diagramas (semiconductores y tubos de electrones)
  • CNS 13802.5-1997 Símbolos gráficos para diagramas (semiconductores y tubos de electrones)
  • CNS 11900-1987 Condensadores cerámicos fijos para equipos electrónicos (semiconductores)
  • CNS 8479-1982 Resistencias de película fija: precisión y semiprecisión

British Standards Institution (BSI), Mitad eléctrica, totalmente eléctrica.

  • BS IEC 60748-11:2000 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Especificación seccional para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos
  • BS IEC 60748-11:1991 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Especificación seccional para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos híbridos.
  • BS IEC 60748-5:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados semipersonalizados
  • BS EN 60204-33:2011 Seguridad de la maquinaria. Equipo eléctrico de máquinas. Requisitos para equipos de fabricación de semiconductores.
  • BS IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
  • BS EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
  • BS EN IEC 60747-5-5:2020 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores
  • BS IEC 60748-4:1997 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados de interfaz
  • BS IEC 60748-2:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Circuitos integrados digitales
  • BS IEC 60748-2:1998 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Circuitos integrados digitales
  • BS EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Brújulas electrónicas
  • BS QC 790101:1992 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Especificación seccional para circuitos integrados de semiconductores, excluidos los circuitos híbridos. Examen visual interno para la integración de semiconductores...
  • BS IEC 60747-6:2000 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Tiristores
  • BS IEC 60747-6:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Tiristores
  • BS EN 61811-50:2002 Relés electromecánicos todo o nada - Especificación seccional - Relés electromecánicos todo o nada para telecomunicaciones de calidad evaluada
  • BS EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Dispositivos microelectromecánicos.
  • BS IEC 60747-5-4:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
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  • AIA NAS 4121-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Formado FSC 5999
  • AIA NAS 4118-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Clip de Retención
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  • NAS4124-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Enlace dual
  • NAS4119-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Tipo de presión
  • NAS4118-1996 Disipador de calor @ Componentes eléctricos y electrónicos @ Dispositivos semiconductores @ Tipo de clip de retención
  • NAS4120-1996 Disipador de calor @ Componentes eléctricos y electrónicos @ Dispositivos semiconductores @ Tipo de encapsulación @ TO-5
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  • AIA/NAS NAS 4119-1996 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Tipo Presión
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