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Serie de láser semiconductor

Serie de láser semiconductor, Total: 116 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Serie de láser semiconductor son: Optoelectrónica. Equipo láser, Aplicaciones de la tecnología de la información., Comunicaciones de fibra óptica., Pruebas ambientales, Química analítica, Dispositivos semiconductores, Vocabularios, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos de visualización electrónica..

British Standards Institution (BSI), Serie de láser semiconductor

BS IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
BS IEC 60747-5-4:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
19/30404095 DC BS EN IEC 60747-5-4. Dispositivos semiconductores. Parte 5-4. Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
23/30473272 DC BS IEC 60747-5-4 AMD 1. Dispositivos semiconductores - Parte 5-4. Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
BS ISO 17915:2018 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.
BS EN 61207-7:2013 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS EN 62007-2:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Métodos de medición.
BS IEC 60747-18-4:2023 Dispositivos semiconductores - Biosensores semiconductores. Método de evaluación de las características de ruido de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
BS IEC 60747-18-3:2019 Dispositivos semiconductores. Biosensores semiconductores. Características de flujo de fluido de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes con sistema fluídico
BS EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Métodos de medición.
BS IEC 60747-18-2:2020 Dispositivos semiconductores. Biosensores semiconductores. Proceso de evaluación de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
BS IEC 60747-18-5:2023 Dispositivos semiconductores - Biosensores semiconductores. Método de evaluación de las características de respuesta a la luz de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes según el ángulo de incidencia de la luz
BS IEC 60747-18-1:2019 Dispositivos semiconductores. Biosensores semiconductores. Método de prueba y análisis de datos para la calibración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
BS EN 62007-1:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica: clasificaciones y características esenciales
18/30361905 DC BS EN 60747-18-3. Dispositivos semiconductores. Parte 18-3. Biosensores semiconductores. Características de flujo de fluido del módulo de paquete de sensor de matriz fotónica CMOS sin lentes con sistema fluídico
21/30432234 DC BSIEC 60747-18-4. Dispositivos semiconductores. Parte 18-4. Biosensores semiconductores. Método de evaluación de las características de ruido de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
17/30355780 DC BS EN 60747-18-2. Dispositivos semiconductores. Parte 18-2. Biosensores semiconductores. Proceso de evaluación del módulo de paquete de sensor de matriz fotónica CMOS sin lentes
BS QC 720100:1991 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Dispositivos semiconductores. Especificación seccional para dispositivos optoelectrónicos.
BS CECC 20000:1983 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación genérica: dispositivos semiconductores optoelectrónicos y de cristal líquido
21/30432238 DC BS EN IEC 60747-18-5. Dispositivos semiconductores. Parte 18-5. Biosensores semiconductores. Método de evaluación de las características de respuesta a la luz de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes según el ángulo de incidencia de la luz
BS EN 120000:1996 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificaciones generales: dispositivos semiconductores optoelectrónicos y de cristal líquido.
BS EN 62007-1:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica: plantilla de especificaciones para clasificaciones y características esenciales
BS EN 62007-1:2015 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Plantilla de especificación para clasificaciones y características esenciales
BS QC 790104:1992 Especificación para el sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Especificación de familia - Circuitos integrados digitales MOS complementarios, series 4000 B y 4000 UB

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Serie de láser semiconductor

GB/T 31358-2015 Especificaciones generales para láseres semiconductores.
GB/T 31359-2015 Métodos de prueba de láseres semiconductores.
GB 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos Láseres semiconductores
GB/T 12083-2012 Serie de fuentes de alimentación para láser de gas.
GB/T 12083-1989 Serie de fuentes de alimentación para láseres de gas.
GB/T 21548-2008 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.
GB/T 3436-1996 Circuitos integrados semiconductores. Series y productos de amplificador operacional.
GB/T 4855-1984 Familias y productos de amplificador lineal para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 4376-1994 Series y productos de reguladores de voltaje para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 18904.2-2002 Dispositivos semiconductores-Parte 12-2: Dispositivos optoelectrónicos-Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas o subsistemas de fibra óptica
GB/T 13068-1991 Series y productos para circuitos integrados semiconductores. Productos para uso en transductores sensibles al campo magnético.
GB/T 8446.1-2004 Disipador de calor para dispositivos semiconductores de potencia, parte 1: Serie tipo fundición
GB/T 15509-1995 Series y productos para circuitos integrados semiconductores. Productos de series de robots para TV en color.
GB/T 14027.6-1992 Series y productos de circuitos de comunicación para circuitos integrados semiconductores-Productos de sintetizadores de frecuencia.
GB/T 14027.1-1992 Series y productos de circuitos de comunicación para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 6812-1986 Familias y variedad de circuitos integrados no lineales semiconductores Variedad de multiplicadores-divisores analógicos

Group Standards of the People's Republic of China, Serie de láser semiconductor

T/JGXH 008-2020 Láser de estado sólido con bomba de diodo
T/QGCML 2041-2023

International Electrotechnical Commission (IEC), Serie de láser semiconductor

IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
IEC 60747-5-4:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
IEC 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
IEC 60747-18-3:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 18-3: Biosensores semiconductores - Características de flujo de fluido de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes con sistema fluídico
IEC 60747-18-2:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 18-2: Biosensores semiconductores - Proceso de evaluación de módulos de paquetes de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
IEC 60747-18-4:2023 Dispositivos semiconductores - Parte 18-4: Biosensores semiconductores - Método de evaluación de las características de ruido de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes
IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables; Corrección 1
IEC 62007-2:1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
IEC 60747-18-1:2019 Dispositivos semiconductores. Parte 18-1: Biosensores semiconductores. Método de prueba y análisis de datos para la calibración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes.
IEC 60747-12-2:1995 Dispositivos semiconductores - Parte 12: Dispositivos optoelectrónicos - Sección 2: Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas y subsistemas de fibra óptica
IEC 60747-18-5:2023 Dispositivos semiconductores - Parte 18-5: Biosensores semiconductores - Método de evaluación de las características de respuesta a la luz de módulos de paquete de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes por ángulo de incidencia de la luz
IEC 62007-2:1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
IEC 62007-2/AMD1:1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición; Enmienda 1
IEC 62007-1:1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales.
IEC 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Serie de láser semiconductor

DB22/T 2725-2017 Láser semiconductor de rejilla de fibra de 980 nm

IET - Institution of Engineering and Technology, Serie de láser semiconductor

DISTRB FEEDB SEMI LAS-1998 Láseres semiconductores de retroalimentación distribuida

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Serie de láser semiconductor

GB/T 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Serie de láser semiconductor

GJB/Z 41.3-1993 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 43.2-1993 Láser sólido de espectro de serie de dispositivos láser militares
GJB/Z 43.1-1993 Láser de gas espectral de la serie de dispositivos láser militares
GJB 33/21-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para la fotocopiadora de la serie GD310A.
GJB/Z 10-1989 Espectro de tipo de serie de dispositivo discreto semiconductor
GJB/Z 41.6-1993 Transistor bipolar de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 41.4-1993 Transistor de efecto de campo de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 41.1-1993 Diodos de microondas de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 41.7-1993 Componentes de refrigeración termoeléctricos espectrales de la serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 41.5-1993 Diodos rectificadores y tiristores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB/Z 42.4-1993 Serie de microcircuitos militares Circuito integrado de semiconductores de espectro Circuito integrado de interfaz
GJB/Z 41.2-1993 Diodos de ajuste, conmutación y señal espectral de la serie de dispositivos discretos de semiconductores militares
GJB 597/4A-1996 Especificación detallada para una serie de reguladores de voltaje de salida fija de tres terminales para circuitos integrados de semiconductores

Professional Standard - Electron, Serie de láser semiconductor

SJ 50033/109-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para los diodos láser semiconductores tipos GJ9031T, GJ9032T y GJ9034T.
SJ/T 11856.3-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 3: Chips láser semiconductores modulados por absorción eléctrica para fuentes de luz
SJ/T 11856.2-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 2: Chips láser semiconductores de emisión superficial de cavidad vertical para fuentes de luz
SJ/T 11402-2009 Especificación técnica del chip láser semiconductor utilizado en comunicaciones por fibra óptica.
SJ 20957-2006 Especificaciones generales para conjuntos de diodos láser semiconductores de gran potencia
SJ/T 11856.1-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 1: Chips láser semiconductores de tipo Fabry-Perot y de retroalimentación distribuida para fuentes de luz
SJ/T 11401-2009 Programa en serie para diodos emisores de luz semiconductores.
SJ 3250-1989 Métodos de medición de la concentración de cromo en semiaislantes Arseniuro de galio por absorción infrarroja
SJ 50033/70-1995 Dispositivo semiconductor discreto. Especificación detallada para la serie tipo PIN 35 para diodo PIN
SJ 50033/69-1995 Dispositivo semiconductor discreto. Especificación detallada para la serie tipo PIN 30 para diodo PIN
SJ/T 11405-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición
SJ 50033.49-1994 Dispositivo semiconductor discreto. Especificación detallada para diodos de recuperación escalonada para la serie 2CJ4220
SJ 50033/27-1994 Dispositivo semiconductor discreto. Especificación detallada para diodos varactores de GaAs para la serie 2EC600

International Organization for Standardization (ISO), Serie de láser semiconductor

ISO/TS 17915:2013 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.
ISO 17915:2018 Óptica y fotónica: método de medición de láseres semiconductores para detección.

American National Standards Institute （ANSI), Serie de láser semiconductor

ANSI/TIA/EIA 455-128-1996 Procedimientos para determinar la corriente umbral de láseres semiconductores

Professional Standard - Post and Telecommunication, Serie de láser semiconductor

YD/T 1687.1-2007 Requisitos técnicos del conjunto de láser semiconductor de alta velocidad para comunicación por fibra óptica Parte 1: Conjunto de láser semiconductor de modulación directa refrigerado de 2,5 Gbit/s
YD/T 1687.2-2007 Requisitos técnicos del conjunto de láser semiconductor de alta velocidad para comunicación por fibra óptica Parte 2: Conjunto de láser semiconductor de modulación directa no refrigerado de 2,5 Gbit/s
YD/T 2001.2-2011 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: métodos de medición.
YD/T 2001.1-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 1: Plantilla de especificaciones para clasificaciones y características esenciales.

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Serie de láser semiconductor

TIA-455-128-1996 Procedimientos para determinar la corriente umbral de láseres semiconductores
TIA-455-128-1996(2014) Procedimientos para determinar la corriente umbral de láseres semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), Serie de láser semiconductor

CWA 17857:2022 Sistema adaptador basado en lentes para acoplar fibra óptica a láseres semiconductores infrarrojos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Serie de láser semiconductor

GB/T 21548-2021 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Serie de láser semiconductor

DB13/T 5120-2019 Especificaciones para la prueba de rendimiento de CC de chips láser semiconductores FP y DFB para comunicación óptica

Association Francaise de Normalisation, Serie de láser semiconductor

NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
NF C86-503:1986 Dispositivos semiconductores. Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Fototransistores, transistores fotodarlington y conjuntos de fototrasistores. Especificación de detalle en blanco CECC 20 003.
NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: métodos de medición.
NF C86-505:1986 Dispositivos semiconductores. Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Fotodiodos. Matrices de fotodiodos. Especificación de detalle en blanco CECC 20 005.
NF EN 62007-2:2009 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos para aplicación en sistemas de fibra óptica - Parte 2: métodos de medición

RU-GOST R, Serie de láser semiconductor

GOST R 59740-2021 Óptica y fotónica. Láseres semiconductores para la determinación de bajas concentraciones de sustancias. Métodos para medir características.
GOST 17704-1972 Dispositivos semiconductores. Receptores fotoeléctricos de energía radiante. Clasificación y designaciones del sistema.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Serie de láser semiconductor

EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Serie de láser semiconductor

EN 62007-2:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica Parte 2: Métodos de medición

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Serie de láser semiconductor

KS C IEC 62007-2:2003 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica － Parte 2: Métodos de medición
KS C IEC 62007-2-2003(2018) Dispositivos fotoeléctricos semiconductores para sistemas de comunicación óptica. Parte 2: Métodos de medición.
KS C IEC 62007-1:2003 ¿Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica? Parte 1: Clasificaciones y características esenciales
KS C IEC 62007-1-2003(2018) Dispositivos fotovoltaicos semiconductores para sistemas de comunicación óptica. Parte 1: Clases y características importantes.

German Institute for Standardization, Serie de láser semiconductor

DIN EN 61207-7:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables (IEC 61207-7:2013); Versión alemana EN 61207-7:2013
DIN EN 62007-2:2009-09 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición (IEC 62007-2:2009); Versión alemana EN 62007-2:2009 / Nota: DIN EN 62007-2 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2012-02-01.

Danish Standards Foundation, Serie de láser semiconductor

DS/EN 62007-2:2009

ES-UNE, Serie de láser semiconductor

UNE-EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones en sistemas de fibra óptica -- Parte 2: Métodos de medida (Ratificada por AENOR en junio de 2009.)