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半导体激光器系列
本专题涉及半导体激光器系列的标准有116条。
国际标准分类中，半导体激光器系列涉及到光电子学、激光设备、信息技术应用、光纤通信、环境试验、分析化学、半导体分立器件、词汇、音频、视频和视听工程、集成电路、微电子学、电子显示器件。
在中国标准分类中，半导体激光器系列涉及到半导体光敏器件、激光器件、、光电子器件综合、物理学与力学、其他电真空器件、光通信设备、半导体发光器件、半导体集成电路、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、载波通信设备、供气器材设备、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、物性分析仪器、电力半导体器件、部件、其他、标准化、质量管理。
英国标准学会，关于半导体激光器系列的标准
- BS IEC 60747-5-4:2022 半导体器件-光电器件 半导体激光器
- BS IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器
- 19/30404095 DC BS EN IEC 60747-5-4 半导体器件 第5-4部分 光电器件 半导体激光器
- 23/30473272 DC BS IEC 60747-5-4 AMD 1. 半导体器件 第 5-4 部分 光电器件 半导体激光器
- BS ISO 17915:2018 光学和光子学 传感用半导体激光器的测量方法
- BS EN 61207-7:2013 气体分析器性能表示. 可调谐半导体激光气体分析器
- BS EN 61207-7:2014 气体分析仪性能表示. 可调半导体激光器气体分析仪
- BS EN 62007-2:2000 光纤系统半导体光电器件.测量方法
- BS IEC 60747-18-4:2023 半导体器件 半导体生物传感器 无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性评估方法
- BS IEC 60747-18-3:2019 半导体器件 半导体生物传感器 具有流体系统的无透镜 CMOS 光子阵列传感器封装模块的流体流动特性
- BS EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.测量方法
- BS IEC 60747-18-2:2020 半导体器件 半导体生物传感器 无透镜 CMOS 光子阵列传感器封装模块的评估流程
- BS IEC 60747-18-5:2023 半导体器件 半导体生物传感器 通过光入射角评估无透镜CMOS光子阵列传感器封装模块的光响应特性的方法
- BS IEC 60747-18-1:2019 半导体器件 半导体生物传感器 无透镜CMOS光子阵列传感器校准的测试方法和数据分析
- BS EN 62007-1:2000 光纤系统半导体光电器件.基本额定值及特性
- 18/30361905 DC BS EN 60747-18-3 半导体器件 第18-3部分 半导体生物传感器 具有流体系统的无透镜 CMOS 光子阵列传感器封装模块的流体流动特性
- 17/30355780 DC BS EN 60747-18-2 半导体器件 第18-2部分 半导体生物传感器 无透镜CMOS光子阵列传感器封装模块的评估流程
- 21/30432234 DC BS IEC 60747-18-4 半导体器件 第18-4部分 半导体生物传感器 无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性评估方法
- BS QC 720100:1991 电子元器件质量评估协调体系.半导体器件.光电子学器件分规范
- BS CECC 20000:1983 电子元器件质量评定协调体系.总规范.半导体光电和液晶器件
- 21/30432238 DC BS EN IEC 60747-18-5 半导体器件 第18-5部分 半导体生物传感器 通过光入射角评估无透镜CMOS光子阵列传感器封装模块的光响应特性的方法
- BS EN 120000:1996 电子元器件质量评定协调体系.光电子和液晶半导体器件总规范
- BS EN 62007-1:2009 光纤系统用半导体光电子器件.基本等级和特性的规范模板
- BS EN 62007-1:2015 光纤系统用半导体光电子器件.基本等级和特性的规范模板
- BS QC 790104:1992 电子元器件质量评估协调体系.半导体器件.集成电路.系列规范.4000B和4000UB系列补充的MOS数字集成电路
国家质检总局，关于半导体激光器系列的标准
- GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范
- GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法
- GB 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
- GB/T 12083-2012 气体激光器电源系列
- GB/T 12083-1989 气体激光器电源系列
- GB/T 21548-2008 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
- GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种
- GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
- GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
- GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
- GB/T 13068-1991 半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
- GB/T 8446.1-2004 电力半导体器件用散热器 第1部分;铸造类系列
- GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
- GB/T 14027.6-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
- GB/T 14027.1-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列的品种
- GB/T 6812-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
中国团体标准，关于半导体激光器系列的标准
- T/JGXH 008-2020 全固态半导体激光器
- T/QGCML 2041-2023 878 nm高功率半导体激光器芯片
国际电工委员会，关于半导体激光器系列的标准
- IEC 60747-5-4:2022 半导体器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器
- IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.第5-4部分:光电器件.半导体激光器
- IEC 61207-7:2013 气体分析器性能表示. 第7部分: 可调谐半导体激光气体分析器
- IEC 60747-18-3:2019 半导体器件.第18-3部分:半导体生物传感器.带射流系统的无透镜CMOS光子阵列传感器组件的流体流动特性
- IEC 60747-18-2:2020 半导体器件.第18-2部分:半导体生物传感器.无透镜CMOS光子阵列传感器组件的评估过程
- IEC 60747-18-4:2023 半导体器件.第18-4部分:半导体生物传感器.无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性的评估方法
- IEC 61207-7:2013/COR1:2015 气体分析仪性能表示. 第7部分: 可调半导体激光器气体分析仪; 勘误表1
- IEC 62007-2:1997 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- IEC 60747-18-1:2019 半导体器件第18-1部分:半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器校准的试验方法和数据分析
- IEC 60747-12-2:1995 半导体器件 第12部分:光电子器件 第2节:纤维光学系统和子系统带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
- IEC 60747-18-5:2023 半导体器件.第18-5部分:半导体生物传感器.通过光入射角对无透镜CMOS光子阵列传感器封装模块的光响应特性的评估方法
- IEC 62007-2:1999 纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法
- IEC 62007-2/AMD1:1998 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法.修改件1
- IEC 62007-1:1999 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性.
- IEC 62007-2:2009 用于光纤系统应用的半导体光电器件第2部分:测量方法
吉林省地方标准，关于半导体激光器系列的标准
- DB22/T 2725-2017 980 nm光纤光栅半导体激光器
IET - Institution of Engineering and Technology，关于半导体激光器系列的标准
- DISTRB FEEDB SEMI LAS-1998 分布式反馈半导体激光器
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于半导体激光器系列的标准
- GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
国家军用标准-总装备部，关于半导体激光器系列的标准
- GJB/Z 41.3-1993 军用半导体分立器件系列型谱 半导体光电子器件
- GJB/Z 43.2-1993 军用激光器件系列型谱 固体激光器
- GJB/Z 43.1-1993 军用激光器件系列型谱 气体激光器
- GJB 33/21-2011 半导体光电子器件 GD310A系列光电耦合器详细规范
- GJB/Z 10-1989 半导体分立器件系列型谱
- GJB/Z 41.6-1993 军用半导体分立器件系列型谱 双极型晶体管
- GJB/Z 41.4-1993 军用半导体分立器件系列型谱 场效应晶体管
- GJB/Z 41.1-1993 军用半导体分立器件系列型谱 微波二极管
- GJB/Z 41.7-1993 军用半导体分立器件系列型谱 温差电致冷组件
- GJB/Z 41.5-1993 军用半导体分立器件系列型谱 整流二极管和闸流晶体管
- GJB/Z 42.4-1993 军用微电路系列型谱 半导体集成电路 接口器集成电路
- GJB/Z 41.2-1993 军用半导体分立器件系列型谱 信号、开关和调整二极管
- GJB 597/4A-1996 半导体集成电路三端固定输出电压调整器系列详细规范
行业标准-电子，关于半导体激光器系列的标准
- SJ 50033/109-1996 半导体光电子器件.GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型半导体激光二极管.详细规范
- SJ/T 11856.3-2022 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第3部分：光源用电吸收调制型半导体激光器芯片
- SJ/T 11856.2-2022 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第2部分：光源用垂直腔面发射型半导体激光器芯片
- SJ/T 11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范
- SJ 20957-2006 大功率半导体激光二级管阵列通用规范
- SJ/T 11856.1-2022 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第1部分：光源用法布里-泊罗型及分布式反馈型半导体激光器芯片
- SJ/T 11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
- SJ 3250-1989 气体激光器功率系列等级和能量等级
- SJ 50033/70-1995 半导体分立器件.PIN35系列PIN二极管详细规范
- SJ 50033/69-1995 半导体分立器件.PIN30系列PIN二极管详细规范
- SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件.第2部分:测量方法
- SJ 50033.49-1994 半导体分立器件.2CJ4220系列阶跃二极管详细规范
- SJ 50033/27-1994 半导体分立器件.2EC600系列砷化镓变容二极管详细规范
国际标准化组织，关于半导体激光器系列的标准
- ISO/TS 17915:2013 光学和光电.传感用半导体激光器测量方法
- ISO 17915:2018 光学和光子学.传感用半导体激光器测量方法
美国国家标准学会，关于半导体激光器系列的标准
- ANSI/TIA/EIA 455-128-1996 半导体激光器阈值电流的测定程序
行业标准-邮电通信，关于半导体激光器系列的标准
- YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gbit/s致冷型直接调制半导体激光器组件
- YD/T 1687.2-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分：2.5Gbit/s无致冷型直接调制半导体激光器组件
- YD/T 2001.2-2011 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法
- YD/T 2001.1-2009 用于光纤系统的半导体光电子器件 第1部分:基本特性和额定值
美国电信工业协会，关于半导体激光器系列的标准
- TIA-455-128-1996 FOTP 128 半导体激光器阈值电流的测定程序
- TIA-455-128-1996(2014) FOTP 128 半导体激光器阈值电流的测定程序
欧洲标准化委员会，关于半导体激光器系列的标准
- CWA 17857:2022 用于将光纤耦合到红外半导体激光器的基于透镜的适配器系统
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于半导体激光器系列的标准
- GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
河北省标准，关于半导体激光器系列的标准
- DB13/T 5120-2019 光通信用 FP、 DFB 半导体激光器芯片直流性能测试规范
法国标准化协会，关于半导体激光器系列的标准
- NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 气体分析仪性能表示. 第7部分: 可调半导体激光器气体分析仪
- NF C86-503:1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003
- NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件 第2部分：测量方法
- NF C86-505:1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005
- NF EN 62007-2:2009 光纤系统中应用的半导体光电器件 - 第 2 部分：测量方法
RU-GOST R，关于半导体激光器系列的标准
- GOST R 59740-2021 光学和光子学 用于测定低浓度物质的半导体激光器 测量特性的方法
- GOST 17704-1972 半导体器件.光电式辐射能接收器.分类和代号体系
欧洲电工标准化委员会，关于半导体激光器系列的标准
- EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于半导体激光器系列的标准
- EN 62007-2:2000 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
韩国科技标准局，关于半导体激光器系列的标准
- KS C IEC 62007-2:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- KS C IEC 62007-2-2003(2018) 光纤系统应用的半导体光电器件 - 第2部分:测量方法
- KS C IEC 62007-1:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:基本额定值及特性.
- KS C IEC 62007-1-2003(2018) 光纤系统应用的半导体光电器件 - 第一部分:基本额定值和特性
德国标准化学会，关于半导体激光器系列的标准
- DIN EN 61207-7:2015 气体分析器性能表示.第7部分:可调谐半导体激光气体分析器(IEC 61207-7-2013);德文版本EN 61207-7-2013
- DIN EN 62007-2:2009-09 用于光纤系统应用的半导体光电器件-第2部分：测量方法
丹麦标准化协会，关于半导体激光器系列的标准
- DS/EN 62007-2:2009 用于光纤系统应用的半导体光电器件 第2部分：测量方法
ES-UNE，关于半导体激光器系列的标准
- UNE-EN 62007-2:2009 用于光纤系统应用的半导体光电器件 第2部分：测量方法
