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Cómo detectar fotodiodos

Cómo detectar fotodiodos, Total: 104 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo detectar fotodiodos son: Comunicaciones de fibra óptica., Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos semiconductores, Circuitos impresos y placas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Difusión de radio y televisión, ingeniería de energía nuclear, Sistemas de vehículos de carretera, Lámparas y equipos relacionados., tubos electronicos, Dispositivos de visualización electrónica., ingeniería de energía solar.

Professional Standard - Post and Telecommunication, Cómo detectar fotodiodos

YD/T 835-1996 Método de prueba de fotodiodos de avalancha.
YD/T 834-1996 Método de prueba de diodos láser de retroalimentación distribuida.

邮电部, Cómo detectar fotodiodos

YD/T 0835-1996 Método de detección de fotodiodos de avalancha.
YD/T 0834-1996 Método de detección de diodos láser de retroalimentación distribuida

Professional Standard - Military and Civilian Products, Cómo detectar fotodiodos

WJ 2100-2004 Método de prueba para fotodiodos de silicio y fotodiodos de avalancha de silicio.
WJ 2506-1998 Reglamento de verificación para el probador dinámico de fotodiodos

British Standards Institution (BSI), Cómo detectar fotodiodos

BS IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
BS IEC 60747-5-11:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
BS IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
18/30367363 DC BSIEC 60747-5-8. Dispositivos semiconductores. Parte 5-8. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
PD IEC/TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación
BS ISO 13207-1:2012 Vehiculos de carretera. Características de la lámpara LED para detección de fallas compatibles con bombillas. Lámparas LED utilizadas como indicadores de dirección.
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11. Dispositivos semiconductores. Parte 5-11. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
PD IEC TR 60747-5-12:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias LED.
BS EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
PD IEC TS 63109:2022 Módulos y células fotovoltaicas (PV). Medición del factor de idealidad del diodo mediante análisis cuantitativo de imágenes de electroluminiscencia.
BS IEC 60747-5-9:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura.
14/30313209 DC BS EN 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
BS IEC 60747-5-10:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en el punto de referencia de temperatura ambiente.
23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
BS EN 62341-6-2:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de la calidad visual y el rendimiento ambiental.
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16. Dispositivos semiconductores - Parte 5-16. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de fotocorriente.
20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15. Dispositivos semiconductores. Parte 5-15. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
18/30367367 DC BSIEC 60747-5-62. Dispositivos semiconductores. Parte 5-9. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura.

CZ-CSN, Cómo detectar fotodiodos

CSN 35 8761-1973
CSN 35 8762-1973 Dispositivos semiconductores. Fotodiodos fototransistores. Medición de corriente oscura.
CSN 35 8781-1983 Mezcla y detección de diodos semiconductores UHF Parámetro eléctrico Métodos de medición

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo detectar fotodiodos

KS C 6991-2013 MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS C 6991-2001(2011) MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS C IEC 62341-6-1:2020 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
KS C IEC 62341-6:2007 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) －Parte 6: Métodos de medición

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cómo detectar fotodiodos

JIS C 5991:1997 Métodos de medición de fotodiodos para transmisión por fibra óptica.

Professional Standard - Electron, Cómo detectar fotodiodos

SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ/T 2354-2015/0352 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ 2354.5-1983 Método de medición de capacitancia de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 2354.1-1983 Procedimientos generales de medición de parámetros eléctricos y ópticos de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 2214.10-1982 Método de medición de la corriente luminosa de fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ 2354.3-1983 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 2354.6-1983 Método de medición de la capacidad de respuesta de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2354.13-1983 Método de medición del factor de multiplicación de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.
SJ 1230-1977 Métodos de medición de corriente rectificada de alta frecuencia de diodos detectores de germanio.
SJ 2354.4-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de PIN y fotodiodos de avalancha
SJ 2354.2-1983 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2215.6-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha
SJ 2215.3-1982 Método de medición de la corriente directa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores.
SJ 2215.4-1982 Método de medición de corriente inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2354.9-1983 Método de medición de la potencia equivalente de ruido de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 2658.4-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de capacitancia
SJ 2354.12-1983 Método de medición del factor de temperatura del voltaje de ruptura inverso de PIN y fotodiodos de avalancha
SJ 2658.3-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de tensión invertida
SJ 2354.7-1983 Método de medición de la curva de respuesta espectral y el rango de respuesta espectral de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 2354.8-1983 Método de medición del tiempo de subida y bajada del pulso de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 2215.5-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2658.5-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de resistencia en serie directa
SJ/T 2658.16-2016 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 16: Eficiencia de conversión fotoeléctrica.

Professional Standard - Commodity Inspection, Cómo detectar fotodiodos

SN/T 3723-2013

Group Standards of the People's Republic of China, Cómo detectar fotodiodos

T/CVIA 59-2016 Métodos de medición de TV con diodos orgánicos emisores de luz (OLED)
T/CVIA 11-2016 Métodos de medición de TV con diodos orgánicos emisores de luz (OLED)
T/CSA 048-2019 Medición de características eléctricas y fotométricas para LED de iluminación general bajo diferentes corrientes/temperaturas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo detectar fotodiodos

GB/T 23729-2009 Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba
GB/T 20871.61-2013 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

German Institute for Standardization, Cómo detectar fotodiodos

DIN IEC 62088:2002 Instrumentación nuclear. Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba (IEC 62088:2001).
DIN IEC 62088:2002-09 Instrumentación nuclear. Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba (IEC 62088:2001).
DIN EN 62341-6-1:2011-07 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009); Versión alemana EN 62341-6-1:2011
DIN EN 62595-2:2013 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: Métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED (IEC 62595-2:2012); Versión alemana EN 62595-2:2013
DIN EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009); Versión alemana EN 62341-6-1:2011

IEC - International Electrotechnical Commission, Cómo detectar fotodiodos

TS 62916-2017 Módulos fotovoltaicos: prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación (Edición 1.0)

International Organization for Standardization (ISO), Cómo detectar fotodiodos

ISO 13207-1:2012 Vehículos de carretera. Características de las lámparas LED para la detección de fallos compatibles con bombillas. Parte 1: Lámparas LED utilizadas como indicadores de dirección.

RU-GOST R, Cómo detectar fotodiodos

GOST 21107.10-1978 Dispositivos de descarga de gas. Métodos de medición de parámetros eléctricos de condiciones de operación y medición para tiratrones de descarga luminiscente y rectificadores llenos de gas.
GOST 19656.7-1974 Diodos detectores UHF semiconductores. Método de medición de la sensibilidad actual.
GOST 19656.1-1974 Diodos semiconductores mezcladores y detectores UHF. Método de medición de la relación de onda estacionaria de voltaje

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo detectar fotodiodos

GB/T 33762-2017 Método de medición del rendimiento de visualización de un televisor con diodos emisores de luz orgánicos (OLED)

GB-REG, Cómo detectar fotodiodos

REG NASA-LLIS-1840--2006 Lecciones aprendidas: falla eléctrica del conjunto del detector de fotodiodo de avalancha (APD) CALIPSO

HU-MSZT, Cómo detectar fotodiodos

MSZ 11453/2-1987 DISZKR?TF?LVEZET? ESZK?Z?K ?S INTEGR?LT ?RAMK?R?K FOGALOMMEGHAT?ROZ?SAI ?S BET?JELEI Egyenirányító diódák

KR-KS, Cómo detectar fotodiodos

KS C IEC 62341-6-1-2020 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

Danish Standards Foundation, Cómo detectar fotodiodos

DS/EN 62341-6-1:2011

International Electrotechnical Commission (IEC), Cómo detectar fotodiodos

IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2022 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2017 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2022 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62595-2:2012 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: Métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED
IEC TS 63109:2022 Módulos y células fotovoltaicas (PV): medición del factor de idealidad del diodo mediante análisis cuantitativo de imágenes de electroluminiscencia
IEC 62341-6-1:2017 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2009 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Cómo detectar fotodiodos

EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos

GOSTR, Cómo detectar fotodiodos

GOST IEC 62341-6-1-2016 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

Association Francaise de Normalisation, Cómo detectar fotodiodos

NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

Lithuanian Standards Office , Cómo detectar fotodiodos

LST EN 62341-6-1-2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo detectar fotodiodos

ASTM F3095-17 Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
ASTM F3095-14 Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
ASTM F3095-17a Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
ASTM F3095-17a(2022) Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Cómo detectar fotodiodos

JEDEC JESD51-51-2012 Implementación del Método de Prueba Eléctrica para la Medición de Resistencia Térmica Real e Impedancia de Diodos Emisores de Luz con Enfriamiento Expuesto