Как фотодиоды обнаруживают

Как фотодиоды обнаруживают, Всего: 118 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как фотодиоды обнаруживают, являются: Оптоволоконная связь, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Полупроводниковые приборы, Печатные схемы и платы, Телевидение и радиовещание, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Лампы и сопутствующее оборудование, Атомная энергетика, Солнечная энергетика, Системы дорожного транспорта, Электронные лампы, Электронные устройства отображения.

Professional Standard - Post and Telecommunication, Как фотодиоды обнаруживают

YD/T 835-1996 Метод испытания лавинных фотодиодов
YD/T 834-1996 Метод испытаний лазерных диодов с распределенной обратной связью

邮电部, Как фотодиоды обнаруживают

YD/T 0835-1996 Лавинный фотодиодный метод обнаружения
YD/T 0834-1996 Метод обнаружения лазерных диодов с распределенной обратной связью

Professional Standard - Military and Civilian Products, Как фотодиоды обнаруживают

WJ 2100-2004 Метод испытаний кремниевых фотодиодов и кремниевых лавинных фотодиодов
WJ 2506-1998 Правила поверки фотодиодного динамического тестера

British Standards Institution (BSI), Как фотодиоды обнаруживают

BS IEC 60747-5-8:2019 Полупроводниковые приборы. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания оптоэлектронной эффективности светодиодов
BS IEC 60747-5-11:2019 Полупроводниковые приборы. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания радиационных и безызлучательных токов светодиодов
BS IEC 60747-5-16:2023 Полупроводниковые приборы - Оптоэлектронные приборы. Светодиоды. Метод испытаний плоскозонного напряжения светодиодов на основе GaN на основе спектроскопии фототока
24/30490678 DC BS IEC 60747-5-18 Приборы полупроводниковые. Часть 5-18. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытаний светоизлучающих диодов макрофотолюминесценции для эпитаксиальных пластин микросветоизлучающих диодов.
18/30367363 DC БС МЭК 60747-5-8. Полупроводниковые приборы. Часть 5-8. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания оптоэлектронной эффективности светодиодов
PD IEC/TS 62916:2017 Фотоэлектрические модули. Проверка чувствительности байпасного диода к электростатическому разряду
BS ISO 13207-1:2012 Дорожные транспортные средства. Характеристики светодиодной лампы для обнаружения неисправностей, совместимых с лампами. Светодиодные лампы, используемые в качестве указателей поворота
18/30388245 DC БС ЕН МЭК 60747-5-11. Полупроводниковые приборы. Часть 5-11. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания радиационных и безызлучательных токов светодиодов
PD IEC TR 60747-5-12:2021 Полупроводниковые приборы. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания эффективности светодиодов
BS EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения оптических и электрооптических параметров
BS IEC 60747-5-15:2022 Полупроводниковые приборы - Оптоэлектронные приборы. Светодиоды. Метод испытания плоскозонного напряжения на основе спектроскопии электроотражения
PD IEC TS 63109:2022 Фотоэлектрические (PV) модули и элементы. Измерение коэффициента идеальности диода путем количественного анализа электролюминесцентных изображений
BS IEC 60747-5-9:2019 Полупроводниковые приборы. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции
14/30313209 DC БС ЕН 62341-6-1. Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров
BS IEC 60747-5-10:2019 Полупроводниковые приборы. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания внутренней квантовой эффективности, основанный на контрольной точке при комнатной температуре
23/30475452 DC БС ЕН МЭК 62341-6-1. Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров
20/30430108 DC БС ЕН МЭК 62341-6-1. Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров
BS EN 62341-6-2:2012 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Методы измерения качества изображения и характеристик окружающей среды
21/30440970 DC БС ЕН МЭК 60747-5-16. Полупроводниковые приборы. Часть 5-16. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания плоскозонного напряжения на основе спектроскопии фототока
20/30422995 DC БС ЕН МЭК 60747-5-15. Полупроводниковые приборы. Часть 5-15. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания плоскозонного напряжения на основе спектроскопии электроотражения
18/30367367 DC БС МЭК 60747-5-62. Полупроводниковые приборы. Часть 5-9. Оптоэлектронные устройства. Светодиоды. Метод испытания внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции

CZ-CSN, Как фотодиоды обнаруживают

CSN 35 8761-1973 Полупроводниковые приборы. Фототранзисторы фотодиоды. Измерение фотоэлектрического тока
CSN 35 8762-1973 Полупроводниковые приборы. Фототранзисторы, фотодиоды. Измерение темнового тока
CSN 35 8781-1983 Полупроводниковые диоды СВЧ для смешивания и обнаружения. Электрические параметры. Методы измерения.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как фотодиоды обнаруживают

KS C 6991-2013 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ ФОТОДИОДОВ ДЛЯ ВОЛОКОННОЙ ПЕРЕДАЧИ
KS C 6991-2001(2011) МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ ФОТОДИОДОВ ДЛЯ ВОЛОКОННОЙ ПЕРЕДАЧИ
KS C IEC 62341-6-1:2020 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
KS C IEC 62341-6:2007 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6: Методы измерения.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как фотодиоды обнаруживают

JIS C 5991:1997 Методы измерения фотодиодов для оптоволоконной передачи

Professional Standard - Electron, Как фотодиоды обнаруживают

SJ/T 2214-2015 Методы измерения полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов
SJ/T 2354-2015 Методы измерения фотодиодов PIN、APD
SJ/T 2354-2015/0352 Методы измерения фотодиодов PIN、APD
SJ 2354.5-1983 Метод измерения емкости PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2354.1-1983 Общие методики измерения электрических и оптических параметров PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2214.10-1982 Метод измерения светового тока полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов
SJ 2354.3-1983 Метод измерения темнового тока PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2354.6-1983 Метод измерения чувствительности PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2354.13-1983 Метод измерения коэффициента умножения PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2214.3-1982 Метод измерения темнового тока полупроводниковых фотодиодов
SJ 2214.5-1982 Метод измерения емкости перехода полупроводниковых фотодиодов
SJ 2354.10-1983 Метод измерения коэффициента перекрестной освещенности матрицы PIN и лавинных фотодиодов
SJ 1230-1977 Методы измерения высокочастотного выпрямленного тока германиевых детекторных диодов
SJ 2354.4-1983 Метод измерения прямого падения напряжения на PIN и лавинных фотодиодах
SJ 2354.2-1983 Метод измерения напряжения обратного пробоя PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2354.14-1983 Метод измерения коэффициента избыточного шума PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2215.6-1982 Метод измерения емкости перехода полупроводниковых фотопар (диодов)
SJ 2354.11-1983 Метод измерения ширины слепой зоны ПИН и матрицы лавинного фотодиода
SJ 2215.3-1982 Метод измерения прямого тока полупроводниковых фотопар (диодов)
SJ 2214.4-1982 Метод измерения напряжения обратного пробоя полупроводниковых фотодиодов
SJ 2215.4-1982 Метод измерения обратного тока полупроводниковых фотопар (диодов)
SJ 2354.9-1983 Метод измерения эквивалентной мощности помех PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2658.4-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения емкости
SJ 2354.12-1983 Метод измерения температурного коэффициента напряжения обратного пробоя PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2658.3-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения обратного напряжения
SJ 2354.7-1983 Метод измерения кривой спектрального отклика и диапазона спектрального отклика PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2354.8-1983 Метод измерения времени нарастания и спада импульсов PIN и лавинных фотодиодов
SJ 2215.5-1982 Метод измерения напряжения обратного пробоя полупроводниковых фотопар (диодов)
SJ 2658.5-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения прямого последовательного сопротивления
SJ/T 2658.16-2016 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 16: Эффективность фотоэлектрического преобразования.

Professional Standard - Commodity Inspection, Как фотодиоды обнаруживают

SN/T 3723-2013 Метод испытания излучения лазера и светодиода в игрушках

Group Standards of the People's Republic of China, Как фотодиоды обнаруживают

T/CVIA 11-2016 Методы измерения телевизоров с органическими светоизлучающими диодами (OLED)
T/CVIA 59-2016 Методы измерения телевизоров с органическими светоизлучающими диодами (OLED)
T/CSA 048-2019 Измерение электрических и фотометрических характеристик светодиодов общего освещения при различных токах/температурах

SCC, Как фотодиоды обнаруживают

CSA C865.1-2023 Драйверы светодиодов — методы измерения
DANSK DS/IEC TS 62916:2017 Фотоэлектрические модули – проверка чувствительности байпасных диодов к электростатическому разряду
CEI EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
DANSK DS/EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
DIN IEC /TS 62916 E:2016 Проект документа – Испытание чувствительности байпасных диодов к электростатическому разряду фотоэлектрических модулей (IEC 82/932/CD:2015)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как фотодиоды обнаруживают

GB/T 23729-2009 Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Методика испытаний.
GB/T 20871.61-2013 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1: Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
GB/T 20871.61-2024 Устройства отображения на органических светодиодах. Часть 6-1. Методы испытаний оптических и оптоэлектронных параметров.

German Institute for Standardization, Как фотодиоды обнаруживают

DIN IEC 62088:2002 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Процедуры испытаний (IEC 62088:2001)
DIN IEC 62088:2002-09 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Процедуры испытаний (IEC 62088:2001)
DIN EN 62341-6-1:2011-07 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров (IEC 62341-6-1:2009); Немецкая версия EN 62341-6-1:2011
DIN EN 62595-2:2013 Блок подсветки ЖК-дисплея. Часть 2. Электрооптические методы измерения блока светодиодной подсветки (IEC 62595-2:2012); Немецкая версия EN 62595-2:2013
DIN EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров (IEC 62341-6-1:2009); Немецкая версия EN 62341-6-1:2011

GSO, Как фотодиоды обнаруживают

GSO IEC 62088:2014 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Процедуры испытаний.
GSO IEC TS 62916:2021 Фотоэлектрические модули. Проверка чувствительности байпасных диодов к электростатическому разряду
GSO IEC 60306-2:2014 Измерение светочувствительных устройств. Часть 2: Методы измерения фототрубок
OS GSO IEC 62088:2014 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Процедуры испытаний.
BH GSO IEC 62088:2016 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Процедуры испытаний.
BH GSO IEC 62341-6-1:2016 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.

IEC - International Electrotechnical Commission, Как фотодиоды обнаруживают

IEC 62088:2001 Ядерное приборостроение. Фотодиоды для сцинтилляционных детекторов. Методики испытаний (редакция 1.0)
TS 62916-2017 Фотоэлектрические модули – проверка чувствительности байпасных диодов к электростатическому разряду (редакция 1.0)

International Organization for Standardization (ISO), Как фотодиоды обнаруживают

ISO 13207-1:2012 Дорожные транспортные средства. Характеристики светодиодных ламп для обнаружения неисправностей, совместимых с лампами. Часть 1. Светодиодные лампы, используемые в качестве указателей поворота.

RU-GOST R, Как фотодиоды обнаруживают

GOST 21107.10-1978 Газоразрядные устройства. Методы измерения электрических параметров режима работы и условий измерения тиратронов тлеющего разряда и газонаполненных выпрямителей
GOST 19656.7-1974 Полупроводниковые детекторные диоды УВЧ. Метод измерения токовой чувствительности
GOST 19656.1-1974 Полупроводниковый смеситель УВЧ и детекторные диоды. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как фотодиоды обнаруживают

GB/T 33762-2017 Метод измерения характеристик дисплея телевизора на органических светодиодах (OLED)

GB-REG, Как фотодиоды обнаруживают

REG NASA-LLIS-1840--2006 Извлеченные уроки: Электрический отказ узла детектора лавинного фотодиода (APD) CALIPSO

HU-MSZT, Как фотодиоды обнаруживают

MSZ 11453/2-1987 Прямое подключение к инструментам и интегральным схемам. Исправить определение диодного обнаружения

KR-KS, Как фотодиоды обнаруживают

KS C IEC 62341-6-1-2020 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.

Danish Standards Foundation, Как фотодиоды обнаруживают

DS/EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.

International Electrotechnical Commission (IEC), Как фотодиоды обнаруживают

IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
IEC 62341-6-1:2022 RLV Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
IEC 62341-6-1:2017 RLV Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
IEC 62341-6-1:2022 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
IEC 62595-2:2012 Блок подсветки ЖК-дисплея. Часть 2. Электрооптические методы измерения блока светодиодной подсветки.
IEC TS 63109:2022 Фотоэлектрические (PV) модули и элементы. Измерение коэффициента идеальности диода путем количественного анализа электролюминесцентных изображений.
IEC 62341-6-1:2017 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
IEC 62341-6-1:2009 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Как фотодиоды обнаруживают

EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.

GOSTR, Как фотодиоды обнаруживают

GOST IEC 62341-6-1-2016 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров

Association Francaise de Normalisation, Как фотодиоды обнаруживают

NF EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров.
NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 Блок подсветки ЖК-дисплея. Часть 2. Электрооптические методы измерения блока светодиодной подсветки.
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1: методы измерения оптических и электрооптических параметров.

Lithuanian Standards Office , Как фотодиоды обнаруживают

LST EN 62341-6-1-2011 Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров (IEC 62341-6-1:2009)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как фотодиоды обнаруживают

ASTM F3095-17 Стандартная практика использования лазерных технологий для прямого измерения формы поперечного сечения трубопровода и кабелепровода с помощью вращающихся лазерных диодов и системы камер видеонаблюдения
ASTM F3095-14 Стандартная практика использования лазерных технологий для прямого измерения формы поперечного сечения трубопровода и кабелепровода с помощью вращающихся лазерных диодов и системы камер видеонаблюдения
ASTM F3095-17a Стандартная практика использования лазерных технологий для прямого измерения формы поперечного сечения трубопровода и кабелепровода с помощью вращающихся лазерных диодов и системы камер видеонаблюдения
ASTM F3095-17a(2022) Стандартная практика использования лазерных технологий для прямого измерения формы поперечного сечения трубопровода и кабелепровода с помощью вращающихся лазерных диодов и системы камер видеонаблюдения

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Как фотодиоды обнаруживают

JEDEC JESD51-51-2012 Реализация метода электрических испытаний для измерения реального термического сопротивления и импеданса светодиодов с открытым охлаждением