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Partes básicas de un analizador de espectro.

Partes básicas de un analizador de espectro., Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Partes básicas de un analizador de espectro. son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Optoelectrónica. Equipo láser, Química analítica, Metales no ferrosos, Pruebas eléctricas y electrónicas., Vocabularios, Medicina de laboratorio, Procesos de fabricación en las industrias del caucho y del plástico., Pruebas ambientales, Medidas lineales y angulares., Combustibles, Equipo medico, pruebas de metales, Productos de la industria química., Refractarios, Especias y condimentos. Aditivos alimentarios, Calidad del agua, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Estandarización. Reglas generales, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Aceites y grasas comestibles. Semillas oleaginosas, Organización y gestión de la empresa., Equipo óptico, Compatibilidad electromagnética (CEM), Minerales metalíferos, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Tratamiento superficial y revestimiento., Leche y productos lácteos, Acústica y mediciones acústicas., Ingeniería vial, METALURGIA, Ingredientes de pintura, Productos petrolíferos en general.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Partes básicas de un analizador de espectro.

• EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
• EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
• EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
• EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
• EN 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido Método del analizador de espectro eléctrico
• EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 10-1: Parámetros multicanal Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
• EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico

British Standards Institution (BSI), Partes básicas de un analizador de espectro.

• BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
• BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
• BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
• BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
• BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
• BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
• BS ISO 24417:2022 Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
• BS EN 61290-3-2:2003
• BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• 21/30405786 DC BS ISO 24417. Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
• BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
• BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
• BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
• BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
• BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
• 19/30398879 DC BS EN 61290-1-1. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• BS DD ENV 13800:2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), sin separación de la matriz de plomo
• BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
• BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
• BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
• 18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• BS EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• BS EN 61290-1-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
• BS 3727-20:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Método espectrográfico
• 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
• PD IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos. Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico.
• BS 770-6:1984 Métodos de análisis químico del queso - Determinación del contenido de fósforo total - Método espectrométrico de absorción molecular
• PD ISO/TR 19319:2013 Análisis químico de superficies. Enfoques fundamentales para la determinación de la resolución lateral y la nitidez en métodos basados en haces

International Electrotechnical Commission (IEC), Partes básicas de un analizador de espectro.

• IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
• IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
• IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
• IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
• IEC 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Método de prueba de tolerancia a la reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
• IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
• IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
• IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
• IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• IEC 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
• IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos - Parte 2: Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico
• IEC 60306-1:1969 Medición de dispositivos fotosensibles. Parte 1: Recomendaciones básicas

Danish Standards Foundation, Partes básicas de un analizador de espectro.

• DS/EN 62129/Corr. 1:2007
• DS/EN 62129:2006
• DS/EN 61290-5-3:2002
• DS/EN 61290-5-1:2006
• DS/EN 61290-3-1:2004
• DS/EN 61290-1-1:2007
• DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
• DS/EN 61290-10-1:2009
• DS/EN 61290-5-2:2004
• DS/EN 61290-10-2:2008
• DS/EN 61290-10-4:2007
• DS/EN 61290-3-2:2008
• DS/EN 61290-1-2:2006
• DS/EN ISO 15004-2:2007 Instrumentos oftálmicos. Requisitos fundamentales y métodos de prueba. Parte 2: Protección contra riesgos leves.
• DS/ISO 18314-4:2021 Colorimetría analítica – Parte 4: Índice de metamerismo para pares de muestras para cambio de iluminante

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Partes básicas de un analizador de espectro.

• JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
• JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
• JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
• JIS K 0214:2006 Términos técnicos de química analítica (parte de Cromatografía)
• JIS K 0214:2013 Términos técnicos de química analítica (parte de Cromatografía)
• JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
• JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
• JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• JIS C 6122-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica. Métodos de prueba. Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba del analizador de espectro óptico.
• JIS C 6122-10-4:2012 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
• JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
• JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
• JIS C 6122-1-2:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• JIS B 7263-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 1: Métodos de prueba para características básicas.
• JIS H 1632-3:2014 Titanio. Espectrometría de emisión atómica ICP. Parte 3: Determinación de boro.
• JIS T 15004-2:2013 Instrumentos oftálmicos. Requisitos fundamentales y métodos de prueba. Parte 2: Protección contra riesgos leves.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Partes básicas de un analizador de espectro.

• KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
• KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
• KS C IEC 61207-6-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
• KS C IEC 61290-5-3:2003 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos - Parte 5 - 3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
• KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificadores de fibra óptica. Parte 5-3: Método de prueba para parámetros de reflexión. Método de prueba para tolerancia a la reflexión utilizando un analizador de espectro eléctrico.
• KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
• KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
• KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
• KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
• KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
• KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
• KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
• KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
• KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
• KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
• KS C IEC 60601-2-39:2008 Equipo de diálisis peritoneal
• KS C IEC 60601-2-39:2017 Equipos electromédicos. Parte 2-39: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de diálisis peritoneal.
• KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
• KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
• KS D ISO 3815-1-2006(2016) Zinc y aleaciones de zinc －Parte 1: Análisis de muestras sólidas mediante espectrometría de emisión óptica
• KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
• KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
• KS M ISO 78-4:2010 Diseños para estándares －Parte 4: Estándar para análisis espectrométrico de absorción atómica
• KS D 1702-2015 Platino－Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente－Método de coincidencia de matrices
• KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS E ISO 9208:2001 Minerales de aluminio－Determinación del contenido de vanadio－Método espectrofotométrico BPHA
• KS D ISO 7530-4-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 4: Determinación del contenido de cobre
• KS D ISO 7530-2-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 2: Determinación del contenido de cobalto
• KS D ISO 7530-9-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
• KS D ISO 7530-7-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
• KS D ISO 7530-6-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 6: Determinación del contenido de manganeso
• KS D ISO 7530-3-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 3: Determinación del contenido de cromo
• KS D ISO 7530-8-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 8: Determinación del contenido de silicio
• KS B ISO TR 14999-1:2011 Óptica y fotónica-Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 1:Términos, definiciones y relaciones fundamentales
• KS D ISO 7530-9:2012 Aleaciones de níquel-Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama-Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
• KS D ISO 7530-4-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 4: Determinación del contenido de cobre
• KS D ISO 7530-6-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 6: Determinación del contenido de manganeso
• KS D ISO 7530-9-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
• KS D ISO 7530-7-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
• KS D ISO 7530-8-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 8: Determinación del contenido de silicio
• KS D ISO 7530-2-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 2: Determinación del contenido de cobalto
• KS D ISO 7530-5-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 5: Determinación del contenido de hierro
• KS D ISO 7530-5-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 5: Determinación del contenido de hierro
• KS D ISO 7530-3-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 3: Determinación del contenido de cromo

American National Standards Institute （ANSI), Partes básicas de un analizador de espectro.

• ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
• ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
• ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
• ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
• ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
• ANSI/TIA/EIA 455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
• ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
• ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
• ANSI/TIA-455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico

Association Francaise de Normalisation, Partes básicas de un analizador de espectro.

• NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
• NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
• NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
• NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento del analizador de gases - Parte 6: analizadores fotométricos
• NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
• NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
• NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
• NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
• NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
• NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
• NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
• NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
• NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
• NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
• NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
• NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
• NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
• NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
• NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros de canales múltiples. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
• NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
• NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
• NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
• NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
• NF V56-003-2*NF EN 16466-2:2013 Vinagre - Análisis isotópico de ácido acético y agua - Parte 2: Análisis 0C-IRMS de ácido acético
• NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
• NF S12-300-2*NF EN ISO 15004-2:2007 Instrumentos oftálmicos. Requisitos fundamentales y métodos de prueba. Parte 2: protección contra riesgos leves.
• NF EN ISO 15004-2:2007 Instrumentos oftálmicos. Requisitos básicos y métodos de prueba. Parte 2: protección contra riesgos leves.
• NF ISO 7530-9:2007 Aleaciones de níquel. Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama. Parte 9: determinación del vanadio.
• NF EN 63005-1:2017 Registradores de datos por vídeo para la identificación y análisis de las causas de accidentes de vehículos de carretera - Parte 1: requisitos básicos
• NF C93-805-2-3*NF EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Medidor de potencia óptica.
• NF ISO 7530-8:2007 Aleaciones de níquel. Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama. Parte 8: determinación del silicio.
• NF EN IEC 80601-2-71:2018 Dispositivos eléctricos médicos - Parte 2-71: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los dispositivos de imágenes espectroscópicas de infrarrojo cercano (NIRS)
• NF C74-391*NF EN IEC 80601-2-71:2018 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-71: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de espectroscopia de infrarrojo cercano (NIRS)
• NF EN ISO 18314-4:2021 Analizar colorimetría - Parte 4: índice de metamérisme de pares de échantillon para cambio de iluminante
• NF A06-841-7*NF EN 12441-7:2005 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis químico. Parte 7: determinación del estaño. Método espectrométrico de absorción atómica con llama después de la extracción.
• NF A08-903:1991 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama. Parte 3: determinación del contenido de cromo.
• NF A08-904:1991 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama. Parte 4: determinación del contenido de cobre.
• NF A08-905:1991 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama. Parte 5: determinación del contenido de hierro.

ZA-SANS, Partes básicas de un analizador de espectro.

• SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
• SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
• SANS 61280-1-3:1998 Procedimientos de prueba básicos del subsistema de comunicación de fibra óptica Parte 1-3: Procedimientos de prueba para subsistemas de comunicación generales - Medición de longitud de onda central y ancho espectral

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Partes básicas de un analizador de espectro.

• EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
• EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
• EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
• EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
• EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
• EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
• EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico
• EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
• EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
• EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 5-2: Parámetros de reflectancia Método del analizador de espectro eléctrico
• EN IEC 80601-2-71:2018 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-71: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de espectroscopia de infrarrojo cercano (NIRS)
• EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.

ES-UNE, Partes básicas de un analizador de espectro.

• UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
• UNE-EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico. (Ratificada por AENOR en octubre de 2002.)
• UNE-EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en abril de 2004.)
• UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
• UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)
• UNE-EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-1: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante interruptor óptico y analizador de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)
• UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)
• UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)
• UNE-EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-2: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante un analizador de espectro óptico controlado (Ratificado por AENOR en mayo de 2008.)
• UNE-EN 61290-3-2:2008 Métodos de prueba de amplificadores ópticos -- Parte 3-2: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en febrero de 2009.)
• UNE-EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en marzo de 2006.)
• UNE-EN ISO 23674:2023 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
• UNE-EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2007.)
• UNE-EN IEC 80601-2-71:2018 Equipos electromédicos - Parte 2-71: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de Espectroscopía de Infrarrojo Cercano (NIRS) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

Lithuanian Standards Office , Partes básicas de un analizador de espectro.

• LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
• LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
• LST EN 61207-6-2001 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994)
• LST EN 61290-5-3-2003 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002)
• LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
• LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
• LST EN 61290-1-1-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006).
• LST EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).
• LST EN 61290-10-1-2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009).
• LST EN 61290-10-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007).
• LST EN 61290-10-4-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007).
• LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
• LST EN ISO 12966-1:2015 Grasas y aceites animales y vegetales. Cromatografía de gases de ésteres metílicos de ácidos grasos. Parte 1: Directrices sobre cromatografía de gases moderna de ésteres metílicos de ácidos grasos (ISO 12966-1:2014)
• LST EN ISO 12966-1:2015/AC:2015 Grasas y aceites animales y vegetales. Cromatografía de gases de ésteres metílicos de ácidos grasos. Parte 1: Directrices sobre cromatografía de gases moderna de ésteres metílicos de ácidos grasos (ISO 12966-1:2014)
• LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)
• LST EN 61290-3-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008).
• LST EN ISO 15004-2:2007 Instrumentos oftálmicos. Requisitos fundamentales y métodos de prueba. Parte 2: Protección contra riesgos leves (ISO 15004-2:2007)

German Institute for Standardization, Partes básicas de un analizador de espectro.

• DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
• DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
• DIN EN 61207-6:2016-03 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:2014); Versión alemana EN 61207-6:2015 / Nota: DIN EN 61207-6 (1995-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de diciembre de 2017.
• DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
• DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
• DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
• DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
• DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
• DIN EN 61207-6:2016 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:2014); Versión alemana EN 61207-6:2015
• DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
• DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
• DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
• DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
• DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
• DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
• DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
• DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
• DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
• DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
• DIN EN 61290-10-4:2008-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61291...
• DIN EN 61290-10-2:2008-07 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-10-2 (2004-02) sigue siendo válida junto con esta norma...
• DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
• DIN EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002); Versión alemana EN 61290-5-3:2002
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• ASTM D7417-17 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
• ASTM D7417-10 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
• ASTM E2465-11 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
• ASTM E2465-13 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
• ASTM D7165-10(2015) Práctica estándar para el análisis en línea/en línea basado en cromatógrafo de gases para el contenido de azufre de combustibles gaseosos
• ASTM E1010-16 Práctica estándar para la preparación de muestras de discos de acero y hierro mediante refundición para análisis espectroquímicos
• ASTM D6122-10 Práctica estándar para la validación del rendimiento de sistemas analizadores basados en espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea y de laboratorio
• ASTM D6122-13 Práctica estándar para la validación del rendimiento de sistemas analizadores basados en espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea y de laboratorio
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Professional Standard - Geology, Partes básicas de un analizador de espectro.

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Group Standards of the People's Republic of China, Partes básicas de un analizador de espectro.

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• YS/T 226.1-2009 Métodos de análisis químico de selenio.Parte 1:Determinación del contenido de bismuto.Espectrometría de fluorescencia atómica de generación de hidruros.
• YS/T 226.2-2009 Métodos de análisis químico de selenio.Parte 2:Determinación del contenido de antimonio-Generación de hidruros-Espectrometría de fluorescencia atómica
• YS/T 74.1-2010 Métodos para el análisis químico del cadmio. Parte 1: Determinación del contenido de arsénico. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
• YS/T 74.2-2010 Métodos para el análisis químico de cadmio. Parte 2: Determinación del contenido de antimonio. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
• YS/T 227.1-2010 Métodos para el análisis químico del teluro-Parte 1: Determinación del contenido de bismuto-Generación de hidruros-Espectrometría de fluorescencia atómica
• YS/T 227.10-2010 Métodos para el análisis químico del teluro. Parte 10: Determinación del contenido de arsénico. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
• YS/T 74.9-2010 Métodos para el análisis químico de cadmio. Parte 9: Determinación del contenido de estaño. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
• YS/T 461.6-2013 Métodos para el análisis químico de concentrados a granel de plomo y zinc. Parte 6: Determinación del contenido de mercurio. Espectrometría de fluorescencia atómica
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• YS/T 1605.5-2023 Métodos para el análisis químico del concentrado de molibdeno tostado. Parte 5: Determinación del contenido de antimonio. Espectrometría de fluorescencia atómica.
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• YS/T 990.11-2014 Métodos de análisis químico de mata de cobre. Parte 11: Determinación del contenido de níquel. Espectrometría de absorción atómica.
• YS/T 990.15-2014 Métodos de análisis químico de mata de cobre.Parte 15:Determinación del contenido de antimonio.Espectrometría de absorción atómica

Professional Standard-Ships, Partes básicas de un analizador de espectro.

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• CB/T 3905.6-2005 Método para el análisis químico de aleaciones para cojinetes a base de estaño. Parte 6: Método espectrográfico de absorción atómica para la determinación del contenido de cobre.
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• CB/T 3905.9-2005 Método para el análisis químico de aleaciones para cojinetes a base de estaño. Parte 9: Método espectrográfico de absorción atómica para la determinación del contenido de cadmio.
• CB/T 3905.10-2005 Método para el análisis químico de aleaciones para cojinetes a base de estaño. Parte 10: Método espectrográfico de absorción atómica para la determinación del contenido de plomada.
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工业和信息化部, Partes básicas de un analizador de espectro.

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• YS/T 540.2-2018 Métodos para el análisis químico del vanadio Parte 2: Determinación de la cantidad de cromo método espectrofotométrico de difenilcarbazida

U.S. Air Force, Partes básicas de un analizador de espectro.

• AIR FORCE A-A-59751-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO, 2,9 GHZ RF CON GENERADOR DE SEGUIMIENTO INTERNO

CZ-CSN, Partes básicas de un analizador de espectro.

• CSN 72 2041-21-1992 ¿QUÍMICO? ¿ROZBOR OCEL??SK? STRUSKY ?ást 21: Stanovení arsenu metodou atomové absorp?ní spektrometrie
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Professional Standard - Energy, Partes básicas de un analizador de espectro.

• NB/SH/T 0940-2016 Método de ensayo para el análisis de lubricantes en uso mediante un tester específico 4 en 1 (Espectroscopia de Emisión Atómica, Espectroscopia Infrarroja, Viscosidad y Contador Láser de Partículas)

国家能源局, Partes básicas de un analizador de espectro.

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AT-ON, Partes básicas de un analizador de espectro.

• OENORM EN ISO 23674:2021 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica - Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO/DIS 23674:2021)

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AENOR, Partes básicas de un analizador de espectro.

• UNE-EN ISO 15004-2:2007 Instrumentos oftálmicos. Requisitos fundamentales y métodos de prueba. Parte 2: Protección contra riesgos leves (ISO 15004-2:2007)

Professional Standard - Medicine, Partes básicas de un analizador de espectro.

• YY 0792.2-2010 Instrumentos oftálmicos. Endoiluminadores. Parte 2: Requisitos fundamentales y métodos de prueba para la seguridad de la radiación óptica.

PT-IPQ, Partes básicas de un analizador de espectro.

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