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Conceptos básicos del analizador de espectro

Conceptos básicos del analizador de espectro, Total: 304 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Conceptos básicos del analizador de espectro son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Optoelectrónica. Equipo láser, Metales no ferrosos, Mediciones de radiación, Química analítica, Medidas lineales y angulares., Procesos de fabricación en las industrias del caucho y del plástico., Vocabularios, pruebas de metales, Combustibles, Productos de la industria química., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Equipo medico, Minerales metalíferos, Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo óptico, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Productos petrolíferos en general, Cerámica, Protección de radiación, Leche y productos lácteos, Residuos, Calidad del suelo. Pedología, Plástica, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Calidad del agua.

British Standards Institution (BSI), Conceptos básicos del analizador de espectro

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-2:2003
BS ISO 24417:2022 Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
21/30405786 DC BS ISO 24417. Análisis químico de superficies. Análisis de nanocapas metálicas sobre sustratos a base de hierro mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS DD ENV 13800:2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), sin separación de la matriz de plomo
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
PD IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos. Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico.
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
PD ISO/TR 19319:2013 Análisis químico de superficies. Enfoques fundamentales para la determinación de la resolución lateral y la nitidez en métodos basados en haces
21/30433033 DC BS EN IEC 80601-2-71. Equipos eléctricos médicos. Parte 2-71. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de espectroscopia de infrarrojo cercano (NIRS)
BS 6783-6:1986 Muestreo y análisis de níquel, ferroníquel y aleaciones de níquel. Método para la determinación de azufre en níquel mediante espectrometría de absorción molecular de azul de metileno después de la generación de sulfuro de hidrógeno.

International Electrotechnical Commission (IEC), Conceptos básicos del analizador de espectro

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Método de prueba de tolerancia a la reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos - Parte 2: Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico

Danish Standards Foundation, Conceptos básicos del analizador de espectro

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Conceptos básicos del analizador de espectro

JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
JIS C 6122-10-4:2012 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
JIS B 7263-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 1: Métodos de prueba para características básicas.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Conceptos básicos del analizador de espectro

EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 10-1: Parámetros multicanal Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
EN 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido Método del analizador de espectro eléctrico
EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico

ZA-SANS, Conceptos básicos del analizador de espectro

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 61280-1-3:1998 Procedimientos de prueba básicos del subsistema de comunicación de fibra óptica Parte 1-3: Procedimientos de prueba para subsistemas de comunicación generales - Medición de longitud de onda central y ancho espectral

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Conceptos básicos del analizador de espectro

KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS C IEC 61290-5-3:2003 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos - Parte 5 - 3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificadores de fibra óptica. Parte 5-3: Método de prueba para parámetros de reflexión. Método de prueba para tolerancia a la reflexión utilizando un analizador de espectro eléctrico.
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D 1702-2015 Platino－Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente－Método de coincidencia de matrices
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS C IEC 60601-2-39:2008 Equipo de diálisis peritoneal
KS C IEC 60601-2-39:2017 Equipos electromédicos. Parte 2-39: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de diálisis peritoneal.
KS E ISO 9208:2001 Minerales de aluminio－Determinación del contenido de vanadio－Método espectrofotométrico BPHA
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS C IEC 60601-2-22:2011 Equipos eléctricos médicos－Parte 2-22: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos láser quirúrgicos, cosméticos, terapéuticos y de diagnóstico.
KS C IEC 61280-1-3:2003 Procedimientos de prueba básicos del subsistema de comunicación de fibra óptica - Parte 1 - 3: Procedimientos de prueba para subsistemas de comunicación generales - Medición de longitud de onda central y ancho espectral

American National Standards Institute （ANSI), Conceptos básicos del analizador de espectro

ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-122-A-2002 Medición de dispersión en modo de polarización para fibras ópticas monomodo mediante análisis propio de Jones Matrix

Association Francaise de Normalisation, Conceptos básicos del analizador de espectro

NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros de canales múltiples. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF EN IEC 80601-2-71:2018 Dispositivos eléctricos médicos - Parte 2-71: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los dispositivos de imágenes espectroscópicas de infrarrojo cercano (NIRS)
NF C74-391*NF EN IEC 80601-2-71:2018 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-71: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de espectroscopia de infrarrojo cercano (NIRS)
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
NF EN 63005-1:2017 Registradores de datos por vídeo para la identificación y análisis de las causas de accidentes de vehículos de carretera - Parte 1: requisitos básicos
NF B41-105*NF EN 15979:2011 Ensayos de materias primas y básicas cerámicas - Determinación directa de fracciones masivas de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante OES mediante excitación de arco CC.
NF C74-327*NF EN 60601-2-39:2008 Equipos electromédicos - Parte 2-39: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de diálisis peritoneal
NF T30-711:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
NF T51-241:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
FD T90-187-1:2010 Calidad del agua - Determinación de glifosato y ácido aminometilfosfónico (AMPA) - Parte 1: método de análisis por cromatografía líquida con detección fluorimétrica mediante derivación poscolumna

Lithuanian Standards Office , Conceptos básicos del analizador de espectro

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 61290-5-3-2003 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002)
LST EN 61290-10-1-2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009).
LST EN 61290-10-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007).
LST EN 61290-10-4-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007).

German Institute for Standardization, Conceptos básicos del analizador de espectro

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002); Versión alemana EN 61290-5-3:2002
DIN V ENV 13800:2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES) sin separación de la matriz de plomo; Versión alemana ENV 13800:2000
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
DIN EN 61290-10-2:2008-07 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-10-2 (2004-02) sigue siendo válida junto con esta norma...
DIN EN 61290-10-4:2008-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61291...
DIN 58960-1:1988-05 Fotómetros para pruebas analíticas; procesos básicos físico-químicos utilizados
DIN EN 61290-1-1:2016 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2015); Versión alemana EN 61290-1-1:2015
DIN EN 61290-10-1:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009
DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51790-7:2002-01 Ensayos de combustibles líquidos. Determinación del contenido de vanadio y níquel. Parte 7: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS) y método de parámetros fundamentales.
DIN EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
DIN EN 62703:2014 Expresión del rendimiento de analizadores fluorométricos de oxígeno en medios líquidos (IEC 62703:2013); Versión alemana EN 62703:2013
DIN 51577-4:2023-07 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares - Determinación del contenido de cloro y bromo - Análisis por espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste / Nota: Fecha de emisión 2023-06-09*Previsto como reemplazo de la norma DIN 51577...
DIN 51790-7:2002 Ensayos de combustibles líquidos. Determinación del contenido de vanadio y níquel. Parte 7: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS) y método de parámetros fundamentales.
DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
DIN 51577-4:1994-02 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
DIN ISO 14490-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos. Parte 1: Métodos de prueba para características básicas (ISO 14490-1:2005) Versión en inglés de DIN ISO 14490-1:2006-08.
DIN 51577-4:2023-11 Testing of mineral oil hydrocarbons and similar products - Determination of chlorine and bromine content - Part 4: Analysis by energy dispersive X-ray spectrometry with low cost instruments
DIN EN ISO 23674:2022-12 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022); Versión alemana EN ISO 23674:2022
DIN EN 16424:2015 Caracterización de residuos - Métodos de detección de la composición de elementos mediante instrumentos portátiles de fluorescencia de rayos X; Versión alemana EN 16424:2014
DIN 38407-14:1994 Métodos estándar alemanes para el examen de agua, aguas residuales y lodos - Sustancias determinables conjuntamente (grupo F) - Parte 14: Determinación de ácidos fenoxialquilcarbónicos mediante cromatografía de gases y detección espectrométrica de masas después de la extensión sólido-líquido

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ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
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ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6247-10 Método de prueba estándar para la determinación del contenido elemental de poliolefinas mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM D7941/D7941M-23 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM E2465-19 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
ASTM D7941/D7941M-14 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM E158-86(1996)e1 Práctica estándar para cálculos fundamentales para convertir intensidades en concentraciones en análisis espectroquímicos de emisión óptica (retirada en 2004)
ASTM E1009-95(2000) Práctica estándar para evaluar un espectrómetro de vacío de emisión óptica para analizar acero al carbono y de baja aleación
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM E2465-11e1 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM E2056-04(2010) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM E2056-04(2016) Práctica estándar para calificar espectrómetros y espectrofotómetros para uso en análisis multivariados, calibrados mediante mezclas sustitutas
ASTM E2465-11 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM E2465-13 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM D7165-10(2015) Práctica estándar para el análisis en línea/en línea basado en cromatógrafo de gases para el contenido de azufre de combustibles gaseosos
ASTM E1010-16 Práctica estándar para la preparación de muestras de discos de acero y hierro mediante refundición para análisis espectroquímicos
ASTM D7417-17 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
ASTM F1375-92(2012)
ASTM D7417-10 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)
ASTM E2994-21 Método de prueba estándar para el análisis de titanio y aleaciones de titanio mediante espectrometría de emisión atómica por chispa y espectrometría de emisión atómica de descarga luminiscente (método basado en el rendimiento)
ASTM D6122-10 Práctica estándar para la validación del rendimiento de sistemas analizadores basados en espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea y de laboratorio
ASTM D6122-13 Práctica estándar para la validación del rendimiento de sistemas analizadores basados en espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea y de laboratorio
ASTM D6122-15 Práctica estándar para la validación del rendimiento de sistemas analizadores basados en espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea y de laboratorio
ASTM D8470-22 Práctica estándar para el desarrollo y la implementación de pruebas de rendimiento de instrumentos para su uso en sistemas analizadores multivariados en línea, en línea y basados en espectroscopía de laboratorio
ASTM E2994-16 Método de prueba estándar para el análisis de titanio y aleaciones de titanio mediante espectrometría de emisión atómica por chispa y espectrometría de emisión atómica de descarga luminiscente (método basado en el rendimiento)
ASTM E2823-11 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones de níquel mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (método basado en el rendimiento)
ASTM E2594-20 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones de níquel mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (basado en el rendimiento)
ASTM E2594-09(2014) Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones de níquel mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente 40; método basado en el rendimiento 41;
ASTM D7235-16 Guía estándar para establecer una relación de correlación lineal entre los resultados del analizador y del método de prueba primario utilizando las prácticas estándar relevantes de ASTM
ASTM E2594-09 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones de níquel mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (método basado en el rendimiento)

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EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico
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UNE-EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico. (Ratificada por AENOR en octubre de 2002.)
UNE-EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-1: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante interruptor óptico y analizador de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)
UNE-EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-2: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante un analizador de espectro óptico controlado (Ratificado por AENOR en mayo de 2008.)
UNE-EN ISO 23674:2023 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
UNE-EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2007.)
UNE-EN IEC 80601-2-71:2018 Equipos electromédicos - Parte 2-71: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos funcionales de Espectroscopía de Infrarrojo Cercano (NIRS) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

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TIA/EIA-455-206-2000 FOTP-206 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-1-1 - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-2 - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

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IS 10236 Pt.1-1989
IS 10236 Pt.18-1988 PROCEDIMIENTO PARA PRUEBAS CLIMÁTICAS BÁSICAS Y DE DURABILIDAD PARA INSTRUMENTOS ÓPTICOS PARTE 18 PRUEBA DE SELLADO
IS 10236 Pt.12-1985 PROCEDIMIENTO PARA PRUEBAS CLIMÁTICAS BÁSICAS Y DE DURABILIDAD PARA INSTRUMENTOS ÓPTICOS PARTE 12 PRUEBA DE CHOQUE
IS 10236 Pt.10-1985
IS 10236 Pt.17-1988 PROCEDIMIENTO PARA PRUEBAS CLIMÁTICAS BÁSICAS Y DE DURABILIDAD PARA INSTRUMENTOS ÓPTICOS PARTE 17 PRUEBA DE ACELERACIÓN (ESTADO ESTACIONARIO)
IS 10236 Pt.16-1988 PROCEDIMIENTO PARA PRUEBAS CLIMÁTICAS BÁSICAS Y DE DURABILIDAD DE INSTRUMENTOS ÓPTICOS PARTE 16 PRUEBA DE RADIACIÓN SOLAR
IS 10236 Pt.7-1983 PROCEDIMIENTO PARA PRUEBAS CLIMÁTICAS BÁSICAS Y DE DURABILIDAD PARA INSTRUMENTOS ÓPTICOS PARTE 7 PRUEBA DE CRECIMIENTO DE MOHO

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GOST 18230-1972 Fuentes de alimentación para detectores espectrométricos de radiación semiconductora. Tipos y parámetros básicos.
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TIA/EIA-455-207-2000 FOTP-207 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-1-2 - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico (consulte IEC 61290-1-2)

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ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
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ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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未注明发布机构, Conceptos básicos del analizador de espectro

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