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Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos., Total: 498 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos. son: Pruebas eléctricas y electrónicas., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Pruebas ambientales, Componentes electrónicos en general., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Materiales para la construcción aeroespacial., Conjuntos de componentes electrónicos., Dispositivos semiconductores, Componentes para equipos eléctricos., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Circuitos impresos y placas., Condensadores, Equipos e instrumentos a bordo., Sistemas de vehículos de carretera, Fluidos aislantes, Óptica y medidas ópticas., Accesorios electricos, Optoelectrónica. Equipo láser.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

JIS C 5036:1975 Método de prueba de resistencia (eléctrica) para componentes electrónicos.
JIS C 5029:1975 Método de prueba de baja presión de aire para componentes electrónicos.
JIS C 5037:1975 Método de prueba de resistencia (mecánica) para componentes electrónicos.
JIS C 5028:1975 Método de prueba de niebla salina para componentes electrónicos.
JIS C 5027:1975 Método de prueba de almacenamiento (baja temperatura) para componentes electrónicos
JIS C 5031:1975 Métodos de prueba de sellado para componentes electrónicos.
JIS C 5032:1975 Método de prueba de sellado (inmersión cíclica) para componentes electrónicos
JIS C 62813:2016 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para características eléctricas.
JIS C 60068-2-82:2009 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba XW1: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
JIS C 62024-1:2022 Componentes inductivos de alta frecuencia - Características eléctricas y métodos de medición - Parte 1: Inductor de chip de rango nanohenrio

Defense Logistics Agency, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

DLA MIL-STD-202 G CHG NOTICE 2-2013 MÉTODO DE PRUEBA PIEZAS DE COMPONENTES ELÉCTRICOS Y ELECTRÓNICOS ESTÁNDAR
DLA MIL-STD-202 G CHG NOTICE 1-2003 MÉTODO DE PRUEBA PIEZAS DE COMPONENTES ELÉCTRICOS Y ELECTRÓNICOS ESTÁNDAR

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

GJB 360.31-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de capacitancia
GJB 360.34-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de ruido de corriente de resistencia fija
GJB 360B-2009 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.
GJB 360.33-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Pruebas de resistencia de contacto
GJB 360.29-1987 Métodos de prueba para pruebas de resistencia CC de componentes electrónicos y eléctricos.
GJB 360.28-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de resistencia de aislamiento.
GJB 360.35-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de coeficiente de tensión de resistencia.
GJB 360.27-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de tensión de resistencia dieléctrica
GJB 360.30-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de características de resistencia-temperatura.
GJB 360.5-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de baja presión
GJB 360.1-1987 Principios generales para métodos de prueba de componentes electrónicos y eléctricos.
GJB 360.32-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba del factor de calidad (Q)
GJB 360.36-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Monitorización de la fluctuación de contacto
GJB 360.2-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de niebla salina
GJB 360.12-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de sellado
GJB 360.4-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de inmersión
GJB 360.10-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de arena y polvo.
GJB 360.6-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de resistencia a la humedad.
GJB 360.9-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Pruebas en atmósfera explosiva
GJB 360.18-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de soldabilidad.
GJB 360.22-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de aceleración
GJB 360.26-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos. Detección de ruido de impacto de partículas.
GJB 360.13-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vibración de baja frecuencia.
GJB 360.8-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vida a alta temperatura
GJB 360.25-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de resistencia a disolventes
GJB 360.15-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vibración de alta frecuencia.
GJB 360.14-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de caída aleatoria
GJB 360.24-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vibración aleatoria
GJB 360.16-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vida de rotación.
GJB 360.20-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos: prueba de resistencia al calor de soldadura.
GJB 360.7-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de choque de temperatura
GJB 360.3-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de calor húmedo en estado estacionario
GJB 360.38-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de conmutación de corriente media
GJB 360.17-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de impacto fuerte
GJB 360.21-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de resistencia de terminales
GJB 360.23-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de impacto (pulso especificado)
GJB 360.19-1987 Métodos de prueba para inspección fotográfica por rayos X de componentes electrónicos y eléctricos.
GJB 9397-2018 Método de prueba para los efectos de la radiación de neutrones de componentes electrónicos militares.
GJB 360.11-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de inflamabilidad (llama externa)
GJB 360.37-1987 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos Prueba de vida útil de conmutación de carga de bajo nivel
GJB 548B-2005 Métodos y procedimientos de prueba para dispositivos microelectrónicos.
GJB 548A-1996 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 548C-2021 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 548-1988 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

GJB 360A-1996 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

PL-PKN, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

PN T04603-1990 Componentes electrónicos Condensadores variables Términos y métodos de prueba
PN T04570-1974 Transformadores electrónicos y bobinas de choque. Métodos de prueba eléctrica.
PN T80012-1972
PN T80001-1974
PN T80006-1988
PN T80250-1971 Componentes electrónicos Tomas y accesorios para dispositivos electrónicos enchufables Requisitos y métodos de uso
PN T05126-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Pruebas climáticas y soldaduras: pruebas.
PN T05123-1986 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Pruebas de capacidad de carga de corriente.
PN T05124-1986 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Pruebas de estrés dinámicas.
PN T05122-1986 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Examen general, pruebas de continuidad eléctrica y resistencia de contacto, pruebas de aislamiento y pruebas de tensión.
PN T05127-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Pruebas de funcionamiento mecánico y pruebas de sellado.
PN T80015-1990 Componentes electrónicos Condensadores de sintonización variable tipo A Requisitos generales y pruebas
PN T80004-1988
PN T05128-1988 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Pruebas de conectores (mecánicas) y pruebas mecánicas de contactos y terminaciones.
PN T80010-1988
PN T80009-1989
PN T05125-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas de impacto (componentes libres), pruebas de carga estática (componentes fijos), pruebas de resistencia y pruebas de sobrecarga.
PN T05121-1986 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición General

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

KS C 6013-1982(2017) Método de prueba de resistencia (eléctrica) para componentes electrónicos.
KS C 6013-1982(2022) Método de prueba de resistencia (eléctrica) para componentes electrónicos.
KS C 6012-1982(2017) Método de prueba de sellado (inmersión cíclica) para componentes electrónicos.
KS C IEC 60068-2-82-2012(2017) Pruebas ambientales－Parte 2-82：Pruebas－Test Tx：Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
KS C IEC PAS 62162:2002 Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
KS C IEC 60068-2-82:2012 Pruebas ambientales－Parte 2-82：Pruebas－Test Tx：Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
KS C IEC PAS 62162-2002(2022) Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
KS C IEC 60512-6-2004(2009) Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición－Parte 6:Pruebas climáticas y pruebas de soldadura
KS C IEC 62025-2:2018 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas.
KS C 2115-2003(2018) Métodos de ensayo de materiales cerámicos para aislamiento eléctrico.
KS C IEC 60512-11-1:2002 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos-Procedimiento de prueba básico y métodos de medición-Parte 11:Pruebas climáticas-Sección 1:Prueba 11a-Secuencia climática
KS C IEC 60512-11-1:2014 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimiento de prueba básico y métodos de medición－Parte 11:Pruebas climáticas－Sección 1：Prueba 11a－Secuencia climática
KS C IEC 60512-11-1-2002(2013) Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimiento de prueba básico y métodos de medición－Parte 11:Pruebas climáticas－Sección 1：Prueba 11a－Secuencia climática
KS C IEC 60512-11-8:2004 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos-Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición-Parte 11:Pruebas climáticas-Sección 8:Prueba 11h-Arena y polvo
KS C IEC 60512-11-14:2004 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos-Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición-Parte 11:Pruebas climáticas-Sección 14:Prueba 11p-Prueba de corrosión de un solo gas que fluye
KS C IEC 60512-11-14:2014 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición－Parte 11:Pruebas climáticas－Sección 14:Prueba 11p－Prueba de corrosión de un solo gas que fluye
KS C IEC 60747-5-3:2004 Dispositivos semiconductores－Dispositivos discretos－Parte 5－3：Dispositivos optoelectrónicos－Método de medición
KS C IEC 60512-11-8-2004(2009) Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición－Parte 11:Pruebas climáticas－Sección 8:Prueba 11h－Arena y polvo
KS C IEC 60512-9-2003(2008) Componentes electromecánicos para equipos electrónicos－Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición－Parte 9:Pruebas diversas

British Standards Institution (BSI), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

BS EN 2591-7301:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos eléctricos. Resistencia a la temperatura de los acopladores.
BS EN 60068-2-82:2007 Pruebas ambientales - Pruebas - Test Tx - Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
BS EN 2591-702:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medición de distorsión de señal de acopladores
BS EN 2591-701:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medida de impedancia en circuito abierto de acopladores
BS EN 2591-706:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Prueba de transmisión
BS EN 2591-705:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medida de impedancia de entrada de manguitos de acopladores
BS EN 2591-708:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medida de impedancia de transferencia superficial de acopladores
BS EN 2591-703:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Rechazo de modo común de acopladores
BS EN 2591-709:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos eléctricos - Resistencia a la tracción de acopladores
BS 5772-6:1984 Especificación de componentes electromecánicos para equipos electrónicos: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas climáticas y pruebas de soldadura.
BS EN 60512-11-8:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Pruebas climáticas. Prueba 11h. arena y polvo
BS EN 2591-707:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medida de impedancia característica de un bus o de un terminal terminal
BS EN 2591:7301:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores
BS EN 2591-704:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos eléctricos - Medición de la relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador
BS EN 2591-6402:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Choque
BS EN 2591-6317:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Inflamabilidad
BS EN 2591-6403:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Vibraciones
BS EN 2591-6307:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. niebla salina
BS EN 2591-6314:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Inmersión a baja presión de aire.
BS EN 2591-6415:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Daños en la sonda de prueba
BS EN 2591:1992 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. General
BS EN 2591-6405:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Carga axial
BS EN 2591-6316:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia al ozono
BS EN 2591-6315:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia a los fluidos
BS EN 2591-6306:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. El crecimiento de moho
BS EN 2591-6324:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Sellado interfacial
BS EN 2591-6404:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Carga transversal
BS EN 2591-6318:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistente al fuego
BS EN 2591-6101:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Examinación visual
BS EN 2591-6303:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Frío/baja presión y calor húmedo
BS EN 2591-6406:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia mecánica
BS EN 2591-6301:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia a la temperatura
BS EN 2591-6401:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Estado estacionario de aceleración
BS 5772-9:1993 Especificación de componentes electromecánicos para equipos electrónicos: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas varias
BS EN IEC 62025-2:2019 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Métodos de prueba para características no eléctricas.
BS EN 2591-210:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Sobrecarga eléctrica
BS EN 60512-11-3:2002 Conectores para equipos electrónicos - Ensayos y medidas - Ensayos climáticos - Ensayo 11c - Calor húmedo, estado estable
BS EN 2591-310:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Frío
BS EN 2591-6305:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Cambio rápido de temperatura.
BS EN 62813:2015 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para características eléctricas.
BS EN 2591:6307:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Niebla salina
BS EN 2591:6402:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Choque
BS EN 2591:6403:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Vibraciones
BS EN 2591-322:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Hermeticidad
BS EN 2591-613:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Ensayo de impacto
BS EN 2591-207:1996 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Prueba de tensión
BS EN 60512-1:2001 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. General.
BS EN IEC 62024-1:2018 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medida. Inductor de chip de rango nanohenrio
BS 5772-3:1979 Especificación de componentes electromecánicos para equipos electrónicos: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas de capacidad de carga de corriente.
BS 5772-4:1979 Especificación de componentes electromecánicos para equipos electrónicos: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas de estrés dinámicas
BS EN 2591:6415:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Daños en la sonda de prueba
BS EN 2591:6317:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Inflamabilidad
BS EN 2591-306:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de ensayo. Crecimiento de moho.
BS EN 2591-308:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Arena y polvo
BS EN 2591-402:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Choque
BS EN 2591-502:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Entrada restringida
BS EN 2591-402:2012 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Choque
BS EN 2591-507:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Porosidad del revestimiento
BS EN IEC 62024-2:2020 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medida. Corriente nominal de inductores para convertidores CC a CC.
BS EN 2591:6101:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Examen visual
BS EN 2591:6306:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Crecimiento de moho
BS EN 2591-601:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Pérdidas de inserción
BS EN 2591:6404:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Carga transversal
BS EN 2591:6405:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Carga axial
BS EN 2591:6318:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia al fuego
BS EN 2591-610:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Eficacia de la fijación del cable - Tirado del cable
BS EN 60512-11-1:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medida - Ensayos climáticos - Ensayo 11a - Secuencia climática
BS EN 60512-14-7:1998 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Pruebas de sellado. Pruebe 14 g. Impactando el agua
BS EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico
BS EN 2591:6314:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Inmersión a baja presión de aire
BS EN 2591-211:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Capacitancia
BS EN 2591-611:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Efectividad de la fijación del cable - Torsión del cable
BS EN 2591-315:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Resistencia a fluidos
BS EN 2591-318:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Resistencia al fuego
BS EN 2591-513:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Permeabilidad magnética
BS EN 2591-317:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Inflamabilidad
BS EN 2591:6303:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Frío/baja presión y calor húmedo
BS QC 160000-1:1987 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Relés eléctricos. Especificación genérica: relés electromecánicos todo o nada. Procedimientos de prueba y medición.
14/30314465 DC BS EN 62956. Condensadores eléctricos híbridos de doble capa para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para características eléctricas.
BS EN 2591:6301:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Resistencia a la temperatura
BS EN 2591:6406:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia mecánica
BS EN 2591:6324:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Sellado interfacial
BS EN 2591:6316:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia al ozono
BS EN 2591-201:1996 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Resistencia de contacto - Nivel bajo
BS EN 2591-205:1996 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Continuidad eléctrica de la carcasa (carcasa)
BS EN 2591-605:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Pérdida de retorno
BS EN IEC 60068-2-82:2019 Cambios rastreados. Pruebas ambientales. Pruebas. Prueba Xw1: Métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos
BS EN 2591-410:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Retención del inserto en carcasa (axial)
BS CECC 00009:1982 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación básica: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición para componentes electromecánicos.
BS EN 2591-214:2005 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de ensayo. Parte 214: Rayo, impulsos de corriente y tensión.
BS EN 2591-6321:2002 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Calor húmedo, prueba cíclica.
BS EN 2591-206:1996 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Medidas de resistencia de aislamiento
BS EN 2591-325:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Resistencia al hielo
BS EN 3909:2007 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos
BS EN 3909:2008 Serie aeroespacial. Fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos.
BS EN 2591-101:1994 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Examen visual.
BS EN 2591-323:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Choque térmico
BS EN 2591-324:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Sellado interfacial
BS EN 2591-405:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Carga axial
BS EN 2591-404:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Carga transversal
BS EN 2591-421:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Caída libre
BS EN 2591-411:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Retención del inserto en carcasa (torsional)
BS EN 2591-612:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Efectividad de la fijación del cable - Compresión axial del cable
BS EN 2591-6414:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
BS EN 2591-415:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Daños en la sonda de prueba (contactos hembra)
BS EN 60512-23-3:2001 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Prueba 23c - Eficacia del blindaje de conectores y accesorios
BS EN 2591-423:2006 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba: resistencia de la rosca de los accesorios traseros del conector

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

GB 5594.1-1985 Métodos de prueba de rendimiento para materiales cerámicos estructurales de componentes electrónicos Métodos de prueba de estanqueidad al aire
GB/T 5594.1-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba de estanqueidad al gas.
GB/T 1772-1979 Determinación de la tasa de fallas de elementos y componentes electrónicos.
GB 5594.5-1985 Métodos de prueba para el desempeño de materiales cerámicos estructurales para componentes electrónicos Métodos de prueba para la resistividad volumétrica
GB/T 5594.5-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para la resistividad del volumen.
GB/T 5594.7-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para la permeabilidad a los líquidos.
GB/T 5594.6-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para la durabilidad química.
GB/T 5594.3-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para el coeficiente medio de expansión lineal.
GB/T 5095.11-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 11: Pruebas climáticas
GB/T 5095.11-5095.12-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición.
GB/T 5095.6-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 6: Pruebas climáticas y pruebas de soldadura.
GB/T 5594.8-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Determinación de la microestructura.
GB/T 5594.6-2015 Métodos de prueba para las propiedades de las estructuras cerámicas utilizadas en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 6: Método de prueba para la durabilidad química.
GB/T 5594.4-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
GB 5594.2-1985 Método de prueba para el desempeño de materiales cerámicos estructurales para componentes electrónicos Método de prueba para el módulo de elasticidad de Young y el índice de Poisson
GB/T 5594.2-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos: método de prueba para el módulo elástico de Young y la relación de Poisson.
GB/T 5594.7-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 7: Método de prueba para la permeabilidad a los líquidos.
GB/T 32207-2015 Práctica estándar para el uso de detectores de captura de electrones en cromatografía de gases
GB/T 5594.4-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
GB/T 5594.3-2015
GB/T 15651.3-2003 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos Métodos de medición
GB/T 5594.8-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 8: Método de prueba para la microestructura.

YU-JUS, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

JUS N.R4.430-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 10a: Sobrecarga eléctrica (svitches)
JUS N.R4.400-1991 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. General
JUS N.R4.448-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 13e: método de polarización
JUS N.R4.415-1979 Componentes etectromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 5a: aumento de temperatura
JUS N.R4.414-1979 Componentes electromecánicos para equipos electromc. Métodos de prueba. Prueba 4b: Descarga parcial
JUS N.R4.447-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Prueba 13d: par de funcionamiento
JUS N.R4.485-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 15f: Eficacia de los dispositivos de conector couoiino
JUS N.R4.497-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 12c: Soiderabitidad, deshumectación
JUS N.R4.442-1978 Componentes electromecánicos para equipos electromecánicos. Métodos de prueba. Prueba 1 lk: presión de aire baja
JUS N.R4.205-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Fiat, terminaciones guick-connect
JUS N.R4.421-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Prueba 7a: caída libre
JUS N.R4.410-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba, Prueba 2e: Perturbación de contacto.
JUS N.R4.424-1977 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 8b: carga estática, axial
JUS N.R4.481-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 11n: Estanqueidad al gas, conexiones envueltas sin soldadura
JUS N.R4.464-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16f: Robustez de las terminaciones
JUS N.R4.446-1991 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Prueba 13c: Fuerza operativa (interruptores>
JUS N.R4.466-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 17a: Abrazadera de cable, robustez
JUS N.R4.422-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Ensayo 7b: Ensayo de impacto de resistencia mecánica
JUS N.R4.426-1977 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 9a: Funcionamiento mecánico (Resistencia)
JUS N.R4.469-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Ensayo 17d: Humedad del cable, resistencia a la torsión del cable
JUS N.R4.468-1978 Componentes electromecánicos para equipos dectronic. Métodos de prueba. Prueba 17c: Abrazadera de cable, resistencia a la tracción del cable (tensión)
JUS N.R4.467-1978 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 17b: Abrazadera de cable, resistencia a la rotación del cable
JUS N.R4.447-1991 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Prueba 13d: Torque de operación (interruptores)
JUS N.R4.454-1977 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 15a: Retención de contactos en inserto
JUS N.R4.461-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16c: Resistencia a la flexión del contacto
JUS N.R4.462-1979 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Ensayo 16 d: Resistencia a la tracción (cormectones armados)
JUS N.R4.495-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 12a: Soldabilidad, vvetting, método de baño de soldadura
JUS N.R4.499-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Tast 12e: Resistencia al calor soide-ring, método de hierro
JUS N.R4.482-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 2h: Resistencia (puesta a tierra) del actuador al casquillo de montaje (superficie)
JUS N.R4.456-1977 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de ensayo. Prueba 15c: Retención del inserto en el alojamiento (torsional)
JUS N.R4.465-1980 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16 g: Medición de la deformación del contacto después del engarzado
JUS N.R4.455-1979 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 15b: Insertar retención en vivienda (axiaU
JUS N.R4.498-1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 12d: Resistencia al calor de soldadura, método del baño de soldadura
JUS N.R4.492-1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16i: Fuerza de retención del resorte del contacto de puesta a tierra
JUS N.R4.457-1977 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 15?: Fuerza de inserción y extracción de contactos.
JUS N.R4.493-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Métodos de prueba. Prueba 16p: Resistencia a la torsión. pestañas masculinas fijas

RO-ASRO, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

STAS 12743/6-1989 Componentes electrónicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS DE ENSAYOS BÁSICOS Y MÉTODOS DE MEDIDA Ensayos climáticos y de soldadura
STAS 12743/4-1989 Componentes electromecánicos para equipos eléctricos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Pruebas de esfuerzo dinámicas
STAS 10003-1975
STAS 8393/17-1-1970 Procedimientos básicos de prueba ambiental para componentes electrónicos y equipos electrónicos Métodos de prueba de CAÍDA Y CAÍDA
STAS 12743/1-1991 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. General
STAS 12743/2-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Inspección general, pruebas de continuidad eléctrica y resistencia de contactos, pruebas de aislamiento y pruebas de estrés de tensión.
STAS 12743/3-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Pruebas de capacidad de carga de corriente
STAS 12743/5-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Ensayos de impacto, ensayos de carga estática, ensayos de resistencia y ensayos de sobrecarga
STAS 12743/7-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Pruebas de funcionamiento mecánico y pruebas de sellado
STAS 12743/9-1991 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Pruebas de sujeción de cables, pruebas de riesgo de explosión, pruebas de resistencia química, pruebas de riesgo de incendio, pruebas de resistencia a RF,

Electronic Industrial Alliance (U.S.), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

EIA RS-186-4E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS COMPONENTES ELECTRÓNICAS PASIVAS MÉTODO 4: PRUEBA DIELÉCTRICA (TENSIÓN SOPORTADA)
EIA RS-186-13E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 13: PRUEBA DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO
EIA RS-186-11E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 11: CHOQUE TÉRMICO EN EL AIRE
EIA RS-186-12E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 12: PRUEBA DE VIDA ÚTIL AL CALOR
EIA-186-14E-1985 MÉTODO DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 14: PRUEBA DE SELLO DEL PANEL
EIA RS-186-3E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 3: HUMEDAD (CONTENEDOR SELLADO EN ESTADO ESTABLE
EIA RS-186-E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS INSTRUCCIONES GENERALES E ÍNDICE DE PRUEBAS
EIA RS-186-9E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 9:s SOLDERABILIDAD
EIA RS-186-1E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 1: HUMEDAD (ESTADO ESTACIONARIO)
EIA RS-186-5E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 5: SPRAY DE SAL (CORROSIÓN)
EIA RS-186-8E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 8: VIBRACIÓN, ALTA FRECUENCIA
EIA RS-186-6E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 6: ROBUSTEZ MECÁNICA DE TERMINALES
EIA RS-186-10E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA PIEZAS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 10: EFECTO DE LA SOLDADURA
EIA RS-186-2E-1978 MÉTODOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA BARTS DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS PASIVOS MÉTODO 2: RESISTENCIA A LA HUMEDAD (CICLOS)

Group Standards of the People's Republic of China, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

T/ZEIIA 02-2020 Método de prueba de pasta electrónica para componentes electrónicos.

ECIA - Electronic Components Industry Association, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

EIA-977-2017 Método de prueba: exposición de componentes electrónicos pasivos al azufre atmosférico
EIA-977-2016 Método de prueba: exposición de componentes electrónicos pasivos al azufre atmosférico
186-13E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 13: Prueba de resistencia de aislamiento
186-11E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 11: Choque térmico en el aire
186-12E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 12: prueba de vida térmica
186-9E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 9: soldabilidad
186-14E-1985 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Método de prueba para; Método 14: Prueba de sellado del panel
186-3E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 3: Humedad (contenedor sellado en estado estacionario)
186-E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Instrucciones Generales e Índice de Pruebas
186-10E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 10: efecto de la soldadura
186-8E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 8: Vibración a alta frecuencia
186-1E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 1: Humedad (estado estacionario)
186-2E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 2: resistencia a la humedad (ciclismo)
186-5E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 5: niebla salina (corrosión)
186-6E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 6: Robustez mecánica de los terminales
186-7E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos @ Métodos de prueba para; Método 7: Prueba de fatiga por vibración (baja frecuencia de 10 a 55 hercios)

Danish Standards Foundation, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

DS/EN 60068-2-82:2007
DS/EN 3909:2008 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos
DS/EN 2591-7301:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 7301: Elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores
DS/EN 2591-703:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 703: Elementos eléctricos - Rechazo de acopladores en modo común
DS/EN 60512-11-1:1999
DS/IEC 512-6:1987 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 6: Pruebas climáticas y pruebas de soldadura.
DS/EN 2591-701:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 701: Elementos eléctricos - Medida de impedancia en circuito abierto de acopladores
DS/EN 2591-702:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 702: Elementos eléctricos - Medida de distorsión de señal de acopladores
DS/EN 60512-11-8:1999
DS/EN 2591-704:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 704: Elementos eléctricos - Medición de la relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador
DS/EN 60512-23-3/Corr.1:2003
DS/EN 60512-23-3:2001
DS/EN 2591-708:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 708: Elementos eléctricos - Medición de la impedancia de transferencia superficial de acopladores
DS/EN 2591-706:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 706: Elementos eléctricos - Ensayo de transmisión
DS/EN 2591-709:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 709: Elementos eléctricos - Resistencia a la tracción de acopladores
DS/EN 62025-1:2008
DS/EN 2591-705:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 705: Elementos eléctricos - Medición de la impedancia de entrada del ramal de acopladores
DS/EN 60512-1-3:1998
DS/IEC 512-8:1995
DS/EN 60749-35:2007
DS/IEC 512-1:1990 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 1: Generalidades
DS/EN 2591-211:2002 Serie Aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 211: Capacitancia

AENOR, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

UNE-EN 60068-2-82:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Tx: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
UNE 20606-6:1986 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS; PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PRUEBAS CLIMÁTICAS Y PRUEBAS DE SOLDADURA
UNE-EN 60512-11-8:2000 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS. PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PARTE 11: PRUEBAS CLIMÁTICAS. SECCIÓN 8: PRUEBA 11H. ARENA Y POLVO.
UNE-EN 60512-11-1:2000 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS. PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PARTE 11: PRUEBAS CLIMÁTICAS. SECCIÓN 1: PRUEBA 11A. SECUENCIA CLIMÁTICA.
UNE 20606-8/2C:1983 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS; PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PRUEBA DE CONECTORES (MECÁNICA) Y PRUEBA MECÁNICA DE CONTACTOS Y TERMINACIONES
UNE 20606-8:1981 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS; PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PRUEBAS DE CONECTORES (MECANICOS) Y PRUEBAS MECÁNICAS DE CONTACTOS Y TERMINACIONES
UNE-IEC 60512-9:2005 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición. Parte 9: Pruebas diversas.
UNE-EN 60512-23-3:2001 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición - Parte 23-3: Prueba 23c: Efectividad del blindaje de conectores y accesorios.
UNE 20606-8/1C:1982 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS; PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PRUEBAS DE CONECTORES (MECANICOS) Y PRUEBAS MECÁNICAS DE CONTACTOS Y TERMINACIONES
UNE-EN 60512-1-3:1999 COMPONENTES ELECTROMECÁNICOS PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS. PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE ENSAYOS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN. PARTE 1: EXAMEN GENERAL. SECCIÓN 3: PRUEBA 1C - LONGITUD DEL ENGANCHE ELÉCTRICO

American National Standards Institute （ANSI), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

ANSI/EIA 186-14E:1985 Piezas de componentes electrónicos pasivos: método de prueba 14, prueba de sellado del panel
ANSI/ASTM E1161:1996 Método de prueba para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos

American Society for Testing and Materials (ASTM), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

ASTM F542-07 Método de prueba estándar para temperatura exotérmica de compuestos encapsulantes para encapsulación electrónica y microelectrónica
ASTM E1161-95 Método de prueba estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
ASTM E1250-15(2020) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
ASTM E1250-10 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

ECA 186-4E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 4: Prueba dieléctrica (voltaje soportado)
ECA 186-13E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 13: Prueba de resistencia de aislamiento
ECA 186-11E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 11: Choque térmico en el aire
ECA 186-E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Instrucciones Generales e Índice de Pruebas
ECA 186-9E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 9: soldabilidad
ECA 186-12E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 12: prueba de vida térmica
ECA 186-5E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 5: niebla salina (corrosión)
ECA 186-8E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 8: vibración, alta frecuencia
ECA 186-10E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 10: efecto de la soldadura
ECA 186-3E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 3: Humedad (contenedor sellado en estado estacionario)
ECA 186-14E-1985 Piezas de componentes electrónicos pasivos, método de prueba para; Método 14: Prueba de sellado del panel
ECA 186-1E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 1: Humedad (estado estacionario)
ECA 186-2E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 2: resistencia a la humedad (ciclismo)
ECA 186-6E-1978 Piezas de componentes electrónicos pasivos, métodos de prueba para; Método 6: Robustez mecánica de los terminales

German Institute for Standardization, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

DIN EN 3909:2016-10 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos y ópticos; Versión alemana e inglesa EN 3909:2016
DIN EN 60068-2-82:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Tx: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos (IEC 60068-2-82:2007); Versión alemana EN 60068-2-82:2007
DIN EN 62813:2015-09 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para características eléctricas (IEC 62813:2015); Versión alemana EN 62813:2015
DIN EN 60512-11-8:1999-07 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Parte 11: Pruebas climáticas; Sección 8: Ensayo 11h: Arena y polvo (IEC 60512-11-8:1995); Versión alemana EN 60512-11-8:1999 / Nota: Aplica en conjunto...
DIN EN IEC 62025-2:2021-11 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas (IEC 62025-2:2019); Versión alemana EN IEC 62025-2:2019 / Nota: DIN EN 62025-2 (2005-08) sigue siendo válida a...
DIN EN 60749-35:2007-03 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006); Versión alemana EN 60749-35:2006
DIN EN 62025-1:2008-02 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Inductor fijo montado en superficie para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones (IEC 62025-1:2007); Versión alemana EN 62025-1:2007 / Nota: DIN EN...
DIN EN 60512-11-1:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Parte 11: Pruebas climáticas; Sección 1: Ensayo 11a: Secuencia climática (IEC 60512-11-1:1995); Versión alemana EN 60512-11-1:1999
DIN EN 60512-11-8:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Parte 11: Pruebas climáticas; Sección 8: Ensayo 11h: Arena y polvo (IEC 60512-11-8:1995); Versión alemana EN 60512-11-8:1999
DIN EN 2591:1992-12 Serie aeroespacial; elementos de conexión eléctrica y óptica; métodos de prueba; general; Versión alemana EN 2591:1992
DIN EN 60512-20-2:2001-04 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición - Parte 20-2: Prueba: 20b: Pruebas de inflamabilidad; Ignifugidad (IEC 60512-20-2:2000); Versión alemana EN 60512-20-2:2000
DIN EN 60749-35:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006); Versión alemana EN 60749-35:2006
DIN EN 2591-210:1998 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; métodos de prueba - Parte 210: Sobrecarga eléctrica; Versión alemana EN 2591-210:1998
DIN EN 3909:2008 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos; Versión alemana e inglesa EN 3909:2007
DIN EN IEC 61007 Berichtigung 1:2021-11 Transformadores e inductores para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones. Métodos de medición y procedimientos de prueba (IEC 61007:2020 + COR1:2021); Versión alemana EN IEC 61007:2020 + AC:2021; Corrección 1
DIN EN IEC 61007:2021-09 Transformadores e inductores para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones. Métodos de medición y procedimientos de prueba (IEC 61007:2020 + COR1:2021); Versión alemana EN IEC 61007:2020 + AC:2021 / Nota: DIN EN 61007 (1998-04) sigue siendo válida junto con esta...
DIN EN 2591-227:2015-10 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 227: Ensayo de descargas parciales; Versión alemana e inglesa EN 2591-227:2015 / Nota: Aplicable en combinación con DIN EN 2591-100 (2006-08).

ES-UNE, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

UNE-EN 3909:2016 Serie Aeroespacial - Fluidos de ensayo y métodos de ensayo para componentes y subconjuntos eléctricos y ópticos (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN 2591-706:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 706: Elementos eléctricos - Ensayo de transmisión. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN IEC 62025-2:2019 Componentes inductivos de alta frecuencia - Características no eléctricas y métodos de medida - Parte 2: Métodos de ensayo para características no eléctricas (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2019.)
UNE-EN 2591-7301:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 7301: Elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-702:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 702: Elementos eléctricos - Medida de distorsión de señal de acopladores. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-709:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 709: Elementos eléctricos - Resistencia a la tracción de acopladores. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-703:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 703: Elementos eléctricos - Rechazo de acopladores en modo común. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-704:2001 Serie aeroespacial- Elementos de conexión eléctrica y óptica- Métodos de prueba- Parte 704: Elementos eléctricos- Medición de relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 2591-708:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 708: Elementos eléctricos - Medida de la impedancia de transferencia superficial de acopladores. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-705:2001 Serie aeroespacial- Elementos de conexión eléctrica y opcionales- Métodos de prueba- Parte 705: Elementos eléctricos- Medición de impedancia de entrada de manguitos de acopladores. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 2591-707:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 707: Elementos eléctricos - Medida de impedancia característica de un bus o de un terminal de conexión. (Ratificada por AENOR en abril de 2002.)
UNE-EN 62025-1:2007 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 1: Inductores fijos montados en superficie para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones (IEC 62025-1:2007). (Ratificada por AENOR en diciembre de 2007.)
UNE-EN IEC 61007:2020/AC:2021-06 Transformadores e inductores para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones - Métodos de medida y procedimientos de ensayo (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)
UNE-EN IEC 61007:2020 Transformadores e inductores para uso en equipos electrónicos y de telecomunicaciones - Métodos de medida y procedimientos de ensayo (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
UNE-EN IEC 62024-1:2018 Componentes inductivos de alta frecuencia - Características eléctricas y métodos de medida - Parte 1: Chip inductor rango nanohenrios (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2018.)
UNE-EN 2591-227:2015 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 227: Ensayo de descargas parciales (Ratificada por AENOR en septiembre de 2015.)
UNE-EN 2591-211:2002 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 211: Capacitancia (Ratificada por AENOR en agosto de 2002.)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

EN 60068-2-82:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Tx: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
EN IEC 60068-2-82:2019 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Xw1: Métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos
EN 60512-11-8:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición Parte 11: Pruebas climáticas Sección 8: Prueba 11h - Arena y polvo
EN 62813:2015 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos: métodos de prueba para características eléctricas
EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico
EN 62025-2:2005 Componentes inductivos de alta frecuencia Características no eléctricas y métodos de medición Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

IEEE C62.31-2006 Métodos de prueba para componentes de dispositivos de protección contra sobretensiones con tubos de gas de bajo voltaje

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

JEDEC JESD22-C101D-2008 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
JEDEC JESD22-C101F-2013 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
JEDEC JESD22-B111-2003 Método de prueba de caída a nivel de placa de componentes para productos electrónicos portátiles

Association Francaise de Normalisation, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

NF C96-009:1989 Componentes electrónicos Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos.
NF EN 2591-709:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 709: elementos eléctricos - Resistencia a la tracción de acopladores
NF EN 2591-706:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 706: componentes eléctricos - Prueba de transmisión
NF C93-400:1988 Componentes electrónicos Dispositivos de conexión Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición Lista de pruebas
NF EN 2591-7301:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 7301: componentes eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores
NF EN 2591-702:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 702: componentes eléctricos - Medición de la distorsión de la señal del acoplador
NF EN 2591-703:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 703: componentes eléctricos - Rechazo de acopladores en modo común
NF C20-700-2-82*NF EN IEC 60068-2-82:2019 Pruebas ambientales - Parte 2-82: pruebas - Prueba Xw1: métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos
NF C20-700-2-82*NF EN 60068-2-82:2013 Pruebas ambientales - Parte 2-82: pruebas - Prueba XW1: métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
NF EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba climáticos y mecánicos. Parte 35: microscopía acústica para componentes electrónicos con carcasa de plástico.
NF C93-400:1985 Componentes electrónicos. Dispositivos de conexión. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición.
NF EN 2591-708:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 708: elementos eléctricos - Medida de la impedancia de transferencia superficial de acopladores
NF EN 2591-705:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 705: componentes eléctricos - Medida de la impedancia de entrada del ramal del acoplador
NF L59-716*NF EN 3909:2016 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos y ópticos
NF EN 2591-701:2002 Serie aeroespacial - Componentes de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 701: componentes eléctricos - Medida de la impedancia de acopladores en circuito abierto
NF C93-113*NF EN 62813:2015 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos: métodos de prueba para características eléctricas
NF EN 3909:2016 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos y ópticos
FD R13-432:1996 Vehiculos de carretera. Conexiones eléctricas y electrónicas. Métodos de prueba.
NF EN IEC 62025-2:2019 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: métodos de prueba para características no eléctricas.
NF EN 12192-2:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medida - Parte 11: ensayos climáticos. Tramo 8: Prueba de 11h: arena y polvo.
NF EN 60512-11-8:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medida - Parte 11: ensayos climáticos. Tramo 8: Prueba de 11h: arena y polvo.
NF EN 2591-308:1998 Serie Aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos. Métodos de ensayo - Parte 308: arena y polvo.
NF C93-190:1983 Componentes electrónicos. Condensadores fijos para supresión de interferencias de radio. Selección de métodos de ensayo y requisitos generales.
NF L54-002-160*NF EN 2591-704:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 704: elementos eléctricos - Medición de la relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador
NF C93-400-11-1*NF EN 60512-11-1:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 11: pruebas climáticas. Sección 1: prueba 11a. Secuencia climática.
NF L54-002-157*NF EN 2591-701:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 701: elementos eléctricos - Medida de impedancia en circuito abierto de acopladores.
NF EN 2591-210:1998 Serie Aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos. Métodos de prueba - Parte 210: sobrecarga eléctrica.
NF L54-002-158*NF EN 2591-702:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 702: elementos eléctricos - Medición de la distorsión de la señal de acopladores
NF C93-400-11-8*NF EN 60512-11-8:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 11: pruebas climáticas. sección 8: prueba 11h: arena y polvo.
NF C93-370-1*NF EN IEC 62024-1:2018 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características eléctricas y métodos de medición. Parte 1: inductor de chip de rango de nanohenrios.
NF L54-002-156*NF EN 2591-7301:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 7301: elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores

Lithuanian Standards Office , Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

LST EN 3909-2008 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos
LST EN 60068-2-82-2007 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Tx: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos (IEC 60068-2-82:2007)
LST EN 2591-7301-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 7301: Elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores
LST EN 2591-703-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 703: Elementos eléctricos - Rechazo de acopladores en modo común
LST EN 2591-702-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 702: Elementos eléctricos - Medida de distorsión de señal de acopladores
LST EN 2591-701-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 701: Elementos eléctricos - Medida de impedancia en circuito abierto de acopladores
LST EN 2591-704-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 704: Elementos eléctricos - Medición de la relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador
LST EN 2591-708-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 708: Elementos eléctricos - Medición de la impedancia de transferencia superficial de acopladores
LST EN 2591-706-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 706: Elementos eléctricos - Ensayo de transmisión
LST EN 60512-11-1-2001 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 11: Ensayos climáticos - Sección 1: Ensayo 11a: Secuencia climática (IEC 60512-11-1:1995)
LST EN 2591-709-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 709: Elementos eléctricos - Resistencia a la tracción de acopladores
LST EN 2591-705-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 705: Elementos eléctricos - Medición de la impedancia de entrada del ramal de acopladores
LST EN 62025-2-2005 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medida. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas (IEC 62025-2:2005)
LST EN 60512-11-8-2001 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 11: Ensayos climáticos. Sección 8: Ensayo 11h: Arena y polvo (IEC 60512-11-8:1995)
LST EN 60749-35-2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006).
LST EN 2591-211-2003 Serie Aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 211: Capacitancia

工业和信息化部, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

SJ/T 11769-2020 Requisitos generales para métodos de prueba de parámetros de ruido de baja frecuencia de componentes electrónicos.
SJ/T 11705-2018 Métodos de prueba de impedancia de suministro de energía y tierra para paquetes de dispositivos microelectrónicos

GOSTR, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

GOST R IEC 62813-2020 Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para características eléctricas.

IEC - International Electrotechnical Commission, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

PAS 62162-2000 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos (Edición 1.0)
PAS 62050-2004 Método de prueba de caída a nivel de placa de componentes para productos electrónicos portátiles (Edición 1.0)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

PREN 2591-G2-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte G2 - Medición de elementos eléctricos de la distorsión de la señal de acopladores
PREN 2591-G6-1993 Métodos de prueba de elementos de conexión eléctrica y óptica de la serie aeroespacial Parte G6 - Prueba de transmisión de elementos eléctricos (Edición P 1)
PREN 2591-G1-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte G1 - Medición de elementos eléctricos de la impedancia de circuito abierto de acopladores (Edición P 1)
PREN 2591-G9-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte G9 - Resistencia a la tracción de elementos eléctricos de acopladores (Edición P 1)
PREN 2591-G3-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte G3 - Rechazo de modo común de elementos eléctricos de acopladores (Edición P 1)
PREN 2591-G5-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte G5 - Medición de elementos eléctricos de la impedancia de entrada de los acopladores (Edición P 1)
PREN 2591-G8-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte G8 - Medición de elementos eléctricos de la impedancia de transferencia superficial de acopladores (Edición P 1)
PREN 3909-2005 Fluidos de prueba de la serie aeroespacial para componentes y subconjuntos eléctricos (Edición P 2)
PREN 3909-1995 Fluidos de prueba de la serie aeroespacial para componentes y subconjuntos eléctricos (Edición P 1)
PREN 2591-GC1-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte GC1 - Resistencia de elementos eléctricos a temperatura para acopladores (Edición P 1)

Professional Standard - Aviation, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

HB 8424-2014 Método de prueba de fugas para sellar componentes de aviación.

RU-GOST R, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

GOST R IEC 60068-2-82-2017 Pruebas ambientales. Parte 2-82. Pruebas. Prueba XW1: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos

International Electrotechnical Commission (IEC), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

IEC 60512-6:1984 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Parte 6: Pruebas climáticas y pruebas de soldadura.
IEC 62025-2:2019 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas.
IEC 62025-2:2019 RLV Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas.
IEC 60068-2-82:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba XW: Métodos de prueba de bigotes para componentes electrónicos y eléctricos
IEC 60512-11-1:1995 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición - Parte 11: Pruebas climáticas - Sección 1: Prueba 11a: Secuencia climática
IEC 60512-23-3:2000/COR1:2003 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos de prueba y métodos de medición básicos. Parte 23-3: Prueba 23c: Eficacia del blindaje de conectores y accesorios.
IEC 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.
IEC 60512-9:1992 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; procedimientos básicos de prueba y métodos de medición; parte 9: pruebas varias
IEC 62813:2015 CEI 62813, ed. 1: Condensadores de iones de litio para uso en equipos eléctricos y electrónicos. Métodos de prueba para las características eléctricas.
IEC 60512-1:1984 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos; Procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Parte 1: Generalidades

KR-KS, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

KS C IEC 62025-2-2018 Componentes inductivos de alta frecuencia. Características no eléctricas y métodos de medición. Parte 2: Métodos de prueba para características no eléctricas.

DE-VDA, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

VDA 320-2014 Componentes eléctricos y electrónicos en vehículos de motor Fuente de alimentación de a bordo de 48 V: requisitos y pruebas
VDA 320-2015 Componentes eléctricos y electrónicos en vehículos de motor Requisitos y pruebas de la fuente de alimentación de a bordo de 48 V

TR-TSE, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

TS 2094-1975 PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS AMBIENTALES PARA COMPONENTES ELECTRÓNICOS Y EQUIPOS ELECTRÓNICOS PRUEBA M: BAJA PRESIÓN DE AIRE
TS 2507-1977 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos Parte 17: Métodos de medición de tubos y válvulas llenos de gas
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TS 2509-1977 MEDICIONES DE LAS PROPIEDADES ELÉCTRICAS DE TUBOS Y VÁLVULAS ELECTRÓNICAS PARTE: 19 MÉTODOS DE MEDICIÓN EN ESTABILIZADORES CORONA

European Committee for Standardization (CEN), Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

EN 2591-7301:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 7301: Elementos eléctricos - Resistencia a la temperatura de los acopladores
EN 3909:2007 Serie aeroespacial: fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos
EN 2591-704:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 704: Elementos eléctricos; Medición de la relación de vueltas en un transformador utilizado en un acoplador.
EN 2591-701:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 701: Elementos eléctricos; Medición de impedancia en circuito abierto de acopladores.
EN 2591-702:2001 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 702: Elementos eléctricos; Medición de la distorsión de la señal de los acopladores.

未注明发布机构, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

SAE AS6171-2018 Norma de métodos de prueba; Requisitos generales@ Piezas sospechosas/falsificadas@ Eléctricas@ Electrónicas@ y electromecánicas
BS EN 2591-609:2005(2006) Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 609: Elementos ópticos. Eficacia de la fijación del cable. Flexión cíclica del cable.

SAE - SAE International, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

SAE AS6171-2016 Norma de métodos de prueba; Requisitos generales@ Piezas sospechosas/falsificadas@ Eléctricas@ Electrónicas@ y electromecánicas

IN-BIS, Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

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