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fuga secundaria

fuga secundaria, Total: 19 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fuga secundaria son: Dispositivos semiconductores, Protección del medio ambiente, Residuos, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general..

American National Standards Institute （ANSI), fuga secundaria

• ANSI/FCI 18-1-2021 DIMENSIONAMIENTO Y SELECCIÓN DE DURADORES DE PRESIÓN SECUNDARIO TIPO 1
• ANSI/FCI 19-1-2021 DIMENSIONAMIENTO Y SELECCIÓN DE DRENADORES DE PRESIÓN SECUNDARIO TIPO 2

API - American Petroleum Institute, fuga secundaria

• API PUBL 1628-1989 Guía para la evaluación y remediación de emisiones subterráneas de petróleo (SEGUNDA EDICIÓN)
• API TR 1149-2015 Incertidumbres de las variables de tuberías y sus efectos sobre la detectabilidad de fugas (SEGUNDA EDICIÓN)

American Society for Testing and Materials (ASTM), fuga secundaria

• ASTM E427-95(2000) Práctica estándar para pruebas de fugas utilizando el detector de fugas halógeno (diodo de iones alcalinos)
• ASTM E427-95(2006) Práctica estándar para realizar pruebas de fugas utilizando el detector de fugas halógeno (diodo de iones alcalinos)
• ASTM F78-97 Método de prueba estándar para la calibración de detectores de fugas de helio mediante el uso de estándares secundarios
• ASTM F769-00 Método de prueba estándar para medir corrientes de fuga de transistores y diodos (retirado en 2006)
• ASTM F2228-13 Método de prueba estándar para la detección no destructiva de fugas en envases que incorporan material de barrera poroso mediante el método del gas trazador CO2
• ASTM F2227-13 Método de prueba estándar para la detección no destructiva de fugas en bandejas de embalaje vacías y no selladas mediante el método del gas trazador CO2

RU-GOST R, fuga secundaria

• GOST 19656.16-1986 Diodos limitadores de microondas semiconductores. Método de medición de las potencias de avería y de fuga.

Professional Standard - Commodity Inspection, fuga secundaria

• SN/T 2745-2010 Método de prueba para la detección no destructiva de fugas en bandejas de envases médicos. Método del gas trazador CO

Group Standards of the People's Republic of China, fuga secundaria

• T/CSES 71-2022 La especificación sobre evaluación del riesgo de fuga para los proyectos de utilización y almacenamiento geológico de CO2.

Professional Standard - Chemical Industry, fuga secundaria

• HG/T 4335.5-2012 Método de tratamiento y eliminación de derrames de ácidos.Parte 5: Ácido oxálico

GB-REG, fuga secundaria

• REG NASA-LLIS-0054-1992 Lecciones aprendidas: liberación excesiva de tetróxido de nitrógeno (N2O4); Declaraciones de megafonía; Fugas estenopeicas en trajes SCAPE

Defense Logistics Agency, fuga secundaria

• DLA MIL-PRF-19500/594 A VALID NOTICE 2-2008 Dispositivo semiconductor, diodo, silicio, rectificador de potencia, recuperación rápida, baja fuga, tipos 1N6664 a 1N6666 y 1N6664R a 1N6666R JAN, JANTX, JANTXV y JANS
• DLA MIL-PRF-19500/594 B-2010 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DIODO, SILICIO, RECTIFICADOR DE POTENCIA, RECUPERACIÓN ULTRA RÁPIDA, BAJAS FUGAS, TIPOS 1N6664 A 1N6666 Y 1N6664R A 1N6666R, JAN, JANTX, JANTXV Y JANS
• DLA MIL-PRF-19500/241 L-2008 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DIODO, SILICIO, BAJA FUGA, TENSIÓN DIRECTA CONTROLADA, TIPOS 1N3595-1, 1N3595US, 1N3595UR-1, 1N3595A-1, 1N3595AUS Y 1N3595AUR-1, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANHC Y JANK c
• DLA MIL-PRF-19500/241 N-2013 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DIODO, SILICIO, BAJA FUGA, TENSIÓN DIRECTA CONTROLADA, TIPOS 1N3595-1, 1N3595UB, 1N3595UBCA, 1N3595UBD, 1N3595UBCC, 1N3595UB2, 1N3595UB2R, 1N3595US, 1N3595 UR-1, 1N3595A-1, 1N3595AUS Y 1N3595AUR-1, ENERO, JANTX, JANTXV, JANS, JANH

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